CN114415464B - 光轴校准装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本公开涉及一种光轴校准装置及系统,该光轴校准装置包括:第一支架,用于放置相机;第二支架,用于放置第一反光镜和第一图卡中的一个;第三支架,用于放置自准直仪;第一平台;第一校准模块,用于在所述第二支架上放置有所述第一反光镜的情况下,对所述自准直仪相对于所述第一平台的垂直度进行校准;以及,第二校准模块,用于在所述自准直仪已完成垂直度校准的情况下,基于所述自准直仪,对所述相机相对于所述第一平台的垂直度进行校准;以及在所述第二支架上放置有所述第一图卡、且所述相机已完成垂直度校准的情况下,基于所述第一图卡,对所述相机的水平度进行校准。
Description
技术领域
本公开实施例涉及光学技术领域,更具体地,涉及一种光轴校准装置及系统。
背景技术
对于成像的光学设备(如相机),光轴校准是不可避免的,也是成像光学设备调试中最重要的一个环节。
在传统的光学设备光轴校准中,首先需要用水平仪校准平面水平度,之后可以采用镜头直拍的方式,将相机镜头垂直固定好位置,以进行光轴校准。
但在水平度方面,水平仪校准需要绝对水平面,因此水平仪本身存在误差,导致平面水平度不佳,从而影响光轴校准效果。
发明内容
本公开实施例的一个目的是提供一种校准光轴的新的技术方案。
根据本公开的第一方面,提供了一种光轴校准装置,包括:第一支架,用于放置相机;第二支架,用于放置第一反光镜和第一图卡中的一个;第三支架,用于放置自准直仪;第一平台;第一校准模块,用于在所述第二支架上放置有所述第一反光镜的情况下,对所述自准直仪相对于所述第一平台的垂直度进行校准;以及,第二校准模块,用于在所述自准直仪已完成垂直度校准的情况下,基于所述自准直仪,对所述相机相对于所述第一平台的垂直度进行校准;以及在所述第二支架上放置有所述第一图卡、且所述相机已完成垂直度校准的情况下,基于所述第一图卡,对所述相机的水平度进行校准。
可选地,所述第二支架在外力作用下能够沿所述第一平台的延伸方向在第一位置和第二位置之间移动;所述第三支架在外力作用下能够沿所述第一平台的延伸方向在第三位置和第四位置之间移动;所述第一校准模块,用于在所述第二支架位于所述第一位置、且所述第三支架位于所述第三位置的情况下,对所述自准直仪相对于所述第一平台的垂直度进行校准;所述第二校准模块,用于在所述第三支架位于所述第四位置的情况下,对所述相机相对于所述第一平台的垂直度进行校准;以及在所述第二支架位于所述第二位置、且所述第三支架位于所述第四位置的情况下,对所述相机的水平度进行校准。
可选地,所述光轴校准装置还包括:第一导轨,所述第一导轨的延伸方向与所述第一平台的延伸方向相一致,所述第一导轨与所述第一平台间的相对位置固定;以及,驱动模块,用于驱动所述第二支架沿所述第一导轨在所述第一位置和所述第二位置之间移动,以及驱动所述第三支架沿所述第一导轨在所述第三位置和所述第四位置之间移动。
可选地,所述第二校准模块,用于通过调节所述相机的六轴参数,对所述相机相对于所述第一平台的垂直度进行校准,以使所述自准直仪的光源中心与所述相机的电荷耦合元件的中心相重合。
可选地,所述第一图卡包括十字图卡;所述第二校准模块,用于通过调节所述相机的六轴参数,对所述相机的水平度进行校准,以使所述十字图卡的中心与所述相机的电荷耦合元件的中心相重合。
可选地,所述第二支架,用于放置所述第一反光镜、所述第一图卡和三角镜中的一个;其中,在所述第二支架上放置有所述三角镜、所述相机已完成水平度校准的情况下,外部的测距仪发射的光线经所述三角镜反射后射向所述相机,且所述相机反射的光线经所述三角镜反射后射出。
根据本公开的第二方面,还提供了一种光轴校准系统,包括:测距装置和本公开的第一方面中任一项所述的光轴校准装置;其中,所述测距装置与所述光轴校准装置间的相对位置关系可调整;所述测距装置包括:第四支架,用于放置测距仪;其中,在已调整所述相对位置关系的情况下,所述测距仪发射的光线经所述相机反射后进入所述测距仪,所述测距仪测量出的所述相机的摄物距离为设定的摄物距离。
可选地,所述光轴校准系统还包括:驱动装置,用于驱动所述测距装置的移动,以调整所述相对位置关系。
可选地,所述测距装置还包括:第二反光镜,用于对所述测距仪发射的光线和射向所述测距仪的光线进行反射。
可选地,所述第二反光镜的光线反射角度可调节。
