CN114415002A - 基于多台测试机数据处理的硬件系统及方法 - Google Patents

基于多台测试机数据处理的硬件系统及方法 Download PDF

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CN114415002A CN202210327831.4A CN202210327831A CN114415002A CN 114415002 A CN114415002 A CN 114415002A CN 202210327831 A CN202210327831 A CN 202210327831A CN 114415002 A CN114415002 A CN 114415002A
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Abstract

本发明提供了一种基于多台测试机数据处理的硬件系统及方法，硬件系统包括柜体，柜体设置有正面板和背面板，正面板上设置有电源开关，用于打开或关闭硬件系统；背面板上设置有工控机接口、测试站接口与多个通道接口，工控机接口用于连接工控机，测试站接口用于连接测试站，每个通道接口均包含测试机接口、机械手接口与AUX接口，测试机接口用于连接该通道的测试机，AUX接口用于连接该通道的测试机，机械手接口用于连接机械手。机械手发送的INDEX信号通过硬件系统发送给每台测试机，使得最后工位的测试机整合了同一待测器件经过的所有测试机的完整测试数据，使每个待测器件在每台测试机上的测试数据都能够一一对应。

Description

基于多台测试机数据处理的硬件系统及方法
技术领域
本发明涉及数据处理技术领域，特别涉及一种基于多台测试机数据处理的硬件系统及方法。
背景技术
在集成电路技术领域中，几乎所有芯片在进入市场前，都需要经过很多环节的严格测试。现有的测试方法是通过多台测试机对集成电路的各项性能进行测试，以判断该集成电路中各性能的优劣。
现有方案是每台测试机都生成独立的测试报告（测试数据的报告）。待测器件在经过第一第二测试工位之后，如果在第三测试工位上掉管，会导致后面工位的测试机没有这个器件的测试数据。因此，每个待测器件在不同测试机的测试报告中找不到该器件数据的对应关系。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于多台测试机数据处理的硬件系统及方法，在最后工位的测试机的测试数据报告上，整合了所有测试机的测试数据，使每个待测器件在每台测试机上的测试数据都能够一一对应。
为解决上述技术问题，本发明提供一种基于多台测试机数据处理的硬件系统，包括：柜体，所述柜体上设置有正面板和背面板，其中，
所述正面板上设置有电源开关，用于打开或关闭所述硬件系统；
所述背面板上设置有工控机接口、测试站接口以及多个通道接口，所述工控机接口用于连接工控机，所述测试站接口用于连接测试站，每个所述通道接口均包含测试机接口、机械手接口以及AUX接口，所述测试机接口用于连接该通道的测试机，以传输控制测试信号，所述AUX接口用于连接到该通道的所述测试机，以传输测试数据，所述机械手接口用于连接到机械手，以传输控制测试信号；
其中，所述硬件系统收到所述机械手的INDEX信号，并发送INDEX信号给每台测试机，多台所述测试机对待测芯片完成测试之后，按照测试工位的顺序，每个工位的测试机都会收取前一工位的测试机的测试数据，并整合本工位测试机的测试数据后发给下一工位的测试机，以使最后工位的测试机整合了同一所述待测器件经过的所有测试机的完整测试数据。
可选的，所述正面板上还设置有多个通道的信号指示灯，所述正面板上通道的数量与所述背面板上通道的数量相同，且一一对应，每个通道的所述信号指示灯均包括SOT信号灯、EOT信号灯以及INDEX信号灯。
可选的，仅有连接到最后工位测试机的所述测试机接口所在的通道接口内的所述机械手接口连接到所述机械手。
可选的，所述通道的数量为8个。
可选的，所述正面板上还设置有三段数码管，用于显示版本号和报错代码。
