CN114413733B - 一种扇形段基础框架的测量方法 - Google Patents

一种扇形段基础框架的测量方法 Download PDF

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Abstract

本申请公开了一种扇形段基础框架的测量方法,包括:在基础框架上的平面座和U型座上分别开设第一销孔和第二销孔;在第一销孔的下方开设第一基准孔,在第二销孔的下方开设第二基准孔和第三基准孔;在第一销孔、第二销孔、第一基准孔、第二基准孔和第三基准孔中依次插接销柱;用平尺检验第二销孔、第二基准孔和第三基准孔是否处于同一竖直线;用卡尺测量第二销孔与第二基准孔之间的距离H1和测量第一销孔与第一基准孔之间的距离H2,确定U型座和平面座的位置;用千分尺判断两个U型座同轴度是否符合要求。本申请实现了不需要将基础框架装配在机床上进行调平、找正,也不需要专业测量工具,检测方便、简单、省时省力且成本低的目的。

Description

一种扇形段基础框架的测量方法
技术领域
本申请涉及连铸机扇形段技术领域,尤其涉及一种扇形段基础框架的测量方法。
背景技术
基础框架是连铸机扇形段的安装部件,如图1中的A、B、C、D安装一段扇形段,每个基础框架设置若干安装扇形段的位置。图2中F向视图显示单侧基础框架,要求扇形段位置坐在基础框架后对应相对于连铸中心的坐标值(x1,y1)及(x2,y2)的精度在±0.2mm,对侧A、D处与B、C处要求一致。因此需要保证基础框架装配后C与D之间的同轴度在±0.05mm,在装配完成后需要进行检测,但如何检测装配后的尺寸是有效的,就需要有效的方法和工具来实现
目前,检测基础框架装配精度的方法一般都是将基础框架装配在机床上,并将机床调平、找正后设置坐标参数,再借助专业测量工具进行检测。
但是,将基础框架装配在机床并借助专业测量工具进行检测时,不仅占用机床且机床调平、找正比较繁琐,而且专业测量工具价格昂贵,导致扇形段基础框架装配精度检测成本高、费时费力。
发明内容
本申请通过提供一种扇形段基础框架的测量方法,解决了现有技术中基础框架装配精度检测需要借助专业工件进行检测,占用机床且机床调平、找正比较繁琐导致检测成本高、费时费力的技术问题,实现了不再需要将基础框架装配在机床上进行调平、找正,也不再需要专业测量工具,检测方便、简单、省时省力且成本低的目的。
本申请提供的一种扇形段基础框架的测量方法,包括:在基础框架上的平面座和U型座上分别开设第一销孔和第二销孔,所述第一销孔和所述第二销孔分别处于所述平面座和所述U型座的竖直中心线上,且所述第一销孔和所述第二销孔处于同一水平面;在所述平面座和所述U型座的底面分别设置垫片组;在所述第一销孔的下方的基础框架上开设第一基准孔,在所述第二销孔的下方的基础框架上依次开设第二基准孔和第三基准孔;在所述第一销孔、所述第二销孔、所述第一基准孔、所述第二基准孔和所述第三基准孔中依次插接销柱;用平尺检验所述第二销孔、所述第二基准孔和所述第三基准孔是否处于同一竖直线,若不处于同一竖直线,则调整所述U型座下方的所述垫片组使得所述第二销孔、所述第二基准孔和所述第三基准孔最终处于同一竖直线;用所述卡尺测量所述第二销孔与所述第二基准孔之间的距离H1,通过所述距离H1来调整处于所述U型座下方的所述垫片组的厚度,最终确定好所述U型座的位置;用所述卡尺测量所述第一销孔与所述第一基准孔之间的距离H2,通过所述距离H2来调整处于所述平面座下方的所述垫片组的厚度,最终确定好所述平面座的位置;用千分尺测量两个所述第三基准孔处的销柱分别到两个所述U型座之间的垂直距离,进而判断同轴度是否符合要求,如果所述同轴度不符合要求,通过调整所述U型座下方的所述垫片组,使得所述同轴度符合要求。
