CN114441464A - 改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法。所述快速鉴定方法包括：(1)检测改性高分子薄膜材料是否含有无机填料组分；(2)检测所述改性高分子薄膜材料在230‑480nm波长范围内是否具有特征吸收；(3)使用白色光源照射所述改性高分子薄膜材料，检测所述改性高分子薄膜材料的透光面所形成的光斑是否为橙黄色；当所述步骤(1)‑(3)的检测结果均为是时，鉴定为所述改性高分子薄膜材料中含有黑滑石组分。本发明提供的快速鉴定方法准确性高、检测速度快，并且对设备要求较低，能够快速、廉价、高效的鉴定改性高分子薄膜材料中是否含有黑滑石组分，对黑滑石改性高分子材料的推广应用具有重要意义。
Description
技术领域
本发明涉及高分子材料检测技术领域，尤其涉及一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法。
背景技术
薄膜制品已经在我们日常生活中广泛普及。为了降低塑料薄膜制品的成本，添加废旧塑料回收料和添加矿物粉末填料是目前降成本的常用方法。
添加废旧塑料回收料会不可避免的带来废旧塑料的污染，对应的制品通常综合性能会受到较大的影响；而通过添加矿物粉末填料来降低材料成本是一种行之有效的技术路线，常用的矿物粉末填料包括碳酸钙、气相白炭黑粉末等。其中，气相白炭黑价格昂贵，碳酸钙粉末(方解石原矿)相比之下成本交底。
现有技术中，例如碳酸钙粉末改性PBAT是一个成熟的矿物粉末填充高分子材料制备薄膜制品的技术路线。但方解石硬度大，研磨能耗较高。为了实现绿色工艺，进一步降低能耗，促进低碳减排，则应该采用硬度低的矿物，可以降低研磨过程中的主机用电能耗，白滑石矿物莫氏硬度为1，在研磨过程中主机功率偏低，可以降低能耗；然而目前白滑石粉末的综合成本，同为2000目的滑石粉末大约是碳酸钙粉末的两倍，大约是黑滑石粉末的三倍。
综上所述，采用黑滑石粉末作为矿物粉末填料来进行高分子薄膜材料的改性，是一个高性价比的选择，不仅能够降低薄膜成本，同时可以降低过程中的能耗，是一种经济、绿色、低碳的工艺路线，同时，黑滑石改性的高分子薄膜材料还具有高强度、耐穿刺以及抗菌等作用，黑滑石作为一种新型矿物粉末改性高分子薄膜材料具有极高的应用前景和极大的潜在经济效益。
然而，黑滑石粉末改性的各种高分子材料虽然具有黑灰的颜色，但白滑石或其他矿物粉体所改性的高分子材料通过添加有机/无机灰黑色素也同样可以具有相近的颜色，这导致仅仅依赖外观颜色难以快速且准确地鉴别改性高分子材料中是否真实含有黑滑石组分，急需开发一种能够准确且快速鉴别改性高分子薄膜材料中是否含有黑滑石组分的鉴定方法。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法。
为实现前述发明目的，本发明采用的技术方案包括：
第一方面，本发明提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，包括：
步骤(1)：检测改性高分子薄膜材料是否含有无机填料组分；
步骤(2)：检测所述改性高分子薄膜材料在230-480nm波长范围内是否具有特征吸收；其中的特征吸收可以通过吸收光谱图或者透光率光谱图判断；
步骤(3)：使用白色光源照射所述改性高分子薄膜材料，检测所述改性高分子薄膜材料的透光面所形成的光斑是否为橙黄色；
当所述步骤(1)、步骤(2)和步骤(3)的检测结果均为是时，鉴定为所述改性高分子薄膜材料中含有黑滑石组分。
基于上述技术方案，与现有技术相比，本发明的有益效果至少包括：
