CN114414071B - 校正控制装置和校正控制方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种校正控制装置，包括：拍摄部，用于拍摄获得热像数据；校正控制部，用于根据基础图像信息来进行校正处理；所述校正控制部，基于存储介质中传感器数据与基础图像信息的对应关系，采用所述传感器数据对应的基础图像信息，进行校正处理；由此，来解决现存的问题。

Description

校正控制装置和校正控制方法

技术领域

本发明的校正控制装置和校正控制方法,涉及红外热像的应用领域。

背景技术

热像装置中，对热像数据进行校正处理，是一个重要环节；起到降低温度漂移、校正图像等校正作用。由遮挡光路或标准参照体拍摄获得的热像数据，来产生校正参数，有多种实施方案。例如通过拍摄档片获得原始的热像数据，将所述热像数据的各像素AD值，按照算法(算法中通常结合标定获得的K值)校正至均匀的规定值，包含每个像素的校正量的数据来构成校正参数(常称为B值)；这种图像和测温校正技术为本领域公知。

带有拍摄功能的热像装置中，档片是一个重要部件，通过打档对探测器的光路遮挡来产生基础图像(该代表基础图像的热像数据也常称为本底图像等，一般采用原始AD值图像，可用于产生校正参数)，用来获得校正后续拍摄被测体场景的热像数据相关的校正参数。

档片位于红外探测器的前部，可以位于镜头前部、镜头镜片之间、或还可以位于镜头和探测器之间；通过定时、手动等方式来启用档片(打档片)遮挡探测器的光路，档片一般通过档片电机、手动等驱动方式进行启用或关闭。

目前，带有档片的热像装置，有很多缺点，明显的3个缺点：

一个缺点是观察外部目标时，档片启动过程中实景图像会中断缺帧；

另一个缺点是档片长时间使用，容易出现卡死等故障；

又一个缺点是温度漂移大，例如在连续测温生成温度曲线时，当采用档片校正，假定校正的间隔为1分钟，期间拍摄被测体获得的温度值可能将慢慢漂移，校正后又可以达到精确值，这时容易产生温度明显阶跃，如图10所示；使用者容易产生困惑，到底是由于打档产生的阶跃呢还是被测体本身的温度发生了变化？理论上可以通过更为密集的打档来减少阶跃，但实际随之产生另一个问题是档片电机发热导致档片温度不均匀影响温度的精度，并且还导致图像中断频繁而不可行。

因此，所理解需要一种校正控制装置，来解决目前存在的部分问题或全部问题。

发明内容

本发明提供一种校正控制装置、校正系统和校正控制方法，

一个方案，校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

用于校正处理的基础图像信息，包括如下二种情况，且每次执行其中之一：

情况1：基于遮挡探测器光路或基于标准参照体期间拍摄获取的热像数据，来获得的基础图像信息；

情况2，包括如下至少之一：

1)基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息；

2)基于从通讯部获得的基础图像信息；

3)根据上述任意二项，处理获得的基础图像信息。

进一步，记录情况1获得的基础图像信息及其对应的影响因素；或还将所述对应关系，增加至影响因素与基础图像信息对应关系中。

又一个方案，校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

当基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，可确定基础图像信息；则所述基础图像信息作为用于校正处理的基础图像信息；

当基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，无法确定基础图像信息；则产生基础图像信息获取指示，基于遮挡探测器光路或拍摄标准参照体期间获取的热像数据，来获得基础图像信息，作为用于校正处理的基础图像信息。或者通过通讯部获取基础图像信息；

进一步，校正控制部，根据校正指示，基于所确定的基础图像信息，来进行校正处理的控制；或者，所述校正控制部，根据检测获得的影响因素，当所述影响因素超过规定的范围，则根据对应关系，来确定所述影响因素对应的基础图像信息，来进行校正处理的控制；。

进一步，当根据获得的影响因素，无法找到对应的基础图像信息，可重新获取基础图像信息；包括如下情况之一或多个

1)产生打档指示，并根据遮挡探测器光路拍摄获取的热像数据，来获得基础图像信息；

2)产生打档指示，并根据遮挡探测器光路拍摄获取的热像数据，来获得基础图像信息；将所述基础图像信息与对应的影响因素关联记录，构成二者对应关系。

3)基于遮挡探测器光路、或基于标准参照物，获得的基础图像信息可以包括热像数据、校正参数其中之一或多个；

热像数据包括如下情况之一，基于遮挡探测器光路、或基于标准参照物，拍摄获得的热像数据，或基于所述热像数据经历处理获得的热像数据，或基于所述拍摄获得的热像数据参与处理获得的热像数据；

进一步，所述校正参数包括如下情况之一或组合：

1)根据获取的热像数据，计算处理获得的校正参数和/或校正算法；

所述热像数据为上述情况之一或组合；

2)热像数据参与获得的校正参数；例如根据情况1)获得校正参数，还将基于当前获得的影响因素，将前后相邻的影响因素对应的校正参数，按照特定算法如平均，来获得的校正参数；例如对热像数据计算获得的校正参数，并经历人工修饰后获得的校正参数；

根据不同的校正实施方式和不同的应用，可以有多种基础图像信息的构成方式。

进一步，影响因素包括如下因素其中之一：

1)内部影响因素，2)外部影响因素；3)状态影响因素；

为获取上述影响因素的数据的获取方式：

1)基于校正控制装置自身或与之连接的传感器来获得；

2)可以通过热像装置的通讯接口来获取；

3)通过校正控制装置相关的设置状态或功能模块，来获得状态影响因素；

进一步，所获取的影响因素及其对应的基础图像信息，包括如下情况之一或组合：

1)根据检测获得的影响因素，根据对应关系，如未获得相应的基础图像信息，则打档获取基础图像信息；将相对应的影响因素和基础图像信息二者关联记录获得对应关系；

2)接收到规定指示，获取相应的影响因素的数据和对应的基础图像信息；并关联记录获得对应关系。

另一方案，校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

用于校正处理的基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息。

又一方案，校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据第一基础图像信息来进行校正处理的控制；

用于校正处理的第一基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的第一基础图像信息；

当基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的第二基础图像信息；则校正控制部，根据第二基础图像信息来进行校正处理的控制。

又一方案，校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，用于根据基础图像信息来进行校正处理；

所述校正控制部，基于存储介质中传感器数据与基础图像信息的对应关系，根据传感器件获得的传感器数据，采用所述传感器数据对应的基础图像信息，进行校正处理；

所述传感器数据，为基于校正控制装置自身或与之连接的传感器，来获得。

进一步，处理部，当根据第一基础图像信息来进行校正处理，采用确定的第一基础图像信息对后续的热像数据进行处理，获得处理后的第一图像和/或第一分析数据；当根据第二基础图像信息来进行校正处理，获得处理后的第二图像和/或第二分析数据；这时可以不产生图像的停顿。

进一步，校正控制部，根据校正指示，基于所确定的基础图像信息，来进行校正处理的控制；或者，所述校正控制部，根据检测获得的影响因素，当所述影响因素超过规定的范围，则根据对应关系，来确定所述影响因素对应的基础图像信息，来进行校正处理的控制；。

进一步，所述基础图像信息可以包括热像数据、校正参数、校正算法其中之一或多个；用于校正处理的基础图像信息可以包括热像数据、校正参数、校正算法其中之一或多个；

进一步，基础图像信息包括如下情况之一或组合：

1)基于遮挡探测器光路、或基于标准参照物，拍摄获得的热像数据，或基于所述热像数据经历处理，或基于所述拍摄获得的热像数据参与处理，获得的基础图像信息；

2)人工配置的基础图像信息；

3)根据规定范围的影响因素对应的基础图像信息，按算法获得的基础图像信息；

4)基础图像信息不限于本机获得，也可以是其他热像装置获得的；

进一步，作为基础图像信息的热像数据包括如下情况之一：

1)遮挡探测器光路、或基于标准参照物，拍摄获得的热像数据，或所述热像数据经历处理后获得的热像数据；或拍摄获得的热像数据参与处理获得的热像数据；

2)档片启用期间获取的热像数据，或所述热像数据经历处理或参与处理后获得的热像数据；

3)人工配置的热像数据；

4)根据规定范围的影响因素对应的热像数据，按算法获得的热像数据；

5)将基于当前获得的影响因素，将规定范围的影响因素对应的热像数据，按照特定算法，来获得的热像数据；

进一步，所述校正参数包括如下情况之一或组合：

1)根据获取的热像数据，计算处理获得的校正参数；所述热像数据为上述情况之一或组合；

2)档片遮挡红外探测器时，获得的一帧或多帧热像数据，按算法计算出校正参数；

3)热像数据参与获得的校正参数；

3)人工配置的校正参数；

4)根据规定范围的影响因素对应的校正参数，按算法获得的校正参数；

进一步，所述影响因素包括如下因素其中之一：

1)内部影响因素；至少包括代表一个内部空间的温度、一个器件的温度、一个镜头局部的温度、一个电路板的温度、一个结构件的温度之一；可以包括1个或1个以上传感器的数据；

2)外部影响因素，包括环境温度、湿度、风速、风向、季节、地域、海拔、高度、仪器的倾角、朝向、气压、压力、挂载时的速度、振动、载体、日期、时间等之一或多个的数据；

3)状态影响因素，包括特定算法或程序、温度档、帧频、采集像素、采用不同视场角的镜头，热像装置的开机运行时间等之一或多个；

进一步，所获取的影响因素的数据，可以有多种情况，包括如下情况之一或组合：

1)根据检测获得的影响因素，当超过规定的范围，则根据对应关系，来获得相应的基础图像信息；

2)接收到规定指示，获取相应的影响因素的数据；例如接收到校正指示，获取相应的影响因素的数据，这时获得的影响因素包括如下情况之一或多个；

可以是接收到校正指示的规定时刻，规定时刻包括可以是校正指示之前、之时、之后的规定时间、或一定的时间期间，所获取的影响因素的数据或基于所述数据进行处理后获得的影响因素的数据；所述校正指示，可以按照一定频率、按触发条件触发、人工触发等来发出；所述频率可配置为小于1分钟、30秒、20秒、10秒、5秒其中之一；

