CN109870239B - 非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法 - Google Patents

非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109870239B
CN109870239B CN201910183788.7A CN201910183788A CN109870239B CN 109870239 B CN109870239 B CN 109870239B CN 201910183788 A CN201910183788 A CN 201910183788A CN 109870239 B CN109870239 B CN 109870239B
Authority
CN
China
Prior art keywords
radiation source
focal plane
infrared focal
plane detector
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201910183788.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109870239A (zh
Inventor
孙宪中
李军伟
张亚洲
雷浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Institute of Environmental Features
Original Assignee
Beijing Institute of Environmental Features
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Institute of Environmental Features filed Critical Beijing Institute of Environmental Features
Priority to CN201910183788.7A priority Critical patent/CN109870239B/zh
Publication of CN109870239A publication Critical patent/CN109870239A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109870239B publication Critical patent/CN109870239B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

本发明涉及一种非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，包括：基于不同目标温度的标准黑体辐射源，在不同环境温度下通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像，并根据标准黑体辐射源图像计算获得定标曲线；采集非制冷红外焦平面探测器的当前环境温度，并根据所述定标曲线计算当前视场内最高目标温度；使进入当前视场的金属挡片达到所述最高目标温度，再通过非制冷红外焦平面探测器采集金属挡片图像；根据标准黑体辐射源图像与金属挡片图像计算获得校正参数，再根据校正参数对所述定标曲线进行校正，完成定标。本发明在环境及场景发生较大变化时，仍能保证较高的定标精度，从而可使定标后的非制冷红外焦平面探测器具备定量测温能力。

Description

非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法
技术领域
本发明涉及红外探测器定标技术领域，尤其涉及一种非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法。
背景技术
红外测温技术由于具有测温范围宽、不改变被测物体温度场分布及能远距离非接触测温等优点，获得了广泛的应用，并成为红外探测器重点应用领域之一。
目前，由于非制冷红外焦平面探测器响应存在较严重的非均匀性，同时非制冷探测器输出易受到环境温度和机芯温度的影响，并长时间工作后容易发生温度漂移等，严重影响了非制冷探测器在测温领域的推广应用。如果采用合适的定标方法，可以减少非均匀性、环境温度等因素对红外探测器的影响，从而提高非制冷探测器的测温精度；但现有非制冷红外探测器的定标方法中，对探测器长时间工作后产生的温度漂移采用的单点补偿方式，存在自适应性差的缺陷，因此会产生较大误差。
因此，针对以上不足，需要提供一种针对非制冷探测器的新的定标方法，以能够实时补偿探测器预定标曲线而完成自适应定标，改善探测器定标精度。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术中非制冷红外探测器的定标方法自适应性差，定标精度低的缺陷，提供一种非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法。
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，包括：基于不同目标温度的标准黑体辐射源，在不同环境温度下通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像，并根据标准黑体辐射源图像计算获得定标曲线；
采集非制冷红外焦平面探测器的当前环境温度，并根据所述定标曲线计算当前视场内最高目标温度；使进入当前视场的金属挡片达到所述最高目标温度，再通过非制冷红外焦平面探测器采集金属挡片图像；
