CN114367978B - 一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置，所述方法适用于对多块芯片进行FT测试且具有机械臂的机台，所述方法包括：获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，得到多个比较时间；从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。本发明通过确定传输前所需总时间最短的芯片位置，然后根据芯片位置对机械臂进行预判和移动控制，以缩短机械臂的移动时间和等待传输时间，提高测试效率，节省测试成本。

Description

一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置

技术领域

本发明涉及设备控制的技术领域，尤其涉及一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置。

背景技术

随着科技的发展，越来越多的科技产品逐渐投入日常生活中，现已逐渐改变人们的生活方式，并为生活带来各种各样的便利。各个科技产品的核心就是负责各种数据处理的芯片。为了保证产品的稳定性、实用性及完整性，生产商在推出芯片前都会对批量芯片进行FT测试。

目前常用的测试方式是使用机台进行自动测试。其中机台设有机械臂，当芯片测试完成后控制机械臂取走芯片，并将新芯片放入测试板开始新一轮测试。

但目前常用的测试方法有如下技术问题：测试空间有限，机械臂在没有收到pass和fail的信号或在完成一次传输后，都会在原点或以移动至原点等待，待收到信号才从原点出发至芯片位置取走芯片。由于每次传输完成后均需要回到原点以及在收到信号后从原点出发，会增加机械臂的移动行程，从而增加了传输时间，降低了检测效率，并且多次的来回移动会增加机械臂的损耗，也降低了整个产品的使用寿命。

发明内容

本发明提出一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置，所述方法可以通过计算机械臂的移动时间和芯片完成测试的剩余时间选择开始传输前所需总时间最短的芯片，并根据所述芯片位置对机械臂的移动进行预判和移动控制，从而有效缩短机械臂的移动时间和等待开始传输的时间，提高测试效率。

本发明实施例的第一方面提供了一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法，所述方法适用于对多块芯片进行FT测试的机台，所述机台设有机械臂，所述方法包括：

获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；

逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，得到多个比较时间；

从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间，包括：

分别获取所述机械臂的当前坐标以及每块芯片的测试位置坐标；

分别计算所述当前坐标与每个所述测试位置坐标之间的坐标距离，得到多个坐标距离；

利用每个所述坐标距离计算所述机械臂移动至每块芯片的移动时间。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，包括：

逐一比较每块芯片对应的所述移动时间是否大于所述测试剩余时间；

当所述移动时间大于所述测试剩余时间，则以所述移动时间为比较时间；

当所述移动时间小于所述测试剩余时间，则以所述测试剩余时间为比较时间。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述传输操作，包括：

当所述机械臂接收芯片发出合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试；

当所述机械臂接收芯片发出不合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的不合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。

在第一方面的一种可能的实现方式中，在所述使所述机械臂对芯片进行传输操作的步骤后，所述方法还包括：

屏蔽所述机械臂的控制信号直到所述机械臂完成传输操作。

本发明实施例的第二方面提供了一种关于芯片传输机械臂的移动控制装置，所述装置适用于对多块芯片进行FT测试的机台，所述机台设有机械臂，所述装置包括：

获取模块，用于获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；

比较模块，用于逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，得到多个比较时间；

控制模块，用于从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。

在第二方面的一种可能的实现方式中，所述获取模块还用于：

分别获取所述机械臂的当前坐标以及每块芯片的测试位置坐标；

分别计算所述当前坐标与每个所述测试位置坐标之间的坐标距离，得到多个坐标距离；

利用每个所述坐标距离计算所述机械臂移动至每块芯片的移动时间。

在第二方面的一种可能的实现方式中，所述比较模块还用于：

逐一比较每块芯片对应的所述移动时间是否大于所述测试剩余时间；

当所述移动时间大于所述测试剩余时间，则以所述移动时间为比较时间；

当所述移动时间小于所述测试剩余时间，则以所述测试剩余时间为比较时间。

在第二方面的一种可能的实现方式中，所述传输操作，包括：

当所述机械臂接收芯片发出合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试；

当所述机械臂接收芯片发出不合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的不合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。

在第二方面的一种可能的实现方式中，所述装置还包括：

屏蔽模块，用于屏蔽所述机械臂的控制信号直到所述机械臂完成传输操作。

相比于现有技术，本发明实施例提供的一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置，其有益效果在于：本发明可以分别获取机械臂移动至芯片区域所需要的移动时间以及芯片完成测试所需的测试剩余时间，结合两者以筛选开始传输前所需总时间最短的芯片，从而可以根据所选出的芯片位置对机械臂的移动进行预判和移动控制，进而有效缩短机械臂的移动时间和等待开始传输的时间，提高测试效率，节省测试成本。

附图说明

图1是本发明一实施例提供的一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法的流程示意图；

图2是本发明一实施例提供的一种关于芯片传输机械臂的移动控制装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

目前常用的测试方法有如下技术问题：测试空间有限，机械臂在没有收到pass和fail的信号或在完成一次传输后，都会在原点或以移动至原点等待，待收到信号才从原点出发至芯片位置取走芯片。由于每次传输完成后均需要回到原点以及在收到信号后从原点出发，会增加机械臂的移动行程，从而增加了传输时间，降低了检测效率，并且多次的来回移动会增加机械臂的损耗，也降低了整个产品的使用寿命。