影响因素数据的来源包括如下情况之一或组合

1)通过传感器获取的；

2)基于校正控制装置自身或与之连接的传感器，来获得；

3)可以通过状态因素的功能部件获得的影响因素；

4)通过通讯部获取的影响因素的数据；

5)人工设置的影响因素的数据；

进一步，影响因素与基础图像信息的对应关系，可以包括如下情况之一或多个：

1)预先准备的，

2)预先存储在校正控制装置的存储介质中；

3)根据校正控制装置自身或与其连接的传感器等获得的影响因素，或根据校正控制装置自身或与其连接的传感器，并结合其他方式获得的影响因素，将与其对应的基础图像信息，构成对应关系，预先准备并存储在存储介质中；所述基础图像信息可以是基于校正控制装置本机之前打档获得的热像数据来获得；

4)通过通讯部获取的对应关系；

5)对应关系的部分信息由通讯部获得，部分信息由校正控制装置自身获得；

6)通过其他影响因素与基础图像信息的对应关系，计算获得；

7)按照一定条件更新的；

8)通过校正控制装置自身获得；

9)影响因素与基础图像信息的对应关系，可以有1组或多组。

进一步，基于影响因素与基础图像信息的对应关系，确定的基础图像信息；可以根据校正控制装置自身存储的对应关系，或通过通讯部获得的所述对应关系，或基于通讯部连接的其他装置中存储的对应关系，来确定的基础图像信息；

包括如下情况之一或多个：

1)直接对应的；

2)位于允许的规定范围中选择的；

3)计算获得的；

4)位于规定范围的多组影响因素各自对应的基础图像信息，经历算法计算获得；

又一方案，校正控制装置，包括：

获取部，用于获取热像数据；

影响因素获取部，用于获取影响因素的数据；

基础图像信息记录部，用于将基于档片启用期间拍摄、或标准参照体拍摄获得的基础图像信息，和对应的影像因素的数据关联记录。

进一步，具有对应关系生成部，按照特定规则或算法，抽取多个影响因素及对应的基础图像信息，构成对应关系。

进一步，所述基础图像信息记录部，按照规定频率，连续记录获得的影响因素及对应的基础图像信息；对应关系生成部，用于根据所述连续记录的数据，抽取其中超过规定差异范围的基础图像信息及其对应的影响因素，构建影响因素与基础图像信息的关系；

或者，所述基础图像信息记录部，记录获得的影响因素及其对应的基础图像信息；对应关系生成部，抽取其中超过规定差异范围的基础图像信息及其对应的影响因素，构建影响因素与基础图像信息的关系。

又一方案，控制系统，包括：

至少1台校正控制装置，及与其通讯的处理装置；

所述校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

影响因素、基础图像信息、影响因素与基础图像信息的对应关系，其中之一或部分，来源于所述处理装置；

用于校正处理的基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息。

进一步，所述影响因素的部分来源于处理装置；对应关系的部分来源于处理装置；

进一步，所述处理装置，用于将影响因素和/或基础图像信息，提供给校正控制装置；

进一步，所述校正控制装置，根据所述处理装置提供的信息，来确定基础图像信息，并进行校正处理的控制；

进一步，所述校正控制装置具有档片机构，可获得遮挡探测器光路或校准参考物拍摄获得的热像数据。

进一步，所述影响因素的部分来源于处理装置；对应关系的部分来源于处理装置。

所述处理装置，用于将影响因素和/或基础图像信息，提供给校正控制装置；

所述校正控制装置，根据所述处理装置提供的信息，来确定基础图像信息，并进行校正处理的控制。

本发明的又一校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正指示部，用于发出校正指示；

校正控制部，用于基于校正指示，根据基础图像信息来进行校正处理；

所述校正控制部，基于传感器数据与基础图像信息的对应关系，根据传感器件获得的传感器数据，采用所述传感器数据对应的基础图像信息，进行校正处理；传感器数据，为基于校正控制装置自身或与之连接的传感器，来获得。

进一步，所述传感器数据至少包括1个温感数据。或者包括位于镜头盖、镜头、档片、探测器、探测器的采集电路、壳体、壳体外部、前壳、散热片、处理电路板、控制电路板，其中至少二个位置的温感数据；

本发明的又一校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，用于根据基础图像信息来进行校正处理；

所述校正控制部，如基于温感器件获得的温感数据，符合温感数据与基础图像信息的对应关系，则采用所述基础图像信息；如未找到对应的基础图像信息，则发出档片启用的指示；档片控制部，用于控制档片的动作；所述档片位于红外探测器的前部；基于档片启用的指示，控制档片遮挡红外探测器；

基础图像信息记录部，用于基于记录指示来记录基础图像信息，所述基础图像信息为档片遮挡红外探测器时，获得的热像数据或相关参数；所述基础图像信息与至少一个位于校正控制装置的温感器件获得的温感数据关联记录；所述基础图像信息记录部，用于获得所述温感器件获得的温感数据与基础图像信息的关系。

本发明的校正控制方法，包括：

拍摄获得热像数据并根据基础图像信息来进行校正处理的控制步骤；

或根据基础图像信息来进行校正处理并拍摄获得热像数据的控制步骤；

用于校正处理的基础图像信息，包括如下二种情况，且每次执行其中之一：

情况1：基于遮挡探测器光路或基于标准参照体期间拍摄获取的热像数据，来获得的基础图像信息；

情况2，包括如下至少之一：

1)基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息；

2)基于从通讯部获得的基础图像信息；

3)根据上述任意二项，处理获得的基础图像信息。

本发明的又一校正控制方法，包括：

拍摄获得热像数据并根据基础图像信息来进行校正处理的控制步骤；

或根据基础图像信息来进行校正处理并拍摄获得热像数据的控制步骤；

用于校正处理的基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息。

进一步的校正控制方法

校正控制步骤，根据第一基础图像信息来进行校正处理的控制；

用于校正处理的第一基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的第一基础图像信息；

当基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的第二基础图像信息；则校正控制部，根据第二基础图像信息来进行校正处理的控制。

本发明的校正控制方法，包括：

获取热像数据和影响因素的步骤；

基础图像信息步骤，用于将基于遮挡探测器(如档片启用期间)拍摄、或标准参照体拍摄获得的基础图像信息，和对应的影像因素的数据关联记录。或还包括抽取步骤，按照特定规则或算法，抽取多个影响因素及对应的基础图像信息，构成对应关系。

本发明的校正方法，包括：

应用于校正系统，包括至少1台校正控制装置，及与其通讯的处理装置；

所述校正控制装置执行的步骤，包括：

拍摄获得热像数据并根据基础图像信息来进行校正处理的控制步骤；

或根据基础图像信息来进行校正处理并拍摄获得热像数据的控制步骤；

影响因素、基础图像信息、影响因素与基础图像信息的对应关系，其中之一或部分，来源于所述处理装置与校正控制装置的通讯步骤；

用于校正处理的基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息。

本发明的校正控制方法，包括：

获取热像数据和影响因素的步骤；

基础图像信息步骤，用于将基于遮挡探测器拍摄、或标准参照体拍摄获得的基础图像信息，和对应的影像因素的数据关联记录。或还包括抽取步骤，按照特定规则或算法，抽取多个影响因素及对应的基础图像信息，构成对应关系。

本发明的其他方面和优点将通过下面的说明书进行阐述。

附图说明：

图1是实施例1的校正控制装置的电气结构框图。

图2是实施例1的校正控制装置的示例图。

图3代表了温感数据、基础图像信息对应的关系表一个示例。

图4代表了影响因素、基础图像信息对应的关系表的另一个示例。

图5是表示控制步骤的流程一个示例。

图6是合页式档片的示意；

图7是单摆式档片的示意；

图8代表了影响因素、基础图像信息对应的关系表的另一个示例。

图9代表了校正控制装置传感器布置的一个示例。

图10代表了现有技术打档校正获得的温度曲线；

图11代表了采用影响因素对应的基础图像校正后获得的温度曲线；

图12代表了实施例2、实施例3的示例图；

下面介绍本发明的实施例，虽然本发明在实施例1中，示例带有热像拍摄功能的校正控制装置(下文中简称校正控制装置9)，可以是各种便携式热像装置、在线式热像装置、搭载于无人机、车载、机器人等的热像装置。不限于热像装置，也可适用于各种带有档片遮挡传感器进行校正的拍摄装置。

优选的方案，校正控制装置，包括：拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

用于校正处理的基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息。

优选的方案，校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

用于校正处理的基础图像信息，包括如下2种情况，且每次执行其中之一：

情况1：基于遮挡探测器光路(如打档期间)或拍摄标准参照体期间获取的热像数据，来获得的基础图像信息；这种情况包括基于所获取的热像数据、或所获取的热像数据经历规定处理、或所获取的热像数据参与规定处理等方式之一或组合，来获得的基础图像信息；

