CN114414535A - 检测方法和检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种检测方法和一种检测装置。检测方法包括：获取第一样品的标定基准；对第一样品进行检测，得到第一检测参数；根据标定基准与第一检测参数得到校准系数；根据校准系数获得待测样品的检测结果；其中，第一样品放置于第一滤光件上方，第二滤光件位于第一样品与信号分析装置之间。通过上述方法，可以通过一台检测装置对多种样品进行检测，并能够确保检测结果的准确性。扩大了检测装置的可检测范围，实现了仅通过一台检测装置即可对多种检测物进行检测的技术效果。还可以通过第二滤光片对第一样品的发射光光强进行调整，以满足检测装置的量程范围。

Description

检测方法和检测装置

技术领域

本发明属于防伪检测技术领域，具体而言，涉及一种检测方法和一种检测装置。

背景技术

现有技术中，不同种类的检测样品在相同的激发条件下，由于单位体积或面积的防伪特征物质含量差异较大，防伪特征物质所产生的发射光的强度相差较大，由于发射光的光强跨度过大，同一检测装置难以满足对多种样品的检测需求。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

为此，本发明的第一方面提出了一种检测方法。

本发明的第二方面提出了一种检测装置。

有鉴于此，本发明第一方面提出了一种检测方法，包括：获取第一样品的标定基准；对第一样品进行检测，得到第一检测参数；根据标定基准与第一检测参数得到校准系数；根据校准系数获得待测样品的检测结果；其中，第一样品放置于第一滤光件上方，第二滤光件位于第一样品与信号分析装置之间。

本发明提出了一种检测方法，用于对检测物进行检测。该检测方法可用于对多种样品进行检测，从而实现仅通过一台检测装置便能够对多种样品进行检测的技术效果。

首先获取第一样品的标定基准，然后对放置于第一滤光件上的第一样品进行检测，以得到第一检测参数，根据标定基准与第一检测参数得到校准系数。可以理解地，在对多种检测样品进行检测时，需要设定某一样品作为标定基准，本方法选取第一样品，并获取第一样品的标定基准。第一检测参数是检测装置对第一样品的检测结果，与第一样品的实际参数存在一定差异，因此根据第一检测参数和标定基准可以得到检测装置的检测误差，从而获得校准系数，以用于在检测其他样品时对检测结果进行校准。

进一步地，在对第一样品进行检测时，第一样品放置于第一滤光件上方，也就是说，光源所发出的激发光以及第一样品所发出的发射光均没有经过第一滤光件的过滤，为原始的激发光状态。第二滤光件位于第一样品与信号分析装置之间，也就是说，第一样品的发射光经过第二滤光片的过滤之后传递至信号分析装置，第二滤光件对第一样品的发射光的光强进行了调整。

在得到校准系数之后，再对其他待测样品进行检测，根据之前所获得的校准系数进行校准后可得到检测结果。

通过先将第一样品设定为标定基准，然后获取校准系数，再根据校准系数获取其他待测样品的检测结果的方法，可以通过一台检测装置对多种样品进行检测，并能够确保检测结果的准确性。扩大了检测装置的可检测范围，实现了仅通过一台检测装置即可对多种检测物进行检测的技术效果。通过将第一样品设置于第一滤光件的上方，将第二滤光件设置于第一样品与信号分析装置之间，从而通过第二滤光片对第一样品的发射光光强进行调整，以满足检测装置的量程范围。

在上述任一技术方案中，进一步地，根据校准系数获得待测样品的检测结果，具体包括：对放置于第一滤光件上方的第一待测样品进行检测，得到第二检测参数；根据校准系数与第二检测参数得到第一检测结果。

在该技术方案中，在获取校准系数后，继续对其他待测样品进行检测。具体地，待测样品可以为放置于第一滤光件上方的第一待测样品，对第一待测样品进行检测，得到第二检测参数。然后根据校准系数与第二检测参数得到第一检测结果。具体地，通过校准系数对检测所得的第二检测参数进行校准，以得到第一待测样品的第一检测结果。

通过对第一待测样品进行检测，可根据校准系数获得第一样品以外的第一待测样品的检测结果，实现对不同样品的检测。并且可根据不同样品的检测需求，调整第一滤光件的位置，将第一待测样品放置于第一滤光件上方，可在不采用第一滤光件的条件下即可通过检测装置对第一待测样品进行检测。