在一种可能的实现方式中,所述第一基准孔、所述第二基准孔和所述第三基准孔的开设方法包括:设置加工原点J(X=0,Y=0);在所述基础框架上相对于所述加工原点J的纵坐标偏移量Y1、Y2的位置加工出J2平面和J1平面;所述第一基准孔、所述第二基准孔和所述第三基准孔的中心点相对于所述加工原点J分别按坐标(X2,Y3)、(X1,Y4)和(X1,Y5)加工,坐标尺寸精度为±0.05mm。
在一种可能的实现方式中,用所述平尺检验所述第二销孔、所述第二基准孔和所述第三基准孔是否处于同一竖直线,并使得所述第二销孔、所述第二基准孔和所述第三基准孔最终处于同一竖直线的具体方法包括:将所述平尺紧靠在所述第二基准孔和所述第三基准孔对应的销柱的外侧,并使得平尺的顶端缓慢靠近所述第二销孔对应的销柱,若第二销孔处的销柱外侧超过平尺,用卡尺测量超出尺寸,并按所述超出尺寸减薄所述第二销孔背离所述平尺的一侧的所述垫片组,同样在所述第二销孔靠近所述平尺的另一侧增加相同厚度的所述垫片组;若所述第二销孔处的柱销外侧与所述平尺之间存在间距,则用塞尺测量所述间距,按所述间距增加所述第二销孔背离所述平尺的一侧的所述垫片组,同样在所述第二销孔靠近所述平尺的另一侧减薄相同厚度的所述垫片组。
在一种可能的实现方式中,所述基础框架上的两个所述U型座上分别设置有扇形段位置C、D;以所述距离H1为标准距离,然后垂直向上测量所述第二销孔到所述扇形段位置C和/或D的中心点的距离h2,将所述距离H1和所述距离h2进行结合,同时调整所述U型座下方的所述垫片组的厚度,最终确定好所述U型座的位置。
在一种可能的实现方式中,所述基础框架上的两个所述平面座上分别设置有扇形段位置A、B;以所述距离H2为标准距离,然后垂直向上测量所述平面座的顶面到所述扇形段位置A和/或B的中心点的距离h1,将所述距离H2和所述距离h1进行结合,同时调整所述平面座下方的所述垫片组的厚度,最终确定好所述平面座的位置。
在一种可能的实现方式中,用所述千分尺测量两个所述第三基准孔处的销柱分别到两个所述U型座之间的垂直距离,进而判断同轴度是否符合要求的具体方法包括:在两个所述U型座内放置测量轴;用所述千分尺测量两个所述第三基准孔处的销柱分别到所述测量轴之间的距离H,如果两侧的两个所述距离H的值相同,则同轴度符合要求,如果两个所述距离H的值不同,则根据测量数值调整两个所述U型座下方的所述垫片组的厚度,使得两个所述距离H的值相同。
本申请中提供的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:
本申请通过采用在基础框架上的平面座和U型座上分别开设第一销孔和第二销孔,第一销孔和第二销孔分别处于平面座和U型座的竖直中心线上,且第一销孔和第二销孔处于同一水平面;在平面座和U型座的底面分别设置垫片组,使得通过调整垫片组的厚度便于调整平面座和U型座的位置;在第一销孔的下方的基础框架上开设第一基准孔,在第二销孔的下方的基础框架上依次开设第二基准孔和第三基准孔;在第一销孔、第二销孔、第一基准孔、第二基准孔和第三基准孔中依次插接销柱;在扇形段基础框架装配完成进行装配精度检测时,首先用平尺检验第二销孔、第二基准孔和第三基准孔是否处于同一竖直线,若不处于同一竖直线,则通过调整U型座下方的垫片组的厚度使得第二销孔、第二基准孔和第三基准孔最终处于同一竖直线;然后用卡尺测量第二销孔与第二基准孔之间的距离H1,通过距离H1来调整处于U型座下方的垫片组的厚度,最终确定好U型座的位置;进而用卡尺测量第一销孔与第一基准孔之间的距离H2,通过距离H2来调整处于平面座下方的垫片组的厚度,最终确定好平面座的位置;最后用卡尺测量两个第三基准孔处的销柱分别到两个U型座之间的垂直距离,进而判断同轴度是否符合要求,如果同轴度不符合要求,通过调整U型座下方的垫片组,使得同轴度符合要求,至此,扇形段基础框架关键尺寸就检测调整完成。有效解决了现有技术中基础框架装配精度检测需要借助专业工件进行检测,占用机床且机床调平、找正比较繁琐导致检测成本高、费时费力的技术问题,实现了不再需要将基础框架装配在机床上进行调平、找正,也不再需要专业测量工具,检测方便、简单、省时省力且成本低的技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对本发明实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术中连铸机扇形段装配到基础框架的轴测图;