可选的，在所述工控机的显示界面显示所述硬件系统不同通道连接的测试机，以调整不同通道的所述测试机测试工位的顺序。
相应的，本发明还提供一种基于多台测试机数据处理的方法，采用如上所述的基于多台测试机数据处理的硬件系统，所述方法包括：
将硬件系统的工控机接口连接到工控机，将测试站接口连接到测试站；
将多个通道接口中的每个测试机接口连接到每台测试机，将每个AUX接口分别连接到相对应通道的每台测试机的AUX接口，并在工控机的显示界面上配置测试机的测试工位的顺序，将位于最后工位的测试机连接的所述通道接口中的机械手接口连接到机械手；
所述硬件系统收到所述机械手的INDEX信号，并发送INDEX信号给每台所述测试机；
所述硬件系统接收到所述机械手的IS EMPTY信号，获取当前工位是否有待测器件；
所述硬件系统接收到所述机械手的SOT信号，根据工位上的待测器件的分布，确定需要进行测试的多台测试机，并发送SOT信号至所述多台测试机；
所述多台测试机对所述待测器件进行测试；
所述多台测试机按照测试工位的顺序，每个工位的测试机都会收取前一工位的测试机的测试数据，并整合本工位测试机的测试数据后发给下一工位的测试机，以使最后工位的测试机整合了同一所述待测器件经过的所有测试机的完整测试数据。
可选的，所述多台测试机收到INDEX信号后，会发送INDEX ACK信号至所述硬件系统，表示接收到了INDEX信号。
可选的，所述多台测试机对所述待测器件进行测试之后，会发送EOT信号至所述硬件系统，所述硬件系统将所述EOT信号发送至所述机械手。
可选的，最后工位的测试机将完整测试数据与BIN信号发送至所述硬件系统，所述硬件系统将完整测试数据发送至所述工控机，将BIN信号发送至所述机械手。
本发明提供的基于多台测试机数据处理的硬件系统及方法中，所述硬件系统收到所述机械手的INDEX信号，并发送INDEX信号给每台测试机，多台所述测试机对待测芯片完成测试之后，按照测试工位的顺序，每个工位的测试机都会收取前一工位的测试机的测试数据，并整合本工位测试机的测试数据后发给下一工位的测试机，以使最后工位的测试机整合了同一所述待测器件经过的所有测试机的完整测试数据，使每个待测器件在每台测试机上的测试数据都能够一一对应，方便后续对待测器件的测试数据的分析与处理。
并且，调整测试机测试工位的顺序时，无需重新连接测试机与硬件系统，只需在工控机的显示界面上配置测试机的测试工位的顺序即可，可以更方便地调整控制测试机的测试顺序。
附图说明
本领域的普通技术人员应当理解，提供的附图用于更好地理解本发明，而不对本发明的范围构成任何限定。
图1是本发明一实施例提供的基于多台测试机数据处理的硬件系统的正面板示意图。
图2是本发明一实施例提供的基于多台测试机数据处理的硬件系统的背面板示意图。
图3是本发明一实施例提供的测试机、硬件系统以及机械手的关系框图。
图4是本发明一实施例提供的测试机、硬件系统以及机械手的关系框图。
具体实施方式
为使本发明的目的、优点和特征更加清楚，以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且未按比例绘制，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。此外，附图所展示的结构往往是实际结构的一部分。特别的，各附图需要展示的侧重点不同，有时会采用不同的比例。
如在本发明中所使用的，单数形式“一”、“一个”以及“该”包括复数对象，术语“或”通常是以包括“和/或”的含义而进行使用的，术语“若干”通常是以包括“至少一个”的含义而进行使用的，术语“至少两个”通常是以包括“两个或两个以上”的含义而进行使用的，此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者至少两个该特征，除非内容另外明确指出外。
图1是本发明一实施例提供的基于多台测试机数据处理的硬件系统的正面板示意图，图2是本发明一实施例提供的基于多台测试机数据处理的硬件系统的背面板示意图。如图1与图2所示，本发明提供的基于多台测试机数据处理的硬件系统包括：柜体1，所述柜体1上设置有正面板11和背面板12，其中，所述正面板11上设置有电源开关112，所述背面板12上设置有工控机接口122、测试站接口124以及多个通道接口126。