在上述任一技术方案中，进一步地，根据校准系数获得待测样品的检测结果，具体包括：对放置于第一滤光件下方的第二待测样品进行检测，得到第三检测参数；根据校准系数与第三检测参数得到第二检测结果。

在该技术方案中，在获取校准系数后，继续对其他待测样品进行检测。具体地，待测样品可以为放置于第一滤光件下方的第二待测样品，对第二待测样品进行检测，得到第三检测参数。然后根据校准系数与第三检测参数得到第二检测结果。具体地，通过校准系数对检测所得的第三检测参数进行校准，以得到第二待测样品的第二检测结果。

通过对第二待测样品进行检测，可根据校准系数获得第一样品以外的第二待测样品的检测结果，实现对不同样品的检测。并且可根据不同样品的检测需求，调整第一滤光件的位置，将第二待测样品放置于第一滤光件下方，可通过第一滤光件对第二待测样品所发出的发射光的光强进行调整，以使第二待测样品发射光满足检测装置的量程范围，以保证正常检测，扩大了检测装置的适用范围。

根据本发明的第二方面，提出了一种检测装置，能够实现本发明第一方面提出的检测方法，检测装置包括：主体，包括样品仓，样品仓用于放置检测物；光源，设于主体，光源能够发出激发光；激发光能够照射检测物，以使检测物发出发射光；光调整部，设于样品仓，光调整部能够调整发射光的光强；信号分析装置，设于主体，用于接收发射光并对发射光进行分析。

本发明提出的检测装置包括主体，主体包括样品仓，检测物可放置于样品仓中。主体上还设有光源，光源设置于主体，并发出激发光，激发光照射在检测物上，检测物在激发光的激发下发出发射光。不同种类的检测物在光源的作用下所发出的发射光的光强不同。

检测装置中还包括信号分析装置，信号分析装置设于主体，位于检测物所发出的发射光的光路上，从而使检测装置能够接收发射光。具体地，信号分析装置可设于检测物的正上方，以使检测物发出的发射光集中照射于信号分析装置，提高检测效果。信号分析装置在接收到发射光后，对所接收到的发射光进行分析并得到分析结果。不同的检测物所发出的发射光不同，从而可通过对不同检测物的发生光进行分析进而实现对检测物的分析。

进一步地，样品仓还包括光调整部，光调整部设于样品仓，通过光调整部能够调整发射光的光强。可以理解地，不同的检测物所发出的发射光的光强不同，而信号分析装置仅能够对光强在一定范围内的光进行分析，为了使检测装置能够对更大范围光强的光进行分析，在检测装置中还设置了光调整部，光调整部能够对发射光的光强进行调整，将发射光的光强调整至信号分析装置能够检测的范围内。进一步地，操作者可根据检测物的不同，选择使用或不使用光调整部。可在需要采用光调整部调整发射光光强时，将检测物放置于光调整部下方，使光调整部位于检测物与信号分析装置之间，使发射光经过光调整部以调整光强；在不需要采用光调整部调整发射光光强时，将检测物放置于光调整部与信号分析装置之间，使发射光直接照射至信号分析装置。

通过在检测装置中设置光调整部，可以使检测装置在对不同检测物进行检测时，根据需要采用光调整部对检测物的发射光进行调整，以调整发射光的光强，使信号分析装置所接收到的不同检测物的发射光的光强都在量程范围内，扩大了检测装置的可检测范围，实现了仅通过一台检测装置即可对多种检测物进行检测的技术效果。

根据本发明上述的检测装置，还可以具有以下附加技术特征：

在上述技术方案中，进一步地，光调整部包括：第一滤光件，设于样品仓，第一滤光件能够位于检测物的上方或者下方，当第一滤光件位于检测物的上方时，第一滤光件能够调整发射光的光强；和/或第二滤光件，可拆卸地设于样品仓，用于调整发射光的光强；第一滤光件与第二滤光件的透光率不同。

在该技术方案中，光调整部包括第一滤光件和第二滤光件，第一滤光件和第二滤光件都能够对发生光的光强进行调整。为了进一步扩大了检测装置的可检测范围，将第一滤光件和第二滤光件的透光率设置为不同，从而使第一滤光件和第二滤光件能够适用于不同的检测物，使检测装置能够对更多种类的检测物进行检测。