图2为图1中F向单侧基础框架的结构示意图;
图3为本申请实施例提供的扇形段基础框架装配完成开始测量时的轴测图;
图4为本申请实施例提供的第一基准孔、第二基准孔和第三基准孔单侧加工时的结构示意图;
图5为本申请实施例提供的测量距离H1和距离H2的结构示意图;
图6为本申请实施例提供的第二销孔处的圆柱销超出平尺顶端时的结构示意图;
图7为本申请实施例提供的第二销孔处的圆柱销与平尺顶端之间存在间距时的结构示意图;
图8为本申请实施例提供的测量两个U型座的同轴度时的结构示意图。
附图标记:1-基础框架;11-第一基准孔;12-第二基准孔;13-第三基准孔;2-平面座;21-第一销孔;3-U型座;31-第二销孔;4-垫片组;5-销柱;6-测量轴;7-平尺;J-加工原点;O-连铸中心。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明实施例的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明实施例和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明实施例中的具体含义。
参照图3、5-8,本申请实施例提供的一种扇形段基础框架的测量方法,包括:在基础框架1上的平面座2和U型座3上分别开设第一销孔21和第二销孔31,第一销孔21和第二销孔31分别处于平面座2和U型座3的竖直中心线上,且第一销孔21和第二销孔31处于同一水平面;在平面座2和U型座3的底面分别设置垫片组4;在第一销孔21的下方的基础框架1上开设第一基准孔11,在第二销孔31的下方的基础框架1上依次开设第二基准孔12和第三基准孔13;在第一销孔21、第二销孔31、第一基准孔11、第二基准孔12和第三基准孔13中依次插接销柱5;用平尺7检验第二销孔31、第二基准孔12和第三基准孔13是否处于同一竖直线,若不处于同一竖直线,则调整U型座3下方的垫片组4使得第二销孔31、第二基准孔12和第三基准孔13最终处于同一竖直线;用卡尺测量第二销孔31与第二基准孔12之间的距离H1,通过距离H1来调整处于U型座3下方的垫片组4的厚度,最终确定好U型座3的位置;用卡尺测量第一销孔21与第一基准孔11之间的距离H2,通过距离H2来调整处于平面座2下方的垫片组4的厚度,最终确定好平面座2的位置;用卡尺测量两个第三基准孔13处的销柱5分别到两个U型座3之间的垂直距离,进而判断同轴度是否符合要求,如果同轴度不符合要求,通过调整U型座3下方的垫片组4,使得同轴度符合要求。本申请实施例中销柱5采用圆柱销,第一销孔21、第二销孔31、第一基准孔11、第二基准孔12和第三基准孔13均为与圆柱销配合的圆孔,这样设置一方面便于在测量偏差位移量量进行点定位,另一方面圆柱销各方向的作用力相同,有利于支承各个销孔和基准孔。具体地,当检测第二销孔31、第二基准孔12和第三基准孔13是否处于同一竖直线时,利用平尺7靠置各个圆柱销为点接触,即平尺7与圆柱销构成点定位,便于精准检测和操作。