情况2，包括如下至少之一：

1)基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息；

2)基于从通讯部获得的基础图像信息；

3)根据上述任意二项，处理获得的基础图像信息。

基础图像信息可以包括热像数据、校正参数、校正算法其中之一或多个；用于校正处理的基础图像信息可以包括热像数据、校正参数、校正算法其中之一或多个；

基础图像信息包括如下情况之一或多个：

1)基于遮挡探测器光路、或基于标准参照物，拍摄获得的热像数据，或基于所述热像数据经历处理，或基于所述拍摄获得的热像数据参与处理，获得的基础图像信息；

2)人工配置的基础图像信息；

3)根据规定范围的影响因素对应的基础图像信息，所述基础图像信息可以是其中之一或多个，按算法对所述基础图像信息进行处理获得的基础图像信息；

基础图像信息不限于本机获得，也可以是其他热像装置获得的；例如其他热像装置获得的基础图像信息，应用于该批次所有热像装置中使用，或还经历人为配置等处理。

具体而言，所述热像数据包括如下情况之一：

1)遮挡探测器光路、或基于标准参照物，拍摄获得的热像数据；例如档片启用期间获取的热像数据；例如基于标准参照物获得的基础图像信息，标准参照物例如温度场辐射均匀并可充满探测器像素的目标如均匀的墙面等；

需要注意，用来获得基础图像信息时，基于遮挡探测器光路、或基于标准参照物，拍摄获得的热像数据，优选指示为拍摄获得原始AD值热像数据，但也可设计为采用之前校正参数来拍摄获得的热像数据；二者在后续换算为校正参数时，算法略有不同。

2)情况1)获得的热像数据处理后的热像数据；

在一例，获得多帧热像数据并经历处理获得的一帧热像数据；例如，为减少存储的数据量，将获取的热像数据降像素后的作为基础图像信息；

包括也可以是获得的热像数据，参与获得的热像数据；例如，根据在遮挡探测器光路(如档片启用期间)获得的影响因素及获得的热像数据，将所述热像数据与规定范围例如前后相邻影响因素对应的热像数据，进行平均后获得的热像数据，作为基础图像信息；

3)人工配置的热像数据；例如，在出厂前获得情况1)的热像数据，并经历人工修饰后获得的热像数据；

4)根据规定范围的影响因素对应的热像数据，所述热像数据可以选择其中之一或多个，按算法获得的热像数据；例如，将基于当前获得的影响因素，将规定范围例如前后相邻的影响因素对应的热像数据，按照特定算法如平均，来获得的热像数据；例如，档片遮挡红外探测器时，获得的一帧热像数据，参与和预先准备的基础图像信息中，最接近的基础图像信息(如影响因素最接近的热像数据)，进行平均后获得的热像数据；

一般而言，当将热像数据作为基础图像信息时，后续还需要对该热像数据进行计算来获得校正参数。在一例，档片遮挡红外探测器时，获得的一帧或多帧热像数据(例如原始AD值热像数据)，作为基础图像信息，可按算法计算出校正参数，用来对后续的热像数据进行校正。校正控制装置可配置有将热像数据计算为校正参数的算法。

具体而言，所述校正参数包括如下情况之一或多个：

1)根据获取的热像数据，计算处理获得的校正参数；所述热像数据为上述情况之一或多个；

在一例，档片遮挡红外探测器时，获得的一帧或多帧热像数据，可按算法计算出校正参数，用来对后续的热像数据进行校正。

在一例，档片遮挡红外探测器时，获得的多帧热像数据，经历处理例如平均处理后获得的一帧，可按算法计算出校正参数，用来对后续的热像数据进行校正。

在一例，档片遮挡红外探测器时，获得的一帧热像数据，计算出热像采集的校正系数或探测器的控制参数，对后续热像数据的采集进行修正；

在一例，获得的热像数据参与获得的校正参数；例如根据根据获取的热像数据计算处理获得的校正参数，还将基于当前获得的影响因素，将所述校正参数结合规定范围例如前后相邻的影响因素对应的校正参数，按照特定算法，如平均，来获得的校正参数；

2)人工配置的校正参数，例如对热像数据计算获得的校正参数，并经历人工修饰后获得的校正参数；

3)根据规定范围的影响因素对应的校正参数，所述校正参数可以选择其中之一或多个，按算法获得的校正参数；例如，将基于当前获得的影响因素，将规定范围例如前后相邻的影响因素对应的校正参数，按照特定算法如平均，来获得的校正参数；

校正参数可以包括针对热像数据中每一个像素的校正参数，也可以仅针对特定区域中每一像素或部分像素的校正参数。

校正算法；在一些情况下，可以不预存热像数据或校正参数，而仅包括校正算法；例如根据规定范围的影响因素对应的校正参数，按校正算法来获得的校正参数；在一例，将基于当前获得的影响因素，将规定范围例如前后相邻的影响因素对应的校正参数，按照特定算法如平均或接近度的加权比例，来获得校正参数；可以降低存储校正参数的数据量。

在优选的例子中，可基础图像信息包括上述信息至少二种；根据不同的校正实施方式和不同的应用，可以有多种基础图像信息的构成方式。

影响因素(外部、内部、状态，通讯部获得的)包括如下因素其中之一：

1)内部影响因素，如体现内部温度场状态的空间或部件的温度，至少包括一个内部空间的温度、一个器件的温度、一个镜头局部的温度、一个电路板的温度、一个结构件的温度之一；所述内部空间的温度例如探测器腔体(如探测器与镜头之间的空间)的温度、处理电路板所在空间的温度等之一；器件的温度例如探测器的温度、档片的温度(如安装有档片)、处理芯片的温度；镜头的温度，例如各镜片的温度、镜头结构的温度；电路板的温度，例如机芯采集电路板(信号预处理电路)、主控制电路板、处理电路板的温度；结构件的温度，例如散热片、热像装置壳体内壁等；可以包括1个或1个以上传感器的数据；

在一例，包括1个温感；在一例，包括2个温感；在1例，包括3个温感；在1例，包括4个温感；

2)外部影响因素，例如环境温度、湿度、风速、风向、季节、地域、海拔、高度、仪器的倾角、朝向、气压、压力、挂载时的速度、振动、载体、日期、时间等之一或多个；

3)对基础图像信息产生变化影响的状态影响因素，例如特定算法或程序如温度档、帧频、采集像素、采用不同视场角的镜头，热像装置的开机运行时间等之一或多个；状态可以是根据热像装置的设置(可以是人工、或触发、自动等设置)来决定；当然，根据不同的实施方式，相同的状态影响因素对基础图像信息的影响不同，在一例，探测器自身帧频分为多个范围如30HZ,60HZ,由于采集的积分时间不同，那么选择30HZ、60HZ帧频的状态下对应的基础图像信息可能不同，而在另一例中，在一例，探测器自身帧频为60HZ,即便采集帧频可以设为30HZ,60HZ,但对应的基础图像信息还是可以一样的。

在不同的应用场景下，上述影响因素都有可能对基础图像信息产生变化影响，因此，可以针对影响因素与基础图像信息的对应关系。(建立对应关系，详见实施例3)

为获取上述影响因素的数据，例如优选基于校正控制装置自身或与之连接的传感器来获得，可以通过装配于热像装置或连接有相应的传感器来获取；在一例，在热像装置的外部壳体加装温感来获取代表环境温度的数据，在控制电路板上加装温感，来获取代表仪器内部控制电路板局部温度场的数据；具体而言，在一例，可以按照如下步骤来获得与基础图像信息变化相关的影响因素；在仪器内部和外部，部署较多的传感器，做出尽量细密的变化与基础图像信息的对应关系；而后将数值变化对基础图像信息变化小的传感器去除，最终留下对基础图像信息变化影响大的传感器，作为最终制作对应关系表和仪器内外部署传感器的依据。根据不同的应用、不同的结构的热像装置，可能导致不同的传感器配置。

如图8-图9所示的例子，在校正控制装置的机壳外部W1、镜头部位W2、散热片W3配置了温感，并在校正控制装置的存储介质中保存了如图8所示的对应关系。

不限于此，其中部分数据可以通过热像装置的通讯部来获取，例如环温、湿度、风速等，如相应的传感器数据集中汇集至特定的控制装置，热像装置可以通过通讯部来获得控制装置采集的上述数据。

如果配置了较多的传感器，将提供基础图像信息更为丰富的对应关系，也可以提高测温和图像校正的准确性，但也可能导致装配中的复杂性；根据热像装置不同的应用场景，一般会把最大影响的因素配置了相应的传感器；在优选的例子中，温感数据包括了3个温感的数据，例如镜头温度、探测器与镜头之间腔体的温度、处理器的温度；温感的数据可以来源于某些芯片自身温感获取的温度，在另一例，通过配置的温感(如温度传感器)来获取温度。温感等数据可以反映热像装置内部温度场的变化，当变化超过规定范围，则相应的基础图像信息的也应随之变化。

热像装置在不同的环境工作温度及热像装置内部热辐射下，可能导致基础图像信息发生变化，因此，优选的方式，将可能导致的影响因素，包括热像装置的外部影响因素和热像装置的内部影响因素，与相应的基础图像信息按照一定数据格式做成对应表，便于后续调用。优选的，影响因素与其对应的基础图像信息，预先存储在存储介质中；另一优选的，可以通过获取的影响因素的数据与相对应的基础图像信息，通过控制打档，来存储在存储介质中。

影响因素包括内部影响因素、外部影响因素、状态影响因素其中之一；优选考虑的影响因素，至少包括内部影响因素，例如

另一优选的，包括内部影响因素和外部影响因素，例如

另一优选的，包括内部、外部、状态影响因素，便于配置高精度的热像装置，例如

可以根据应用需要，进行不同的配置，但至少包括上述因素至少之一。

所获取的影响因素的数据，可以有多种情况，例如包括如下情况之一或多个：

1)根据控制部检测获得的影响因素，如按照规定频率或按照条件触发指示来获取并检测获得的影响因素，当超过规定的范围，则根据对应关系，来获得相应的基础图像信息；

例如控制部按照规定频率(如1秒1次的检测频率)，检测传感器所获得的影响因素，当超过规定的范围，包括可以是影响因素的种类，或影响因素的数据，其中之一，超过了规定的范围，则根据对应关系，来获得相应的基础图像信息，应用于后续的校正处理。在一例，每秒检测一次影响因素(如多组温感)的数据，当其中之一超过规定范围0.5℃，则选择超过规定范围后的影响因素相对应的基础图像信息。