为了解决上述问题，下面将通过以下具体的实施例对本申请实施例提供的一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法进行详细介绍和说明。

参照图1，示出了本发明一实施例提供的一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法的流程示意图。

所述方法适用于对多块芯片进行FT测试的机台，所述机台设有机械臂。在使用时，所述机台可以同时对多块芯片进行FT测试。

其中，作为示例的，所述关于芯片传输机械臂的移动控制方法，可以包括：

S11、获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间。

在使用时，需要在触发控制机械臂移动前，分别获取机械臂的移动时间和测试剩余时间。

其中，移动时间为机械臂从当前位置移动至芯片测试区域的时间，测试剩余时间为芯片从当前时间节点至完成测试所需的时间。

测试剩余时间可以先测量测试程序完成所需的时间，然后通过使用测试程序完成所需时间减去芯片已上电运行时间，即可得到运行剩余时间。特别地，当芯片发出pass或者fail信号时，芯片的运行剩余时间则为0。

由于测试所涉及的芯片有多块，有的芯片测试剩余时间短，有的芯片测试剩余时间长，而机械臂移动至不同芯片所在区域的时间也不同，可以结合机械臂的移动时间以及芯片的测试剩余时间进行综合且充分的考量，以控制机械臂耗费最小的时间传输芯片，提高进而提高芯片的测试效率。

为了准确确定机械臂移动至每块芯片所在位置的移动时间，其中，作为示例的，步骤S11可以包括以下子步骤：

子步骤S111、分别获取所述机械臂的当前坐标以及每块芯片的测试位置坐标。

当前坐标为机械臂在测试的机体中的位置坐标。测试位置坐标为芯片所在的测试板上的位置坐标。

子步骤S112、分别计算所述当前坐标与每个所述测试位置坐标之间的坐标距离，得到多个坐标距离。

可以利用当前坐标与任意一个测试坐标计算得到机械臂移动至测试位置坐标对应的芯片所需要的坐标距离。

例如，有10个测试位置坐标，可以分别计算当前坐标与10个测试位置坐标之间的坐标距离，得到10个坐标距离。

子步骤S113、利用每个所述坐标距离计算所述机械臂移动至每块芯片的移动时间。

在获取坐标距离后，可以获取机械臂的单位移动速率，然后让坐标距离除以机械臂的单位移动速率，计算得到该坐标距离对应的移动时间。

S12、逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，得到多个比较时间。

由于每一块芯片对应一个移动时间和一个测试剩余时间，在获取多个移动时间和多个测试剩余时间后，可以将每块芯片对应移动时间与其对应的测试剩余时间进行比对，从而得到多个比较时间。

其中，比较时间可以是控制机械臂移动至该芯片的时间，也可以是芯片测试的剩余时间。

为了通过移动时间与测试剩余时间准确确定机械臂开始传输芯片前所需最短时间，在一可选的实施例中，步骤S12可以包括以下子步骤：

子步骤S121、逐一比较每块芯片对应的所述移动时间是否大于所述测试剩余时间。

子步骤S122、当所述移动时间大于所述测试剩余时间，则以所述移动时间为比较时间。

子步骤S123、当所述移动时间小于所述测试剩余时间，则以所述测试剩余时间为比较时间。

例如，假设机械臂从现有位置移动到第一块芯片测试板所需的移动时间为Ta1，第一块芯片完成测试所需的剩余时间Tb1，其比较时间为Tc1。

当Ta1大于Tb1时，则机械臂移动到该芯片区域以及可以对该芯片进行操作的总时间Tc1＝Ta1；反之，当Ta1小于Tb1，则Tc1＝Tb1。

S13、从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。

在确定了多个比较时间后，可以从多个比较时间中筛选最短时长的比较时间，以该比较时间为目标比较时间，在控制机械臂按照目标比较时间移动至对应芯片的的位置，使得机械臂在芯片测试完成后可以取走芯片。特别地，在机械臂对芯片进行传输前，如果接收到fail信号，则意味有芯片的测试剩余时间突发地变为0，需要重复S11、S12和S13步骤更新目标比较时间。

在应用时，每次都控制机械臂移动至开始传输前所需总时间最短的芯片位置，可以有效减少机械臂的移动里程，提高机械臂的移动速率，也可以缩短等待开始传输的时间，提高芯片的检测效率。

在其中一种的实施例中，所述传输操作可以包括以下步骤：

步骤S21、当所述机械臂接收芯片发出合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。

步骤S22、当所述机械臂接收芯片发出不合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的不合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。

具体地，芯片所在的测试板可以向机械臂的控制端发送信号，可以是合格信号，代表芯片测试合格，也可以不合格信号，代表芯片测试不合格。

当芯片合格时，可以将芯片从测试版中取走，并放置在预设的合格区域，同时可以将新的待检测芯片重新放置在空置了的测试区域中，并为新的芯片上电进行测试。同理，当芯片不合格时，可以将芯片从测试版中取走，并放置在预设的不合格区域，同时可以将新的待检测芯片重新放置在空置了的测试区域中，并为新的芯片上电进行测试。