本发明所提供的改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，充分利用黑滑石中共存的有机共轭分子的特性，采用其在紫外可见波段的特征吸收，提高了检测的速度和精准性。同时，检测设备投入成本不高，对于普及扩大具有重要意义；此外，通过本发明提供的快速鉴定方法进行鉴定，能够快速排除其他仿制品，对于行政人员的市场监督和质量鉴定，具有提高其执行效率的重要作用。综上，本发明提供的快速鉴定方法利用紫外可见吸收光谱仪并结合白色点光源，能够快速、廉价、高效的鉴定黑滑石改性高分子薄膜材料。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够使本领域技术人员能够更清楚地了解本申请的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合详细附图说明如后。
附图说明
图1是本发明一典型实施案例提供的白色光源照射改性高分子薄膜材料的光斑图；
图2是本发明一典型实施案例提供的改性高分子薄膜材料灼烧状态图；
图3是本发明一典型实施案例提供的改性高分子薄膜材料紫外可见光谱图；
图4是本发明一典型实施案例提供的白色光源照射另一种改性高分子薄膜材料的光斑图；
图5是本发明一典型实施案例提供的白色光源照射又一种改性高分子薄膜材料的光斑图。
具体实施方式
鉴于现有技术中的不足，本案发明人经长期研究和大量实践，得以提出本发明的技术方案。如下将对该技术方案、其实施过程及原理等作进一步的解释说明。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
本发明人研究发现以黑滑石作为填料改性的高分子薄膜材料具有优异的薄膜强度，突出的综合性能和抗菌功能；并且该黑滑石中共存的有机碳质是带来强度、性能以及抗菌功能提升的重要因素，本发明的发明人对黑滑石进行了深入研究，通过二维核磁谱图以及拉曼光谱等表征手段发现，黑滑石表面并没有‘类石墨结构’的碳质，而是表面残留有机共轭分子，该分子含有酚羟基及其衍生物，为中心对称结构，且具有满足休克尔规律的有机共轭生色基团，该小分子共轭结构，在245-425nm区域的光谱区域具有特征吸收。而且特征范围随着黑滑石粉末所处的高分子材料体系不同会发生变化，这是因为与黑滑石共存的有机共轭小分子可能与相应的高分子材料发生“π-π”共轭，导致蓝移或者红移，这是正常现象。
整体上，该有机共轭结构可以降低滑石表面的极性，提高与有机高分子材料的相容性，并配合表面改性以及相容剂的协同作用，促进黑滑石在高分子材料体系中分散，且能够大量节约成本，而且还具有高强度、高遮光的特性，并提高最终制品的耐候性。为了防止市场上出现其他假冒伪劣的黑滑石薄膜制品以次充好，快速鉴定高分子薄膜材料中是否含有黑滑石组分，是一个亟待解决重要的问题。
针对上述问题，本发明实施例所提供的解决方案如下：
本发明实施例提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，包括如下几个步骤：
步骤(1)：检测改性高分子薄膜材料是否含有无机填料组分。
步骤(2)：检测所述改性高分子薄膜材料在230-480nm波长范围内是否具有特征吸收。
步骤(3)：使用白色光源照射所述改性高分子薄膜材料，检测所述改性高分子薄膜材料的透光面所形成的光斑是否为橙黄色。
当所述步骤(1)、步骤(2)和步骤(3)的检测结果均为是时，鉴定为所述改性高分子薄膜材料中含有黑滑石组分。
需说明的是，本发明中，步骤(1)-步骤(3)并非代表这些步骤的执行顺序，而仅仅是为了方便指明和引用这些步骤所给与的标记序号，本领域技术人员可以依照步骤(1)-步骤(3)的顺序进行实施，也可以以其他顺序进行实施，甚至可以将步骤(1)-步骤(3)同时进行实施然后根据每个步骤的检测结果进行最终的鉴定。本发明中步骤的编号顺序不对步骤的执行顺序产生限制。