通过在光调整部中设置透光率不同的第一滤光件和第二滤光件，使第一滤光件和第二滤光件能够适用于不同的检测物，使检测装置能够对更多种类的检测物进行检测。

在上述技术方案中，进一步地，检测装置包括：工装部，可拆卸地设于样品仓，工装部用于固定检测物；第二滤光件与工装部相连，在工装设于样品仓的情况下，第二滤光件位于检测物与信号分析装置之间，工装部位于第一滤光件与检测物之间。

在该技术方案中，检测装置中还设有工装部，工装部可拆卸设于样品仓。可以理解地，本发明提出的检测装置可以对多种检测物进行检测，在检测某些特定种类的检测物时，需要采用工装部进行辅助，因此，将工装部可拆卸地设置于样品仓。为便于在对特定种类检测物进行检测时使用工装部，通过工装部对检测件进行固定；在检测其他检测物时将工装部移出样品仓。

进一步地，第二滤光件与工装部相连，在采用工装部固定检测物的情况下，第二滤光件能够对检测物所发出的发射光的光强进行调整。具体地，在工装部设于样品仓的情况下，第二滤光件位于检测物与信号分析装置之间，检测物所发出的发射光穿过第二滤光件照射至信号分析装置，第二滤光件对发射光进行过滤。并且，工装部位于第一滤光件与检测物之间，以使第一滤光件不发挥作用，不通过第一滤光件，而是仅仅通过第二滤光件对发生光进行过滤。

通过在检测装置中设置可拆卸设于样品仓中的工装部，并在工装中设置第二滤光件，从而可根据检测需要灵活地使用工装部或不使用工装部对检测物进行检测，进而实现检测装置对多种检测物的检测。

在上述技术方案中，进一步地，工装部包括：底座，用于固定检测物，底座位于第一滤光件上方；架体，与底座相连，架体与底座之间形成安装空间，用于容纳检测物；第二滤光件与架体相连。

在该技术方案中，工装部包括底座和架体，检测物可放置于底座上，通过底座对检测物进行固定，底座位于第一滤光件上方，从而使得检测物所发出的发射光不会通过第一滤光件。架体与底座相连，并与底座之间形成安装空间，检测物可放置于安装空间中。第二滤光件与架体相连，具体地，第二滤光件位于检测物上方，检测物发出的发射光穿过第二滤光件后照射至信号分析装置，从而通过第二滤光件对发射光进行过滤。

通过在工装部中设置底座和架体，从而实现底座对检测物进行固定，通过设置于架体上的第二滤光件对检测物的发射光进行过滤。

在上述任一技术方案中，进一步地，光源的数量至少为两个，至少两个光源发出的激发光的方向不同。

在该技术方案中，光源的数量至少为两个。可以理解地，光源的数量越多，所设置的位置更分散，多个光源所共同产生的激发光的光线更加均匀。

通过将光源的数量设置为至少两个，以及使至少两个光源发出的激发光的方向不同，可以使多个光源共同形成的激发光更加均匀，以在检测物上形成均匀的面光源，使检测物接收更为均匀的光照，提高检测精度。

在上述任一技术方案中，进一步地，信号分析装置包括：探测器，用于接收发射光；信号处理装置，用于对发射光进行处理以得到分析结果。

在该技术方案中，信号分析装置包括探测器和信号处理装置。具体地，探测器设于信号分析装置中靠近检测物的一侧，用于接收检测物所发出的发射光。信号处理装置根据探测器所接收到的发射光，对其进行分析处理，将光信号转化为电信号，并输出分析结果。

通过在信号分析装置中设置探测器和信号处理装置，使信号分析装置能够接收发射光并对发射光进行处理以得到分析结果。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述部分中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1示出了本发明的一个实施例检测物置于第一滤光件上方状态的检测装置的示意图；