参照图4,第一基准孔11、第二基准孔12和第三基准孔13的开设方法包括:设置加工原点J(X=0,Y=0);在基础框架1上相对于加工原点J的纵坐标偏移量Y1、Y2的位置加工出J2平面和J1平面;第一基准孔11、第二基准孔12和第三基准孔13的中心点相对于加工原点J分别按坐标(X2,Y3)、(X1,Y4)和(X1,Y5)加工,坐标尺寸精度为±0.05mm。本申请实施例中第一基准孔11、第二基准孔12和第三基准孔13通过数控机床加工和检测,单侧加工时,首先设置加工原点J(X=0,Y=0),使得后续的加工存在加工基准点,根据加工原点J首先加工出J1平面和J2平面,即在基础框架1上相对于加工原点J的纵坐标偏移量Y1、Y2的位置,也就是平面座2和U型座3需要装配的两个平面,同样以加工原点J为基准,相对于加工原点J分别按坐标(X2,Y3)、(X1,Y4)和(X1,Y5)加工出第一基准孔11、第二基准孔12和第三基准孔13的中心点,这样就实现了图2中的平面座2上的第一销孔21的横坐标和新增的第一基准孔11有了相同的横坐标X2,图2中U型座3上的第二销孔31的横坐标和新增的第二基准孔12、第三基准孔13有了相同的横坐标X1。
参照图6-7,用平尺7检验第二销孔31、第二基准孔12和第三基准孔13是否处于同一竖直线,并使得第二销孔31、第二基准孔12和第三基准孔13最终处于同一竖直线的具体方法包括:将平尺7紧靠在第二基准孔12和第三基准孔13对应的销柱5的外侧,并使得平尺7的顶端缓慢靠近第二销孔31对应的销柱5,若第二销孔31处的销柱5外侧超过平尺7,用卡尺测量超出尺寸,并按超出尺寸减薄第二销孔31背离平尺7的一侧的垫片组4,同样在第二销孔31靠近平尺7的另一侧增加相同厚度的垫片组4;若第二销孔31处的柱销外侧与平尺7之间存在间距,则用塞尺测量间距,按间距增加第二销孔31背离平尺7的一侧的垫片组4,同样在第二销孔31靠近平尺7的另一侧减薄相同厚度的垫片组4。本申请实施例中首先将平尺7的侧边靠紧在第二基准孔12和第三基准孔13对应的圆柱销的右侧,然后使得平尺7的顶端缓慢靠近第二销孔31对应的圆柱销,若第二销孔31处的圆柱销的右侧超过平尺7,用卡尺测量超出尺寸,并按超出尺寸减薄第二销孔31处的圆柱销的左侧的垫片组4,同样在第二销孔31处的圆柱销的右侧增加相同厚度的垫片组4;若第二销孔31处的圆柱销的右侧与平尺7之间存在间距,则用塞尺测量间距,按间距增加第二销孔31处的圆柱销的右侧的垫片组4,同样在第二销孔31处的圆柱销的左侧减薄与该间距相同厚度的垫片组4,最终使得第二销孔31、第二基准孔12和第三基准孔13处于同一竖直线。
参照图1-2、5,基础框架1上的两个U型座3上分别设置有扇形段位置C、D;以距离H1为标准距离,然后垂直向上测量第二销孔31到扇形段位置C和/或D的中心点的距离h2,将距离H1和距离h2进行结合,同时调整U型座3下方的垫片组4的厚度,最终确定好U型座3的位置;基础框架1上的两个平面座2上分别设置有扇形段位置A、B;以距离H2为标准距离,然后垂直向上测量平面座2的顶面到扇形段位置A和/或B的中心点的距离h1,将距离H2和距离h1进行结合,同时调整平面座2下方的垫片组4的厚度,最终确定好平面座2的位置。本申请实施例中在确定U型座3的位置时,首先确定B、C的位置精准,从而才能够保证平面座2和U型座3位置的准确,具体的方法为,以单侧基础框架1为例,参照图2,设置连铸中心O(x=0,y=0),则B相对于连铸中心的坐标为(x1,y1),C相对于连铸中心的坐标为(x2,y2),需要保证精度在±0.2mm,在保证第二销孔31、第二基准孔12和第三基准孔13处于同一竖直线以后,用卡尺测量出第二销孔31与第二基准孔12之间的距离H1,然后以此为标准距离垂直向上测量第二销孔31到扇形段位置C的中心点的距离h2,看距离h2的高度是否超过或者未超过C点纵坐标y2的设定值的高度,根据判断结果减薄或者增加U型座3下方的垫片组4的厚度,使得C的中心点调整到其设定值y2纵坐标的位置,从而确定好C位置的精准,最终确定好U型座3的位置;