根据标准黑体辐射源图像与金属挡片图像计算获得校正参数，再根据校正参数对所述定标曲线进行校正，完成定标。
在根据本发明所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法中，所述通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像的方法包括：将标准黑体辐射源和非制冷红外焦平面探测器放置于环境箱内；并使标准黑体辐射源的辐射面充满非制冷红外焦平面探测器的视场；
依次改变环境箱的环境温度，并在每一个环境温度下，依次采集标准黑体辐射源在多个目标温度下的标准黑体辐射源图像。
在根据本发明所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法中，依次改变环境箱的环境温度的方法包括：
使环境温度在5-50℃范围内，以5℃为间隔依次改变。
在根据本发明所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法中，标准黑体辐射源的目标温度的选定方法包括：
使标准黑体辐射源的目标温度在0-150℃范围内，以10℃为间隔依次改变。
在根据本发明所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法中，所述根据标准黑体辐射源图像计算获得定标曲线的方法包括：
采用5次多项式进行定标曲线拟合：
Ct(T)＝At0+At1xt+At2xt 2+At3xt 3+At4xt 4+At5xt 5，
式中Ct(T)表示环境温度为t时的标准黑体辐射源目标温度值，xt表示环境温度为t时采集的标准黑体辐射源图像平均灰度值；At0表示初始系数，At1表示一号系数，At2表示二号系数，At3表示三号系数，At4表示四号系数，At5表示五号系数；
通过不同环境温度及不同目标温度下采集的标准黑体辐射源图像平均灰度值，计算获得多项式系数At0至At5。
在根据本发明所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法中，所述金属挡片上设置加热薄膜和温度传感器，加热薄膜在温控单元的控制下对金属挡片进行加热，温度传感器用于采集金属挡片的温度并传递给温控单元；所述金属挡片通过步进电机控制移动。
在根据本发明所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法中，所述计算获得校正参数的方法包括：
根据所述当前环境温度选择对应的标准黑体辐射源图像，计算标准黑体辐射源图像平均灰度值Vl：
Figure BDA0001992165060000031
式中m为标准黑体辐射源图像的水平像元总数，n为标准黑体辐射源图像的竖直像元总数，xij(φl)为标准黑体辐射源图像中第(i，j)像元响应输出灰度值，φl为非制冷红外焦平面探测器接收的标准黑体辐射强度；
再计算当前环境温度下金属挡片图像平均灰度值Vh：
Figure BDA0001992165060000041
式中xij(φh)为金属挡片图像中第(i，j)像元响应输出灰度值，φh为非制冷红外焦平面探测器接收的金属挡片辐射强度。
在根据本发明所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法中，所述计算获得校正参数的方法还包括：
所述校正参数包括增益校正参数Gij和偏置校正参数Oij:
Figure BDA0001992165060000042
Oij＝Vl-Gij·xij(φl)。
在根据本发明所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法中，根据增益校正参数Gij和偏置校正参数Oij获得标准黑体辐射源或金属挡片校正后的灰度响应值x′ij(φ)：
x′ij(φ)＝Gij·xij(φ)+Oij，
式中xij(φ)表示xij(φl)或xij(φh)。
在根据本发明所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法中，将校正后的灰度响应值x′ij(φ)代入到定标曲线中，完成定标；
所述定标曲线在使用过程中每隔五分钟进行一次校正，或目标温度变化每超过20℃时进行一次校正。
实施本发明的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，具有以下有益效果：本发明通过非制冷红外焦平面探测器采集可控温金属挡片图像数据与标准黑体辐射源图像数据，再采用两点校正方法获得校正参数，并对定标曲线进行校正。它在环境及场景发生较大变化时，仍能保证较高的定标精度，从而可使定标后的非制冷红外焦平面探测器具备定量测温能力。
本发明方法通过改变金属挡片温度自适应测量温度范围，通过金属挡片图像与标准黑体辐射源图像对探测器响应做两点校正运算，再针对测量温度范围进行校正，从而实时补偿定标曲线完成自适应定标，有效改善了探测器定标精度。
附图说明
图1为根据本发明的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法的示例性流程图；
图2为根据本发明的通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像的示例性装置图；
图3为根据本发明的金属挡片与其它组件的连接结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
具体实施方式一、本发明提供了一种非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，结合图1所示，包括：