图2示出了本发明的一个实施例检测物置于第一滤光件下方状态的检测装置的示意图；

图3示出了本发明的一个实施例包括工装状态的检测装置的示意图；

图4示出了本发明的一个实施例的检测装置的示意图；

图5示出了本发明的第一个实施例中的检测方法的示意流程图；

图6示出了本发明的第二个实施例中的检测方法的示意流程图；

图7示出了本发明的第三个实施例中的检测方法的示意流程图。

其中，图1至图4中的附图标记与部件名称之间的对应关系为：

100检测装置，110光源，120样品仓，130信号分析装置，140光调整部，141第一滤光件，142第二滤光件，150工装部，151底座，152架体。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

下面参照图1至图7描述根据本发明一些实施例的检测方法及检测装置100。

实施例1：

如图5所示，根据本发明的第一方面，提出了一种检测方法，用于上述任一实施例的检测装置，包括：

步骤S502：获取第一样品的标定基准；

步骤S504：对第一样品进行检测，得到第一检测参数；

步骤S506：根据标定基准与第一检测参数得到校准系数；

步骤S508：根据校准系数获得待测样品的检测结果。

其中，第一样品放置于第一滤光件上方，第二滤光件位于第一样品与信号分析装置之间。

本发明提出了一种适用于上述任一技术方案的检测装置，用于对检测物进行检测。该检测方法可用于对多种样品进行检测，从而实现仅通过一台检测装置便能够对多种样品进行检测的技术效果。

首先获取第一样品的标定基准，然后对放置于第一滤光件上的第一样品进行检测，以得到第一检测参数，根据标定基准与第一检测参数得到校准系数。可以理解地，在对多种检测样品进行检测时，需要设定某一样品作为标定基准，本方法选取第一样品，并获取第一样品的标定基准。第一检测参数是检测装置对第一样品的检测结果，与第一样品的实际参数存在一定差异，因此根据第一检测参数和标定基准可以得到检测装置的检测误差，从而获得校准系数，以用于在检测其他样品时对检测结果进行校准。

进一步地，在对第一样品进行检测时，第一样品放置于第一滤光件上方，也就是说，光源所发出的激发光以及第一样品所发出的发射光均没有经过第一滤光件的过滤，为原始的激发光状态。第二滤光件位于第一样品与信号分析装置之间，也就是说，第一样品的发射光经过第二滤光片的过滤之后传递至信号分析装置，第二滤光件对第一样品的发射光的光强进行了调整。

在得到校准系数之后，再对其他待测样品进行检测，根据之前所获得的校准系数进行校准后可得到检测结果。

通过先将第一样品设定为标定基准，然后获取校准系数，再根据校准系数获取其他待测样品的检测结果的方法，可以通过一台检测装置对多种样品进行检测，并能够确保检测结果的准确性。扩大了检测装置的可检测范围，实现了仅通过一台检测装置即可对多种检测物进行检测的技术效果。通过将第一样品设置于第一滤光件的上方，将第二滤光件设置于第一样品与信号分析装置之间，从而通过第二滤光片对第一样品的发射光光强进行调整，以满足检测装置的量程范围。

实施例2：

如图6所示，在上述任一实施例的基础上，实施例2提供了一种检测方法，根据校准系数获得待测样品的检测结果，具体包括：

步骤S508a：对放置于第一滤光件上方的第一待测样品进行检测，得到第二检测参数；

步骤S508b：根据校准系数与第二检测参数得到第一检测结果。

在该技术方案中，在获取校准系数后，继续对其他待测样品进行检测。具体地，待测样品可以为放置于第一滤光件上方的第一待测样品，对第一待测样品进行检测，得到第二检测参数。然后根据校准系数与第二检测参数得到第一检测结果。具体地，通过校准系数对检测所得的第二检测参数进行校准，以得到第一待测样品的第一检测结果。

通过对第一待测样品进行检测，可根据校准系数获得第一样品以外的第一待测样品的检测结果，实现对不同样品的检测。并且可根据不同样品的检测需求，调整第一滤光件的位置，将第一待测样品放置于第一滤光件上方，可在不采用第一滤光件的条件下即可通过检测装置对第一待测样品进行检测。

实施例3

如图7所示，在上述任一实施例的基础上，实施例3供了一种检测方法，根据校准系数获得待测样品的检测结果，具体包括：

步骤S508c：对放置于第一滤光件下方的第二待测样品进行检测，得到第三检测参数；

步骤S508d：根据校准系数与第三检测参数得到第二检测结果。

在该技术方案中，在获取校准系数后，继续对其他待测样品进行检测。具体地，待测样品可以为放置于第一滤光件下方的第二待测样品，对第二待测样品进行检测，得到第三检测参数。然后根据校准系数与第三检测参数得到第二检测结果。具体地，通过校准系数对检测所得的第三检测参数进行校准，以得到第二待测样品的第二检测结果。

