CN111426449A - 一种多台自准直仪光轴平行性校准方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种多台自准直仪自身光轴位置校准方法，该方法包括如下步骤：步骤1)确定基准和待调节自准直仪的自身光轴位置；步骤2)调节自准直仪平行性。该方法通过自准直仪和一个转台、一块平面反射镜，就能实现多台自准直仪光轴平行性的校准，校准精度高，所需设备简单，也没有距离限制；避免了使用大口径平行光管，节约成本，不局限于大口径平行光管的口径范围内，调节范围大。

Description

一种多台自准直仪光轴平行性校准方法

技术领域

本发明涉及一种用于光学装置校准方法，特别涉及一种装调和测试的多台自准直仪光轴平行性校准方法。

背景技术

在光学装调和测试领域，常常需要用到自准直仪建立光轴位置基准，来进行光学系统的装调测试。有时需要两台以上不同位置的自准直仪光轴平行，如双筒望远镜光轴测试等，但现有的光电自准直仪都对返回光线位置建立一个相对基准，对于自身光轴位置并不确定，无法判断被测元件是否与光路垂直。校准两台以上同方向的光电自准直仪光轴平行性需要用到大口径平行光管。相对方向的自准直仪光轴则难以校准。

现有调整两台自准直仪光轴平行性方法为：用一台大口径平行光管接收被测自准直仪出射光束，观察焦平面上两个目标相是否重合，，若重合则了两台自准直仪光轴平行。相对方向的两台自准直仪光轴则很难校准，需要先准备一块垂直于大口径平行光管光路的平面反射镜才可以进行。但此校准方法对两台自准直仪位置限制在平行光管通光口径内，较远距离的无法校准。

因此，需提供一种能实现多台自准直仪光轴平行性校准的方法。

发明内容

发明目的：

本发明的目的在于提供一种能实现多台自准直仪光轴平行性的校准方法，以解决现有技术存在的问题

技术方案：

本发明提供了一种自准直仪自身光轴位置校准方法，该方法包括如下步骤：

步骤1)确定基准和待调节自准直仪的自身光轴位置；

步骤2)调节自准直仪平行性。

进一步的，所述步骤1)包括：

1.1)准备一台带十字目标源的自准直平行光管，将其固定在一个垂直支架上，使出光口大致垂直向下；

1.2)在自准直光管正下方的调节转台上放置平面反射镜，调整光管与反射镜位置，使出射的光管光束经反射镜反射回来并在自身显示器上成像；

1.3)旋转放置平面反射镜的平台，调整转台俯仰倾斜角度，观察光管的显示器上的十字像位置，若转动转台时十字像位置不变，即为自准直光管光轴，标记为基准；

1.4)同上方法确定被测自准直仪自身光轴位置。

进一步的，所述步骤2)包括：

将两台自准直仪并排放置，用一块可覆盖两自准直仪口径的平面反射镜对其出射光进行反射，调整各自自准直仪俯仰方位角度，使各自返回十字像都位于自身光轴位置，则两台自准直仪光轴都垂直于平面反射镜，即被测自准直仪平行性调整完毕。

自准直光管出射光与平面反射镜不垂直时，经平面反射镜反射回来成像的十字像会随着平台旋转轨迹为一个圆。

进一步的，若自准直仪位置较远，则按上述步骤2)调整完毕后，移动反射镜位置，调整反射镜位置使自准直仪返回像与原位置重合，再移动自准直仪，调整移动后自准直仪使自准直仪返回像与原位置重合，进而将自准直仪平移到所需要的位置。

平面镜移动后调整位置使十字像回到原位置，则此时自准直仪光轴与平面反射镜仍垂直，再固定平面反射镜，移动自准直仪，移动后使十字像也回到原位置，则自准直仪光轴与之前仍然平行。

进一步的，若自准直仪位置相对放置，大致对准使其相互成像，调整一台自准直仪俯仰角方位角度，使对面自准直仪入射的十字像成像在自身光轴位置上，此时两自准直仪光轴平行。

进一步的，若两自准直仪相对且远距离，则若需平移自准直仪，可用平面反射镜移动自准直仪到要求位置，平面反射镜移动后调整位置使十字像回到原位置，此时自准直仪光轴与平面反射镜仍垂直，固定平面反射镜，移动自准直仪，移动后使十字像也回到原位置，则自准直仪光轴与之前仍平行。

有益效果：

本发明所提供的多台自准直仪光轴平行性校准方法通过自准直仪和一个转台、一块平面反射镜，就能实现多台自准直仪光轴平行性的校准，校准精度高，所需设备简单，也没有距离限制；避免了使用大口径平行光管，节约成本，不局限于大口径平行光管的口径范围内，调节范围大。