基于不同目标温度的标准黑体辐射源，在不同环境温度下通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像，并根据标准黑体辐射源图像计算获得定标曲线；
采集非制冷红外焦平面探测器的当前环境温度，并根据所述定标曲线计算当前视场内最高目标温度；使进入当前视场的金属挡片达到所述最高目标温度，再通过非制冷红外焦平面探测器采集金属挡片图像；使金属挡片达到由定标曲线确定的所述最高目标温度，可以达到针对该场景下目标进行校正的效果，校正参数恰好可覆盖目标温度范围，有助于提高测量精度和成像效果。
根据标准黑体辐射源图像与金属挡片图像计算获得校正参数，再根据校正参数对所述定标曲线进行校正，完成定标。
本实施方式中，首先对非制冷红外焦平面探测器进行预定标处理：获取非制冷红外焦平面探测器在不同环境温度下的辐射温度与探测器输出对应关系的拟合曲线。所述标准黑体辐射源图像包括在不同环境温度下，使标准黑体辐射源自身在多个设定的目标温度下，通过探测器所成图像。对图像和所述定标曲线预先进行保存。所述定标曲线可以采用多项式拟合的方式获得。设定多个环境温度，可计算获得不同环境温度下探测器的定标曲线。
然后根据非制冷红外焦平面探测器所处环境的当前环境温度，确定当前视场内最高目标温度，使金属挡片达到最高目标温度并稳定后，送入非制冷红外焦平面探测器的视场，并完全充满探测器视场，然后采集并保存金属挡片图像。
作为示例，所述金属挡片表面经过氧化发黑处理，以提高表面发射率。
作为示例，所述金属挡片的表面发射率高于0.95。
所述金属挡片作为均匀参考源用于非制冷红外焦平面探测器的标定。它通过驱动机构驱动进入或移出非制冷红外焦平面探测器视场。
在每一个设定的环境温度下，获得的多个目标温度的标准黑体辐射源图像，可用于计算获得设定的环境温度下标准黑体辐射源的定标曲线。
进一步，结合图2所示，所述通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像的方法包括：
将标准黑体辐射源220和非制冷红外焦平面探测器230放置于环境箱210内；并使标准黑体辐射源220的辐射面充满非制冷红外焦平面探测器230的视场；
依次改变环境箱210的环境温度，并在每一个环境温度下，依次采集标准黑体辐射源220在多个目标温度下的标准黑体辐射源图像。
所述非制冷红外焦平面探测器230包括镜头231、探测器本体232和处理电路233。
采集非制冷红外焦平面探测器的当前环境温度后，调用已预存的定标曲线，根据定标曲线确定金属挡片的设置温度。
所述标准黑体辐射源220需要靠近镜头231摆放，并使标准黑体辐射源220充满非制冷红外焦平面探测器230的整个视场。
在实际使用中，通过环境箱电源调整环境箱210温度；待黑体温度和环境温度均稳定后，采集标准黑体辐射源图像。改变环境温度和黑体温度，即获得不同环境温度下不同目标温度黑体图像数据。
作为示例，可采集不同设定环境温度下，目标温度为25℃时，标准黑体辐射源图像，并保存；保存的数据可在后续计算校正参数时使用。
作为示例，依次改变环境箱的环境温度的方法包括：
使环境温度在5-50℃范围内，以5℃为间隔依次改变。若温度间隔设定太小会导致数据量增大，而温度间隔太大又会影响定标精度。作为示例，标准黑体辐射源的目标温度的选定方法包括：
使标准黑体辐射源的目标温度在0-150℃范围内，以10℃为间隔依次改变。与环境温度的间隔选定同理，温度间隔太小导致数据量增大，计算量增加，而温度间隔太大又会影响定标精度。
进一步，所述根据标准黑体辐射源图像计算获得定标曲线的方法包括：
采用5次多项式进行定标曲线拟合：
Ct(T)＝At0+At1xt+At2xt 2+At3xt 3+At4xt 4+At5xt 5，
式中Ct(T)表示环境温度为t时的标准黑体辐射源目标温度值，xt表示环境温度为t时采集的标准黑体辐射源图像平均灰度值；At0表示初始系数，At1表示一号系数，At2表示二号系数，At3表示三号系数，At4表示四号系数，At5表示五号系数；
通过某一环境温度及不同目标温度下采集的标准黑体辐射源图像平均灰度值xt(T1)、xt(T2)、xt(T3)……，计算获得多项式系数At0至At5，进而获得所述某一环境温度的定标曲线。其中T1、T2、T3……代表不同目标温度。
改变环境温度t，重复上述拟合过程，可计算获得不同环境温度下对应的定标曲线。
结合图2所示，上述获得定标曲线的拟合过程可通过个人计算机240实现，并同时存储不同的定标曲线。
作为示例，所述定标曲线可以采用MatlAB软件进行拟合计算获得。
作为示例，对定标曲线的拟合可以采用分段拟合的方式，以提高拟合精度。
进一步，结合图3所示，所述金属挡片320上设置加热薄膜330和温度传感器340，加热薄膜330在温控单元350的控制下对金属挡片320进行加热，温度传感器340用于采集金属挡片320的温度并传递给温控单元350；所述金属挡片320通过步进电机310控制移动。
本实施方式中，金属挡片320在步进电机310的控制下进行动作；加热薄膜330紧贴金属挡片320放置，对金属挡片320加热；温度传感器340紧贴金属挡片320放置，采集金属挡片320的温度信息；温控单元350与加热薄膜330和温度传感器340电连接，用于在获取金属挡片320的温度信息后，控制加热薄膜330的加热功率。
当根据所述定标曲线计算获得当前视场内最高目标温度后，可将最高目标温度传送给温控单元350，温控单元350再控制金属挡片320达到最高目标温度，待所述金属挡片320温度稳定后，再由步进电机310驱动，进入非制冷红外焦平面探测器230视场。
进一步，所述计算获得校正参数的方法包括：
根据所述当前环境温度选择对应的标准黑体辐射源图像，计算标准黑体辐射源图像平均灰度值Vl：