通过对第二待测样品进行检测，可根据校准系数获得第一样品以外的第二待测样品的检测结果，实现对不同样品的检测。并且可根据不同样品的检测需求，调整第一滤光件的位置，将第二待测样品放置于第一滤光件下方，可通过第一滤光件对第二待测样品所发出的发射光的光强进行调整，以使第二待测样品发射光满足检测装置的量程范围，以保证正常检测，扩大了检测装置的适用范围。

实施例4：

如图1和图2所示，本发明第二方面的实施例提出了一种检测装置100，能够实现实施例1至4所提出的检测方法，检测装置100包括：主体，包括样品仓120，样品仓120用于放置检测物；光源110，设于主体，光源能够发出激发光，激发光能够照射检测物，以使检测物发出发射光；光调整部140，设于样品仓120，光调整部140能够调整发射光的光强；信号分析装置130，设于主体，用于接收发射光并对发射光进行分析。

本发明提出的检测装置100包括主体，主体包括样品仓120，检测物可放置于样品仓120中。主体上还设有光源110，光源110设置于主体，并发出激发光，激发光照射在检测物上，检测物在激发光的激发下发出发射光。不同种类的检测物在光源110的作用下所发出的发射光的光强不同。

检测装置100中还包括信号分析装置130，信号分析装置130设于主体，位于检测物所发出的发射光的光路上，从而使检测装置100能够接收发射光。具体地，信号分析装置130可设于检测物的正上方，以使检测物发出的发射光集中照射于信号分析装置130，提高检测效果。信号分析装置130在接收到发射光后，对所接收到的发射光进行分析并得到分析结果。不同的检测物所发出的发射光不同，从而可通过对不同检测物的发生光进行分析进而实现对检测物的分析。

进一步地，样品仓120还包括光调整部140，光调整部140设于样品仓120，通过光调整部140能够调整发射光的光强。可以理解地，不同的检测物所发出的发射光的光强不同，而信号分析装置130仅能够对光强在一定范围内的光进行分析，为了使检测装置100能够对更大范围光强的光进行分析，在检测装置100中还设置了光调整部140，光调整部140能够对发射光的光强进行调整，将发射光的光强调整至信号分析装置130能够检测的范围内。进一步地，操作者可根据检测物的不同，选择使用或不使用光调整部140。可在需要采用光调整部140调整发射光光强时，将检测物放置于光调整部140下方，使光调整部140位于检测物与信号分析装置130之间，使发射光经过光调整部140以调整光强；在不需要采用光调整部140调整发射光光强时，将检测物放置于光调整部140与信号分析装置130之间，使发射光直接照射至信号分析装置130。

通过在检测装置100中设置光调整部140，可以使检测装置100在对不同检测物进行检测时，根据需要采用光调整部140对检测物的发射光进行调整，以调整发射光的光强，使信号分析装置130所接收到的不同检测物的发射光的光强都在量程范围内，扩大了检测装置100的可检测范围，实现了仅通过一台检测装置100即可对多种检测物进行检测的技术效果。

实施例5：

如图3所示，在实施例一的基础上的一个具体实施例中，光调整部140包括：第一滤光件141，设于样品仓120，第一滤光件141能够位于检测物的上方或者下方，当第一滤光件141位于检测物的上方时，第一滤光件141能够调整发射光的光强；和/或第二滤光件142，可拆卸地设于样品仓120，用于调整发射光的光强；第一滤光件141与第二滤光件142的透光率不同。

在该技术方案中，光调整部140包括第一滤光件141和第二滤光件142，第一滤光件141和第二滤光件142都能够对发生光的光强进行调整。为了进一步扩大了检测装置100的可检测范围，将第一滤光件141和第二滤光件142的透光率设置为不同，从而使第一滤光件141和第二滤光件142能够适用于不同的检测物，使检测装置100能够对更多种类的检测物进行检测。