本公开实施例的一个有益效果在于,光轴校准装置包括第一支架、第二支架、第三支架、第一平台、第一校准模块和第二校准模块。第一校准模块在第二支架上放置有第一反光镜的情况下,对第三支架上放置的自准直仪相对于第一平台的垂直度进行校准;第二校准模块在自准直仪已完成垂直度校准的情况下,对第一支架上放置的相机相对于第一平台的垂直度进行校准,以及在第二支架上放置有第一图卡、且相机已完成垂直度校准的情况下,对相机的水平度进行校准,从而完成相机光轴校准。这一相机光轴校准方式实现了相机相对于设定平台的光轴校准处理,可为后续在此基础之上进行相机虚像距离标定提供支持,而无需进行绝对水平面的校准。如此,可以避免因水平仪自身误差对相机光轴校准的影响,从而提升光轴校准效果。
通过以下参照附图对本公开的示例性实施例的详细描述,本公开实施例的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本公开的实施例,并且连同其说明一起用于解释本公开实施例的原理。
图1为根据一个实施例的光轴校准装置的结构示意图;
图2为根据一个实施例的光轴校准系统的结构示意图;
图3为根据一个实施例的测距装置的结构示意图。
附图中,1:第一支架;2:第二支架;3:第三支架;4:第一平台;5:第二校准模块;6:相机;7:第一反光镜;8:自准直仪;9:三角镜;10:测距仪;11:第四支架;12:第二反光镜。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本公开的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
如图1所示,本实施例提供了一种光轴校准装置,该装置包括第一支架1、第二支架2、第三支架3、第一平台4、第一校准模块和第二校准模块5。
其中,所述第一支架1用于放置相机6。
请参考图1,可以通过第一支架1固定好相机6,以便于对相机6进行光轴校准。
本实施例中,为避免因水平仪自身误差对相机光轴校准以及后续相机虚像距离标定的影响,可以不基于绝对水平面进行相机6的光轴校准,而是相对于设定平面对相机6进行光轴校准处理,该设定平面不保证为绝对水平面。比如,该设定平面可以为第一平台4的平面。
如此,经光轴校准处理后,相机6是相对于该设定平面具有绝对的垂直度和水平度,这一光轴校准效果可为后续在此基础之上进行相机虚像距离标定提供支持,使得即使未进行绝对水平面的校准,仍然可以实现准确的相机虚像距离标定。
比如可以由光轴校准装置和如图3所示的测距装置组成一个光轴校准系统(该系统的示意图可以如图2所示),基于该系统可以实现相机虚像距离标定的目的。
本实施例中,为了能够相对于第一平台4对相机6进行光轴校准处理,首先可以校准自准直仪8相对于第一平台4的绝对垂直。在确定自准直仪8相对于第一平台4绝对垂直之后,再基于自准直仪8校准相机6相对于第一平台4的绝对垂直,然后校准相机水平度,从而完成相机光轴校准。
基于此,本实施例中,所述第二支架2用于放置第一反光镜7和第一图卡中的一个。所述第三支架3用于放置自准直仪8。
需要说明的是,第二支架2至少可以用于放置第一反光镜7或者第一图卡,而不限定第二支架2只能用于放置第一反光镜7或者第一图卡。
其中,第一反光镜7被用来进行相机垂直光轴校准,第一图卡被用来进行相机水平光轴校准。在需要进行相机垂直光轴校准时,可以将第一反光镜7放置在第二支架2上,在需要进行相机水平光轴校准时,可以将第一图卡放置在第二支架2上。
如此,在放置好第一反光镜7之后,即可进行自准直仪8相对于第一平台4的垂直度校准。其中,自准直仪8可以为激光自准直仪。
基于此,本实施例中,所述第一校准模块用于在所述第二支架2上放置有所述第一反光镜7的情况下,对所述自准直仪8相对于所述第一平台4的垂直度进行校准。
请参考图1及图2,可以将激光自准直仪器固定在第三支架3这一垂直支架上,并将第一反光镜7放置到第二支架2上,以使第一反光镜7位于激光源的上方,由第一反光镜7反射激光源发出的光线。之后,即可基于第一反光镜7对激光源信号的反射情况来校准光源垂直度,以确保激光源与第一反光镜7相对于第一平台4处于垂直平面,即确保自准直仪8相对于第一平台4的绝对垂直。之后,即可进行相机垂直光轴校准和相机水平光轴校准。
基于此,本实施例中,所述第二校准模块5用于在所述自准直仪8已完成垂直度校准的情况下,基于所述自准直仪8,对所述相机6相对于所述第一平台4的垂直度进行校准;以及在所述第二支架2上放置有所述第一图卡、且所述相机6已完成垂直度校准的情况下,基于所述第一图卡,对所述相机6的水平度进行校准。
详细地,可以通过相机六轴实现对相机光轴的校准。可行地,该六轴可以分别为相机的X、Y、Z、Pitch、Yaw、Roll这六个轴。