Figure BDA0001992165060000091
式中m为标准黑体辐射源图像的水平像元总数，n为标准黑体辐射源图像的竖直像元总数，xij(φl)为标准黑体辐射源图像中第(i，j)像元响应输出灰度值，φl为非制冷红外焦平面探测器接收的标准黑体辐射强度；
平均灰度值Vl表示一幅图像中所有像元灰度值的平均值，其公式表示所有像元(像素)灰度值的总和除以所有的像元数量，求出的平均值。
再计算当前环境温度下金属挡片图像平均灰度值Vh：
Figure BDA0001992165060000101
式中xij(φh)为金属挡片图像中第(i，j)像元响应输出灰度值，φh为非制冷红外焦平面探测器接收的金属挡片辐射强度；金属挡片图像平均灰度值Vh的含义与平均灰度值Vl的含义相类似。
再进一步，所述计算获得校正参数的方法还包括：
所述校正参数包括增益校正参数Gij和偏置校正参数Oij:
Figure BDA0001992165060000102
Oij＝Vl-Gij·xij(φl)。
再进一步，根据增益校正参数Gij和偏置校正参数Oij获得标准黑体辐射源或金属挡片校正后的灰度响应值x′ij(φ)：
x′ij(φ)＝Gij·xij(φ)+Oij，
式中xij(φ)表示xij(φl)或xij(φh)。
灰度响应值x′ij(φ)的意义为：在原有标定曲线校正的基础上，再进行一次两点校正，得到最终响应值。
再进一步，将校正后的灰度响应值x′ij(φ)代入到定标曲线中，完成定标；即用灰度响应值x′ij(φ)替换定标曲线中的xt完成定标。
所述定标曲线在使用过程中每隔五分钟进行一次校正，或目标温度变化每超过20℃时进行一次校正。
本发明可用于非制冷红外焦平面探测器的在线校正，可设置每隔数分钟或目标温度有较大变化时重新进行校正过程，以更新校正参数，确保定标的可靠性。
本发明的校正过程可通过预先编写的程序自动控制完成。
综上所述，本发明能够自适应地实时补偿定标曲线，从而有效改善了探测器定标精度。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (7)

1.一种非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，其特征在于包括：
基于不同目标温度的标准黑体辐射源，在不同环境温度下通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像，并根据标准黑体辐射源图像计算获得定标曲线；
采集非制冷红外焦平面探测器的当前环境温度，并根据所述定标曲线计算当前视场内最高目标温度；使进入当前视场的金属挡片达到所述最高目标温度，再通过非制冷红外焦平面探测器采集金属挡片图像；
根据标准黑体辐射源图像与金属挡片图像计算获得校正参数，再根据校正参数对所述定标曲线进行校正，完成定标；
所述计算获得校正参数的方法包括：
根据所述当前环境温度选择对应的标准黑体辐射源图像，计算标准黑体辐射源图像平均灰度值Vl：
Figure FDA0002338012120000011
式中m为标准黑体辐射源图像的水平像元总数，n为标准黑体辐射源图像的竖直像元总数，xij(φl)为标准黑体辐射源图像中第(i，j)像元响应输出灰度值，φl为非制冷红外焦平面探测器接收的标准黑体辐射强度；
再计算当前环境温度下金属挡片图像平均灰度值Vh：
Figure FDA0002338012120000021
式中xij(φh)为金属挡片图像中第(i，j)像元响应输出灰度值，φh为非制冷红外焦平面探测器接收的金属挡片辐射强度；
所述计算获得校正参数的方法还包括：
所述校正参数包括增益校正参数Gij和偏置校正参数Oij:
Figure FDA0002338012120000022
Oij＝Vl-Gij·xij(φl)；
根据增益校正参数Gij和偏置校正参数Oij获得标准黑体辐射源或金属挡片校正后的灰度响应值x'ij(φ)：
x'ij(φ)＝Gij·xij(φ)+Oij，
式中xij(φ)表示xij(φl)或xij(φh)；
将校正后的灰度响应值x'ij(φ)代入到定标曲线中，完成定标。
2.根据权利要求1所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，其特征在于，所述通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像的方法包括：
将标准黑体辐射源和非制冷红外焦平面探测器放置于环境箱内；并使标准黑体辐射源的辐射面充满非制冷红外焦平面探测器的视场；
依次改变环境箱的环境温度，并在每一个环境温度下，依次采集标准黑体辐射源在多个目标温度下的标准黑体辐射源图像。
3.根据权利要求2所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，其特征在于，依次改变环境箱的环境温度的方法包括：
使环境温度在5-50℃范围内，以5℃为间隔依次改变。
4.根据权利要求2所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，其特征在于，标准黑体辐射源的目标温度的选定方法包括：
使标准黑体辐射源的目标温度在0-150℃范围内，以10℃为间隔依次改变。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，其特征在于，所述根据标准黑体辐射源图像计算获得定标曲线的方法包括：
采用5次多项式进行定标曲线拟合：
Ct(T)＝At0+At1xt+At2xt 2+At3xt 3+At4xt 4+At5xt 5，
式中Ct(T)表示环境温度为t时的标准黑体辐射源目标温度值，xt表示环境温度为t时采集的标准黑体辐射源图像平均灰度值；At0表示初始系数，At1表示一号系数，At2表示二号系数，At3表示三号系数，At4表示四号系数，At5表示五号系数；