通过在光调整部140中设置透光率不同的第一滤光件141和第二滤光件142，使第一滤光件141和第二滤光件142能够适用于不同的检测物，使检测装置100能够对更多种类的检测物进行检测。

实施例6：

如图3所示，在上述任一实施例的基础上的一个具体实施例中，检测装置100包括：工装部150，可拆卸地设于样品仓120，工装部150用于固定检测物；第二滤光件142与工装部150相连，在工装设于样品仓120的情况下，第二滤光件142位于检测物与信号分析装置130之间，工装部150位于第一滤光件141与检测物之间。

在该技术方案中，检测装置100中还设有工装部150，工装部150可拆卸设于样品仓120。可以理解地，本发明提出的检测装置100可以对多种检测物进行检测，在检测某些特定种类的检测物时，需要采用工装部150进行辅助，因此，将工装部150可拆卸地设置于样品仓120。为便于在对特定种类检测物进行检测时使用工装部150，通过工装部150对检测件进行固定；在检测其他检测物时将工装部150移出样品仓120。

进一步地，第二滤光件142与工装部150相连，在采用工装部150固定检测物的情况下，第二滤光件142能够对检测物所发出的发射光的光强进行调整。具体地，在工装部150设于样品仓120的情况下，第二滤光件142位于检测物与信号分析装置130之间，检测物所发出的发射光穿过第二滤光件142照射至信号分析装置130，第二滤光件142对发射光进行过滤。并且，工装部150位于第一滤光件141与检测物之间，以使第一滤光件141不发挥作用，不通过第一滤光件141，而是仅仅通过第二滤光件142对发生光进行过滤。

通过在检测装置100中设置可拆卸设于样品仓120中的工装部150，并在工装中设置第二滤光件142，从而可根据检测需要灵活地使用工装部150或不使用工装部150对检测物进行检测，进而实现检测装置100对多种检测物的检测。

进一步地，工装部150包括：底座151，用于固定检测物，底座151位于第一滤光件141上方；架体152，与底座151相连，架体152与底座151之间形成安装空间，用于容纳检测物；第二滤光件142与架体152相连。

在该技术方案中，工装部150包括底座151和架体152，检测物可放置于底座151上，通过底座151对检测物进行固定，底座151位于第一滤光件141上方，从而使得检测物所发出的发射光不会通过第一滤光件141。架体152与底座151相连，并与底座151之间形成安装空间，检测物可放置于安装空间中。第二滤光件142与架体152相连，具体地，第二滤光件142位于检测物上方，检测物发出的发射光穿过第二滤光件142后照射至信号分析装置130，从而通过第二滤光件142对发射光进行过滤。

通过在工装部150中设置底座151和架体152，从而实现底座151对检测物进行固定，通过设置于架体152上的第二滤光件142对检测物的发射光进行过滤。

实施例7：

如图4所示，在上述任一实施例的基础上，光源的数量至少为两个，至少两个光源发出的激发光的方向不同。

在该技术方案中，光源的数量至少为两个。可以理解地，光源的数量越多，所设置的位置更分散，多个光源所共同产生的激发光的光线更加均匀。

通过将光源的数量设置为至少两个，以及使至少两个光源发出的激发光的方向不同，可以使多个光源共同形成的激发光更加均匀，以在检测物上形成均匀的面光源，使检测物接收更为均匀的光照，提高检测精度。

实施例8：

如图3所示，在上述任一实施例的基础上的一个具体实施例中，信号分析装置130包括：探测器，用于接收发射光；信号处理装置，用于对发射光进行处理以得到分析结果。

在该技术方案中，信号分析装置130包括探测器和信号处理装置。具体地，探测器设于信号分析装置130中靠近检测物的一侧，用于接收检测物所发出的发射光。信号处理装置根据探测器所接收到的发射光，对其进行分析处理，将光信号转化为电信号，并输出分析结果。

通过在信号分析装置130中设置探测器和信号处理装置，使信号分析装置130能够接收发射光并对发射光进行处理以得到分析结果。

实施例9

本发明提供了一种检测装置100，包括光源110、信号分析装置130和样品仓120。光源110包括光源用于激发光致发光防伪特征，信号分析装置130用于探测光致发光防伪特征的发射光，发射光为荧光或磷光，并能够完成光电转换和后续处理，样品仓120用于放置检测物。