所述电源开关112用于打开或关闭所述硬件系统；所述工控机接口122（RS232）用于连接工控机，所述测试站接口124（Relay Control）用于连接测试站。每个所述通道接口126（以EXT表示，例如图3中的EXT1、EXT2至EXT8）均包含测试机接口126a（Tester）、机械手接口126b（Handler）以及AUX接口126c（AUX）。所述测试机接口126a用于连接到该通道的测试机，以传输控制测试信号，即每个通道中的所述测试机接口126a均连接到对应该通道的测试机。所述AUX接口126c用于连接到该通道的所述测试机，以传输测试数据，即同一通道的所述测试机接口126a与所述AUX接口126c连接于同一台测试机。所述机械手接口126b用于连接到机械手，以传输控制测试信号。所述控制测试信号例如为SOT（开始测试）信号、EOT（结束测试）信号和INDEX（移位）信号等。
本实施例中，优选的，所述工控机接口122为9针的接口（DB9），所述测试站接口124也为9针的接口（DB9），所述测试机接口126a为37针的接口（DB37），所述机械手接口126b也为37针的接口（DB37），所述AUX接口126c为9针的接口（DB9）。
请参考图1与图2所示，所述正面板11上还设置有多个通道的信号指示灯114，所述正面板11上通道的数量与所述背面板12上通道的数量相同，且一一对应，例如正面板11上的通道EXT1对应于背面板12上的通道EXT1。本实施例中，以通道数为8为例进行说明，但不限于此。8个通道代表所述硬件系统可以至少与8个测试机相连接。每个通道的所述信号指示灯114均包括SOT信号灯、EOT信号灯以及INDEX信号灯，SOT信号灯代表开始测试信号，EOT信号灯代表结束测试信号，INDEX信号灯代表移位信号。
所述正面板11上还设置有三段数码管116，用于显示版本号和报错代码。本实施例中，所述硬件系统又称为HB48A（Tester Interface Hub）。
请继续参考图2所示，所述背面板12上还设置有电源插口128，用于连接电源线。所述背面板12上仅有连接到最后工位测试机的所述测试机接口126a所在的通道接口126内的所述机械手接口126b连接到所述机械手，例如通道接口EXT6中的所述测试机接口126a连接到最后工位的测试机，则仅有该通道接口EXT6内的所述机械手接口126b连接到所述机械手，其余通道内的所述机械手接口126b无需连接到所述机械手。最后工位指的是最后进行测试的测试机所在的工位，与连接该测试机的测试机接口126a位于同一个通道接口内的机械手接口126b，连接到机械手，即仅有一个通道接口中的机械手接口连接到机械手。
所述硬件系统连接工控机、机械手以及多台测试机，所述机械手向所述硬件系统发送INDEX信号，所述硬件系统收到所述机械手的INDEX信号，并发送INDEX信号给每台测试机，所述多台测试机对待测芯片完成测试之后，按照测试工位的顺序，每个工位的测试机都会收取前一工位的测试机的测试数据，并整合本工位测试机的测试数据后发给下一工位的测试机，以使最后工位的测试机整合了同一所述待测器件经过的所有测试机的完整测试数据，使每个待测器件在每台测试机上的测试数据都能够一一对应，方便后续对某一待测器件的测试数据的分析与处理。
本实施例所述的硬件系统通过不同的通道接口连接到不同的测试机，从而实现不同测试机之间的桥接。在所述工控机的显示界面上显示硬件系统不同通道连接的测试机，以调整不同通道的所述测试机测试工位的顺序，即可以在所述工控机的显示界面上调整测试机的测试顺序，无需重新连接测试机与硬件系统，只需在工控机的显示界面上配置测试机的测试工位的顺序即可，可以更方便地调整控制测试机的测试顺序。
相应的，本发明还提供一种基于多台测试机数据处理的方法，采用如上所述的基于多台测试机数据处理的硬件系统。图3是本发明一实施例提供的测试机、硬件系统以及机械手的关系框图，图4是本发明一实施例提供的测试机、硬件系统以及机械手的关系框图。请参考图3与图4所示，本发明提供的方法包括：