如上所述,在已确定自准直仪8相对于第一平台4绝对垂直之后,可以基于自准直仪8校准相机6相对于第一平台4的绝对垂直。
详细地,相机6可以拍摄激光源,通过调整相机六轴可使得激光源光斑与相机中心重合,即完成相机光轴垂直校准。
请参考图1及图2,可以将激光自准直仪与第二支架2同步移动到已固定的相机6的下方,然后可以利用六轴调节相机各角度,以使激光自准直仪的光源中心与相机CCD(harge-coupled Device,电荷耦合元件)中心重合,从而完成相机6、第二支架2、激光源中心光轴垂直度的校准。由于自准直仪8相对于第一平台4绝对垂直,若自准直仪8的光源中心与相机6的CCD中心重合,即可认为此时的相机6相对于第一平台4绝对垂直。
基于此,在本公开一个实施例中,所述第二校准模块5,用于通过调节所述相机6的六轴参数,对所述相机6相对于所述第一平台4的垂直度进行校准,以使所述自准直仪8的光源中心与所述相机6的电荷耦合元件的中心相重合。
如上所述,在已确定相机6相对于第一平台4绝对垂直之后,可以基于第一图卡校准相机水平度。该第一图卡可以为十字图卡。
详细地,相机6可以拍摄十字图卡,通过调整相机六轴可使得十字图卡中心与相机中心重合,即完成相机光轴水平校准。
请参考图1及图2,可以在第二支架2上放置十字图卡,通过调节相机六轴,以使十字图卡中心与相机中心重合,用来校准相机水平度,此时相机校准完成。
基于此,在本公开一个实施例中,所述第一图卡包括十字图卡;所述第二校准模块5,用于通过调节所述相机6的六轴参数,对所述相机6的水平度进行校准,以使所述十字图卡的中心与所述相机6的电荷耦合元件的中心相重合。
请参考图1及图2并结合上述内容,可以在相机光轴校准的不同阶段按需调整第二支架2和第三支架3至预期位置,以便于不同阶段校准操作的执行。
基于此,在本公开一个实施例中,请参考图1及图2,所述第二支架2在外力作用下能够沿所述第一平台4的延伸方向在第一位置和第二位置之间移动;所述第三支架3在外力作用下能够沿所述第一平台4的延伸方向在第三位置和第四位置之间移动。
对应地,所述第一校准模块,用于在所述第二支架2位于所述第一位置、且所述第三支架3位于所述第三位置的情况下,对所述自准直仪8相对于所述第一平台4的垂直度进行校准。
对应地,所述第二校准模块5,用于在所述第三支架3位于所述第四位置的情况下,对所述相机6相对于所述第一平台4的垂直度进行校准;以及在所述第二支架2位于所述第二位置、且所述第三支架3位于所述第四位置的情况下,对所述相机6的水平度进行校准。
如图1及图2所示,需要校准自准直仪8的垂直度时,第二支架2可以位于第一位置(该第一位置可以为如图1、图2所示的第二支架2所在的位置),同时第三支架3位于第三位置(该第三位置可以为如图1所示的第三支架3所在的位置、与图2中自准直仪8所在位置相对应的位置),以便于将第一反光镜7放置在第二支架2上,将自准直仪8放置在第三支架3上,且第一反光镜7位于自准直仪8的上方,从而可校准自准直仪8相对于第一平台4的垂直度。在完成自准直仪8的垂直度校准之后,可取下第一反光镜7。
需要进行相机垂直光轴校准时,请参照图2中箭头所示的移动方向,可以将第三支架3从第三位置移动至第四位置(通过移动第三支架3,自准直仪8可被同步移动,被移动后的自准直仪8可位于如图2中点划线所示的位置,即第四位置可以为与图2中点划线所示位置相对应的位置,第四位置位于图2所示相机6所在位置的下方),以使相机6位于自准直仪8的上方,从而可校准相机6相对于第一平台4的垂直度。
需要进行相机水平光轴校准时,可以将第一图卡放置在第二支架2上,并将第二支架2从第一位置移动至第二位置(将第二支架2从第一位置移动至第二位置的移动方向可以为如图2中箭头所示的移动方向,第二位置位于图2所示相机6所在位置的下方),以使相机6位于第一图卡的上方,从而可校准相机6的水平度。
详细地,第一平台4上可以设置有导轨,以便于第二支架2和第三支架3可以沿导轨实现准确平移,避免因位置移动存在偏差而产生相应的校准误差。优选地,可以由驱动模块对第二支架2和第三支架3沿导轨的位置移动进行控制。
基于此,在本公开一个实施例中,所述光轴校准装置还包括:第一导轨和驱动模块。
其中,所述第一导轨的延伸方向与所述第一平台4的延伸方向相一致,所述第一导轨与所述第一平台4间的相对位置固定。所述驱动模块用于驱动所述第二支架2沿所述第一导轨在所述第一位置和所述第二位置之间移动,以及驱动所述第三支架3沿所述第一导轨在所述第三位置和所述第四位置之间移动。