具体地，当检测物为印刷品时，样品仓120能够放置印刷品，印刷品厚度范围为0.1mm至0.4mm。

当检测物为油墨填片时，样品仓120能够放置油墨填片，油墨填片的厚度范围为0.5mm至0.8mm。油墨填片在盖玻片内形成油墨涂层。

油墨填片上方具有第一滤光片，第一滤光片具备激发光的高透过率，和发射光的设定透过率。

样品仓120能够放置比色皿，比色皿规格长12.5mm，宽7.5mm，高28mm。

检测装置100还包括工装部150，用于对比色皿进行检测时使用。工装部150中设有第二滤光件142，第二滤光件142设于信号分析装置130前部，第二滤光件142具备发射光的设定透过率和激发光的低透过率。

光源具备至少两个方向的光源照射标的物，形成均匀的面光源。

本发明还提出了一种检测方法，以设定的比色皿样品作为检测标定物，校准探测器及信号处理装置后，检测装置用于测量印刷品、油墨填片和比色皿样品。

本发明的第一方面提出的一种检测方法，通过以比色皿粉体为标定基准，建立粉体、油墨和印刷品三者的关联，提高油墨检测和印刷品检测稳定性。检测方法以标定基准和当前检测状态求出校准系数，后续检测均用此校准系数对原始检测值进行计算，得出最终的检测仪输出结果。

本发明第二方面提供了一种检测装置，可以兼容比色皿粉体、油墨填片和印刷品。同时在比色皿粉体的激发光路和油墨填片的激发光路上设计不同的滤光片，即第一滤光片和第二滤光片，以降低进入探测器的发射光强度，将三种检测物的发射光纳入一个量程。

在本发明中，术语“多个”则指两个或两个以上，除非另有明确的限定。术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语均应做广义理解，例如，“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；“相连”可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本说明书的描述中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“具体实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种检测方法，其特征在于，包括：

获取第一样品的标定基准；

对所述第一样品进行检测，得到第一检测参数；

根据所述标定基准与所述第一检测参数得到校准系数；

根据所述校准系数获得待测样品的检测结果；

其中，所述第一样品放置于第一滤光件上方，第二滤光件位于所述第一样品与信号分析装置之间。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述校准系数获得待测样品的检测结果，具体包括：

对放置于所述第一滤光件上方的第一待测样品进行检测，得到第二检测参数；

根据所述校准系数与所述第二检测参数得到第一检测结果。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述校准系数获得待测样品的检测结果，具体包括：

对放置于所述第一滤光件下方的第二待测样品进行检测，得到第三检测参数；

根据所述校准系数与所述第三检测参数得到第二检测结果。

4.一种检测装置，其特征在于，包括：

主体，包括样品仓，所述样品仓用于放置检测物；

光源，设于所述主体，所述光源能够发出激发光；

所述激发光能够照射所述检测物，以使所述检测物发出发射光；

光调整部，设于所述样品仓，所述光调整部能够调整所述发射光的光强；

信号分析装置，设于所述主体，用于接收所述发射光并对所述发射光进行分析。

5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述光调整部包括：

第一滤光件，设于所述样品仓，所述第一滤光件能够位于所述检测物的上方或者下方，当所述第一滤光件位于所述检测物的上方时，所述第一滤光件能够调整所述发射光的光强；和/或

第二滤光件，可拆卸地设于所述样品仓，用于调整所述发射光的光强；

所述第一滤光件与所述第二滤光件的透光率不同。

6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，包括：

工装部，可拆卸地设于所述样品仓，所述工装部用于固定所述检测物；

所述第二滤光件与所述工装部相连，在所述工装部设于所述样品仓的情况下，所述第二滤光件位于所述检测物与所述信号分析装置之间，所述工装部位于所述第一滤光件与所述检测物之间。

7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述工装部包括：

底座，用于固定所述检测物，所述底座位于所述第一滤光件上方；

架体，与所述底座相连，所述架体与所述底座之间形成安装空间，用于容纳所述检测物；

所述第二滤光件与所述架体相连。

8.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，

所述光源的数量至少为两个，至少两个所述光源发出的激发光的方向不同。

9.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述信号分析装置包括：

探测器，用于接收所述发射光；

信号处理装置，用于对所述发射光进行处理以得到分析结果。

Images