将硬件系统的工控机接口122连接到工控机，将测试站接口124连接到测试站；
将多个通道接口126中的每个测试机接口126a连接到每台测试机，将每个AUX接口126c分别连接到相对应通道的每台测试机的AUX接口，并在工控机的显示界面上配置测试机的测试工位的顺序，将位于最后工位的测试机连接的所述通道接口126中的机械手接口126b连接到机械手；
所述硬件系统收到所述机械手的INDEX信号，并发送INDEX信号给每台所述测试机；
所述硬件系统接收到所述机械手的IS EMPTY信号，获取当前工位是否有待测器件；
所述硬件系统接收到所述机械手的SOT信号，根据工位上的待测器件的分布，确定需要进行测试的多台测试机，并发送SOT信号至所述多台测试机；
所述多台测试机对所述待测器件进行测试；
所述多台测试机按照测试工位的顺序，每个工位的测试机都会收取前一工位的测试机的测试数据，并整合本工位测试机的测试数据后发给下一工位的测试机，以使最后工位的测试机整合了同一所述待测器件经过的所有测试机的完整测试数据。
例如，采用三台测试机进行测试，按测试顺序分为测试机T1、测试机T2与测试机T3，T3整合本机测试数据和T2的测试数据，而因为T2是整合T2本机测试数据和T1测试数据，所以T3数据是整合了T3、T2和T1的测试数据，也就是三台测试机的测试数据。每组整合的数据是同一个待测器件分别经过T1、T2和T3测量的测试数据。
具体的，首先，将硬件系统的工控机接口122连接到工控机，将测试站接口124连接到测试站。将多个通道接口126中的每个测试机接口126a连接到每台测试机，将每个AUX接口126c分别连接到相对应通道的每台测试机的AUX接口，即每个通道接口中的所述测试机接口126a与所述AUX接口126c连接到同一台测试机，但是用于传输的数据不同。并在工控机的显示界面上配置测试机的测试工位的顺序，将位于最后工位的测试机连接的所述通道接口中的机械手接口126b连接到机械手。
调整测试机测试工位的顺序时，无需重新连接测试机与硬件系统，只需在工控机的显示界面上配置测试机的测试工位的顺序即可，可以更方便地调整控制测试机的测试顺序。
接着，所述硬件系统收到所述机械手的INDEX信号，并发送INDEX信号给每台所述测试机。即所述机械手将INDEX信号（移位信号）通过所述硬件系统发送至每台测试机，当测试机接收到移位信号时，就会在测试结束后接收上一台测试机传过来的数据，整合本机的数据之后传送至下一台测试机。其中上一台、本机以及下一台是按照测试机的测试顺序来确定的。
请参考图3所示，所述硬件系统将INDEX信号发送给每台所述测试机，例如发给第一工位的测试机的信号为INDEX_Slave0，发给第二工位的测试机的信号为INDEX_Slave1，以此类推，发给最后工位的测试机的信号为INDEX_Master。每台测试机接收到INDEX信号之后，会发送INDEX ACK信号至所述硬件系统，表示接收到了INDEX信号，例如第一工位的测试机发出的信号为INDEX ACK_Slave0，第二工位的测试机发出的信号为INDEX ACK_Slave1，以此类推，最后工位的测试机发出的信号为INDEX ACK_Master。
请参考图4所示，所述机械手发送INDEX信号至所述硬件系统，所述硬件系统将INDEX信号发送至每台测试机，例如发给第一工位测试机Tester S0的信号为INDEX0，发给第二工位测试机Tester S1的信号为INDEX1，以此类推，发给最后工位测试机Tester M的信号为INDEXM。需要说明的是，图3与图4中对于不同工位的移位信号的标识存在不同，但都表示的是移位信号。
接着，所述硬件系统接收到所述机械手的IS EMPTY（是否为空）信号，获取当前工位是否有待测器件。例如首先获取第一工位上是否有器件，如果有待测器件，则后续需要使用位于第一工位上的测试机测试该待测器件。
接着，所述硬件系统接收到所述机械手的SOT（开始测试）信号，根据工位上的待测器件的分布，确定需要进行测试的多台测试机，并发送SOT信号至所述多台测试机。即所述机械手将开始测试信号通过所述硬件系统传输至工位上有待测器件的测试机。
