CN114362848A - 一种终端设备及天线性能测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种终端设备及天线性能测试装置，涉及天线性能测试领域。该天线性能测试装置包括：PCB板；设于PCB板上的射频模组，用于发射射频信号；设于PCB板上并通过微带线与射频模组连接的天线；及检测端设于射频模组的输出端与天线之间、传输端与射频模组的输入端连接的功率检测装置，功率检测装置用于根据检测端的检测结果数据确定当前测试模式属于第一测试模式或第二测试模式，以调节射频模组的输出功率。本申请实施例通过自动识别传导测试模式和辐射测试模式，进而自动调整传导测试模式和辐射测试模式各自所需信号功率，可以增加辐射测试模式所需的信号功率，使辐射侧测试模式不受传导测试模式的限制。

Description

一种终端设备及天线性能测试装置

技术领域

本申请涉及天线性能测试领域，具体涉及一种终端设备及天线性能测试装置。

背景技术

移动终端设备例如手机在投入市场之前往往需要对安装于手机上的天线性能做严格测试，以确保产品的合格性。在进行天线性能测试过程中，信号的传导测试与辐射测试属于关键环节，能够在一定程度上判断移动终端设备的信号传输性能。

但是，现有的性能测试装置无法区分当前的测试模式是属于传导测试还是辐射测试，并且有传导测试模式与辐射测试模式下所需的信号功率范围不同，当为了满足辐射测试指标需要增加射频源的输出功率时，因为影响传导测试指标，导致无法实现功率增加，从而影响辐射测试模式的测试结果准确性。即在现有的天线性能测试过程中，难以同时兼顾传导测试模式与辐射测试模式辐射测试。

发明内容

本申请实施例提供一种终端设备及天线性能测试装置，通过自动识别传导测试模式和辐射测试模式，进而自动调整传导测试模式和辐射测试模式各自所需信号功率，可以增加辐射测试模式所需的信号功率，使辐射侧测试模式不受传导测试模式的限制，即能够同时兼顾传导测试模式和辐射侧测试模式，并且能够提升传导测试模式和辐射测试模式的测试结果数据的准确度。

本申请实施例一方面提供一种天线性能测试装置，包括：PCB板；设于所述PCB板上的射频模组，用于发射射频信号；设于所述PCB板上并通过微带线与所述射频模组连接的天线；及检测端设于所述射频模组的输出端与所述天线之间、传输端与所述射频模组的输入端连接的功率检测装置，所述功率检测装置用于根据所述检测端的检测结果数据确定当前测试模式属于第一测试模式或第二测试模式，以调节所述射频模组的输出功率。

在一些实施例中，所述天线性能测试装置还包括：设于所述射频模组与所述微带线之间、用于切换所述第一测试模式与第二测试模式的模式切换装置。

在一些实施例中，所述模式切换装置包括串接在所述微带线上的射频同轴连接器，所述射频同轴连接器的内部设有可导通或断开所述微带线的开关，所述开关的控制端外接测试仪表。

在一些实施例中，所述测试仪表的探针插接于所述射频同轴连接器的内部并与所述开关的闸刀对应设置，所述闸刀能够在被所述探针抵接后与所述微带线断开连接，并与所述探针导通。

在一些实施例中，所述功率检测装置的检测端设于所述模式切换装置的输出端与所述天线之间。

在一些实施例中所述功率检测装置包括：检测端设于所述模式切换装置与所述天线之间的功率检测器；及设于所述射频模组及所述功率检测器输出端之间的基带芯片，所述基带芯片被配置为根据所述功率监测器的输出结果调整所述射频模组的输出功率。

在一些实施例中，所述基带芯片被配置为当所述输出结果为存在功率输出时，则调高所述射频模组的输出功率；当所述输出结果为不存在功率输出时，则降低所述射频模组的输出功率。

在一些实施例中，所述功率监测器与所述微带线耦合连接。

在一些实施例中，所述第一测试模式为传导测试模式，所述第二测试模式为辐射测试模式。

本申请实施例一方面提供一种移动终端设备，包括如上所述的天线性能测试装置。

本申请实施例提供的终端设备及天线性能测试装置，天线性能测试装置包括：PCB板；设于所述PCB板上的射频模组，用于发射射频信号；设于所述PCB板上并通过微带线与所述射频模组连接的天线；及检测端设于所述射频模组的输出端与所述天线之间、传输端与所述射频模组的输入端连接的功率检测装置，所述功率检测装置用于根据所述检测端的检测结果数据确定当前测试模式属于第一测试模式或第二测试模式，以调节所述射频模组的输出功率。本申请实施例通过自动识别传导测试模式和辐射测试模式，进而自动调整传导测试模式和辐射测试模式各自所需信号功率，可以增加辐射测试模式所需的信号功率，使辐射侧测试模式不受传导测试模式的限制，即能够同时兼顾传导测试模式和辐射侧测试模式，并且能够提升传导测试模式和辐射测试模式的测试结果数据的准确度。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请实施例提供的天线性能测试装置的整体结构示意图。

图2为本申请实施例提供的天线性能测试装置中模式切换装置处于第二测试模式下的示意图。

图3为本申请实施例提供的天线性能测试装置模式切换装置处于第一测试模式下示意图。

附图标记：1、射频模组；2、微带线；3、天线；4、功率检测装置；41、功率监测器；42、基带芯片；5、模式切换装置；6、开关；7、探针。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

现有的性能测试装置无法区分当前的测试模式是属于传导测试还是辐射测试，并且有传导测试模式与辐射测试模式下所需的信号功率范围不同，当为了满足辐射测试指标需要增加射频源的输出功率时，因为影响传导测试指标，导致无法实现功率增加，影响辐射测试模式的测试结果准确性。即在现有的天线性能测试过程中，难以同时兼顾传导测试模式与辐射测试模式辐射测试。

为解决上述问题，本方案提供了一种天线性能测试装置，通过自动识别传导测试模式和辐射测试模式，进而自动调整传导测试模式和辐射测试模式各自所需信号功率，可以增加辐射测试模式所需的信号功率，使辐射侧测试模式不受传导测试模式的限制，即能够同时兼顾传导测试模式和辐射侧测试模式，并且能够提升传导测试模式和辐射测试模式的测试结果数据的准确度。

具体的，请参阅图1至图3，图1为本申请实施例中天线性能测试装置的整体结构示意图。本申请实施例一方面提供一种天线性能测试装置，包括：PCB板；设于所述PCB板上的射频模组1，用于发射射频信号；设于所述PCB板上并通过微带线2与所述射频模组1连接的天线3；及检测端设于所述射频模组1的输出端与所述天线3之间、传输端与所述射频模组1的输入端连接的功率检测装置4，所述功率检测装置4用于根据所述检测端的检测结果数据确定当前测试模式属于第一测试模式或第二测试模式，以调节所述射频模组1的输出功率。

需要解释的是，移动终端设备例如手机在投入市场之前往往需要对安装于手机上的天线3性能做严格测试，以确保产品的合格性。在进行天线性能测试过程中，信号的传导测试与辐射测试属于关键环节，能够在一定程度上判断移动终端设备的信号传输性能。

本方案中所述的第一测试模式具体指的是传导测试模式，即板级的射频功率测试，主要用于测试由射频源发出的信号在到达天线3之前的传输情况，以检测移动终端设备的射频模组1是否达到出厂要求。理论上在传导测试模式下，射频源的信号功率不能过高，否则会影响到最终检测结果数据的准确性。所述第二测试模式具体指的是辐射模式，主要用于测试由射频源发出的信号在天线3上的传输情况，通过检测信号在天线3上的传输强弱程度可判断天线3所在移动终端设备上的信号优异情况，即整机性能。理论上在辐射测试模式下的信号功率需要明显高于传导测试模式所需的信号功率，才能够满足在辐射模式下检测出测试指标的要求。

但是，由于在进行传导测试或辐射测试时的原理类似，现有的性能测试装置无法区分当前的测试模式是属于传导测试还是辐射测试，并且有传导测试模式与辐射测试模式下所需的信号功率范围不同，当为了满足辐射测试指标需要增加射频源的输出功率时，因为影响传导测试指标，导致无法实现功率增加，影响辐射测试模式的测试结果准确性。即在现有的天线性能测试过程中，难以同时兼顾传导测试模式与辐射测试模式辐射测试。

因此，为了解决上述问题，本发明通过设计一种天线性能测试装置，只需要简单的电路架构，即可实现传导测试模式和辐射测试模式自动识别，进而自动调整传导测试模式和辐射测试模式各自所需射频信号的功率，可以增加辐射测试模式所需的射频信号的功率，使辐射侧测试模式不受传导测试模式的限制，即能够同时兼顾传导测试模式和辐射侧测试模式，并且能够提升传导测试模式和辐射测试模式的测试结果数据的准确度。天线性能测试装置主要包括PCB板(图中未示出)、射频模组1、天线3及功率检测装置4。

其中，天线性能测试装置包括的PCB板主要起到供元器件安装和连接的载体作用。

天线性能测试装置包括的射频模组1设置在PCB板上，主要充当信号发射源，用于发射射频信号。所述射频模组1由射频收发器(Transceiver)、PA(放大器)、滤波器及双工器等元器件构成，由于射频模组1属于本领域熟知的技术，也不属于本方案的改进要点，因此，在此对所述射频模组1的结构不做赘述。

天线性能测试装置包括的天线3设置在PCB板上并通过微带线2与射频模组1连接。需要解释的是，所述微带线2也称射频馈线，移动终端设备通过微带线2传输射频信号至天线3，再通过天线3将射频信号转化成电磁波辐射到空中。

在一些实施例中，功率监测器41与微带线2耦合连接，功率检测器采用耦合方式获取功率并测量，对信号损失小。

天线性能测试装置包括的功率检测装置4具有检测端和传输端，所述检测端设置在射频模组1的输出端与天线3之间，所述传输端与射频模组1的输入端连接。通过设置功率检测装置4能够根据检测端获取的检测结果数据确定当前测试模式属于第一测试模式或第二测试模式，以实现智能调节射频模组1的输出功率，以满足不同测试模式下所需的信号功率。

在一些实施例中，所述天线性能测试装置还包括：设于所述射频模组1与所述微带线2之间的模式切换装置5，用于实现第一测试模式与第二测试模式之间的切换。

具体地，所述模式切换装置5包括串接在微带线2上的射频同轴连接器(RFconnector)，射频同轴连接器的内部设有可导通或断开微带线2的开关6，开关6的控制端外接测试仪表。进一步地，所述测试仪表的探针7插接于射频同轴连接器的内部并与开关6的闸刀对应设置，闸刀能够在被探针7抵接后与微带线2断开连接，并与探针7导通。

通过上述设计，射频同轴连接器内部设有可导通或断开微带线2的开关6，默认状态下开关6会导通射频同轴连接器的两端，使微带线2处于导通状态，此时射频信号可以正常传输至天线3实现辐射。当需要测试传导性能即射频端性能时，不希望经过天线3因为天线3有能量损耗并且辐射性能需要特殊设备进行测试，当需要测试传导性能时，使用一个探针7伸入射频同轴连接器内部，将开关6的闸刀顶离射频同轴连接器一端，并让探针7与闸刀导通，此时射频信号通过闸刀传入探针7，并通过探针7后端的导线传输至测试仪表(图中未示出)，没有传输至天线3。

基于上述模式切换装置5的设计带来的效果，可以得知，当测试传导性能时，射频同轴连接器中的开关6闸刀在探针7的作用下断开与微带线2的连接，使微带线2上无信号功率输出，当功率检测器检测不到功率时，则可确定此时的测试模式为传导测试模式，进而通过功率检测装置4调节射频模组1的输出功率。

在一具体实施例中，所述功率检测装置4包括：检测端设于所述模式切换装置5与所述天线3之间的功率检测器；及设于所述射频模组1及所述功率检测器输出端之间的基带芯片42(BB芯片)，所述基带芯片42被配置为根据所述功率监测器41的输出结果调整所述射频模组1的输出功率。

在本实施例中，所述基带芯片42被配置为当输出结果为存在功率输出时，则调高射频模组1的输出功率；当输出结果为不存在功率输出时，则降低射频模组1的输出功率。

本申请实施例另一方面还提供一种移动终端设备，包括：如上所述的天线性能测试装置。

在本实施例中，天线性能测试装置包括：PCB板；设于所述PCB板上的射频模组1，用于发射射频信号；设于所述PCB板上并通过微带线2与所述射频模组1连接的天线3；及检测端设于所述射频模组1的输出端与所述天线3之间、传输端与所述射频模组1的输入端连接的功率检测装置4，所述功率检测装置4用于根据所述检测端的检测结果数据确定当前测试模式属于第一测试模式或第二测试模式，以调节所述射频模组1的输出功率。

综上所述，本申请实施例提供一种移动终端设备及天线性能测试装置，天线性能测试装置包括：PCB板；设于所述PCB板上的射频模组1，用于发射射频信号；设于所述PCB板上并通过微带线2与所述射频模组1连接的天线3；及检测端设于所述射频模组1的输出端与所述天线3之间、传输端与所述射频模组1的输入端连接的功率检测装置4，所述功率检测装置4用于根据所述检测端的检测结果数据确定当前测试模式属于第一测试模式或第二测试模式，以调节所述射频模组1的输出功率。本申请实施例通过自动识别传导测试模式和辐射测试模式，进而自动调整传导测试模式和辐射测试模式各自所需信号功率，可以增加辐射测试模式所需的信号功率，使辐射侧测试模式不受传导测试模式的限制，即能够同时兼顾传导测试模式和辐射侧测试模式，并且能够提升传导测试模式和辐射测试模式的测试结果数据的准确度。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例所提供的一种天线性能测试装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种天线性能测试装置，其特征在于，包括：

PCB板；

设于所述PCB板上的射频模组，用于发射射频信号；

设于所述PCB板上并通过微带线与所述射频模组连接的天线；及

检测端设于所述射频模组的输出端与所述天线之间、传输端与所述射频模组的输入端连接的功率检测装置，所述功率检测装置用于根据所述检测端的检测结果数据确定当前测试模式属于第一测试模式或第二测试模式，以调节所述射频模组的输出功率。

2.如权利要求1所述的天线性能测试装置，其特征在于，所述天线性能测试装置还包括：

设于所述射频模组与所述微带线之间、用于切换所述第一测试模式与第二测试模式的模式切换装置。

3.如权利要求2所述的天线性能测试装置，其特征在于，所述模式切换装置包括串接在所述微带线上的射频同轴连接器，所述射频同轴连接器的内部设有可导通或断开所述微带线的开关，所述开关的控制端外接测试仪表。

4.如权利要求3所述的天线性能测试装置，其特征在于，所述测试仪表的探针插接于所述射频同轴连接器的内部并与所述开关的闸刀对应设置，所述闸刀能够在被所述探针抵接后与所述微带线断开连接，并与所述探针导通。

5.如权利要求2所述的天线性能测试装置，其特征在于，所述功率检测装置的检测端设于所述模式切换装置的输出端与所述天线之间。

6.如权利要求5所述的天线性能测试装置，其特征在于，所述功率检测装置包括：

检测端设于所述模式切换装置与所述天线之间的功率检测器；及

设于所述射频模组及所述功率检测器输出端之间的基带芯片，所述基带芯片被配置为根据所述功率监测器的输出结果调整所述射频模组的输出功率。

7.如权利要求6所述的天线性能测试装置，其特征在于，所述基带芯片被配置为当所述输出结果为存在功率输出时，则调高所述射频模组的输出功率；当所述输出结果为不存在功率输出时，则降低所述射频模组的输出功率。

8.如权利要求7所述的天线性能测试装置，其特征在于，所述功率监测器与所述微带线耦合连接。

9.如权利要求1所述的天线性能测试装置，其特征在于，所述第一测试模式为传导测试模式，所述第二测试模式为辐射测试模式。

10.一种移动终端设备，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的天线性能测试装置。

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