2)接收到规定指示，获取影响因素的数据；

例如接收到校正指示，获取相应的影响因素的数据，这时获得的影响因素包括如下情况之一或多个；

例如可以是接收到校正指示的规定时刻，规定时刻包括可以是校正指示之前、之时、之后的规定时间、或一定的时间期间，所获取的影响因素的数据，或基于所述数据进行处理后获得的影响因素的数据；

在一例，当获得校正指示，则获取新获得的温感数据；

在一例，如温感按照1秒的频率存储在临时存储部并5个刷新一次循环存储，当接收到校正指示，将获取最接近校正指示时刻的那个数据，那么可能选用了之前的数据；

在一例，对于影响因素的数据，可以是一定时间内获得的多个数据按照特定算法后获得的数据；例如接收到校正指示前的4个温感数据和之后的1个温感数据，进行平均获得的温感数据；

控制部8可以作为校正指示部的例子；校正指示，可以按照一定频率、按触发条件触发、人工触发等来发出；按照一定频率可以是固定频率，如按定时(如1分钟)来发出校正指示；也可以是变化的频率，如开机5分钟内为20秒发出校正指示，开机5分钟后按照1分钟来发出校正指示；按条件触发例如检测到传感器数据变化、或外部触发指示等则产生校正指示；

优选的，当采用预先准备的基础图像信息来进行校正时，可以提高校正频率；在一例，校正指示的频率可配置为1分钟、30秒、20秒、10秒、5秒其中之一；这样，可以降低温度的漂移，并避免了频繁打档获取基础图像信息导致的档片电机等的发热等缺陷。根据不同的应用需要，如预先配置好影响因素与基础图像信息对应关系，可以配置有各种校正频率，甚至更高的校正频率；在一例，理论上可以做到每帧根据检测到的影响因素对应的基础图像信息，进行校正的频率。

如图10-11所示，图10为现有技术通过打档校正来拍摄恒温物体的温度趋势曲线，其中阶跃的产生是由于无法密集校正导致温度的漂移；图11为采用对应关系获得的基础图像信息进行校正，来获得的温度趋势曲线，由于可以根据影响因素的变化，及时变换对应的基础图像信息，用来校正处理，因此可以大幅减低漂移。

优选方案，校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据第一基础图像信息来进行校正处理的控制；

用于校正处理的第一基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的第一基础图像信息；

当基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的第二基础图像信息；则校正控制部，根据第二基础图像信息来进行校正处理的控制。

这里所说的第一基础图像信息和第二基础图像信息，代表不同的基础图像信息；

处理部2，当根据第一基础图像信息来进行校正处理，采用所确定的第一基础图像信息对后续拍摄获得的热像数据进行处理，获得处理后的第一图像和/或第一分析数据；当根据第二基础图像信息来进行校正处理，采用所确定的第二基础图像信息对后续拍摄获得的热像数据进行处理，获得处理后的第二图像和或第二分析数据；这时可以不产生图像的停顿。

影响因素数据的来源包括如下情况之一或多个

1)通过传感器获取的；传感器件获得的传感器数据，例如基于校正控制装置自身或与之连接的传感器，来获得；

2)可以通过状态因素的功能部件如控制部8获得的影响因素，如时间、设置的测温档、镜头识别部件等获得的状态影响因素；

3)通过通讯部获取的影响因素的数据；例如通讯部获得的所在环境中环温、湿度、风速等其他外部传感器获取的影响因素的数据，可以减少校正控制装置自身传感器的配置数量。例如通过气象台数据获得的影响因素等。

4)人工设置的影响因素的数据；

影响因素与基础图像信息的对应关系，可以是如下情况之一或多个：

1)预先准备的，如预先存储在存储介质中的；在一例，如图3、图5、图8所示的对应关系，可以预先存储在校正控制装置的存储介质中；

优选的，根据校正控制装置自身或与其连接的传感器等获得的影响因素，或根据校正控制装置自身或与其连接的传感器，并结合其他方式获得的影响因素，将与其对应的基础图像信息，构成对应关系，预先准备并存储在存储介质中；优选的，所述基础图像信息可以是基于校正控制装置本机之前打档获得的热像数据来获得；

在一例，基础图像信息与影响因素如与温感数据等相对应，保存在校正控制装置9的存储介质中，供后续使用；在一例，在出厂前预先准备；

在一例，不限于本机，也可以是其他热像装置获取的(例如同一批次其他热像装置获取的对应关系)；

2)通过通讯部获取的对应关系；在一例，如图3、图5、图8所示的对应关系，可以通过通讯部获得；例如，例如其他热像装置获得的基础图像信息，应用于该批次所有热像装置中使用。在一例，热像装置自身的档片机构故障或没有档片机构时，可以将类似结构或还具有类似影响因素如工作环境的热像装置(优选具有档片机构)获得的对应关系，应用于该热像装置；

不限于通过通讯部获得完整的对应关系，也可以是其中的部分信息由通讯部获得，其余的信息由校正控制装置自身获得；在一例，影响因素的数据根据通讯部获得，而基础图像信息根据校正控制装置自身打档获得，将二者对应来获得对应关系；

3)通过其他影响因素与基础图像信息的对应关系，计算获得；例如，根据规定范围已有的影响因素及其对应的基础图像信息，对符合该规定范围中的新获得的影响因素数据，根据相邻的二个影响因素的基础图像信息的加权，来计算获得所述影响因素与其对应的基础图像信息；

4)按照一定条件更新的；在一例，校正控制装置预先存储了对应关系，经历规定时期的运行或更新指示，可以更新所述对应关系；例如每三个月规定周期，重新打档获得基础图像信息，根据相应影响因素对应的基础图像信息，将新获得的基础图像信息与预先准备的基础图像信息进行比较，或二者校正后的热像数据或分析值进行比较，当超过允许值，则更新影响因素与基础图像信息的对应关系；可以按照新获得的影响因素与基础图像信息的对应关系，进行部分或全部更新。

5)通过校正控制装置自身获得；例如通过校正控制装置自身传感器或连接的传感器获得影响因素，并结合遮挡探测器或基于标准参照体拍摄获得的热像数据，来获得的二者对应关系；例如打档获取的基础图像信息，与打档期间相对应的影响因素关联记录，以获得二者之间的对应关系；便于后续调用。

因此，即便预先没有准备对应关系，但可以通过校正控制装置(优选带有档片机构)逐渐积累，达到自学习的作用。在另一例，影响因素发生改变，则可以根据新的影响因素组合，即可打档对应获得的基础图像信息，来重新构建对应关系。

6)影响因素与基础图像信息的对应关系，可以有1组或多组；例如为不同的工况情况下，准备了不同的构成的对应关系；一般可根据影响因素的种类不同来配置对应的基础图像信息的对应关系分组；在一例，校正控制装置预先准备了分别应用于地面使用和机载使用时的影响因素与基础图像信息的对应关系。

基于影响因素与基础图像信息的对应关系，确定的基础图像信息；可以根据校正控制装置自身存储的对应关系，或通过通讯部获得的所述对应关系，或基于通讯部连接的其他装置中存储的对应关系，来确定的基础图像信息；包括如下情况之一或多个：

1)直接对应的；获得的影响因素可直接从对应关系中找到对应的基础图像信息；如图8所示，当获得的影响因素(温感1:1℃，温感2:1℃；温感3:1℃)，则确定基础图像信息1；

2)从允许的规定范围中选择的；包括允许缺省某个传感器数据的情况；获得的影响因素可直接从对应关系中选择对应的基础图像信息；例如，图8所示，预先准备的对应关系表；规定范围为0.5℃，当检测到的影响因素的数据位于关系表中二组影响因素之间时，则选择接近的影响因素对应的基础图像信息；影响因素(温感1:1℃，温感2:1℃；温感3:1℃)对应基础图像信息1，假定某时刻获取的影响因素的数据为(温感1:1℃，温感2:1℃；温感3:1.6℃)，则确定对应的基础图像信息2。

3)计算获得的，例如位于规定范围的多组影响因素各自对应的基础图像信息，选择其中之一或多组，经历算法计算获得；在一例，获取的影响因素位于二组影响因素数据之间，如(温感1:1℃，温感2:1℃；温感3:1℃，对应基础图像信息1)和(温感1:1℃，温感2:1℃；温感3:2℃，对应基础图像信息2)之间，可以通过算法如二个基础图像信息的加权，来确定获取的影响因素对应的基础图像信息；

根据校正控制装置获得对应关系的实施方式；

当根据获得的影响因素，无法找到对应的基础图像信息，如超过规定范围或新增类型不同的传感器数据等原因，则可重新获取基础图像信息；例如产生打档指示，并根据打档期间拍摄获取的热像数据，来获得基础图像信息；将所述基础图像信息与对应的影响因素关联记录，构成二者对应关系。

其中，基于遮挡探测器光路、或基于标准参照物，获得的基础图像信息可以包括热像数据、校正参数其中之一或多个；热像数据包括如下情况之一或多个：

1)基于遮挡探测器光路、或基于标准参照物，拍摄获得的热像数据，或基于所述热像数据经历处理获得的热像数据，或基于所述拍摄获得的热像数据参与处理获得的热像数据；

在一例，通过校正控制装置9自身的打档时获得的热像数据；可基于基础图像信息的采集指示，可将档片遮挡红外探测器光路时，获得的热像数据、或所述热像数据经历各种算法处理后的热像数据；遮挡探测器光路时，获得的热像数据，可以包括1或多帧的热像数据；优选为拍摄获得原始AD值热像数据；