在一些实施方案中，步骤(1)具体可以包括：灼烧所述改性高分子薄膜材料，当其灼烧剩余物中包含矿物质粉末残留时，确定所述改性高分子薄膜材料中含有无机填料组分；上述实施方案中，可以优选将所述灼烧剩余物置于水中，当所述灼烧剩余物能够沉于水下时，确认所述灼烧剩余物中包含矿物质粉末残留，该方法简便可行，且准确率高，对设备几乎无要求，适用范围极广。
在一些实施方案中，步骤(2)具体可以包括：通过紫外可见分光光度计对所述改性高分子薄膜材料进行紫外-可见光光谱检测，得到所述改性高分子薄膜材料的紫外可见光谱图，根据所述紫外可见光谱图判断所述改性高分子薄膜材料在230-480nm波长范围内是否具有特征吸收；所述波长范围优选为250-450nm，进一步优选为300-425nm。在该实施方案中，可以通过紫外可见吸收光谱图或者透过率光谱图中的吸光度或透射率或曲线的曲率或其中两者以上的组合进行判断，例如，如图1所示的PBAT添加20％白滑石粉薄膜样品以及PBAT添加20％黑滑石粉薄膜样品的紫外可见透过率光谱图。从图中可以观察到，大量粉体的添加，无论是白滑石改性薄膜还是黑滑石改性薄膜，最终的复合材料薄膜样品整体透光率均很小，其中白滑石改性薄膜样品的透过率随波长变化呈现明显的线性规律，而黑滑石样品由于其共存的有机共轭小分子在PBAT材料体系中，对295-430nm波段的光具有良好的吸收，从而导致PBAT添加20％黑滑石粉样品在295-430nm波长范围内的透光率明显偏低，进而判断出图中对应的曲线所代表的黑滑石改性高分子薄膜材料在在295-430nm波长范围内具有特征吸收，并且该黑滑石样品的透过率与波长关系为曲线，在430-480nm波段范围内有一个明显的拐点，并且该曲线拐点是明显向下的拐点。上述透光率明显低于同基材的曲线且透过率或者吸光度与紫外可将光波长关系为曲线，且在430-480nm存在一个明显的曲线拐点，该特征是本身对紫外可见不敏感的PBAT或者聚乙烯薄膜材料所不具备的。
在一些实施方案中，所述紫外可见分光光度计的光谱扫描范围为200-830nm。
在一些实施方案中，所述紫外可见分光光度计的分辨率为1-5nm。
在一些实施方案中，所述白色光源的光照强度可以为0.5-15cd/m2，优选可以为1-10cd/m2。在上述技术方案里，所述的白色光源可以包括自然光源、手电筒、白炽灯、LED灯、移动通讯设备自带手电光源以及显微镜点光源中的一种或两种以上的组合，但不限于此，上述光源选择仅仅是为方便实施本发明的技术方案所推荐的优选光源，本领域技术人员可以依照本发明的技术构思替换为其他的多种白光光源实施本发明的技术方案。
在一些实施方案中，所述改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的预估质量分数为3-45％，过低的质量分数不利于通过步骤(3)中的光照法肉眼观察滤光后的颜色外观；过高的质量分数则优先进行遮光，不利于步骤(2)中的检测光透过样品；在上述技术方案里，当所述改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的预估质量分数不低于20％时，所述改性高分子薄膜材料的样品厚度最好是低于2mm，否则过厚的薄膜容易导致遮光而阻止光路透过整个样品厚度，从而无法检测到目标波段的吸收效果，当然，当黑滑石组分的预估质量分数适度降低时，待测改性高分子薄膜材料的样品厚度可以扩大范围至2mm以上。并且，当薄膜材料厚度较薄时，尤其是薄膜厚度低于50μm时，白光照射所显现的光斑不易观察，因此，可以将薄膜材料进行多层层叠作为样品，以增加其厚度，使得白光照射的光斑更加准确地被观察得到，其层叠后的厚度优选为80-250μm。
