CN114509024A - 基于相位融合的大深度范围三维测量方法、系统及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及光学三维测量技术领域,公开了基于相位融合的大深度范围三维测量方法、系统及装置。本发明基于多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案形成对应的正弦条纹,并投射至待测物体,采集被待测物体高度调制变形后的正弦条纹,并计算所采集的正弦条纹的包裹相位,根据包裹相位确定高频正弦条纹的绝对相位,并基于离焦度计算高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,根据相位误差从得到的绝对相位中确定最优绝对相位,用于进行大深度范围的三维测量。本发明有利于提高绝对相位的计算精度,减少因离焦度不合适而导致的相位误差,有效实现大深度范围的三维测量。
Description
技术领域
本发明涉及光学三维测量技术领域,尤其涉及基于相位融合的大深度范围三维测量方法、系统及装置。
背景技术
结构光三维测量技术是目前三维测量领域中的研究重点。结构光三维测量技术主要是将结构光投射到被测物体上,通过结构光的变形来确定被测物的尺寸参数。目前大部分的结构光三维测量系统采用二值条纹离焦投影技术。
二值条纹离焦投影技术,其原理是利用离焦效应把二值条纹模糊成标准的正弦条纹。二值条纹离焦程度过度或不足均会导致包裹相位误差增大。离焦度会随着与焦平面之间的距离的增大而增大,因此大景深测量中会存在离焦度不合适的情况,相位误差大。
发明内容
本发明提供了基于相位融合的大深度范围三维测量方法、系统及装置,解决了目前基于二值条纹离焦投影技术的结构光三维测量系统难以实现大深度范围的三维测量的技术问题。
本发明第一方面提供一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法,包括:
生成待投影图案集,所述待投影图案集包括多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案;
对所述待投影图案集中的每个图案进行离焦调制,形成正弦条纹投射至待测物体;
采集被待测物体高度调制变形后的正弦条纹,采用N步相移法对采集的正弦条纹进行相位解调,得到不同频率的正弦条纹的包裹相位,并利用多频外差方法进行解包裹以获取高频正弦条纹的绝对相位;
根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差;
根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位;
根据所述最优绝对相位与三维坐标的映射关系得到被测物体表面的坐标,进行三维重建,完成被测物体表面的三维测量。
根据本发明第一方面的一种能够实现的方式,所述对所述待投影图案集中的每个图案进行离焦调制,形成正弦条纹投射至待测物体,包括:
引入调制度衰减系数,使离焦调制形成的正弦条纹为:
根据本发明第一方面的一种能够实现的方式,所述引入调制度衰减系数,包括:
设置调制度衰减系数与离焦度的关系为:
根据下式求解不同频率的正弦条纹的包裹相位:
根据本发明第一方面的一种能够实现的方式,所述利用多频外差方法进行解包裹以获取高频正弦条纹的绝对相位,包括:
根据下式求解高频正弦条纹的绝对相位:
式中,表示经过多频外差方法得到的第个高频正弦条纹的绝对相位,为基于多频外差方法的解包裹函数,为第个高频正弦条纹的包裹相位,为中频正弦条纹的包裹相位,为低频正弦条纹的包裹相位,为高频正弦条纹的数量,与待投影图案集中高频二值条纹图案的数量对应。
根据本发明第一方面的一种能够实现的方式,所述根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,包括:
按照下式计算不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度:
根据下列的调制度与离焦度的关系式计算离焦度:
根据本发明第一方面的一种能够实现的方式,所述根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,包括:
按照下式估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差:
根据本发明第一方面的一种能够实现的方式,所述根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位,包括:
从获取的高频正弦条纹的绝对相位中,选择与最小相位误差对应的绝对相位作为最优绝对相位。
本发明第二方面提供一种基于相位融合的大深度范围三维测量系统,其特征在于,包括:
图案生成模块,用于生成待投影图案集,所述待投影图案集包括多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案;
成像镜头,用于对所述待投影图案集中的每个图案进行离焦调制,形成正弦条纹投射至待测物体;
相机镜头,用于采集被待测物体高度调制变形后的正弦条纹;
测量模块,用于采用步相移法对所述相机镜头采集的正弦条纹进行相位解调,得到不同频率的正弦条纹的包裹相位,并利用多频外差方法进行解包裹以获取高频正弦条纹的绝对相位;根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差;根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位;根据所述最优绝对相位与三维坐标的映射关系得到被测物体表面的坐标,进行三维重建,完成被测物体表面的三维测量。
根据本发明第二方面的一种能够实现的方式,所述成像镜头具体用于:
根据本发明第二方面的一种能够实现的方式,所述成像镜头引入调制度衰减系数时,具体用于:
设置调制度衰减系数与离焦度的关系为:
根据本发明第二方面的一种能够实现的方式,所述测量模块包括:
包裹相位求解单元,用于根据下式求解不同频率的正弦条纹的包裹相位:
根据本发明第二方面的一种能够实现的方式,所述测量模块还包括:
绝对相位求解单元,用于根据下式求解高频正弦条纹的绝对相位:
式中,表示经过多频外差方法得到的第个高频正弦条纹的绝对相位,为基于多频外差方法的解包裹函数,为第个高频正弦条纹的包裹相位,为中频正弦条纹的包裹相位,为低频正弦条纹的包裹相位,为高频正弦条纹的数量,与待投影图案集中高频二值条纹图案的数量对应。
根据本发明第二方面的一种能够实现的方式,所述测量模块包括:
调制度计算单元,用于按照下式计算不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度:
根据本发明第二方面的一种能够实现的方式,所述测量模块还包括:
相位误差估计单元,用于按照下式估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差:
根据本发明第二方面的一种能够实现的方式,所述测量模块还包括:
最优绝对相位确定单元,用于从获取的高频正弦条纹的绝对相位中,选择与最小相位误差对应的绝对相位作为最优绝对相位。
本发明第三方面提供一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法,所述方法应用于测量模块,所述方法包括:
接收相机镜头采集的被待测物体高度调制变形后的正弦条纹,所述正弦条纹由所述相机镜头在成像镜头将离焦调制的待投影图案集投射至待测物体后进行采集,所述待投影图案包括多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案;
根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差;
根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位;
根据所述最优绝对相位与三维坐标的映射关系得到被测物体表面的坐标,进行三维重建,完成被测物体表面的三维测量。
本发明第四方面提供了一种基于相位融合的大深度范围三维测量装置,包括:
存储器,用于存储指令;其中,所述指令用于实现本发明第三方面所述的基于相位融合的大深度范围三维测量方法;
处理器,用于执行所述存储器中的指令。
本发明第五方面一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现本发明第三方面所述的基于相位融合的大深度范围三维测量方法。
从以上技术方案可以看出,本发明具有以下优点:
本发明基于多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案形成对应的正弦条纹,并投射至待测物体,采集被待测物体高度调制变形后的正弦条纹,并计算所采集的正弦条纹的包裹相位,根据包裹相位确定高频正弦条纹的绝对相位,并基于离焦度计算高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,根据相位误差从得到的绝对相位中确定最优绝对相位,用于进行大深度范围的三维测量;本发明对不同频率的正弦条纹的包裹相位进行解包裹以获取绝对相位,有利于提高绝对相位的计算精度,且基于相位误差确定最优绝对相位以用于进行大深度范围的三维测量,能够减少因离焦度不合适而导致的相位误差,有效实现大深度范围的三维测量。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明一个可选实施例提供的一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法的流程图;
图2为本发明一个可选实施例提供的一种基于相位融合的大深度范围三维测量系统的原理框图;
图3为本发明一个可选实施例提供的由测量模块执行的一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法的流程图。
附图标记:
图2中,1- 图案生成模块;2-成像镜头;3-相机镜头;4-测量模块。
具体实施方式
本发明实施例提供了基于相位融合的大深度范围三维测量方法、系统及装置,用于解决目前基于二值条纹离焦投影技术的结构光三维测量系统难以实现大深度范围的三维测量的技术问题。
为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而非全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明第一方面提供了一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法。
请参阅图1,图1示出了本发明实施例提供的一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法的流程图。
本发明实施例提供的一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法,包括步骤S1- S6。
下面对步骤S1- S6进行具体阐述。
步骤S1,生成待投影图案集,所述待投影图案集包括多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案。
其中,可以利用图案生成模块生成待投影图案集。
具体地,可以根据下式生成不同频率的二值条纹图案:
步骤S2,对所述待投影图案集中的每个图案进行离焦调制,形成正弦条纹投射至待测物体。
具体地,将每个形成的正弦条纹依次投射至待测物体,可由相机镜头同步采集相应的被待测物体高度调制变形后的正弦条纹。
二值条纹通过投影的离焦效应模糊变成正弦条纹。离焦对投影条纹的影响可以近似于高斯滤波。由于空间域的卷积相当于频域相乘。离焦后的二值条纹可以用下式表达:
引入调制度衰减系数,使离焦调制形成的正弦条纹为:
其中,调制度衰减系数与离焦度的关系为:
根据下式求解不同频率的正弦条纹的包裹相位:
作为一种实施方式,可以采用四步相移法,其中设置每步的相移为π/2。
在一种能够实现的方式中,所述利用多频外差方法进行解包裹以获取高频正弦条纹的绝对相位,包括:
根据下式求解高频正弦条纹的绝对相位:
式中,表示经过多频外差方法得到的第个高频正弦条纹的绝对相位,为基于多频外差方法的解包裹函数,为第个高频正弦条纹的包裹相位,为中频正弦条纹的包裹相位,为低频正弦条纹的包裹相位,为高频正弦条纹的数量,与待投影图案集中高频二值条纹图案的数量对应。
由于基于多频外差方法的解包裹函数的计算可以参考现有技术,本发明实施例对此不做限定。
步骤S4,根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差。
在一种能够实现的方式中,所述根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,包括:
按照下式计算不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度:
根据下列的调制度与离焦度的关系式计算离焦度:
本发明实施例,给出了调制度与离焦度的关系式,有益于提高离焦度的计算效率,在整体上有益于提高三维测量的效率。
在一种能够实现的方式中,所述根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,包括:
按照下式估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差:
本发明实施例,提供了高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差的计算公式,根据该计算公式,可以快速有效地计算高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差。
步骤S5,根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位。
在一种能够实现的方式中,所述根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位,包括:
从获取的高频正弦条纹的绝对相位中,选择与最小相位误差对应的绝对相位作为最优绝对相位。
在另一种能够实现的方式中,可以从获取的高频正弦条纹的绝对相位中,选择最小相位误差对应的绝对相位和次小相位误差对应的绝对相位,对选择的绝对相位求取平均值作为最优绝对相位。
步骤S6,根据所述最优绝对相位与三维坐标的映射关系得到被测物体表面的坐标,进行三维重建,完成被测物体表面的三维测量。
本发明第二方面还提供了一种基于相位融合的大深度范围三维测量系统。该系统可以用于实现上述任意一项实施例所述的方法。
请参阅图2,图2示出了本发明实施例提供的一种基于相位融合的大深度范围三维测量系统的原理框图。
本发明实施例提供了一种基于相位融合的大深度范围三维测量系统,包括:
图案生成模块1,用于生成待投影图案集,所述待投影图案集包括多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案;
成像镜头2,用于对所述待投影图案集中的每个图案进行离焦调制,形成正弦条纹投射至待测物体;
相机镜头3,用于采集被待测物体高度调制变形后的正弦条纹;
测量模块4,用于采用步相移法对所述相机镜头3采集的正弦条纹进行相位解调,得到不同频率的正弦条纹的包裹相位,并利用多频外差方法进行解包裹以获取高频正弦条纹的绝对相位;根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差;根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位;根据所述最优绝对相位与三维坐标的映射关系得到被测物体表面的坐标,进行三维重建,完成被测物体表面的三维测量。
在一种能够实现的方式中,所述成像镜头2具体用于:
引入调制度衰减系数,使离焦调制形成的正弦条纹为:
在一种能够实现的方式中,所述成像镜头2引入调制度衰减系数时,具体用于:
在一种能够实现的方式中,所述测量模块4包括:
在一种能够实现的方式中,所述测量模块4还包括:
绝对相位求解单元,用于根据下式求解高频正弦条纹的绝对相位:
式中,表示经过多频外差方法得到的第个高频正弦条纹的绝对相位,为基于多频外差方法的解包裹函数,为第个高频正弦条纹的包裹相位,为中频正弦条纹的包裹相位,为低频正弦条纹的包裹相位,为高频正弦条纹的数量,与待投影图案集中高频二值条纹图案的数量对应。
在一种能够实现的方式中,所述测量模块4包括:
离焦度计算单元,用于根据下列的调制度与离焦度的关系式计算离焦度:
在一种能够实现的方式中,所述测量模块4还包括:
相位误差估计单元,用于按照下式估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差:
在一种能够实现的方式中,所述测量模块4还包括:
最优绝对相位确定单元,用于从获取的高频正弦条纹的绝对相位中,选择与最小相位误差对应的绝对相位作为最优绝对相位。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述地方便和简洁,上述描述的系统、模块及单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程。上述描述的系统、模块及单元的具体有益效果,可以参考前述方法实施例中的对应有益效果,在此不再赘述。
本发明第三方面还提供一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法,所述方法应用于测量模块。
请参阅图3,图3示出了本发明实施例提供的由测量模块执行的一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法的流程图。其中,该测量模块可为如上系统中任意一项实施例所述的测量模块。