在一例，根据在档片启用期间获得的影响因素及获得的热像数据，将所述热像数据，与所述影响因素规定范围例如前后相邻影响因素对应的热像数据，进行平均后获得的热像数据，作为基础图像信息；

所述校正参数包括如下情况之一或多个：

1)根据获取的热像数据，计算处理获得的校正参数和/或校正算法；所述热像数据为上述情况之一或多个；

例如由于温度档(测温不同量程范围)的参数(例如K值不同)不同，采用了不同的特定算法，可能导致基于所述热像数据获得的校正参数不同的情况；

在一例，档片遮挡红外探测器时，获得的一帧或多帧热像数据，可按算法计算出校正参数，用来对后续的热像数据进行校正。

在一例，档片遮挡红外探测器时，获得的多帧热像数据，经历平均处理后获得的一帧，可按算法计算出校正参数，用来对后续的热像数据进行校正。

在一例，档片遮挡红外探测器时，获得的一帧热像数据，计算出热像采集的校正系数或探测器的控制参数，对后续热像数据的采集进行修正；

在一例，热像数据参与获得的校正参数；还将基于当前获得的影响因素，将规定范围例如前后相邻的影响因素对应的校正参数，按照特定算法如平均，来获得的校正参数；

在一例，对热像数据计算获得的校正参数，并经历人工修饰后获得的校正参数；

根据不同的校正实施方式和不同的应用，可以有多种基础图像信息的构成方式。

其中，影响因素包括如下因素其中之一：

1)内部影响因素，2)外部影响因素；3)状态影响因素；

为获取上述影响因素的数据的获取方式：

1)基于校正控制装置自身或与之连接的传感器来获得；

2)可以通过热像装置的通讯部来获取；

3)通过校正控制装置相关的设置状态或功能模块，来获得状态影响因素；

所获取的影响因素及其对应的基础图像信息，可以有多种实施方式，例如包括如下情况之一或多个：

1)根据控制部检测获得的影响因素，根据对应关系，如未获得相应的基础图像信息，则打档获取基础图像信息；将相对应的影响因素如温感数据等和基础图像信息二者关联记录获得对应关系；

2)接收到规定指示，获取相应的影响因素的数据和对应的基础图像信息；

其中，相互对应的二者获得的时间应尽量接近，影响因素的部分或全部数据可以是获取热像数据之前、之时、之后获得的，还包括一定时间内获得的多个数据按照特定算法后获得的数据。

在一例，当获得校正指示，则执行获取影响因素的数据；如接收到校正指示，获取的校正控制装置的温感传感器的数据；

在一例，当获取基础图像信息后，立即重新获取影响因素的数据；

在一例，打档期间，通过传感器或设置状态获取的影响因素的数据；

其中，校正处理，可以对探测器控制参数、信号读取采集参数、后续获取的热像数据其中之一，进行校正。可包含有一种或多种校正参数，例如均匀性校正、测温校正等相关的校正参数；具体而言，如对后续获取的热像数据进行原始AD值、图像、测温数据等之一或多个的校正处理；对后续获取的热像数据，例如本次确定基础图像信息，至下一次重新确定基础图像信息之间获取的热像数据，按照本次所确定的基础图像信息进行处理。在一例，校正处理将针对后续获得的每一帧热像数据；在另一例中，校正处理可仅针对后续获得的部分帧的热像数据；在另一例中，校正处理可仅针对热像数据帧中的局部区域的热像数据；

根据所述基础图像信息，进行校正处理的控制，包括以上至少之一；

1)例如可用来对探测器的控制参数、和/或信号读取参数进行校正控制，对采集热像数据的各种相关参数至少之一进行校正控制；如可以通过基础图像信息，来获得各种校正系数，对采集热像数据的各种相关参数进行控制；探测器控制参数例如采集积分时间、增益、偏置电压等；信号读取参数控制例如图像分辨率、帧频等。

2)例如对获取的热像数据进行处理的相关参数(例如均匀性校正、测温校正等)至少之一进行校正控制。

并且，当各种影响因素(影响热像装置工作温度或测温精度的影响因素)与基础图像信息相对应，以便后续调用，可以很好的起到校正的作用，并可以大幅提高测温精度。

另一个优点是，由于基础图像信息可以调用，并进行校正处理，因此可以提高校正的频率并确保不出现打档时图像遮挡导致的画面暂停，也不会出现因为频繁打档时可能导致打档电机发热而使图像或红外测温发生误差。具体而言，在一例，通过基础图像信息获取校正系数对某一时刻的红外热像进行校正，校正前后的连续图像可以不会出现中断的情况。

优选的方案中，校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

用于校正处理的基础图像信息，包括如下2种情况，且每次执行其中之一：

情况1：基于遮挡探测器光路(如打档期间)或拍摄标准参照体期间获取的热像数据，来获得的基础图像信息；这种情况包括基于所获取的热像数据、或所获取的热像数据经历规定处理、或所获取的热像数据参与规定处理等方式之一或组合，来获得的基础图像信息；

情况2，包括如下至少之一：

1)基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息；

2)基于从通讯部获得的基础图像信息；

3)根据上述任意二项，处理获得的基础图像信息。例如将二种方式获得的基础图像信息进行处理例如平均后，获得的基础图像信息；

在一例，用于校正处理的基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息；或根据打档期间获取的热像数据，来获得基础图像信息。

在一例，对应关系存储在于校正控制装置通讯的处理装置中，当校正控制装置将获得的影响因素的数据，提供给处理装置，由处理装置根据对应关系，将基础图像信息，提供给校正控制装置；或根据打档期间获取的热像数据，来获得基础图像信息。

在一例，用于校正处理的基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息；或基于打档获得的基础图像信息，和情况2中获得的基础图像信息(例如通讯部获得的基础图像信息)，二者进行处理，如平均后获得的基础图像信息。

优选例，当基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，可确定基础图像信息；则所述基础图像信息作为用于校正处理的基础图像信息；当基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，无法确定基础图像信息；则产生基础图像信息获取指示，基于遮挡探测器光路(如打档期间)或拍摄标准参照体期间获取的热像数据，来获得基础图像信息，作为用于校正处理的基础图像信息。

进一步优选的，将基于遮挡探测器光路(如打档期间)或拍摄标准参照体期间获取的热像数据，来获得基础图像信息，与对应的影响因素关联记录，并将该对应关系，增加至多组影响因素与基础图像信息的对应关系中，如图3、图4、图8等的对应表中，以便后续使用。

另一优选的，档片控制部，用于控制档片的启用；

校正控制部，用于基于校正指示，根据所确定的基础图像信息来进行校正处理的控制；

所确定的基础图像信息包括如下二种情况之一，根据影响因素与基础图像信息的对应关系，根据获得影响因素的数据(如基于温感器件获得的温感数据)，所确定相对应的基础图像信息；根据档片启用的指示，根据档片启用期间获取的热像数据，来确定基础图像信息。

优选的，如未能确定相对应的基础图像信息或需要比较找到所确定的，则产生档片启用的指示，根据在启用期间获取的热像数据，来确定基础图像信息；

进一步优选的，基于记录指示来记录所述基础图像信息和对应的影响因素；还可将所述对应关系，增加至原有的对应关系如关系表中。

优选的例子，控制系统，包括：至少1台校正控制装置，及与其通讯的处理装置；

所述校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

影响因素、基础图像信息、影响因素与基础图像信息的对应关系，其中之一或部分，来源于所述处理装置；校正控制装置的运行过程中，部分或全部的影响因素、部分或全部的基础图像信息、部分或全部的影响因素与基础图像信息的对应关系，其中之一，来源于所述处理装置；

用于校正处理的基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息；可以由校正控制装置或处理装置之一或组合，来确定基础图像信息。详见实施例2；

优选的例子，校正控制装置，包括：

获取部，用于获取热像数据；影响因素获取部，用于获取影响因素的数据；

基础图像信息记录部，用于将基于遮挡探测器拍摄、或标准参照体拍摄获得的基础图像信息，和对应的影像因素的数据关联记录。详见实施例3；

实施例1

现在将根据附图详细说明本发明的典型实施例。注意，以下要说明的实施例用于更好地理解本发明，所以不限制本发明的范围，并且可以改变本发明的范围内的各种形式。

图1是实施例1的校正控制装置9的电气结构框图。图2是实施例1的校正控制装置9的外型图。

校正控制装置9具有拍摄部1、处理部2、闪存3、档片控制部4、临时存储部5、通信I/F6、存储卡I/F7、控制部8，控制部8通过控制与数据总线与上述相应部分进行连接，负责校正控制装置9的总体控制。

拍摄部1如为红外拍摄部，一种实施方式，红外拍摄部由未图示的光学部件、镜头驱动部件、档片机构、红外探测器、信号预处理电路等构成。光学部件由红外光学透镜组成，用于将接收的红外辐射聚焦到红外探测器。镜头驱动部件根据控制部8的控制信号驱动透镜来执行聚焦或变焦操作。

在一例，档片机构位于红外探测器与镜头之间，但也可配置在镜头的光路中，例如镜片之间或镜头前部；档片可以采用合页式档片(如图6所示)、单摆式档片(如图7所示)等，受档片电机的驱动进行开合的动作，一般档片材料可采用表面附着黑体材料的金属片；在未启用状态，档片不对探测器遮挡，当启用档片，则对红外探测器或其光路进行遮挡。