放置在不同区域的芯片可以有技术人员进行对应处理。

在机械臂的传输过程中，如果被其他控制信号干扰，可能导致机械臂出现混乱，无法执行操作，为了避免上述情况，在一实施例中，所述方法还可以包括：

S14、屏蔽所述机械臂的控制信号直到所述机械臂完成传输操作。

具体地，当机械臂确定目标比较时间后，在机械臂执行完整个传输操作前，可以屏蔽其它关于控制机械臂的控制信号，让机械臂可以有序地完成其当前的操作。

在本实施例中，本发明实施例提供了一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其有益效果在于：本发明可以分别获取机械臂移动至芯片区域所需要的移动时间以及芯片完成测试所需的测试剩余时间，结合两者以筛选开始传输前所需总时间最短的芯片，从而可以根据所选出的芯片位置对机械臂的移动进行预判和移动控制，进而有效缩短机械臂的移动时间和等待开始传输的时间，提高测试效率，节省测试成本。

本发明实施例还提供了一种关于芯片传输机械臂的移动控制装置，参见图2，示出了本发明一实施例提供的一种关于芯片传输机械臂的移动控制装置的结构示意图。

所述装置适用于对多块芯片进行FT测试的机台，所述机台设有机械臂。

其中，作为示例的，所述关于芯片传输机械臂的移动控制装置可以包括：

获取模块201，用于获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；

比较模块202，用于逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，得到多个比较时间；

控制模块203，用于从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。

可选地，所述获取模块还用于：

分别获取所述机械臂的当前坐标以及每块芯片的测试位置坐标；

分别计算所述当前坐标与每个所述测试位置坐标之间的坐标距离，得到多个坐标距离；

利用每个所述坐标距离计算所述机械臂移动至每块芯片的移动时间。

可选地，所述比较模块还用于：

逐一比较每块芯片对应的所述移动时间是否大于所述测试剩余时间；

当所述移动时间大于所述测试剩余时间，则以所述移动时间为比较时间；

当所述移动时间小于所述测试剩余时间，则以所述测试剩余时间为比较时间。

可选地，所述传输操作，包括：

当所述机械臂接收芯片发出合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试；

当所述机械臂接收芯片发出不合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的不合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。

可选地，所述装置还包括：

屏蔽模块，用于屏蔽所述机械臂的控制信号直到所述机械臂完成传输操作。

进一步的，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述实施例所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法。

进一步的，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如上述实施例所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述方法适用于对多块芯片进行FT测试的机台，所述机台设有机械臂，所述方法包括：

获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；

逐一比较每块芯片对应的所述移动时间是否大于所述测试剩余时间，得到多个比较时间；

当所述移动时间大于所述测试剩余时间，则以所述移动时间为比较时间；

当所述移动时间小于所述测试剩余时间，则以所述测试剩余时间为比较时间；

从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。

2.根据权利要求1所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间，包括：

分别获取所述机械臂的当前坐标以及每块芯片的测试位置坐标；

分别计算所述当前坐标与每个所述测试位置坐标之间的坐标距离，得到多个坐标距离；

利用每个所述坐标距离计算所述机械臂移动至每块芯片的移动时间。

3.根据权利要求1所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述传输操作，包括：

当所述机械臂接收芯片发出合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试；

当所述机械臂接收芯片发出不合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的不合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，在所述使所述机械臂对芯片进行传输操作的步骤后，所述方法还包括：

屏蔽所述机械臂的控制信号直到所述机械臂完成传输操作。

5.一种关于芯片传输机械臂的移动控制装置，其特征在于，所述装置适用于对多块芯片进行FT测试的机台，所述机台设有机械臂，所述装置包括：

获取模块，用于获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；

比较模块，用于逐一比较每块芯片对应的所述移动时间是否大于所述测试剩余时间，得到多个比较时间；

当所述移动时间大于所述测试剩余时间，则以所述移动时间为比较时间；

当所述移动时间小于所述测试剩余时间，则以所述测试剩余时间为比较时间；

控制模块，用于从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。

6.根据权利要求5所述的关于芯片传输机械臂的移动控制装置，其特征在于，所述获取模块还用于：

分别获取所述机械臂的当前坐标以及每块芯片的测试位置坐标；

分别计算所述当前坐标与每个所述测试位置坐标之间的坐标距离，得到多个坐标距离；

利用每个所述坐标距离计算所述机械臂移动至每块芯片的移动时间。

7.根据权利要求5所述的关于芯片传输机械臂的移动控制装置，其特征在于，所述传输操作，包括：

当所述机械臂接收芯片发出合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试；

当所述机械臂接收芯片发出不合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的不合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。

8.根据权利要求5-7任意一项所述的关于芯片传输机械臂的移动控制装置，其特征在于，所述装置还包括：

屏蔽模块，用于屏蔽所述机械臂的控制信号直到所述机械臂完成传输操作。