CN114527307A - 一种带有断簧保护特性的三头测试探针 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种带有断簧保护特性的三头测试探针，包括绝缘针套，所述绝缘针套的上侧内部并排竖向设置有第一通道和第二通道；绝缘针套的下侧内部竖向设置有第三通道，所述第一通道、第二通道和第三通道内均设置有测试探针。该带有断簧保护特性的三头测试探针，解决了现有探针使用时要求超低电压、电阻进行，若测试过程中探针弹簧断裂，将无法完成测试，造成误测试、漏测试的问题。
Description
技术领域
本发明属于半导体检测设备技术领域，具体涉及一种带有断簧保护特性的三头测试探针。
背景技术
测试探针广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等技术领域，是一种高端的电子元件。
测试探针的结构通常是由针头、针管、弹簧三部分组成，针头和弹簧装在针管内部，在针管两端口运用压铆缩口方式，使得针头、弹簧保持在针管内部，成为一个整体的结构。使用时，针头受力向针管内压缩弹簧，此时弹簧产生的弹力顶住针轴，针头与被测件良好接触，进行测试。
但是现有探针使用时要求超低电压、电阻进行，测试探针频繁使用后容易发生弹簧断裂，此时将无法完成测试，造成误测试、漏测试的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种带有断簧保护特性的三头测试探针，解决现有探针使用时要求超低电压、电阻进行，若测试过程中探针弹簧断裂，将无法完成测试，造成误测试、漏测试的问题。
为了解决上述技术问题，本发明公开了一种带有断簧保护特性的三头测试探针，包括绝缘针套，所述绝缘针套的上侧内部并排竖向设置有第一通道和第二通道；绝缘针套的下侧内部竖向设置有第三通道，所述第一通道、第二通道和第三通道内均设置有测试探针。
本发明的技术方案，还具有以下特点：
进一步地，所述测试探针包含针管，所述针管内设置有弹性件和针头，所述弹性件与针头连接，所述针头伸出所述针管。
进一步地，所述弹性件为压缩弹簧。
进一步地，所述针管的一端形成有限位孔，所述针头包含头部和尾部，所述尾部通过限位孔限制在针管内，所述头部可从所述限位孔伸出。
进一步地，所述绝缘针套的外部设置有紧固圈，所述紧固圈位于第一通道和第二通道的外侧。
与现有技术相比，本发明具有以下优点：(1)本发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针，采用绝缘针套装配三个测试探针，可以确保探针工作时候满足超底电压、电阻的使用性能；(2)本发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针，采用两个并联的测试探针与被检测产品接触，采用一个测试探针与测试机连接，可防止弹簧断裂造成误测试和漏测试的问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1是本发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针的结构示意图；
图2本发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针中绝缘针套的结构示意图；
图3本发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针中测试探针的结构示意图。
图中：1.绝缘针套，2.第一通道，3.第二通道，4.头部，5.针管，6.尾部，7.紧固圈，8.第三通道，9.弹性件，10.连接座。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
如图1所示，本发明公开了一种带有断簧保护特性的三头测试探针，包括绝缘针套1，绝缘针套1的上侧内部并排竖向设置有第一通道2和第二通道3；绝缘针套1的下侧内部竖向设置有第三通道8，第一通道2、第二通道3和第三通道8内均设置有测试探针。
结合图2，绝缘针套1为本发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针起到保护作用的主体，主要用于承载接第三通道8中防止的用于接触测试机的测试探针，以及载盛第一通道2和第二通道3中用于接触被测产品的两个并联的测试探针，之所以要做成绝缘体，是为了保证探针满足超底电压、电阻的使用性能。
具体来说，绝缘针套1为管状结构，其内设置有连接座10，第一通道2和第二通道3位于连接座10以上，大小形状相同，且对称分布。第三通道8位于连接座10以下，连接座10并非绝缘体，其目的在一起到使第一通道2、第二通道3和第三通道8中放置的三个测试探针实现电连接的作用。
如图1所示，在本发明的技术方案中，第一通道2、第二通道3和第三通道8内均设置有测试探针，其中第三通道3中的测试探针与测试机连接，第一通道2和第二通道3中并联设置的两个测试探针与被检测产品连接，设计成两个测试探针与被检测产品连接，可以防止若一个弹簧断裂，还可继续正常工作，避免造成误测试和漏测试的现象发生。
结合图3，在发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针中，测试探针包含针管5，针管5内设置有弹性件9和针头，弹性件9与针头连接，针头伸出针管5。
工作时，针头与被检测产品或者测试机接触，弹性件9相应受压收缩，确保针头能够与被检测产品或者测试机紧接触，接触良好。
结合图3，在发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针中，弹性件9为压缩弹簧。
弹性件9优选为压缩弹簧，可以确保弹性件9具有足够的弹力，针头在压缩弹簧的弹力作用下能够与被检测产品或者测试机实现良好接触。
结合图3，在发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针中，针管5的一端形成有限位孔，针头包含头部4和尾部6，尾部6通过限位孔限制在针管5内，头部4可从限位孔伸出。
尾部6为圆柱形状，其外径大于限位孔的孔径，限位孔装配在针管5内，在弹性件9的弹力作用下，由于其外径大于限位孔的孔径，所以其无法从限位孔中穿出，起到良好的限位作用，进而确保头部4能够与被检测产品或者测试机实现良好接触。
结合图2，在本发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针中，绝缘针套1的外部设置有紧固圈7，紧固圈7位于第一通道2和第二通道3的外侧。
绝缘针套1的内径一般为几毫米，通过在外部增设一个紧固圈7可以将第一通道2和第二通道3夹紧，使两个测试探针的针管5被装夹在第一通道2和第二通道3中。
这样设计，可以确保第一通道2和第二通道3中放置的两个测试探针不容易发生偏移，避免容易造成弹簧发生折断。
综上所述，与现有技术相比，本发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针，采用绝缘针套装配三个测试探针，可以确保探针工作时候满足超底电压、电阻的使用性能。另外，本发明的一种带有断簧保护特性的三头测试探针，采用两个并联的测试探针与被检测产品接触，采用一个测试探针与测试机连接，可防止弹簧断裂造成误测试和漏测试的问题。
上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。