通过不同环境温度及不同目标温度下采集的标准黑体辐射源图像平均灰度值，计算获得多项式系数At0至At5。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，其特征在于，
所述金属挡片上设置加热薄膜和温度传感器，加热薄膜在温控单元的控制下对金属挡片进行加热，温度传感器用于采集金属挡片的温度并传递给温控单元；所述金属挡片通过步进电机控制移动。
7.根据权利要求1所述的非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，其特征在于，所述定标曲线在使用过程中每隔五分钟进行一次校正，或目标温度变化每超过20℃时进行一次校正。
CN201910183788.7A 2019-03-12 2019-03-12 非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法 Active CN109870239B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910183788.7A CN109870239B (zh) 2019-03-12 2019-03-12 非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910183788.7A CN109870239B (zh) 2019-03-12 2019-03-12 非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109870239A CN109870239A (zh) 2019-06-11
CN109870239B true CN109870239B (zh) 2020-04-07

Family

ID=66920248

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910183788.7A Active CN109870239B (zh) 2019-03-12 2019-03-12 非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109870239B (zh)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111044152B (zh) * 2019-12-31 2020-11-24 华中科技大学 图谱关联系统光谱偏置外场的自适应校正方法及系统
CN111337146A (zh) * 2020-04-23 2020-06-26 北京波谱华光科技有限公司 一种红外测温仪外置温度参考源校正系统及方法
CN111595458B (zh) * 2020-06-05 2021-04-30 北京环境特性研究所 红外热像仪辐射定标方法和装置
CN111609937B (zh) * 2020-06-08 2021-07-20 北京环境特性研究所 一种红外热像仪外场标定方法及装置
CN113495096B (zh) * 2020-06-18 2024-04-09 中控全世科技(杭州)有限公司 一种基于fid-tvoc检测仪的校准方法
CN111780879B (zh) * 2020-07-22 2021-07-02 武汉博宇光电系统有限责任公司 一种红外测温系统及测温方法
CN112033544B (zh) * 2020-08-05 2021-10-15 浙江大华技术股份有限公司 一种热成像仪、测温方法、装置、处理器及存储介质
CN114414070B (zh) * 2020-12-07 2024-04-19 杭州美盛红外光电技术有限公司 校正系统、校正装置和校正方法
CN112665727B (zh) * 2020-12-09 2022-04-15 浙江大华技术股份有限公司 一种红外热成像测温方法
CN113155289A (zh) * 2021-02-02 2021-07-23 烟台艾睿光电科技有限公司 一种红外热像仪的校正方法及红外热像仪
CN113049109B (zh) * 2021-03-12 2022-11-29 红相股份有限公司 基于参考黑体的红外测温方法及计算机可读存储介质
CN113138025A (zh) * 2021-03-18 2021-07-20 深圳市科陆精密仪器有限公司 一种红外测温设备的自动校准方法及装置
CN113465752B (zh) * 2021-09-02 2021-11-05 北方夜视科技(南京)研究院有限公司 红外自适应选择定标点的多点定标校正方法与系统
CN113959566B (zh) * 2021-10-22 2023-11-17 南水北调东线江苏水源有限责任公司 一种复杂工况测温方法及装置
CN116051409B (zh) * 2023-01-09 2024-06-07 长春理工大学 一种非制冷红外探测器的最优偏置电压控制方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102564598A (zh) * 2012-01-06 2012-07-11 电子科技大学 一种红外探测器测温的定标和校正方法及相应的测温方法
CN107101727A (zh) * 2017-05-03 2017-08-29 江苏北方湖光光电有限公司 非均匀性校正时校正参数的标定方法