参照图2、5,本申请实施例中因扇形段位置的相对位置固定,通过在C处的第二基准孔12和第三基准孔13处的圆柱销矫正了第二销孔31的相对位置,则B处第一销孔21相对于第一基准孔11左右尺寸不再检测和调整;然而需要用卡尺测量第一销孔21与第一基准孔11之间的距离H2,然后以此为标准距离垂直向上测量平面座2的顶面到扇形段位置B的中心点的距离h1,看距离h1的高度是否超过或者未超过B点纵坐标y1的设定值的高度,根据判断结果减薄或者增加平面座2下方的垫片组4的厚度,使得B的中心点调整到其设定值y1纵坐标的位置,从而确定好B位置的精准,最终确定好平面座2的位置。
参照图8,用千分尺测量两个第三基准孔13处的销柱5分别到两个U型座3之间的垂直距离,进而判断同轴度是否符合要求的具体方法包括:在两个U型座3内放置测量轴6;用千分尺测量两个第三基准孔13处的圆柱销分别到测量轴6之间的距离H,如果两侧的两个距离H的值相同,则同轴度符合要求,如果两个距离H的值不同,则根据测量数值调整两个U型座3下方的垫片组4的厚度,使得两个距离H的值相同。
本申请实施例提供的一种扇形段基础框架的测量方法的测量过程如下:
在扇形段基础框架1装配完成后,首先将平尺7的侧边靠紧在第二基准孔12和第三基准孔13对应的圆柱销的右侧,然后使得平尺7的顶端缓慢靠近第二销孔31对应的圆柱销,若第二销孔31处的圆柱销的右侧超过平尺7,用卡尺测量超出尺寸D1,并按超出尺寸D1减薄第二销孔31处的圆柱销的左侧的垫片组4,同样在第二销孔31处的圆柱销的右侧增加与D1相同厚度的垫片组4;若第二销孔31处的圆柱销的右侧与平尺7之间存在间距D2,则用塞尺测量间距D2,按间距D2增加第二销孔31处的圆柱销的右侧的垫片组4,同样在第二销孔31处的圆柱销的左侧减薄与该间距D2相同厚度的垫片组4,最终使得第二销孔31、第二基准孔12和第三基准孔13处于同一竖直线;然后用卡尺测量第二销孔31与第二基准孔12之间的距离H1,然后将该距离作为距离标准,并从第二基准孔12内的圆柱销开始垂直向上确定U型座3的位置,完成U型座3的精准装配,同理,用卡尺测量第一销孔21与第一基准孔11之间的距离H2,然后将该距离作为距离标准,并从平面座2的顶面开始垂直向上确定到B中心点的高度,最终确定好平面座2的位置,完成平面座2的精准装配;最后在两个U型座3内放入测量轴6,用千分尺测量两个第三基准孔13处的圆柱销分别到测量轴6之间的距离H,如果两侧的两个距离H的值相同,则同轴度符合要求,如果两个距离H的值不同,则根据测量数值调整两个U型座3下方的垫片组4的厚度,使得两个距离H的值相同,这样扇形段基础框架1关键尺寸就检测调整完成。
本说明书中的各个实施方式采用递进的方式描述,各个实施方式之间相同或相似的部分互相参见即可,每个实施方式重点说明的都是与其他实施方式的不同之处。
以上实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对本申请限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域普通技术人员应当理解:其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请技术方案的范围。

Claims (3)

1.一种扇形段基础框架的测量方法,其特征在于,包括:
在基础框架(1)上的平面座(2)和U型座(3)上分别开设第一销孔(21)和第二销孔(31),所述第一销孔(21)和所述第二销孔(31)分别处于所述平面座(2)和所述U型座(3)的竖直中心线上,且所述第一销孔(21)和所述第二销孔(31)处于同一水平面;
在所述平面座(2)和所述U型座(3)的底面分别设置垫片组(4);
在所述第一销孔(21)的下方的所述基础框架(1)上开设第一基准孔(11),在所述第二销孔(31)的下方的所述基础框架(1)上依次开设第二基准孔(12)和第三基准孔(13);
在所述第一销孔(21)、所述第二销孔(31)、所述第一基准孔(11)、所述第二基准孔(12)和所述第三基准孔(13)中依次插接销柱(5);