其中，所述的预估质量分数是指在鉴定所述改性高分子薄膜材料中是否含有黑滑石组分之前，检测人员根据现有资料，估算的或被告知的所述改性高分子薄膜材料中的黑滑石的含量，虽然在鉴定前本领域技术人员无法准确得知改性高分子薄膜材料是否含有黑滑石组分及其含量，但仍然可以通过咨询生产商或通过改性高分子薄膜材料的颜色或通过其他经验方法获得大致的黑滑石含量(质量分数)，例如，当工商行政人员对某一厂家所生产(或在销售的)的黑滑石改性高分子薄膜材料进行检测时，可以从厂家提供的原材料说明书中获知，其黑滑石质量分数为25％，大于20％，则工商行政人员需确保所述改性高分子薄膜材料的厚度是否低于2mm，如大于，则需要通过减薄处理将其样品厚度削减至2mm以下，最好能够减薄至上述的80-250μm。
在一些实施方案中，所述改性高分子薄膜材料中的高分子材料的基体颜色可以优选为白色或无色；在上述技术方案里，所述高分子材料可以包括HDPE、LDPE、LLDPE、mPE、EVA、OBC、PP、PVB、PBAT、PBST、PBSA、TPS、PLA以及PPC中的一种或两种以上的组合；在上述技术方案里，所述改性高分子薄膜材料可以为均一材质的改性高分子薄膜，或者是经过多层共挤或多层吹塑以后形成的复合的改性高分子薄膜。
以下通过若干实施例并结合附图进一步详细说明本发明的技术方案。然而，所选的实施例仅用于说明本发明，而不限制本发明的范围。
实施例1
本实施例提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，包括如下的步骤：
提供待检测样本，该待检测样本为6层层叠，长50cm，宽50cm，单层厚度为20um的灰黑色薄膜，其主要成分为：PBAT+20wt％的2000目碳酸钙，并含有少量的黑色色素；
将上述待检测样本修剪为直径20mm的标准圆形样品，采用紫外可见光谱仪测试，根据其测试光谱图可以观察到该样品在250-430nm波长区域内无特征吸收峰；
如图1所示，薄膜样品采用手机自带点光源紧贴照射，呈白色光斑，无变色；
经过火焰燃烧后，该样品有矿物残留物存在；
根据上述步骤的检测结果，鉴定为上述样品中不含有黑滑石组分，该鉴定结果与待检测样本所标记的组分相符，上述检测总计耗时10min，在较短的时间内便取得了准确的鉴定结果。
实施例2
本实施例提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，包括如下的步骤：
提供待检测样本，该待检测样本为4层层叠，长10cm，宽20cm，单层厚度为25um的灰褐色薄膜，其主要成分为：LDPE+20wt％的2000目黑滑石粉末；
将上述待检测样本修剪为直径20mm的标准圆形样品，采用紫外可见光谱仪测试，根据图2所示的测试光谱图可以观察到该样品在250-430nm波长区域内有吸收峰；
薄膜样品采用手机自带点光源紧贴照射，呈明显橙黄色光斑，无白色光斑出现；
如图2所示，经过火焰燃烧后，该样品有矿物残留物存在，上述矿物残留物置于水中可以下沉；
根据上述步骤的检测结果，鉴定为上述样品中含有黑滑石组分，该鉴定结果与待检测样本所标记的组分相符，上述检测总计耗时9min，在较短的时间内便取得了准确的鉴定结果。
实施例3
本实施例提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，包括如下的步骤：
提供待检测样本，该待检测样本为5层层叠，长20cm，宽23cm，单层厚度为45um的黑色薄膜，其主要成分为：LDPE+15wt％的2000目白滑石粉末+5wt％石墨烯；
将上述待检测样本修剪为直径20mm的标准圆形样品，采用紫外可见光谱仪测试，其测试光谱图可以观察到该样品在250-430nm波长区域内无特征吸收峰；
薄膜样品采用手机自带点光源紧贴照射，呈明显白色光斑；
经过火焰燃烧后，该样品有矿物残留物存在，上述矿物残留物置于水中可以下沉；
根据上述步骤的检测结果，鉴定为上述样品中不含有黑滑石组分，该鉴定结果与待检测样本所标记的组分相符，上述检测总计耗时8min，在较短的时间内便取得了准确的鉴定结果。
实施例4
本实施例提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，包括如下的步骤：