附图说明

图1为本发明实施例中自准直仪光轴自身光轴位置确定时使用的装置结构示意图；

图2为本发明实施例中同向放置的自准直仪光轴平行性校准方法使用的装置结构示意图；

图3为本发明实施例中相对放置的自准直仪光轴平行性校准方法使用的装置结构示意图。

其中，1：带十字目标源的自准直仪；2：旋转平台；3：平面反射镜；4：显示器；5：待测自准直仪；6：平面反射镜二；A：十字像位置。

具体实施方式

下面结合附图1-3对本发明做进一步详细描述：

本发明提供了一种自准直仪光轴平行性校准方法，该方法具体步骤如下：

1)按如图1所示的结构设置自准直仪、旋转平台和平面反射镜，将带十字目标源的自准直仪1固定在垂直支架上，使出光口大致向下，在自准直仪1出光口正下方的旋转平台2上放置一块平面反射镜 3，调节旋转平台2的俯仰方位角度，使光管出射的光束经平面反射镜3反射回来并在自身显示器上成像。

2)旋转放置平面反射镜3的旋转平台2，观察十字像划圆量，调整旋转平台2俯仰倾斜角度，观察自准直仪的显示器4上的十字像位置A，若转动旋转平台2时十字像位置不变，A即为自准直仪光轴位置，将其标记为基准。同样方法确定待测自准直仪5自身光轴位置。

3)如图2所示，为同向放置的自准直仪光轴平行性校准方法的装置结构图，将两台自准直仪1和5并排放置，用一块可覆盖两自准直仪口径的平面反射镜二6对其出射光进行反射，调整各自自准直仪俯仰方位角度，使各自返回十字像都位于自身光轴位置，则自准直仪 1和5的光轴都垂直于平面反射镜二6，即两台自准直仪平行设置。

4)若要移动自准直仪5，按上述步骤调试完成后，移动反射镜二位置，然后调整反射镜位置使自准直仪5返回像与原位置重合，再移动自准直仪5，调整移动后的自准直仪5位置，使自准直仪返回像与原位置重合，以此将自准直仪5平移到要求位置。

5)如图3所示，为相对放置的自准直仪光轴平行性校准方法的装置结构图，将两台自准直仪1和5大致对准，使其相互成像，调整其中自准直仪5的俯仰方位角，使自准直仪1入射的十字像成像在自准直仪5自身光轴位置上，此时两自准直仪光轴平行，若需平移自准直仪5，参考步骤四用平面反射镜建立基准然后移动自准直仪5到要求位置。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种多台自准直仪自身光轴位置校准方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

步骤1)确定基准和待调节自准直仪的自身光轴位置；

步骤2)调节自准直仪平行性。

2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述步骤1)包括：

1.1)准备一台带十字目标源的自准直平行光管，将其固定在一个垂直支架上，使出光口大致垂直向下；

1.2)在自准直光管正下方的调节转台上放置平面反射镜，调整光管与反射镜位置，使出射的光管光束经反射镜反射回来并在自身显示器上成像；

1.3)旋转放置平面反射镜的平台，调整转台俯仰倾斜角度，观察光管的显示器上的十字像位置，若转动转台时十字像位置不变，即为自准直光管光轴，标记为基准；

1.4)同上方法确定被测自准直仪自身光轴位置。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤2)包括：

将两台自准直仪并排放置，用一块可覆盖两自准直仪口径的平面反射镜对其出射光进行反射，调整各自自准直仪俯仰方位角度，使各自返回十字像都位于自身光轴位置，则两台自准直仪光轴都垂直于平面反射镜，即被测自准直仪平行性调整完毕。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，若自准直仪位置较远，则按上述步骤2)调整完毕后，移动反射镜位置，调整反射镜位置使自准直仪返回像与原位置重合，再移动自准直仪，调整移动后自准直仪使自准直仪返回像与原位置重合，进而将自准直仪平移到所需要的位置。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，若自准直仪位置相对放置，大致对准使其相互成像，调整一台自准直仪俯仰角方位角度，使对面自准直仪入射的十字像成像在自身光轴位置上，此时两自准直仪光轴平行。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，若两自准直仪相对且远距离，则若需平移自准直仪，可用平面反射镜移动自准直仪到要求位置，平面反射镜移动后调整位置使十字像回到原位置，此时自准直仪光轴与平面反射镜仍垂直，固定平面反射镜，移动自准直仪，移动后使十字像也回到原位置，则自准直仪光轴与之前仍平行。

Images