红外探测器如制冷或非制冷类型的红外焦平面探测器，把通过光学部件的红外辐射转换为电信号。信号预处理电路包括采样电路、AD转换电路等，将从红外探测器读出的信号在规定的周期下进行取样、自动增益控制等信号处理，经AD转换电路转换为数字热像数据。处理部2用于对通过红外拍摄部1获得的热像数据进行规定的处理，该热像数据例如为14位或16位的二进制数据(又称为热像AD值数据，简称AD值数据)。

处理部2的处理如修正、插值、伪彩、压缩、解压等处理,进行转换为适合于显示用、记录用等数据的处理。其中，热像数据生成红外热像的处理如伪彩处理，一种实施方式，根据热像数据AD值的范围或AD值的设定范围来确定对应的伪彩板范围，将热像数据的AD值在伪彩板范围中对应的具体颜色值作为红外热像中对应像素位置的图像数据。处理部2可以采用DSP或其他微处理器或可编程的FPGA等来实现，或者，也可与控制部8为一体或为同一的微处理器。基于控制部8的控制，处理部2用于将拍摄部1获得的热像数据等按照规定的处理，记录到如存储卡等记录介质。对于各种类型的拍摄装置，处理部2的处理是将拍摄部1获得的热像数据等，进行转换为适合于显示用、记录用、通信用等数据的处理。处理部2可以用作对获取的热像数据进行校正处理的例子。

闪存3中存储有用于控制的程序，以及各部分控制中使用的各种数据。在实施例1中，作为存储介质的例子，用于存储温感数据、基础图像信息及2者的对应关系；存储介质例如可以是校正控制装置9中的存储介质，如闪存3、存储卡等非易失性存储介质，临时存储部5等易失性存储介质；还可以是与校正控制装置9有线或无线连接的其他存储介质，如通过与通信I/F6有线或无线连接的进行通讯的其他装置如其他存储装置、或其他拍摄装置、计算机、服务器等中的存储介质；校正控制装置9可通过有线或无线方式，来获得其他装置中存储、获得、处理得到的基础图像信息，存储在校正控制装置9中或与其连接的非易失性存储介质中。

如图3所示的表，代表了温感数据、基础图像信息对应的关系表；其中不同的温感数据对应了不同的基础图像信息，例如温感数据1对应的是基础图像信息1；温感数据至少包括有1个温度传感器(简称温感)的数据，可以是温感的温度值(如24度)，或温度值的范围(如24度上下10％的范围)；在其他的例子中，也可以包含多个温感数据的值，温感可以有1个或多个，例如探测器内部的温感、外部环境温感、处理器(如处理部2或控制部8的芯片温度)的温感、探测器的温感、档片的温感、镜头的温感、散热片温感，其中之一或多个的组合；优选的，采用校正控制装置9自身带有的多个温感所获取的温感数据。

基于基础图像信息的采集指示，可将档片遮挡红外探测器时，获得的热像数据、或所述热像数据经历各种算法处理后的热像数据、或基于所述热像数据获得的校正相关的规定参数(文中称为的校正参数，可以包括与校正相关的各种校正系数、补偿参数、控制参数等，不同的实施方式中，校正参数可以包括1个或多个参数)，至少其中之一作为基础图像信息。

所述基础图像信息，用来对探测器的控制参数进行校正控制、或对采集热像的各种相关参数至少之一进行校正控制、或对后续获取的热像数据进行处理(例如均匀性校正、测温校正等)至少之一进行校正控制。

如图4所示的表，代表了各种相关影响因素的传感器数据、基础图像信息对应的关系表，代表更为细密的对应关系。其他传感器，例如湿度、倾斜度的传感器、气压、风速等。进一步，在一例，可将代表某种状态的影响因素，如开机时间、探测器或热像的各种设定参数(例如设定的帧频、采集的像素)、目标背景的各种补偿系数或算法(例如天空背景补偿的开与关)、各种设置的修正算法(例如滤波、增强等算法)、各种分析处理算法(例如不同的温度档)等，作为与基础图像信息相关的状态影响因素，也作为对应关系表中的项；以便于根据影像因素获得更为合适的基础图像信息，加快后续处理的速度和控制处理的效果。

档片控制部4，用于控制档片的动作，例如档片电机的驱动控制处理器；所述档片可位于红外探测器的前部；基于档片启用的指示，控制档片电机驱动档片，来遮挡红外探测器或其光路；在另一例，可以取消单独的档片控制部4，控制部8可作为档片控制部4的例子。

临时存储部5如RAM、DRAM等易失性存储器，作为对拍摄部1输出的图像数据、热像数据进行临时存储的缓冲存储器，同时，作为处理部2和控制部8的工作存储器起作用，暂时存储由处理部2和控制部8进行处理的数据。不限与此，控制部8、处理部2等处理器内部包含的存储器或者寄存器等也可以解释为一种临时存储部。

通信I/F6(通讯部的例子)是例如按照USB、1394、蓝牙、网络如WIFI、通讯网络例如4G，5G等有线或无线通信规范，与外部装置进行连接并数据交换的接口，作为外部装置，例如可以列举个人计算机、服务器、云端服务器、PDA(个人数字助理装置)、其他的热像装置、可见光拍摄装置、存储装置等。

存储卡I/F7，作为存储卡的接口，在存储卡I/F7上，连接有作为可改写的非易失性存储器的存储卡，可自由拆装地安装在校正控制装置9主体的卡槽内，根据控制部8的控制记录热像数据等数据。

此外，也可带有显示部，基于控制部8的控制，执行将临时存储部5所存储的显示用的图像数据显示在显示部。例如可连续显示拍摄获得的热像数据生成的影像、显示从存储卡读出和扩展的影像、还可显示各种设定信息。不限于此，显示部还可以是与校正控制装置9连接的其他显示装置，而校正控制装置9自身的电气结构中可以没有显示装置。

此外，也可带有操作部：用于使用者进行操作，如输入设定信息等各种操作，控制部8根据操作部的操作信号等，执行相应的程序。操作部可以是按键、触摸屏、语音识别部件等来实现操作。

控制部8控制了校正控制装置9的整体的动作，控制部8例如由CPU、MPU、SOC、可编程的FPGA等来实现。闪存3中存储有用于控制的程序，以及各部分控制中使用的各种数据。

控制部8可作为校正指示部，用于发出校正指示；例如可以基于定时、操作者的指示、传感器数据的变化触发等，来发出校正指示。

控制部8可作为校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；所述校正控制部，确定基础图像信息，在一例，可基于传感器数据与基础图像信息的对应关系，基于传感器件获得的传感器数据，采用所述传感器数据对应的基础图像信息，确定所述基础图像信息；进行校正处理的控制；具体而言，在一例，控制部8可以控制处理部2按照所确定的基础图像信息对后续拍摄获得的热像数据进行校正处理；在另一例，控制部8可以控制探测器的控制参数进行校正处理。如控制部8与处理部2为一体的处理器件，控制部8也可以进行校正处理。优选的，所述传感器数据，为基于校正控制装置自身或与之连接的传感器，来获得。所述传感器数据至少包括1个温感数据。所述校正处理，可以是对拍摄获得的热像数据或探测器控制参数等进行校正处理。

优选的例子，所述校正控制部，如校正指示规定时刻基于温感器件获得的温感数据，符合存储介质中温感数据与基础图像信息的对应关系，则采用对应的基础图像信息；如未找到对应的基础图像信息，控制部8则可发出档片启用的指示；

档片控制部4，或控制部8作为档片控制部，用于控制档片的动作；所述档片可位于红外探测器的前部；基于档片启用的指示，控制档片电机驱动档片，来遮挡红外探测器；

控制部8作为基础图像信息记录部，用于基于记录指示来记录基础图像信息。所述基础图像信息为档片遮挡红外探测器时，获得的热像数据或基于所述热像数据获得的校正参数；所述基础图像信息与至少一个位于校正控制装置的温感器件获得的温感数据关联记录；所述基础图像信息记录部，用于记录获得所述温感器件获得的温感数据与基础图像信息的对应关系；以便于后续采用。

优选的，上述校正指示、打档指示、记录指示可以配置为联动，以便热像装置9在使用者开始使用时，根据不同的应用环境，自动记录打档获得的基础图像信息与温感等传感器数据的对应关系，便于后续可根据传感器数据，来调用相应的基础图像信息。

以下将对校正控制方法进行说明，参考图5来说明本实施例，控制步骤如下：

步骤A01，基于校正指示，根据与传感器数据对应的基础图像信息进行校正处理；

校正控制装置9的拍摄部，用于拍摄获得热像数据；当接收到校正指示，校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

具体而言，例如当接收到校正指示，所述校正控制部，基于存储介质中传感器数据与基础图像信息的对应关系，根据校正指示的规定时刻，基于传感器件获得的传感器数据，采用所述传感器数据对应的基础图像信息，进行校正处理的控制；所述传感器数据，为基于校正控制装置自身或与之连接的传感器，来获得；所述传感器数据至少包括1个温感数据。

在实施例中，步骤A01可构成完整的方案，可省略后续的步骤。

如当前获得的传感器信息，例如温感数据，未找到对应的基础图像信息，则可进入步骤A02；

步骤A02；基于档片控制启用的指示，启用档片；

如未找到对应的基础图像信息，控制部8发出档片启用的指示，档片电机驱动档片遮挡红外探测器。档片控制部，用于控制档片的动作；所述档片位于红外探测器的前部；基于档片启用的指示，控制档片遮挡红外探测器；

如采用标准参照物如外部遮挡物作为标准参照体，如人工关闭镜头盖作为档片时，可去除A02步骤；如替换为基于基础图像信息采集的指示，基于该指示，获取拍摄标准参照物获得的热像数据或处理后获得的校正参数作为基础图像信息；