本实施例中,第一导轨和第一平台4的延伸方向保持一致,以保证第二支架2和第三支架3沿第一导轨的位置移动具有预期的精准度。比如,在第三支架3沿图2所示箭头方向移动时,可带动其上放置的自准直仪8准确移动至相机6的下方预期位置处,为后续对相机六轴的调节提供便利。
由上可知,本实施例提供的光轴校准装置包括第一支架、第二支架、第三支架、第一平台、第一校准模块和第二校准模块。第一校准模块在第二支架上放置有第一反光镜的情况下,对第三支架上放置的自准直仪相对于第一平台的垂直度进行校准;第二校准模块在自准直仪已完成垂直度校准的情况下,对第一支架上放置的相机相对于第一平台的垂直度进行校准,以及在第二支架上放置有第一图卡、且相机已完成垂直度校准的情况下,对相机的水平度进行校准,从而完成相机光轴校准。这一相机光轴校准方式实现了相机相对于设定平台的光轴校准处理,可为后续在此基础之上进行相机虚像距离标定提供支持,而无需进行绝对水平面的校准。如此,可以避免因水平仪自身误差对相机光轴校准的影响,从而提升光轴校准效果。
在完成相机光轴校准后,可以在此基础之上进行相机虚像距离标定,以实现在一定摄物距离下的相机调焦。比如该摄物距离可以为2m、4m等。
其中,可以通过测距仪10测量相机的摄物距离。详细地,测距仪10发射的光线经相机6反射后可再次进入测距仪10,基于测距仪10测量的光路距离,可以得到相应的摄物距离。
通常情况下,如图2所示,相机6和测距仪10水平分布放置,为便于测距仪10发射的光线经相机6反射后可再次进入测距仪10,可以通过三角镜9实现光路转向。
基于此,在本公开一个实施例中,所述第二支架2,用于放置所述第一反光镜7、所述第一图卡和三角镜9中的一个。
详细地,在完成相机光轴校准后,即可取下第一图卡,并将三角镜9放置到第二支架2上。由于相机6相对于第一平台4已完成光轴校准,且第二支架2和第一平台4的位置关系固定,故而三角镜9的存在可以实现预期的光路走向效果,保证测距仪10发射的光线经相机6和三角镜9反射后可以如期进入测距仪10。
基于此,本实施例中,在所述第二支架2上放置有所述三角镜9、所述相机6已完成水平度校准的情况下,外部的测距仪10发射的光线经所述三角镜9反射后射向所述相机6,且所述相机6反射的光线经所述三角镜9反射后射出。
请参考图2,图2示出了光路的一种可行走向,测距仪10发射的光线经三角镜9反射后可以垂直射向相机6,经相机6反射后射向三角镜9以实现光线反射。
可见,基于三角镜9的光路转向作用,可便于相机6和测距仪10的合理分布,且为摄物距离的按需调整提供便利。比如,需要减小摄物距离时,可以减小相机6和测距仪10间的水平间距,反之增大该水平间距即可。
基于上述内容,请参考图2,本实施例还提供了一种光轴校准系统,该系统包括测距装置和本实施例提供的任一种光轴校准装置。
其中,所述测距装置与所述光轴校准装置间的相对位置关系可调整。基于该相对位置关系的调整,可以实现各种摄物距离下的相机调整。
本实施例中,所述测距装置包括:第四支架11,用于放置测距仪10;其中,在已调整所述相对位置关系的情况下,所述测距仪10发射的光线经所述相机6反射后进入所述测距仪10,所述测距仪10测量出的所述相机6的摄物距离为设定的摄物距离。
详细地,该测距仪10可以为激光测距仪。
为便于摄物距离的按需调整,可以将测距仪10放置在第四支架11上,并通过调整第四支架11的位置,以起到相应的摄物距离调整效果。
详细地,测距仪10可以测量出相机6的摄物距离,随着第四支架11的位置变化,测距仪10测得的摄物距离相应变化。当达到预期的摄物距离后,即可固定第四支架11。
详细地,可以在测距仪10的位置处放置第二图卡,比如请参考图2及图3,可以在测距仪10和第四支架11的底板之间,放置该第二图卡。基于相机6对第二图卡的拍摄清晰度,可以进行相机调焦处理,从而完成相机虚像距离标定。
可见,基于本实施例提供的光轴校准系统,在完成相机光轴校准后,无需拆卸相机即可进行相机虚像距离标定,操作简单方便,且操作精度高。
在本公开一个实施例中,所述光轴校准系统还包括:驱动装置,用于驱动所述测距装置的移动,以调整所述相对位置关系。
本实施例中,驱动装置驱动测距装置发生移动,以使驱动装置的第四支架11上放置的测距仪10发生同步移动,以及使得相机6的摄物距离发生相应变化。
在本公开一个实施例中,请参考图2及图3,所述测距装置还包括:第二反光镜12,用于对所述测距仪10发射的光线和射向所述测距仪10的光线进行反射。
如图2所示,测距仪10发射的光线可以先经第二反光镜12反射后再射向三角镜9,基于第二反光镜12的光线发射效果,可使得测距仪10可以垂直于第四支架11的底板放置。
考虑到第一平板4相对于绝对水平面的倾斜角度未知且可能不固定,为保证测距仪10发出的光线经相机6反射后可以返回至测距仪10,可以对第二反光镜12的位置进行调整,以使在第二反光镜12具有一定的反射角度下,测距仪10发出的光线经相机6反射后可以返回至测距仪10,从而实现测距目的。
基于此,在本公开一个实施例中,所述第二反光镜12的光线反射角度可调节。
如图2及图3所示,第二反光镜12可以基于中心轴进行旋转,旋转位置不同时,对测距仪10射出光线的反射角度不同。在旋转至某一位置时,测距仪10射出光线经相机6反射后可以返回至测距仪10。如此可以避免出现测距仪10接收不到光线,从而无法测距的问题。
基于本实施例提供的光轴校准装置及系统,可以采用激光自准直仪进行校准,从而无需进行水平仪校准平面水平度的步骤,如此不仅节省了校准步骤,从而解决了平面度校准精度问题,还提高了校准精度。此外,本实施例支持在相机安装固定好并完成光轴校准之后直接进行虚像距离标定,省去了相机单独拆装标定过程,减小了拆装过程造成的误差,整体校准方案测量精度高,操作简单,极大提高了工作效率。
以上已经描述了本发明的各实施例,上述说明是示例性的,并非穷尽性的,并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下,对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择,旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术改进,或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。本发明的范围由所附权利要求来限定。
Claims (9)
1.一种光轴校准装置,其特征在于,包括:
第一支架,用于放置相机;
第二支架,用于放置第一反光镜和第一图卡中的一个;
第三支架,用于放置自准直仪;
第一平台;
第一校准模块,用于在所述第二支架上放置有所述第一反光镜的情况下,对所述自准直仪相对于所述第一平台的垂直度进行校准;以及,
第二校准模块,用于在所述自准直仪已完成垂直度校准的情况下,基于所述自准直仪,对所述相机相对于所述第一平台的垂直度进行校准;以及在所述第二支架上放置有所述第一图卡、且所述相机已完成垂直度校准的情况下,基于所述第一图卡,对所述相机的水平度进行校准,
其中,所述第二支架在外力作用下能够沿所述第一平台的延伸方向在第一位置和第二位置之间移动;
所述第三支架在外力作用下能够沿所述第一平台的延伸方向在第三位置和第四位置之间移动;
所述第一校准模块,用于在所述第二支架位于所述第一位置、且所述第三支架位于所述第三位置的情况下,对所述自准直仪相对于所述第一平台的垂直度进行校准;
所述第二校准模块,用于在所述第三支架位于所述第四位置的情况下,对所述相机相对于所述第一平台的垂直度进行校准;以及在所述第二支架位于所述第二位置、且所述第三支架位于所述第四位置的情况下,对所述相机的水平度进行校准。
2.根据权利要求1所述的光轴校准装置,其特征在于,所述光轴校准装置还包括:
第一导轨,所述第一导轨的延伸方向与所述第一平台的延伸方向相一致,所述第一导轨与所述第一平台间的相对位置固定;以及,
驱动模块,用于驱动所述第二支架沿所述第一导轨在所述第一位置和所述第二位置之间移动,以及驱动所述第三支架沿所述第一导轨在所述第三位置和所述第四位置之间移动。
3.根据权利要求1所述的光轴校准装置,其特征在于,所述第二校准模块,用于通过调节所述相机的六轴参数,对所述相机相对于所述第一平台的垂直度进行校准,以使所述自准直仪的光源中心与所述相机的电荷耦合元件的中心相重合。
4.根据权利要求1所述的光轴校准装置,其特征在于,所述第一图卡包括十字图卡;
所述第二校准模块,用于通过调节所述相机的六轴参数,对所述相机的水平度进行校准,以使所述十字图卡的中心与所述相机的电荷耦合元件的中心相重合。
5.根据权利要求1所述的光轴校准装置,其特征在于,所述第二支架,用于放置所述第一反光镜、所述第一图卡和三角镜中的一个;
其中,在所述第二支架上放置有所述三角镜、所述相机已完成水平度校准的情况下,外部的测距仪发射的光线经所述三角镜反射后射向所述相机,且所述相机反射的光线经所述三角镜反射后射出。
6.一种光轴校准系统,其特征在于,包括:测距装置和权利要求1-5中任一项所述的光轴校准装置;
其中,所述测距装置与所述光轴校准装置间的相对位置关系可调整;
所述测距装置包括:第四支架,用于放置测距仪;
其中,在已调整所述相对位置关系的情况下,所述测距仪发射的光线经所述相机反射后进入所述测距仪,所述测距仪测量出的所述相机的摄物距离为设定的摄物距离。
7.根据权利要求6所述的光轴校准系统,其特征在于,所述光轴校准系统还包括:
驱动装置,用于驱动所述测距装置的移动,以调整所述相对位置关系。
8.根据权利要求6所述的光轴校准系统,其特征在于,所述测距装置还包括:
第二反光镜,用于对所述测距仪发射的光线和射向所述测距仪的光线进行反射。
9.根据权利要求8所述的光轴校准系统,其特征在于,所述第二反光镜的光线反射角度可调节。
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Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010216679A (ja) * | 2009-03-13 | 2010-09-30 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 光軸校正装置 |
JP2010262981A (ja) * | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Juki Corp | 電子部品実装装置用カメラ間校正装置 |
JP2012167944A (ja) * | 2011-02-10 | 2012-09-06 | Ricoh Co Ltd | ステレオカメラ校正方法及び装置 |
JP5747396B1 (ja) * | 2014-02-25 | 2015-07-15 | アキム株式会社 | 光軸調整装置 |
US10004564B1 (en) * | 2016-01-06 | 2018-06-26 | Paul Beck | Accurate radiographic calibration using multiple images |
CN208386813U (zh) * | 2018-06-12 | 2019-01-15 | 歌尔科技有限公司 | 位置校准治具和光学调整系统 |
KR20190006676A (ko) * | 2017-07-11 | 2019-01-21 | (주)하이비젼시스템 | 카메라 모듈에 사용되는 프리즘 렌즈의 위치 조정 방법 |
JP2019090755A (ja) * | 2017-11-16 | 2019-06-13 | 京セラ株式会社 | 校正方法および校正装置 |
CN111260737A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-06-09 | 深圳英飞拓科技股份有限公司 | 一种一体化摄像机光学中心调整的方法及装置 |
CN111426449A (zh) * | 2019-10-16 | 2020-07-17 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种多台自准直仪光轴平行性校准方法 |
CN211454120U (zh) * | 2019-12-31 | 2020-09-08 | 茂莱(南京)仪器有限公司 | 一种装配有分束棱镜的成像物镜 |
CN112526489A (zh) * | 2020-12-21 | 2021-03-19 | 江苏亮点光电科技有限公司 | 激光测距机的光轴校准系统、方法及激光参数测量方法 |
CN213301629U (zh) * | 2020-10-28 | 2021-05-28 | 歌尔光学科技有限公司 | 一种主动校准瞳距拨动位置的装置 |
CN113175913A (zh) * | 2021-05-11 | 2021-07-27 | 西南交通大学 | 一种基于激光测距的物体倾斜动态检测装置及检测方法 |
EP3890316A1 (en) * | 2020-04-01 | 2021-10-06 | Continental Automotive GmbH | Collimator based camera calibration |
CN113588213A (zh) * | 2021-04-29 | 2021-11-02 | 上海鱼微阿科技有限公司 | 一种用于vr测试的双目相机光轴校准方法和装置 |
CN214954069U (zh) * | 2020-11-25 | 2021-11-30 | 北京万集科技股份有限公司 | 用于激光雷达零点校准的安装支架及路侧基站 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20170138867A (ko) * | 2016-06-08 | 2017-12-18 | 삼성에스디에스 주식회사 | 광원을 이용한 카메라 캘리브레이션 방법 및 그 장치 |
-
2021
- 2021-12-30 CN CN202111667481.8A patent/CN114415464B/zh active Active
Patent Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010216679A (ja) * | 2009-03-13 | 2010-09-30 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 光軸校正装置 |
JP2010262981A (ja) * | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Juki Corp | 電子部品実装装置用カメラ間校正装置 |
JP2012167944A (ja) * | 2011-02-10 | 2012-09-06 | Ricoh Co Ltd | ステレオカメラ校正方法及び装置 |
JP5747396B1 (ja) * | 2014-02-25 | 2015-07-15 | アキム株式会社 | 光軸調整装置 |
US10004564B1 (en) * | 2016-01-06 | 2018-06-26 | Paul Beck | Accurate radiographic calibration using multiple images |
KR20190006676A (ko) * | 2017-07-11 | 2019-01-21 | (주)하이비젼시스템 | 카메라 모듈에 사용되는 프리즘 렌즈의 위치 조정 방법 |
JP2019090755A (ja) * | 2017-11-16 | 2019-06-13 | 京セラ株式会社 | 校正方法および校正装置 |
CN208386813U (zh) * | 2018-06-12 | 2019-01-15 | 歌尔科技有限公司 | 位置校准治具和光学调整系统 |
CN111426449A (zh) * | 2019-10-16 | 2020-07-17 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种多台自准直仪光轴平行性校准方法 |
CN211454120U (zh) * | 2019-12-31 | 2020-09-08 | 茂莱(南京)仪器有限公司 | 一种装配有分束棱镜的成像物镜 |
CN111260737A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-06-09 | 深圳英飞拓科技股份有限公司 | 一种一体化摄像机光学中心调整的方法及装置 |
EP3890316A1 (en) * | 2020-04-01 | 2021-10-06 | Continental Automotive GmbH | Collimator based camera calibration |
CN213301629U (zh) * | 2020-10-28 | 2021-05-28 | 歌尔光学科技有限公司 | 一种主动校准瞳距拨动位置的装置 |
CN214954069U (zh) * | 2020-11-25 | 2021-11-30 | 北京万集科技股份有限公司 | 用于激光雷达零点校准的安装支架及路侧基站 |
CN112526489A (zh) * | 2020-12-21 | 2021-03-19 | 江苏亮点光电科技有限公司 | 激光测距机的光轴校准系统、方法及激光参数测量方法 |
CN113588213A (zh) * | 2021-04-29 | 2021-11-02 | 上海鱼微阿科技有限公司 | 一种用于vr测试的双目相机光轴校准方法和装置 |
CN113175913A (zh) * | 2021-05-11 | 2021-07-27 | 西南交通大学 | 一种基于激光测距的物体倾斜动态检测装置及检测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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