请参考图3所示，所述硬件系统将SOT信号发送给每台所述测试机，例如发给第一工位的测试机的信号为SOT_Slave0，发给第二工位的测试机的信号为SOT_Slave1，发给最后工位的测试机的信号为SOT_Master。
接着，所述多台测试机对所述待测器件进行测试。请参考图4所示，例如，首先，第一工位的测试机Tester S0对待测芯片DUT1进行测试，此时其余工位上的测试机处理待机状态，第一工位的测试机Tester S0完成测试之后，所述机械手会进行旋转，待测芯片DUT1进入第二工位，由第二工位的测试机Tester S1进行测试，此时第一工位的测试机TesterS0会对另一待测芯片DUT2进行测试。第一工位的测试机Tester S0与第二工位的测试机Tester S1完成测试之后，所述机械手会进行旋转，待测芯片DUT1进入第三工位，由第三工位的测试机（例如Tester S3，未图示）进行测试，此时第二工位的测试机Tester S1会对待测芯片DUT2进行测试，第一工位的测试机Tester S0会对另一待测芯片DUT3进行测试，依次类推。
请参考图3所示，每台测试机测试完成之后，会发送EOT（结束测试）信号至所述硬件系统，表示完成测试，例如第一工位的测试机发出的信号为EOT_Slave0，第二工位的测试机发出的信号为EOT_Slave1，最后工位的测试机发出的信号为EOT_Master。所述硬件系统将EOT信号发送至所述机械手。
最后，所述多台测试机按照测试工位的顺序，每个工位的测试机都会收取前一工位的测试机的测试数据，并整合本工位测试机的测试数据发给下一工位的测试机，以使最后工位的测试机整合了同一所述待测器件经过所有测试机的完整测试数据。
请参考图4所述，第一工位的测试机Tester S0将测试数据S0 DATA传递给第二工位的测试机Tester S1，第二工位的测试机Tester S1整合测试数据S0 DATA与本机的测试数据，得到整合之后的数据S1 DATA，并将其传递到第三工位的测试机，依次类推，最后工位的测试机Tester M接收前一工位的测试机传递的数据，并与本机的数据进行整合，获得同一所述待测器件（例如DUT1）经过所有测试机的完整测试数据。
本发明提供的基于多台测试机数据处理的方法中，通过硬件系统的协调，在最后工位的测试机的测试数据报告上，整合了所有测试机的测试数据，使每个待测器件在每台测试机上的测试数据都能够一一对应，方便后续对待测器件的测试数据的分析与处理。
请参考图3与图4所示，最后工位的测试机将完整测试数据与BIN（分箱）信号发送至所述硬件系统，所述硬件系统将完整测试数据发送至所述工控机，将BIN信号发送至所述机械手。需要说明的是，当工位上的测试机没有进行测试时，即没有待测器件的时候（例如第一工位的测试机对第一待测器件进行测试时，其余测试机并没有进行测试），所述测试机也需要发出EOT信号和BIN信号，否则所述机械手可能会停机。当所述测试机没有进行测试时，所述硬件系统会发出Reject BIN信号至所述机械手，表示该测试机没有进行测试。
请参考图3所示，所述硬件系统接收BIN信号之后，会发送ACK信号至所述多台测试机，以对所述测试机进行复位。
综上所述，本发明提供的基于多台测试机数据处理的硬件系统及方法中，所述硬件系统收到所述机械手的INDEX信号，并发送INDEX信号给每台测试机，多台所述测试机对待测芯片完成测试之后，按照测试工位的顺序，每个工位的测试机都会收取前一工位的测试机发送的测试数据，并整合本工位测试机的测试数据后发给下一工位的测试机，以使最后工位的测试机整合了同一所述待测器件经过的所有测试机的完整测试数据，使每个待测器件在每台测试机上的测试数据都能够一一对应，方便后续对待测器件的测试数据的分析与处理。
并且，调整测试机测试工位的顺序时，无需重新连接测试机与硬件系统，只需在工控机的显示界面上配置测试机的测试工位的顺序即可，可以更方便地调整控制测试机的测试顺序。