Claims (5)
1.一种带有断簧保护特性的三头测试探针，其特征在于，包括绝缘针套(1)，所述绝缘针套(1)的上侧内部并排竖向设置有第一通道(2)和第二通道(3)；绝缘针套(1)的下侧内部竖向设置有第三通道(8)，所述第一通道(2)、第二通道(3)和第三通道(8)内均设置有测试探针。
2.根据权利要求1所述的带有断簧保护特性的三头测试探针，其特征在于，所述测试探针包含针管(5)，所述针管(5)内设置有弹性件(9)和针头，所述弹性件(9)与针头连接，所述针头伸出所述针管(5)。
3.根据权利要求1所述的带有断簧保护特性的三头测试探针，其特征在于，所述弹性件(9)为压缩弹簧。
4.根据权利要求1所述的带有断簧保护特性的三头测试探针，其特征在于，所述针管(5)的一端形成有限位孔，所述针头包含头部(4)和尾部(6)，所述尾部(6)通过限位孔限制在针管(5)内，所述头部(4)可从所述限位孔伸出。
5.根据权利要求1所述的带有断簧保护特性的三头测试探针，其特征在于，所述绝缘针套(1)的外部设置有紧固圈(7)，所述紧固圈(7)位于第一通道(2)和第二通道(3)的外侧。
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Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000039595A1 (en) * | 1998-12-30 | 2000-07-06 | Proteus Corporation | Dual-pin probe for testing circuit boards |
| JP2000249721A (ja) * | 1999-03-02 | 2000-09-14 | Sony Corp | プローブカード |
| JP2004170360A (ja) * | 2002-11-22 | 2004-06-17 | Kanto Tsusoku Kiki Kk | 積層型プローブ及び接触子 |
| US20060279301A1 (en) * | 2005-06-10 | 2006-12-14 | Valts Treibergs | Electrical contact probe with compliant internal interconnect |
| CN101846695A (zh) * | 2009-03-24 | 2010-09-29 | 京元电子股份有限公司 | 测试探针及探针座 |
| US20100285698A1 (en) * | 2008-01-02 | 2010-11-11 | Hong-Dae Lee | Probe pin composed in one body and the method of making it |
| US20120098561A1 (en) * | 2010-10-21 | 2012-04-26 | Brymen Technology Corporation | Test probe with dual switching probe tip |
| US20120119770A1 (en) * | 2009-03-31 | 2012-05-17 | Henrik Baekbo | Automated multi-point probe manipulation |
| US9590359B1 (en) * | 2015-09-30 | 2017-03-07 | Raytheon Company | Coaxial electrical interconnect |
| US20190049509A1 (en) * | 2017-08-11 | 2019-02-14 | Ut Battelle, Llc | Electrical meter probe contact verification system |
| CN213023363U (zh) * | 2020-06-19 | 2021-04-20 | 江苏海德频率科技有限公司 | 一种用于谐振器生产线的改进型测试装置 |
-
2022
- 2022-02-11 CN CN202210129131.4A patent/CN114527307B/zh active Active
Patent Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000039595A1 (en) * | 1998-12-30 | 2000-07-06 | Proteus Corporation | Dual-pin probe for testing circuit boards |
| JP2000249721A (ja) * | 1999-03-02 | 2000-09-14 | Sony Corp | プローブカード |
| JP2004170360A (ja) * | 2002-11-22 | 2004-06-17 | Kanto Tsusoku Kiki Kk | 積層型プローブ及び接触子 |
| US20060279301A1 (en) * | 2005-06-10 | 2006-12-14 | Valts Treibergs | Electrical contact probe with compliant internal interconnect |
| US20100285698A1 (en) * | 2008-01-02 | 2010-11-11 | Hong-Dae Lee | Probe pin composed in one body and the method of making it |
| CN101846695A (zh) * | 2009-03-24 | 2010-09-29 | 京元电子股份有限公司 | 测试探针及探针座 |
| US20120119770A1 (en) * | 2009-03-31 | 2012-05-17 | Henrik Baekbo | Automated multi-point probe manipulation |
| US20120098561A1 (en) * | 2010-10-21 | 2012-04-26 | Brymen Technology Corporation | Test probe with dual switching probe tip |
| US9590359B1 (en) * | 2015-09-30 | 2017-03-07 | Raytheon Company | Coaxial electrical interconnect |
| US20190049509A1 (en) * | 2017-08-11 | 2019-02-14 | Ut Battelle, Llc | Electrical meter probe contact verification system |
| CN213023363U (zh) * | 2020-06-19 | 2021-04-20 | 江苏海德频率科技有限公司 | 一种用于谐振器生产线的改进型测试装置 |
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| Publication number | Publication date |
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