本发明实施例的方法包括:
步骤S10,接收相机镜头采集的被待测物体高度调制变形后的正弦条纹,所述正弦条纹由所述相机镜头在成像镜头将离焦调制的待投影图案集投射至待测物体后进行采集,所述待投影图案包括多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案;
步骤S30,根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差;
步骤S40,根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位;
步骤S50,根据所述最优绝对相位与三维坐标的映射关系得到被测物体表面的坐标,进行三维重建,完成被测物体表面的三维测量。
需要说明的是,本实施例的方法中各步骤的具体实施方式,可以参考前述系统中测量模块在实现具体功能时所执行的步骤,在此不再赘述。
本发明还提供了一种基于相位融合的大深度范围三维测量装置,包括:
存储器,用于存储指令;其中,所述指令用于实现本发明第三方面实施例所述的基于相位融合的大深度范围三维测量方法;
处理器,用于执行所述存储器中的指令。
本发明还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现本发明第三方面实施例所述的基于相位融合的大深度范围三维测量方法。
本发明上述实施例,对不同频率的正弦条纹的包裹相位进行解包裹以获取绝对相位,有利于提高绝对相位的计算精度,且基于相位误差确定最优绝对相位以用于进行大深度范围的三维测量,能够减少因离焦度不合适而导致的相位误差,有效实现大深度范围的三维测量。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统、装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (12)
1.一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法,其特征在于,包括:
生成待投影图案集,所述待投影图案集包括多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案;
对所述待投影图案集中的每个图案进行离焦调制,形成正弦条纹投射至待测物体;
采集被待测物体高度调制变形后的正弦条纹,采用N步相移法对采集的正弦条纹进行相位解调,得到不同频率的正弦条纹的包裹相位,并利用多频外差方法进行解包裹以获取高频正弦条纹的绝对相位;
根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差;
根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位;
根据所述最优绝对相位与三维坐标的映射关系得到被测物体表面的坐标,进行三维重建,完成被测物体表面的三维测量。
8.根据权利要求7所述的基于相位融合的大深度范围三维测量方法,其特征在于,所述根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位,包括:
从获取的高频正弦条纹的绝对相位中,选择与最小相位误差对应的绝对相位作为最优绝对相位。
9.一种基于相位融合的大深度范围三维测量系统,其特征在于,包括:
图案生成模块,用于生成待投影图案集,所述待投影图案集包括多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案;
成像镜头,用于对所述待投影图案集中的每个图案进行离焦调制,形成正弦条纹投射至待测物体;
相机镜头,用于采集被待测物体高度调制变形后的正弦条纹;
测量模块,用于采用N步相移法对所述相机镜头采集的正弦条纹进行相位解调,得到不同频率的正弦条纹的包裹相位,并利用多频外差方法进行解包裹以获取高频正弦条纹的绝对相位;根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差;根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位;根据所述最优绝对相位与三维坐标的映射关系得到被测物体表面的坐标,进行三维重建,完成被测物体表面的三维测量。
10.一种基于相位融合的大深度范围三维测量方法,其特征在于,所述方法应用于测量模块,所述方法包括:
接收相机镜头采集的被待测物体高度调制变形后的正弦条纹,所述正弦条纹由所述相机镜头在成像镜头将离焦调制的待投影图案集投射至待测物体后进行采集,所述待投影图案包括多个不同条纹宽度的高频二值条纹图案、一个中频二值条纹图案和一个低频二值条纹图案;
采用N步相移法对采集的正弦条纹进行相位解调,得到不同频率的正弦条纹的包裹相位,并利用多频外差方法进行解包裹以获取高频正弦条纹的绝对相位;
根据不同条纹宽度的高频二值条纹图案的调制度计算离焦度,根据计算得到的离焦度估计对应的高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差;
根据所述高频正弦条纹在不同条纹宽度下的相位误差,从获取的高频正弦条纹的绝对相位中选择一个绝对相位作为最优绝对相位;
根据所述最优绝对相位与三维坐标的映射关系得到被测物体表面的坐标,进行三维重建,完成被测物体表面的三维测量。
11.一种基于相位融合的大深度范围三维测量装置,其特征在于,包括:
存储器,用于存储指令;其中,所述指令用于实现如权利要求10所述的基于相位融合的大深度范围三维测量方法;
处理器,用于执行所述存储器中的指令。
12.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求10所述的基于相位融合的大深度范围三维测量方法。
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