步骤A03；基于基础图像信息的记录指示，将温感数据等传感器获得的数据，与基础图像信息关联保存；

基础图像信息记录部，用于基于记录指示来记录基础图像信息，所述基础图像信息为档片遮挡红外探测器时，获得的热像数据或相关校正参数；所述基础图像信息与至少一个位于校正控制装置的温感器件获得的温感数据关联记录；这样，就可获得所述温感器件获得的温感数据与基础图像信息的关系。在其他优选的例子中，可获得各种传感器获得的数据与基础图像信息的关系。

在其他优选的例子中，如采用多档片技术的热像装置，可以将各种传感器获得的数据与多档片分别遮挡时获得的基础图像信息，进行关联保存；以便于获得更为精细的基础图像信息；进一步，例如采用双档片时，例如外部档片如镜头盖、内部档片如位于镜头和探测器之间的单摆式档片，可以采用1个档片基础图像信息去校正另一档片获得的基础图像信息。

此外，根据相同的传感器等参数，可定期或人工指示的方式，可将查表获得的基础图像、与打档获得的基础图像进行比对，如2者不同，可将后者替换前者，或还可以进一步采用远端升级的措施来增加修正参数，达到热像装置及时修正的目的。

如上所述，通过获得相关传感器等的数据，查找图3或图4中传感器数据对应的基础图像信息，如能查到相符合的，则可以不打档片，从而解决了打档产生的图像中断、档片故障等弊端。进一步，如未查找到相符合的，则可以打档片并获得基础图像信息，进行校正处理，进一步优选的，可将传感器的数据与基础图像信息关联保存，丰富对应关系，便于后续采用。这样的有益效果，在仪器交付用户前，可以大幅降低生产环节的基础图像信息的准备工作量，并且可以根据不同的使用环境，根据环境温度的变化自动获取并方便后续选择相应的基础图像信息。

这样，热像装置即便装配应用于不同的复杂环境下，例如装配在不同搭载时构成的修正；通过上述方式，仍然可以实现逐渐减少打档频率甚至不打档片，达到自动校正的目的，将基础图像信息及对应的传感器数据对应关系获得更为方便。

实施例2

本实施例中，控制系统，包括：

至少1台校正控制装置，及与其通讯的处理装置；

所述校正控制装置，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

影响因素、基础图像信息、影响因素与基础图像信息的对应关系，其中之一或部分，来源于所述处理装置；校正控制装置的运行过程中，部分或全部的影响因素、部分或全部的基础图像信息、部分或全部的影响因素与基础图像信息的对应关系，其中之一，来源于所述处理装置；

用于校正处理的基础图像信息，为基于影响因素与基础图像信息的对应关系，根据所获取的影响因素的数据，根据所述对应关系，确定的基础图像信息。可以由校正控制装置或处理装置之一或组合，来确定基础图像信息。

如图12所示，处理装置10作为处理装置的例子，可以是计算机、服务器、云服务器等处理装置，处理装置10通过通讯部与热像装置11通讯和数据交互；热像装置11作为校正控制装置的例子；

在一例，热像装置11获得遮挡探测器期间拍摄获得的热像数据，通过通讯部提供给处理装置10，处理装置10将所述热像数据处理为校正参数，将所述校正参数提供给热像装置11，用来进行校正处理。

在一例，热像装置11获得影像因素的数据，通过通讯部提供给处理装置10(如云服务器)，所述对应关系存储在处理装置10中，根据获得的影响因素的数据，处理装置10将对应的基础图像信息提供给该热像装置11。

在一例，热像装置11配置在现场使用的环境中，可以通过通讯部，将热像装置11或与其连接的传感器获得的影响因素，提供给处理装置10，并通过处理，例如该处理装置10查询影响因素与基础图像信息的对应关系，并将对应的基础图像信息提供给热像装置11；热像装置11可以基于条件触发，例如在检测到影响因素超过规定范围、或定时到来、或控制指示时，将获得的影响因素，提供给处理装置10；

在一例，所述影响因素的部分来源于处理装置10，部分来源于热像装置11自身；

所述校正控制装置，可根据所述处理装置提供的信息，来确定基础图像信息，并进行校正处理的控制。

在一例，对应关系的部分来源于处理装置10，部分位于热像装置11的存储介质；

在一例，所述处理装置10，用于将影响因素，提供给热像装置11；所述热像装置11，根据存储在热像装置中的影响因素与基础图像信息的对应关系，及所述处理装置10提供的信息，来确定基础图像信息，并进行校正处理的控制。

在一例，热像装置11通过通讯部接收处理装置10提供的定期更新的对应关系；

如上所述，通过处理装置10来提供部分或全部影响因素、部分或全部的影响因素与基础图像信息的对应关系、部分或全部的基础图像信息，可以大幅度提高校正控制装置的可靠性、灵活性、降低校正控制装置的技术要求、降低成本，并且可以提供影响因素和基础图像信息对应关系的细密程度而不至于增加校正控制装置存储介质的负担，由此还可大幅提高测量的精度。通过通讯部的数据交互，可达到更新影响因素与基础图像信息的对应关系，如变更使用环境时，导致影响因素变化更多，及时或定期更新基础图像信息，特别是当处理装置10通讯连接有大量的热像装置时，可以根据大量汇总的数据，来构建丰富的对应关系；并且对应关系还可根据不同的应用影响因素，配置为多组的对应关系，当出现影响环境大幅变化时导致影响因素的类型变化，可及时调用相关组的对应关系；可大幅提高系统的智能化、可靠性。

实施例3

在本实施例中，对获得影响因素与基础图像对应关系的方法进行说明；

校正控制装置，包括：

获取部，用于获取热像数据；

影响因素获取部，用于获取影响因素的数据；

基础图像信息记录部，用于将基于遮挡探测器(如档片启用期间)拍摄、或标准参照体拍摄获得的基础图像信息，和对应的影像因素的数据关联记录。或还包括抽取部，按照特定规则或算法，抽取多个影响因素及对应的基础图像信息，构成对应关系。

校正控制方法，包括：

获取热像数据和影响因素的步骤；

基础图像信息步骤，用于将基于遮挡探测器(如档片启用期间)拍摄、或标准参照体拍摄获得的基础图像信息，和对应的影像因素的数据关联记录。或还包括抽取步骤，按照特定规则或算法，抽取多个影响因素及对应的基础图像信息，构成对应关系。

如图12所示，处理装置10作为校正控制装置的例子，在一例，可以是计算机、服务器等处理装置，处理装置10通过通讯部获取热像装置拍摄获得的热像数据，及获得影像因素；在另一例，校正控制装置10可以是带有拍摄部的热像装置；

在一例，处理装置10配置在模拟现场使用的环境中，可以通过通讯部获得热像装置11或其他与热像装置11或处理装置10连接的影响因素的传感器，并可获得热像装置11的档片启用时或基于校正参照物拍摄的热像数据和/或校正参数；优选的，可以发出通过打档指示来进行启用控制或将热像装置11的档片保持在始终启用的状态；优选的，可以改变调节环境条件来获得多种影响因素；其中优选的，处理装置10可以将通讯部获得的热像数据根据算法获得校正参数；

在一例，所述处理装置10，记录获得的影响因素及其对应的基础图像信息；可以采用如下方式之一：

1)按照规定频率，连续记录影像因素,及档片启用期间拍摄的热像数据和/或校正参数；

2)按照规定频率，连续记录影像因素及对应的热像数据和/或校正参数；

3)按照规定条件产生的触发指示，来记录影像因素及其对应的热像数据和/或校正参数；

所述触发指示，包括定时、检测到影响因素超过规定范围的变化(例如0.5度的温度为规定范围)、获得的热像数据和或校正参数超过规定范围的变化、人工的触发、达到设定值等其中之一或多个。

对应关系生成部，用于根据所述记录的数据，按照特定规则或算法，抽取多个影响因素及对应的基础图像信息，构成对应关系。可能存在抽取其中部分或全部。

在一例，抽取其中超过规定差异范围的基础图像信息及其对应的影响因素，构建影响因素与基础图像信息的关系。

在一例，用于根据所述连续记录的影响因素及其对应获得的基础图像信息的数据，抽取其中超过规定差异范围的基础图像信息及其对应的影响因素，构建影响因素与基础图像信息的关系。

在一例，按照影响因素多个设定值，抽取各自对应的基础图像信息，构成对应关系；

在一例，按照基础图像信息超过规定差异范围，则抽取所述基础图像信息及其对应的影响因素的数据，构成对应关系；

如上所述，通过本实施例介绍的方法，可以在出厂前或运行中，构建影响因素和基础图像信息的对应关系。便于后续调用。

本发明的上述实施例，带来的有益效果之一或多个的总结如下：

1)通过各种影响因素，例如传感器数据找到对应的基础图像信息，进行校正处理时，可降低或避免图像中断；

2)可以提高校正频率，为提高温度精度减少温度漂移，提供了基础；

3)可以减少档片机械运动的次数和频率，提高整机可靠性；并且大幅减少档片电机等工作的温度影响；

4)根据相关影响因素数据的变化，来自动调用相对应的基础图像信息，为大幅提高测温精度和减少温度测量的漂移，提供了可行的技术方案；并且，当配置有细密的传感器数据及其对应的基础图像信息，可相应提高校正的频率，能大幅提高测温精度；

5)当获取的影响因素的数据，未找到对应的基础图像信息，则进行打档并获取相应的基础图像信息，并可进一步增加对应关系；本质性降低了生产和应用的难度，相当于具有基础图像信息的自动获取和学习功能；并随着运行时间的延长，热像装置的精度也可能随之提高；