用平尺(7)检验所述第二销孔(31)、所述第二基准孔(12)和所述第三基准孔(13)是否处于同一竖直线,若不处于同一竖直线,则调整所述U型座(3)下方的所述垫片组(4)使得所述第二销孔(31)、所述第二基准孔(12)和所述第三基准孔(13)最终处于同一竖直线;
用卡尺测量所述第二销孔(31)与所述第二基准孔(12)之间的距离H1,通过所述距离H1来调整处于所述U型座(3)下方的所述垫片组(4)的厚度,最终确定好所述U型座(3)的位置;
用所述卡尺测量所述第一销孔(21)与所述第一基准孔(11)之间的距离H2,通过所述距离H2来调整处于所述平面座(2)下方的所述垫片组(4)的厚度,最终确定好所述平面座(2)的位置;
用千分尺测量两个所述第三基准孔(13)处的销柱(5)分别到两个所述U型座(3)之间的垂直距离,进而判断同轴度是否符合要求,如果所述同轴度不符合要求,通过调整所述U型座(3)下方的所述垫片组(4),使得所述同轴度符合要求;
所述第一基准孔(11)、所述第二基准孔(12)和所述第三基准孔(13)的开设方法包括:
设置加工原点J(X=0,Y=0);
在所述基础框架(1)上相对于所述加工原点J的纵坐标偏移量Y1、Y2的位置加工出J2平面和J1平面;
所述第一基准孔(11)、所述第二基准孔(12)和所述第三基准孔(13)的中心点相对于所述加工原点J分别按坐标(X2,Y3)、(X1,Y4)和(X1,Y5)加工,坐标尺寸精度为±0.05mm;
所述基础框架(1)上的两个所述U型座(3)上分别设置有扇形段位置C、D;
以所述距离H1为标准距离,然后垂直向上测量所述第二销孔(31)到所述扇形段位置C和/或D的中心点的距离h2,将所述距离H1和所述距离h2进行结合,同时调整所述U型座(3)下方的所述垫片组(4)的厚度,最终确定好所述U型座(3)的位置;
所述基础框架(1)上的两个所述平面座(2)上分别设置有扇形段位置A、B;
以所述距离H2为标准距离,然后垂直向上测量所述平面座(2)的顶面到所述扇形段位置A和/或B的中心点的距离h1,将所述距离H2和所述距离h1进行结合,同时调整所述平面座(2)下方的所述垫片组(4)的厚度,最终确定好所述平面座(2)的位置。
2.根据权利要求1所述的扇形段基础框架的测量方法,其特征在于,用所述平尺(7)检验所述第二销孔(31)、所述第二基准孔(12)和所述第三基准孔(13)是否处于同一竖直线,并使得所述第二销孔(31)、所述第二基准孔(12)和所述第三基准孔(13)最终处于同一竖直线的具体方法包括:
将所述平尺(7)紧靠在所述第二基准孔(12)和所述第三基准孔(13)对应的销柱(5)的外侧,并使得平尺(7)的顶端缓慢靠近所述第二销孔(31)对应的销柱(5),若第二销孔(31)处的销柱(5)外侧超过平尺(7),用卡尺测量超出尺寸,并按所述超出尺寸减薄所述第二销孔(31)背离所述平尺(7)的一侧的所述垫片组(4),同样在所述第二销孔(31)靠近所述平尺(7)的另一侧增加相同厚度的所述垫片组(4);若所述第二销孔(31)处的柱销外侧与所述平尺(7)之间存在间距,则用塞尺测量所述间距,按所述间距增加所述第二销孔(31)背离所述平尺(7)的一侧的所述垫片组(4),同样在所述第二销孔(31)靠近所述平尺(7)的另一侧减薄相同厚度的所述垫片组(4)。
3.根据权利要求1所述的扇形段基础框架的测量方法,其特征在于,用所述千分尺测量两个所述第三基准孔(13)处的销柱(5)分别到两个所述U型座(3)之间的垂直距离,进而判断同轴度是否符合要求的具体方法包括:
在两个所述U型座(3)内放置测量轴(6);
用所述千分尺测量两个所述第三基准孔(13)处的销柱(5)分别到所述测量轴(6)之间的距离H,如果两侧的两个所述距离H的值相同,则同轴度符合要求,如果两个所述距离H的值不同,则根据测量数值调整两个所述U型座(3)下方的所述垫片组(4)的厚度,使得两个所述距离H的值相同。
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