提供待检测样本，该待检测样本为7层层叠，长11cm，宽24cm，单层厚度为15um的黑色薄膜，其主要成分为：LDPE+15wt％2000目白滑石粉末+5wt％炭黑；
将上述待检测样本修剪为直径20mm的标准圆形样品，采用紫外可见光谱仪测试，根据其测试光谱图可以观察到该样品在250-430nm波长区域内无特征吸收峰；
薄膜样品采用手机自带点光源紧贴照射，呈明显白色光斑；
经过火焰燃烧后，该样品有矿物残留物存在，上述矿物残留物置于水中可以下沉；
根据上述步骤的检测结果，鉴定为上述样品中不含有黑滑石组分，该鉴定结果与待检测样本所标记的组分相符，上述检测总计耗时7min，在较短的时间内便取得了准确的鉴定结果。
实施例5
本实施例提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，包括如下的步骤：
提供待检测样本，该待检测样本为3层层叠，长4cm，宽6cm，单层厚度为27um的灰黑色薄膜，其主要成分为：PBAT+20wt％2000目白滑石粉末，并含有少量黑色色素；
将上述待检测样本修剪为直径20mm的标准圆形样品，采用紫外可见光谱仪测试，根据如图3所示的对应的白滑石光谱曲线，其测试光谱图可以观察到该样品在250-430nm波长区域内无特征吸收峰；
薄膜样品采用手机自带点光源紧贴照射，呈明显白色光斑；
经过火焰燃烧后，该样品有矿物残留物存在，上述矿物残留物置于水中可以下沉；
根据上述步骤的检测结果，鉴定为上述样品中不含有黑滑石组分，该鉴定结果与待检测样本所标记的组分相符，上述检测总计耗时6min，在较短的时间内便取得了准确的鉴定结果。
实施例6
本实施例提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，包括如下的步骤：
提供待检测样本，该待检测样本为2层层叠，长13cm，宽16cm，单层厚度为47um的灰黑色薄膜，其主要成分为：PBAT+20wt％2000目白炭黑粉末，并含有少量黑色色素；
将上述待检测样本修剪为直径20mm的标准圆形样品，采用紫外可见光谱仪测试，根据其测试光谱图可以观察到该样品在250-430nm波长区域内无特征吸收峰；
薄膜样品采用手机自带点光源紧贴照射，呈明显白色光斑；
经过火焰燃烧后，该样品有矿物残留物存在，上述矿物残留物置于水中可以下沉；
根据上述步骤的检测结果，鉴定为上述样品中不含有黑滑石组分，该鉴定结果与待检测样本所标记的组分相符，上述检测总计耗时6min，在较短的时间内便取得了准确的鉴定结果。
实施例7
本实施例提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，包括如下的步骤：
提供待检测样本，该待检测样本为2层层叠，长17cm，宽18cm，单层厚度为41um的黑灰色薄膜，其主要成分为：lldpe+20wt％2000目白炭黑粉末，并含有少量黑色色素；
将上述待检测样本修剪为直径20mm的标准圆形样品，采用紫外可见光谱仪测试，根据其测试光谱图可以观察到该样品在250-430nm波长区域内无特征吸收峰；
薄膜样品采用手机自带点光源紧贴照射，呈明显白色光斑；
经过火焰燃烧后，该样品有矿物残留物存在，上述矿物残留物置于水中可以下沉；
根据上述步骤的检测结果，鉴定为上述样品中不含有黑滑石组分，该鉴定结果与待检测样本所标记的组分相符，上述检测总计耗时5min，在较短的时间内便取得了准确的鉴定结果。
实施例8
本实施例提供一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，包括如下的步骤：
提供待检测样本，该待检测样本为5层层叠，长19cm，宽25cm，单层厚度为35um的灰褐色薄膜，其主要成分为：PBAT+20wt％2000目黑滑石粉末；
如图3所示，将上述待检测样本修剪为直径20mm的标准圆形样品，采用紫外可见光谱仪测试，根据其测试光谱图可以观察到该样品在250-430nm波长区域内无特征吸收峰；
如图4及图5所示，薄膜样品采用手机自带点光源紧贴照射，呈明显橙黄色光斑，无白色光斑出现；
经过火焰燃烧后，该样品有矿物残留物存在，上述矿物残留物置于水中可以下沉；
根据上述步骤的检测结果，鉴定为上述样品中不含有黑滑石组分，该鉴定结果与待检测样本所标记的组分相符，上述检测总计耗时7min，在较短的时间内便取得了准确的鉴定结果。
基于上述各实施例，可以明确，本发明所提供的改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法鉴定准确率高，且鉴定速度较快，对设备的要求低，非常便于对改性高分子薄膜材料是否含有黑滑石组分进行鉴定。
应当理解，上述实施例仅为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的快速鉴定方法，其特征在于，包括：
步骤(1)：检测改性高分子薄膜材料是否含有无机填料组分；
步骤(2)：检测所述改性高分子薄膜材料在230-480nm波长范围内是否具有特征吸收；
步骤(3)：使用白色光源照射所述改性高分子薄膜材料，检测所述改性高分子薄膜材料的透光面所形成的光斑是否为橙黄色；
当所述步骤(1)、步骤(2)和步骤(3)的检测结果均为是时，鉴定为所述改性高分子薄膜材料中含有黑滑石组分。
2.根据权利要求1所述的快速鉴定方法，其特征在于，步骤(1)具体包括：
灼烧所述改性高分子薄膜材料，当其灼烧剩余物中包含矿物质粉末残留时，确定所述改性高分子薄膜材料中含有无机填料组分；
优选的，将所述灼烧剩余物置于水中，当所述灼烧剩余物能够沉于水下时，确认所述灼烧剩余物中包含矿物质粉末残留。
3.根据权利要求1所述的快速鉴定方法，其特征在于，步骤(2)具体包括：
通过紫外可见分光光度计对所述改性高分子薄膜材料进行紫外-可见光光谱检测，得到所述改性高分子薄膜材料的紫外可见光谱图，根据所述紫外可见光谱图判断所述改性高分子薄膜材料在230-480nm波长范围内是否具有特征吸收；
所述波长范围优选为250-450nm，进一步优选为300-425nm。
4.根据权利要求3所述的快速鉴定方法，其特征在于，所述紫外可见分光光度计的光谱扫描范围为200-830nm。
5.根据权利要求3所述的快速鉴定方法，其特征在于，所述紫外可见分光光度计的分辨率为1-5nm。
6.根据权利要求1所述的快速鉴定方法，其特征在于，所述白色光源的光照强度为0.5-15cd/m2，优选为1-10cd/m2。
7.根据权利要求6所述的快速鉴定方法，其特征在于，所述白色光源包括自然光源、手电筒、白炽灯、LED灯、移动通讯设备自带手电光源以及显微镜点光源中的一种或两种以上的组合。
8.根据权利要求1所述的快速鉴定方法，其特征在于，所述改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的预估质量分数为3-45％。
9.根据权利要求8所述的快速鉴定方法，其特征在于，当所述改性高分子薄膜材料中黑滑石组分的预估质量分数不低于20％时，所述改性高分子薄膜材料的样品厚度低于2mm。
10.根据权利要求1所述的快速鉴定方法，其特征在于，所述改性高分子薄膜材料中的高分子材料的基体颜色为白色或无色；
优选的，所述高分子材料包括HDPE、LDPE、LLDPE、mPE、EVA、OBC、PP、PVB、PBAT、PBST、PBSA、TPS、PLA以及PPC中的一种或两种以上的组合；
优选的，所述改性高分子薄膜材料为均一材质的改性高分子薄膜，或者是经过多层共挤或多层吹塑以后形成的复合的改性高分子薄膜。
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