6)规定时间，通过重新采集基础图像信息，例如每3个月清空或修改传感器与基础图像信息的对应关系表，则减小了环境变化或热像装置自身变化导致的漂移。

7)当新获得的影响因素数据，正好位于二组影响因素数据之间时，可以采用二组影响因素数据中最接近者所对应的基础图像信息；或基于二组影响因素数据分别对应的基础图像信息，来推算所述新获得的影响因素数据其所对应的基础图像信息，将获得较好的效果；

8)不同的温度档，对应了不同的基础图像信息的表，简化了运算，可以大幅提高不同温度档的换挡速度；

9)结合了外部影响因素、内部影响因素、状态影响因素及其对应的基础图像信息，可以全面地对图像和测温进行精确校正；

10)可以通过通讯部，来获得影像因素、影响因素与基础图像信息的对应关系、基础图像，这样，可以在服务器端对现场使用的热像装置，进行远距离校正，适用于对出现档片故障的热像装置，在不便修理的情况下，提供了可替代的方案；以及降低了热像装置的复杂性提高可靠性；

当然，每个实施例并不必须达到上述所有的优点；采用本发明的实施方式带来的效果显著。

本发明不仅可应用于各种检测用、便携式的校正控制装置，也可应用于机器人、车载装置等。

此外，也可以用专用电路或通用处理器或可编程的FPGA实现本发明的实施方式中的部分或全部部件的处理和控制功能。

此外，实施例适用在红外检测的各行业广泛运用。

显然，将上述工作步骤进行不同的组合可获得更多的实施方式。显然，根据将上述工作模式进行不同的组合可获得更多的实施方式。

显然，当本发明的校正控制装置作为带有显示控制部的校正控制装置9的某一部件时，可省去显示控制部，也构成本发明。

此外，本校正控制装置也可去除处理部，也构成本发明；

此外，也可以用专用电路或通用处理器或可编程的FPGA实现本发明的实施方式中的部分或全部部件的处理和控制功能。虽然，可以通过硬件、软件或其结合来实现附图中的功能块，但通常不需要设置以一对一的对应方式来实现功能块的结构；例如可通过一个软件或硬件单元来实现多个功能的块，或也可通过多个软件或硬件单元来实现一个功能的块。

上述所描述的仅为发明的具体实施方式，各种例举说明不对发明的实质内容构成限定，所属领域的技术人员在阅读了说明书后可对具体实施方式进行其他的修改和变化，而不背离发明的实质和范围。

Claims (10)

1.校正控制装置，其特征在于，包括：

拍摄部，用于拍摄获得热像数据；

挡片部，用于控制挡片的动作；

校正控制部，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；用于校正处理的基础图像信息，包括如下二种情况获得，且每次执行其中之一：

情况1：基于档片部遮挡探测器光路或基于标准参照体期间拍摄获取的热像数据，来获得的基础图像信息；

情况2，包括如下至少之一：

1）根据获取的影响因素的数据，基于影响因素与基础图像信息的对应关系，来确定的基础图像信息；

所述影响因素包括内部影响因素、外部影响因素、状态影响因素之一或组合；

所述影响因素与基础图像信息的对应关系，可以有1组或多组，具体包括如下情况之一或多个：

1.1）预先存储在校正控制装置的存储介质中；

1.2）通过通讯获取的对应关系；

1.3）对应关系的部分信息由通讯获得，部分信息由校正控制装置自身获得；

1.4）通过上述1.1）-1.3）其中之一或多个方式，计算获得影响因素与基础图像信息的对应关系；

1.5）按照一定条件更新的获得；

1.6）通过校正控制装置自身获得；

2）基于从通讯部获得的基础图像信息；

3）根据上述任意二项，处理获得的基础图像信息。

2.根据权利要求1所述的校正控制装置，其特征在于，所述基础图像信息包括热像数据、校正参数、校正算法之一或多个。

3.根据权利要求1所述的校正控制装置，其特征在于，包括：

影响因素获取部，用于获取影响因素的数据；

基础图像信息记录部，用于将基于档片启用期间拍摄、或标准参照体拍摄获得的基础图像信息，和对应的影像因素的数据关联记录。

4.如权利要求3所述的校正控制装置，其特征在于，

当根据所获取影响因素的数据，基于影响因素与基础图像信息的对应关系，无法确定基础图像信息时，基于档片部遮挡探测器光路或拍摄标准参照体期间获取的热像数据，来获得基础图像信息，作为用于校正处理的基础图像信息；并将基于档片部遮挡探测器光路或拍摄标准参照体期间获取的热像数据，来获得基础图像信息与对应的影响因素关联记录，将该对应关系增加或更新至影响因素与基础图像信息的对应关系中。

5.如权利要求2任意一项所述的校正控制装置，其特征在于，

当基础图像信息为热像数据时，包括如下情况之一：

1）档片部遮挡探测器光路、或基于标准参照物，拍摄获得的热像数据，或所述热像数据经历处理后获得的热像数据；或拍摄获得的热像数据参与处理获得的热像数据；

2）人工配置的热像数据；

3）根据规定范围的影响因素对应的热像数据，按算法获得的热像数据；

4）将基于当前获得的影响因素，将规定范围的影响因素对应的热像数据，按照特定算法，来获得的热像数据；

当基础图像信息为校正参数时，包括如下情况之一或组合：

1）根据获取的热像数据，计算处理获得的校正参数；所述热像数据为档片部遮挡探测器光路、或基于标准参照物，拍摄获得的热像数据，或所述热像数据经历处理后获得的热像数据；或拍摄获得的热像数据参与处理获得的热像数据、人工配置的热像数据来获得的热像数据情况之一或组合；

2）档片遮挡红外探测器时，获得的一帧或多帧热像数据，按算法计算出校正参数；

3）人工配置的校正参数；

4）根据规定范围的影响因素对应的校正参数，按算法获得的校正参数。

6.根据权利要求1所述的校正控制装置，其特征在于，

所述影响因素的内部影响因素；至少包括代表一个内部空间的温度、一个器件的温度、一个镜头局部的温度、一个电路板的温度、一个结构件的温度之一；

所述影响因素的外部影响因素，包括环境温度、湿度、风速、风向、季节、地域、海拔、高度、仪器的倾角、朝向、气压、压力、挂载时的速度、振动、载体、日期、时间等之一或多个；

所述影响因素的状态影响因素，包括算法或程序、温度档、帧频、采集像素、采用不同视场角的镜头，热像装置的开机运行时间等之一或多个；

所获取的影响因素的数据的方式，包括如下情况之一或组合：

1）按照规定频率或按照条件触发指示并检测获取的影响因素的数据；

21）接收到校正指示，获取相应的影响因素的数据，这时获得的影响因素的数据的方式包括如下情况之一或多个；

可以是接收到校正指示的规定时刻，规定时刻包括可以是校正指示之前、之时、之后的规定时间、或一定的时间期间，所获取的影响因素的数据或基于所述数据进行处理后获得的影响因素的数据；

所述校正指示，可以按照一定频率或按触发条件触发或人工触发来发出；

所述影响因素的数据来源包括如下情况之一或组合：

1）通过传感器来获取；

2）基于校正控制装置自身或与之连接的传感器，来获得；

3）可以通过状态因素的功能部件来获得；

4）通过通讯部来获取；

5）人工设置来获取的。

7.如权利要求1所述的校正控制装置，其特征在于，

具有对应关系生成部，按照特定规则或算法，抽取多个影响因素及对应的基础图像信息，构成对应关系。

8.校正控制方法，其特征在于，包括：

拍摄步骤，用于拍摄获得热像数据；

校正控制步骤，根据基础图像信息来进行校正处理的控制；

所述基础图像信息包括热像数据、校正参数之一或多个；

用于校正处理的基础图像信息，包括如下二种情况获得，且每次执行其中之一：

情况1：基于档片步骤控制挡片的动作来遮挡探测器光路或基于标准参照体期间拍摄获取的热像数据，来获得的基础图像信息；

情况2，包括如下至少之一：

1）根据获取的影响因素的数据，基于影响因素与基础图像信息的对应关系，来确定的基础图像信息；

所述影响因素包括内部影响因素、外部影响因素、状态影响因素之一或组合；

所述影响因素与基础图像信息的对应关系，可以有1组或多组，具体包括如下情况之一或多个：

1.1）预先存储在校正控制装置的存储介质中；

1.2）通过通讯获取的对应关系；

1.3）对应关系的部分信息由通讯获得，部分信息由校正控制装置自身获得；

1.4）通过上述1.1）-1.3）其中之一或多个方式，计算获得影响因素与基础图像信息的对应关系；

1.5）按照一定条件更新的获得；

1.6）通过校正控制装置自身获得；

2）基于从通讯部获得的基础图像信息；

3）根据上述任意二项，处理获得的基础图像信息。

9.根据权利要求8所述的校正控制方法，其特征在于，包括：

影响因素获取步骤，用于获取影响因素的数据；

基础图像信息记录步骤，用于将基于档片启用期间拍摄、或标准参照体拍摄获得的基础图像信息，和对应的影像因素的数据关联记录。

10.根据权利要求9所述的校正控制方法，其特征在于，

当根据所获取影响因素的数据，基于影响因素与基础图像信息的对应关系，无法确定基础图像信息时，基于档片步骤遮挡探测器光路或拍摄标准参照体期间获取的热像数据，来获得基础图像信息，作为用于校正处理的基础图像信息；并将基于档片步骤遮挡探测器光路或拍摄标准参照体期间获取的热像数据，来获得基础图像信息与对应的影响因素关联记录，将该对应关系增加至影响因素与基础图像信息的对应关系中。