上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述，并非对本发明范围的任何限定，本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。

Claims (10)

1.一种基于多台测试机数据处理的硬件系统，其特征在于，包括：柜体，所述柜体上设置有正面板和背面板，其中，
所述正面板上设置有电源开关，用于打开或关闭所述硬件系统；
所述背面板上设置有工控机接口、测试站接口以及多个通道接口，所述工控机接口用于连接工控机，所述测试站接口用于连接测试站，每个所述通道接口均包含测试机接口、机械手接口以及AUX接口，所述测试机接口用于连接该通道的测试机，以传输控制测试信号，所述AUX接口用于连接到该通道的所述测试机，以传输测试数据，所述机械手接口用于连接到机械手，以传输控制测试信号；
其中，所述硬件系统收到所述机械手的INDEX信号，并发送INDEX信号给每台测试机，多台所述测试机对待测芯片完成测试之后，按照测试工位的顺序，每个工位的测试机都会收取前一工位的测试机的测试数据，并整合本工位测试机的测试数据后发给下一工位的测试机，以使最后工位的测试机整合了同一所述待测器件经过的所有测试机的完整测试数据。
2.如权利要求1所述的硬件系统，其特征在于，所述正面板上还设置有多个通道的信号指示灯，所述正面板上通道的数量与所述背面板上通道的数量相同，且一一对应，每个通道的所述信号指示灯均包括SOT信号灯、EOT信号灯以及INDEX信号灯。
3.如权利要求2所述的硬件系统，其特征在于，所述背面板上仅有连接到最后工位测试机的所述测试机接口所在的通道接口内的所述机械手接口连接到所述机械手。
4.如权利要求2所述的硬件系统，其特征在于，所述通道的数量为8个。
5.如权利要求2所述的硬件系统，其特征在于，所述正面板上还设置有三段数码管，用于显示版本号和报错代码。
6.如权利要求1所述的硬件系统，其特征在于，在所述工控机的显示界面显示所述硬件系统不同通道连接的测试机，以调整不同通道的所述测试机测试工位的顺序。
7.一种基于多台测试机数据处理的方法，其特征在于，采用如权利要求1~6中任一项所述的基于多台测试机数据处理的硬件系统，所述方法包括：
将硬件系统的工控机接口连接到工控机，将测试站接口连接到测试站；
将多个通道接口中的每个测试机接口连接到每台测试机，将每个AUX接口分别连接到相对应通道的每台测试机的AUX接口，并在工控机的显示界面上配置测试机的测试工位的顺序，将位于最后工位的测试机连接的所述通道接口中的机械手接口连接到机械手；
所述硬件系统收到所述机械手的INDEX信号，并发送INDEX信号给每台所述测试机；
所述硬件系统接收到所述机械手的IS EMPTY信号，获取当前工位是否有待测器件；
所述硬件系统接收到所述机械手的SOT信号，根据工位上的待测器件的分布，确定需要进行测试的多台测试机，并发送SOT信号至所述多台测试机；
所述多台测试机对所述待测器件进行测试；
所述多台测试机按照测试工位的顺序，每个工位的测试机都会收取前一工位的测试机的测试数据，并整合本工位测试机的测试数据后发给下一工位的测试机，以使最后工位的测试机整合了同一所述待测器件经过的所有测试机的完整测试数据。
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述多台测试机收到INDEX信号后，会发送INDEX ACK信号至所述硬件系统，表示接收到了INDEX信号。
9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述多台测试机对所述待测器件进行测试之后，会发送EOT信号至所述硬件系统，所述硬件系统将所述EOT信号发送至所述机械手。
10.如权利要求7所述的方法，其特征在于，最后工位的测试机将完整测试数据与BIN信号发送至所述硬件系统，所述硬件系统将完整测试数据发送至所述工控机，将BIN信号发送至所述机械手。
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