CN108322732A (zh) * 2017-12-01 2018-07-24 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103528694B (zh) * 2013-09-24 2016-03-02 电子科技大学 一种用红外热像仪测量目标物体的温度的方法
CN103528690B (zh) * 2013-09-24 2016-03-02 电子科技大学 一种红外热像仪的非均匀校正方法
CN108240863A (zh) * 2016-12-23 2018-07-03 南京理工大学 用于非制冷红外热像仪的实时两点非均匀性校正方法
CN106679817B (zh) * 2016-12-23 2019-08-09 武汉星网光测科技有限公司 一种用于标定红外热像仪的方法
CN109341864B (zh) * 2018-10-24 2020-04-10 北京航天长征飞行器研究所 一种轻小型宽动态空间红外定量测量装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102564598A (zh) * 2012-01-06 2012-07-11 电子科技大学 一种红外探测器测温的定标和校正方法及相应的测温方法
CN107101727A (zh) * 2017-05-03 2017-08-29 江苏北方湖光光电有限公司 非均匀性校正时校正参数的标定方法
CN108322732A (zh) * 2017-12-01 2018-07-24 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Radiometric calibration of infrared imagers using an internal shutter as an equivalent external blackbody;Paul W. Nugent等;《Optical Engineering》;20141209;第53卷(第12(2014)期);第123106页 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN109870239A (zh) 2019-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109870239B (zh) 非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法
US8373757B1 (en) Flat field correction for infrared cameras
CN103528694B (zh) 一种用红外热像仪测量目标物体的温度的方法
CN107255521B (zh) 一种红外图像非均匀性校正方法及系统
US20120169866A1 (en) Thermal imager with non-uniformity correction
US7729527B2 (en) Method for correcting an image data set, and method for generating an image corrected thereby
US10931901B2 (en) Method and apparatus for selectively correcting fixed pattern noise based on pixel difference values of infrared images
CN102609923B (zh) 红外图像处理方法及装置
CN110855915B (zh) 实现暗电流补偿的ccd相机响应非均匀性校正方法及装置
US20100142791A1 (en) Image processing apparatus and image processing method
CN111595462B (zh) 红外成像测温系统标定方法、装置、计算设备及存储介质
CN107607982B (zh) 基于探测器响应特性的成像系统校准方法及成像校正方法
CN110631706B (zh) 红外图像的校正方法、装置及存储介质
CN106679817A (zh) 一种用于标定红外热像仪的方法
US8481918B2 (en) System and method for improving the quality of thermal images
CN106644078A (zh) 一种用于太赫兹图像非均匀性校正的方法
CN103778637B (zh) 一种基于直方图平衡的在轨90°辐射定标处理方法
CN113096041B (zh) 图像校正方法及装置
CN108375420B (zh) 一种基于分段数据及挡片数据的校正方法
Huawei et al. An adaptive two-point non-uniformity correction algorithm based on shutter and its implementation
CN114018416A (zh) 一种热红外相机辐射定标方法及系统
CN110553739A (zh) 一种红外热成像的无挡片非均匀性校正方法
WO2013055274A2 (en) Method for adjusting the integration time for an ir detector, and an ir camera for implementing the method
CN116074495B (zh) 一种图像传感器坏点的检测校正方法及装置
JP2020003430A (ja) 外装材の劣化診断システムおよびその劣化診断方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant