CN114323596A - 一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置，Lens耦合前的COB光模块以下简称COB光模块，该Lens耦合前COB光模块的测试方法包括：获取测试指令；判断老化板上是否插置有COB光模块；若老化板上插置有COB光模块，则控制光探测器对老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，目标检测结果为异常或正常，检测结果正常的，则流入后续工序。本申请对COB光模块进行Lens耦合工艺之前先对COB光模块进行检测，识别出异常的COB光模块，能够降低COB光模块的制造成本。

Description

一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置

技术领域

本申请主要涉及光模块测试技术领域，具体涉及一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置。

背景技术

光模块的封装工艺有TO，BOX，COB（chip on board）等，高速光模块通常采用的工艺是COB。目前采用COB工艺的COB光模块生产流程是：1）贴片；2）打线；3）等离子清洗；4）Lens耦合；5）老化；6）结构件组装；7）升级固件；8）测试。Lens耦合是在COB光模块的PCBA上耦合贴设一Lens透镜，现阶段采用将Lens透镜置于贴合面后、点胶，并通过调整其耦合位置，耦合完成后，通过UV点光源进行固化。现有的生产流程中Lens耦合工艺极为重要，但是在Lens耦合前未对COB光模块进行测试，在Lens耦合后如出现不良品需要拆除Lens，在拆除Lens过程中极易损坏COB光模块，现有生产流程检测环节在Lens耦合工艺后面，这会导致不良品也会被耦合Lens，使得COB光模块制造成本变高。

也即，现有技术中COB光模块的制造成本较高。

发明内容

本申请提供一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置，旨在解决现有技术中COB光模块的制造成本较高的问题。

第一方面，本申请提供一种Lens耦合前COB光模块的测试方法，应用于COB光模块测试系统，所述COB光模块测试系统包括计算机设备和与所述计算机设备连接的光模块检测设备，所述光模块检测设备包括机柜，所述机柜设有老化板、所述老化板上方的至少两个光检测装置，所述光检测装置包括设置于所述机柜上的驱动装置和光探测器，所述驱动装置用于驱动所述光探测器移动，所述老化板上阵列设置有多个插座，所述COB光模块通过插入所述插座与所述老化板可拆卸连接，所述计算机设备用于执行所述Lens耦合前COB光模块的测试方法，所述Lens耦合前COB光模块的测试方法包括：

获取测试指令；

判断所述老化板上是否插置有COB光模块；

若所述老化板上插置有COB光模块，则控制所述光探测器对所述老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，所述目标检测结果为异常或正常。

可选地，所述若所述老化板上插置有COB光模块，则控制所述光探测器对所述老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，包括：

若所述老化板上插置有COB光模块，将老化板上插置有COB光模块的插座分别确定目标插座；

控制所述光探测器对所述目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果；

获取各个目标插座上COB光模块的目标检测结果，得到多个COB光模块的目标检测结果。

可选地，所述机柜的内部设有驱动板卡和电源控制模块，所述控制所述光探测器对所述目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果，包括：

获取目标插座上COB光模块的目标检测位置，其中，目标插座上不同类型的COB光模块具有不同的目标检测位置；

通过所述驱动装置驱动所述光探测器移动至所述COB光模块的上方的目标检测位置；

控制所述电源控制模块向所述COB光模块输入预设驱动电流Iop，其中，所述COB光模块在输入驱动电流Iop时发光并照射在所述光探测器的探测面上，所述光探测器通过光电效应生成光电流，生成的光电流经过所述驱动板卡转换成光功率；

基于所述驱动电流和所述驱动板卡采集的光功率确定所述COB光模块的第一测试参数；

若所述第一测试参数不满足第一预设参数范围，则确定所述COB光模块的第一检测结果为异常；若所述第一测试参数满足第一预设参数范围，则确定所述COB光模块的第一检测结果为正常；

基于各个COB光模块的第一检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

可选地，所述COB光模块测试系统还包括老化设备，所述基于各个COB光模块的第一检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果，包括：

控制所述老化设备对所述老化板和所述老化板上的COB光模块老化，得到老化后的COB光模块；

在检测到老化板和老化板上经过老化的COB光模块放入所述老化板收容位时；

对老化后的COB光模块进行检测，得到老化后的COB光模块的第二测试参数；

若所述第二测试参数不满足第二预设参数范围，则确定所述COB光模块的第二检测结果为异常；若所述第二测试参数满足第二预设参数范围，则确定所述COB光模块的第二检测结果为正常；

基于各个COB光模块的第一检测结果和各个COB光模块的第二检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

可选地，所述基于各个COB光模块的第一检测结果和各个COB光模块的第二检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果，包括：

计算所述第一测试参数和第二测试参数之间的偏差，得到偏差参数；

判断所述偏差参数是否满足预设偏差范围；

若所述偏差参数满足预设偏差范围，则确定所述COB光模块的第三检测结果为正常；若所述偏差参数不满足预设偏差范围，则确定所述COB光模块的第三检测结果为异常；

基于所述第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

可选地，所述基于所述第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果，包括：

若所述COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果中存在至少一个检测结果为异常，则确定所述COB光模块的目标检测结果为异常；若所述COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果均为正常，则确定所述COB光模块的目标检测结果为正常。

第二方面，本申请提供一种COB光模块测试系统，所述COB光模块测试系统包括计算机设备和与所述计算机设备连接的光模块检测设备，所述光模块检测设备包括机柜，所述机柜设有老化板、所述老化板上方的至少两个光检测装置，所述光检测装置包括设置于所述机柜上的驱动装置和光探测器，所述驱动装置用于驱动所述光探测器移动，所述老化板上阵列设置有多个插座，所述COB光模块通过插入所述插座与所述老化板可拆卸连接，所述计算机设备用于执行第一方面任一项所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法。

第三方面，本申请提供一种COB光模块测试装置，所述COB光模块测试装置应用于COB光模块测试系统，所述COB光模块测试系统包括计算机设备和与所述计算机设备连接的光模块检测设备，所述光模块检测设备包括机柜，所述机柜设有老化板、所述老化板上方的至少两个光检测装置，所述光检测装置包括设置于所述机柜上的驱动装置和光探测器，所述驱动装置用于驱动所述光探测器移动，所述老化板上阵列设置有多个插座，所述COB光模块通过插入所述插座与所述老化板可拆卸连接，所述COB光模块测试装置集成于所述计算机设备上，所述COB光模块测试装置包括：

获取单元，用于获取测试指令；

判断单元，用于判断所述老化板上是否插置有COB光模块；

检测单元，用于若所述老化板上插置有COB光模块，则控制所述光探测器对所述老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，所述目标检测结果为异常或正常。

可选地，所述检测单元，用于：

若所述老化板上插置有COB光模块，将老化板上插置有COB光模块的插座分别确定目标插座；

控制所述光探测器对所述目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果；

获取各个目标插座上COB光模块的目标检测结果，得到多个COB光模块的目标检测结果。

可选地，所述机柜的内部设有驱动板卡和电源控制模块，所述检测单元，用于：

获取目标插座上COB光模块的目标检测位置，其中，目标插座上不同类型的COB光模块具有不同的目标检测位置；

通过所述驱动装置驱动所述光探测器移动至所述COB光模块的上方的目标检测位置；

控制所述电源控制模块向所述COB光模块输入预设驱动电流Iop，其中，所述COB光模块在输入驱动电流Iop时发光并照射在所述光探测器的探测面上，所述光探测器通过光电效应生成光电流，生成的光电流经过所述驱动板卡转换成光功率；

基于所述驱动电流和所述驱动板卡采集的光功率确定所述COB光模块的第一测试参数；

若所述第一测试参数不满足第一预设参数范围，则确定所述COB光模块的第一检测结果为异常；若所述第一测试参数满足第一预设参数范围，则确定所述COB光模块的第一检测结果为正常；

基于各个COB光模块的第一检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

可选地，所述COB光模块测试系统还包括老化设备，所述检测单元，用于：

控制所述老化设备对所述老化板和所述老化板上的COB光模块老化，得到老化后的COB光模块；

在检测到老化板和老化板上经过老化的COB光模块放入所述老化板收容位时；

对老化后的COB光模块进行检测，得到老化后的COB光模块的第二测试参数；

若所述第二测试参数不满足第二预设参数范围，则确定所述COB光模块的第二检测结果为异常；若所述第二测试参数满足第二预设参数范围，则确定所述COB光模块的第二检测结果为正常；

基于各个COB光模块的第一检测结果和各个COB光模块的第二检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

可选地，所述检测单元，用于：

计算所述第一测试参数和第二测试参数之间的偏差，得到偏差参数；

判断所述偏差参数是否满足预设偏差范围；

若所述偏差参数满足预设偏差范围，则确定所述COB光模块的第三检测结果为正常；若所述偏差参数不满足预设偏差范围，则确定所述COB光模块的第三检测结果为异常；

基于所述第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

可选地，所述检测单元，用于：

若所述COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果中存在至少一个检测结果为异常，则确定所述COB光模块的目标检测结果为异常；若所述COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果均为正常，则确定所述COB光模块的目标检测结果为正常。

第四方面，本申请提供一种计算机设备，所述计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储器；以及

一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现第一方面中任一项所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法。

第五方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有多条指令，所述指令适于处理器进行加载，以执行第一方面中任一项所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法中的步骤。

本申请提供一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置，应用于COB光模块测试系统，COB光模块测试系统包括计算机设备和与计算机设备连接的光模块检测设备，光模块检测设备包括机柜，机柜设有老化板、老化板上方的至少两个光检测装置，光检测装置包括设置于机柜上的驱动装置和光探测器，驱动装置用于驱动光探测器移动，老化板上阵列设置有多个插座，COB光模块通过插入插座与老化板可拆卸连接，计算机设备用于执行Lens耦合前COB光模块的测试方法，Lens耦合前COB光模块的测试方法包括：获取测试指令；判断老化板上是否插置有COB光模块；若老化板上插置有COB光模块，则控制光探测器对老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，目标检测结果为异常或正常，检测结果正常的，则流入后续工序。本申请对COB光模块进行Lens耦合工艺之前先对COB光模块进行检测，识别出异常的COB光模块，不会像现有技术那样在Lens耦合后COB光模块异常时拆除粘贴的Lens透镜造成COB光模块损坏，能够降低COB光模块的制造成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例所提供的COB光模块测试系统的场景示意图；

图2为本申请实施例所提供的光模块检测设备的内部示意图；

图3为图2的A区域结构示意图；

图4为本申请实施例所提供的光模块检测设备的第一侧面结构示意图；

图5为本申请实施例所提供的光模块检测设备的第二侧面结构示意图；

图6为本申请实施例所提供的老化板的结构示意图；

图7为本申请实施例所提供的光模块检测设备的整体结构示意图；

图8是本申请实施例中提供的Lens耦合前COB光模块的测试方法的一个实施例流程示意图；

图9是本申请实施例中提供的Lens耦合前COB光模块的测试方法的一个实施例中控制光探测器对目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果的流程示意图；

图10是本申请实施例中提供的COB光模块测试装置的一个实施例结构示意图；

图11是本申请实施例中提供的计算机设备的一个实施例结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本申请，给出了以下描述。在以下描述中，为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本申请。在其它实例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本申请的描述变得晦涩。因此，本申请并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。

本申请实施例提供一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置，以下分别进行详细说明。

请参阅图1-7，图1为本申请实施例所提供的COB光模块测试系统的场景示意图，该COB光模块测试系统可以包括计算机设备400，计算机设备400中集成有COB光模块测试装置。

本申请提供的COB光模块测试系统1000包括计算机设备400和与计算机设备400连接的光模块检测设备100以及老化设备300，光模块检测设备100包括机柜170和老化板130。本申请实施例中，机柜170设有老化板130、老化板130上方的至少两个光检测装置190。至少两个光检测装置190在Y方向上水平依次排列。光检测装置190包括设置于机柜170上的驱动装置和光探测器140，驱动装置用于驱动光探测器140移动。具体的，机柜170的底部设有4个地脚173。机柜170的一侧设有操作按钮172。机柜170内设有电气控制板174，电气控制板174上设有驱动板卡。

COB光模块测试系统1000除了包含上述设备之外，还可以集成Lens耦合设备200。当然，COB光模块测试系统1000还可以根据具体需求集成其他设备。

在一个具体的实施例中，机柜170设有老化板收容位120、老化板130上方的至少两个光检测装置190以及老化板收容位120一侧的转接板160，转接板160上设有接口，接口用于可拆卸插置老化板130。机柜170的上表面设有相对设置的左导向条181和右导向条182，左导向条181和右导向条182以及机柜170的上表面围合形成老化板收容位120。左导向条181和右导向条182对称设置，右导向条182包括竖向设置的竖挡板185和水平设置的横挡板183，竖挡板185和横挡板183的一侧边沿连接，竖挡板185的另一侧边沿向左导向条181伸出。横挡板183向远离转接板160的一侧伸出设有引导板184，引导板184倾斜设置，引导板184远离转接板160的一侧高于引导板184靠近转接板160的一侧，便于老化板130插入老化板收容位120。

其中，老化板130上阵列设置有多个插座131，COB光模块139通过插入插座131与老化板130可拆卸连接。本申请仅仅以两个光检测装置190为例进行说明，可以根据具体情况设置3个、4个或者更多个光检测装置190。

本申请实施例中，驱动装置包括X轴驱动机构151，Y轴驱动机构152以及Z轴驱动机构153。X轴驱动机构151，Y轴驱动机构152以及Z轴驱动机构153分别驱动光探测器140在X轴，Y轴以及Z方向上移动。两个光检测装置190相互朝向的一侧设有防撞块191。机柜170上设有离子风机198和设备外罩199。设备外罩199上设有三色报警灯197。

本申请实施例中，该计算机设备400可以是独立的服务器，也可以是服务器组成的服务器网络或服务器集群，例如，本申请实施例中所描述的计算机设备400，其包括但不限于计算机、网络主机、单个网络服务器、多个网络服务器集或多个服务器构成的云服务器。其中，云服务器由基于云计算(Cloud Computing)的大量计算机或网络服务器构成。

本申请实施例中，上述的计算机设备400可以是一个通用计算机设备或者是一个专用计算机设备。在具体实现中计算机设备400可以是台式机、便携式电脑、网络服务器、掌上电脑（Personal Digital Assistant，PDA）、移动手机、平板电脑、无线终端设备、通信设备、嵌入式设备等，本实施例不限定计算机设备400的类型。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的应用环境，仅仅是本申请方案的一种应用场景，并不构成对本申请方案应用场景的限定，其他的应用环境还可以包括比图1中所示更多或更少的计算机设备，例如图1中仅示出1个计算机设备，可以理解的，该COB光模块测试系统还可以包括一个或多个可处理数据的其他计算机设备，具体此处不作限定。

需要说明的是，图1所示的COB光模块测试系统的场景示意图仅仅是一个示例，本申请实施例描述的COB光模块测试系统以及场景是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案，并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定，本领域普通技术人员可知，随着COB光模块测试系统的演变和新业务场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。

首先，本申请实施例中提供一种Lens耦合前COB光模块的测试方法，该Lens耦合前COB光模块的测试方法包括：获取测试指令；判断老化板上是否插置有COB光模块；若老化板上插置有COB光模块，则控制光探测器对老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，目标检测结果为异常或正常。

如图8所示，图8是本申请实施例中提供的Lens耦合前COB光模块的测试方法的一个实施例流程示意图，该Lens耦合前COB光模块的测试方法包括如下步骤S201~S203：

S201、获取测试指令。

本申请实施例中，测试指令由工作人员输入，在获取测试指令之前，COB光模块测试系统进行系统初始化，检查计算机设备和与其网络连接的设备的通讯线连接。计算机设备系统初始化时，控制驱动装置驱动光探测器移动至原点，开启离子风机进行散热。驱动装置包括X轴驱动机构，Y轴驱动机构以及Z轴驱动机构。X轴驱动机构，Y轴驱动机构以及Z轴驱动机构分别驱动光探测器在X轴，Y轴以及Z方向上移动。XYZ三轴相互处置，O为原点，XOY面为水平面。

本申请实施例中，测试指令包括COB光模块的测试类型。本系统兼容SFP、QSFP、QSFP-DD三种COB光模块的测试。

S202、判断老化板上是否插置有COB光模块。

在一个具体的实施例中，插座内设有压力传感器，当COB光模块插入插座内，插座通过老化板向计算机设备发送插座插入信号，若计算机设备获取到老化板发送的插座插入信号时，确定老化板的插座上插置有COB光模块，若计算机设备未获取到老化板发送的插座插入信号时，确定老化板的插座上未插置有COB光模块。老化板上设有多个矩阵排布的插座，根据各个插座返回的插座插入信号确定各个插座是否插入有COB光模块，当老化板上至少有一个插座插入有COB光模块时确定老化板上插置有COB光模块。记录老化板上各个插座上是否插置有COB光模块，在后续测试时，可直接跳过没有插置COB光模块的插座，提高效率。

在一个具体的实施例中，机柜设有老化板收容位、老化板上方的至少两个光检测装置以及老化板收容位一侧的转接板，转接板上设有接口，接口用于可拆卸插置老化板。检测老化板收容位上是否收容有老化板；若老化板收容位上收容有老化板，则判断老化板上是否插置有COB光模块。若老化板收容位上收容有老化板，说明已经完成上料，若老化板收容位上未收容有老化板，说明还没上料，发出提示信息提示工作人员上料，将承载有COB光模块的老化板插入转接板完成上料。具体的，转接板在接口插入老化板时，向计算机设备发送老化板插入信号，计算机设备检测到老化板插入信号时确定老化板已插入转接板。

S203、若老化板上插置有COB光模块，则控制光探测器对老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，目标检测结果为异常或正常。

本申请实施例中，开启离子风机对多个COB光模块进行散热；对老化板上的多个COB光模块进行通电预热；在通电预热至预设时间时，停止通电预热并控制COB光模块对老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果。其中，预设时间可以为2分钟，在开启离子风机的情况下通电2分钟后COB光模块的温度会达到平衡，便于准确进行测试。

本申请实施例中，若老化板上插置有COB光模块，则控制光探测器对老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，可以包括：若老化板上插置有COB光模块，将老化板上插置有COB光模块的插座分别确定目标插座。即仅针对插置有COB光模块的插座进行检测，跳过未插置有COB光模块的插座，可以提高效率。控制光探测器对目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果。获取各个目标插座上COB光模块的目标检测结果，得到多个COB光模块的目标检测结果。具体的，根据各个目标插座的位置规划光探测器的移动路径，其中，移动路径为光探测器从原点出发经过各个目标插座并回到原点的最短路径。根据移动路径控制光探测器依次检测各个目标插座。

参阅图9，在一个具体的实施例中，控制光探测器对目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果，可以包括S301-S306：

S301、获取目标插座上COB光模块的目标检测位置，其中，目标插座上不同类型的COB光模块具有不同的目标检测位置。

目标检测位置为COB光模块检测目标插座时所处的最佳位置，目标检测位置可以预先存储。本系统的老化板的插座适配多种COB光模块，例如，本系统兼容SFP、QSFP、QSFP-DD三种COB光模块的测试，在测试不同种类的COB光模块时，需要切换对应的老化板和测试程序。

在一个具体的实施例中，光探测器的光探测面为矩形，获取目标插座上COB光模块的目标检测位置，之前可以包括：

（1）通过驱动装置驱动光探测器移动至目标插座上方的预设检测位置。

其中，老化板上各个插座与光探测器的原点的相对位置预先存储。测试起始位置校准，驱动装置驱动两个光探测器分别移动到各自的预设检测位置（大概位置，未校准的位置），预设检测位置为插座的上方，此时探测器虽然可以探测，但是不是最佳位置，需要调整。

（2）通过光探测器获取COB光模块发光照射在光探测器上的产生的激光光斑和光探测器的探测面矩形轮廓。

具体的，计算机设备给光探测器下方的COB光模块供电，COB光模块发光照射在光探测器上的产生激光光斑和光探测器的探测面矩形轮廓。计算机设备获取激光光斑和光探测器的探测面矩形轮廓。

（3）通过驱动装置驱动光探测器移动，以使激光光斑为圆形光斑且激光光斑的中心与光探测器的探测面矩形轮廓的中心重合。

通过驱动装置驱动两个光探测器在各自的XYZ轴方向设定的范围内进行逐行扫描，使激光光斑为圆形光斑且激光光斑的中心与光探测器的探测面矩形轮廓的中心重合。进一步的，通过驱动装置驱动光探测器移动，以使激光光斑为圆形光斑且激光光斑的中心与光探测器的探测面矩形轮廓的中心重合，且圆形光斑与探测面矩形轮廓的两对边相切。

驱动装置包括X轴驱动机构，Y轴驱动机构以及Z轴驱动机构。X轴驱动机构，Y轴驱动机构以及Z轴驱动机构分别驱动光探测器在X轴，Y轴以及Z方向上移动。XYZ三轴相互垂直，O为光探测器的原点，XOY面为水平面。

（4）在激光光斑为圆形光斑且激光光斑的中心与光探测器探测面矩形轮廓的中心重合时，获取光探测器的位置，并将光探测器的位置确定为目标插座上COB光模块的目标检测位置。

在激光光斑为圆形光斑且激光光斑的中心与光探测器探测面矩形轮廓的中心重合，且圆形光斑与探测面矩形轮廓的两对边相切时。表明COB光模块的光全部照在光探测器上，且照在中间，此时光探测器即为最佳测量位置，并记录此坐标，确定为目标插座上COB光模块的目标检测位置。目标插座上COB光模块的目标检测位置设置成功后校准完成，由于老化板上的COB光模块为阵列分布，其余坐标可推选出，同一型号的需校准一次即可。

S302、通过驱动装置驱动光探测器移动COB光模块的上方的目标检测位置。

S303、控制电源控制模块向COB光模块输入预设驱动电流Iop，其中，COB光模块在输入驱动电流Iop时发光并照射在光探测器的探测面上，光探测器通过光电效应生成光电流，生成的光电流经过驱动板卡转换成光功率。

给COB光模块施加一定的驱动电流Iop时，COB光模块会发出光，用大面积光探测器接收COB光模块发出的光，通过光电效应生成光电流，生成的光电流经过驱动板卡上的跨阻放大电路和滤波电路转换成光功率Po，光功率Po数据通过串口传给计算机设备。另外驱动板也可以实时读取COB光模块的驱动电流Iop，驱动电流Iop数据通过串口传给计算机设备。

S304、基于驱动电流和驱动板卡采集的光功率确定COB光模块的第一测试参数。

计算机设备基于驱动电流Iop和驱动板卡采集的光功率Po确定COB光模块的光功率Po-驱动电流Iop曲线，根据COB光模块的光功率Po-驱动电流Iop曲线确定第一测试参数。第一测试参数可以包括阈值电流Ith、斜效率Se等。

具体的，COB光模块的驱动电流Iop可以通过计算机设备发送特定指令进行设置。计算机设备通过发送不同的驱动电流设置指令读取此驱动电流Iop对应的光功率Po，从而获得COB光模块的光功率Po-驱动电流Iop曲线，通过计算机设备软件的算法可以计算出一些重要参数如：阈值电流Ith、斜效率Se等。

S305、若第一测试参数不满足第一预设参数范围，则确定COB光模块的第一检测结果为异常；若第一测试参数满足第一预设参数范围，则确定COB光模块的第一检测结果为正常。

在一个具体的实施例中，第一预设参数范围根据COB光模块的类型确定，为预先设定的阈值。若第一测试参数不满足第一预设参数范围，则确定COB光模块的第一检测结果为异常；若第一测试参数满足第一预设参数范围，则确定COB光模块的第一检测结果为正常。第一检测结果为正常，表示COB光模块老化前性能正常，第一检测结果为异常，表示COB光模块老化前性能异常。

S306、基于各个COB光模块的第一检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

在一个具体的实施例中，基于各个COB光模块的第一检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果，可以包括：

（1）、控制老化设备对老化板和老化板上的COB光模块老化，得到老化后的COB光模块。

具体的，老化设备包括机械臂，控制机械臂将老化板和老化板上的COB光模块放入老化箱进行老化。在高分子材料的使用过程中, 由于受到热、氧、水、光、微生物、化学介质等环境因素的综合作用,高分子材料的化学组成和结构会发生一系列变化，物理性能也会相应变坏,如发硬、发粘、变脆、变色、失去强度等，这些变化和现象称为老化，高分子材料老化的本质是其物理结构或化学结构的改变。

（2）、在检测到老化板和老化板上经过老化的COB光模块放入老化板收容位时，对老化后的COB光模块进行检测，得到老化后的COB光模块的第二测试参数。

在老化板和老化的COB光模块放入老化板收容位时，对老化后的COB光模块进行检测，得到老化后的COB光模块的第二测试参数。具体的，对老化后的COB光模块进行检测，得到老化后的COB光模块的第二测试参数的步骤可以参阅步骤S301-S305,在此不再赘述。

第二测试参数可以包括阈值电流Ith、斜效率Se等。

（3）、若第二测试参数不满足第二预设参数范围，则确定COB光模块的第二检测结果为异常；若第二测试参数满足第二预设参数范围，则确定COB光模块的第二检测结果为正常。

其中，第二预设参数范围根据COB光模块的类型确定，表示COB光模块老化后能够正常使用的参数范围。第二检测结果为正常，表示COB光模块老化后性能正常，第二检测结果为异常，表示COB光模块老化后性能异常。

若第二测试参数不满足第二预设参数范围，说明COB光模块老化后发生异常，则确定COB光模块的第二检测结果为异常；若第二测试参数满足第二预设参数范围，则确定COB光模块的第二检测结果为正常。

（4）、基于各个COB光模块的第一检测结果和各个COB光模块的第二检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

在一个具体的实施例中，基于各个COB光模块的第一检测结果和各个COB光模块的第二检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果，可以包括：

（1）计算第一测试参数和第二测试参数之间的偏差，得到偏差参数。

（2）判断偏差参数是否满足预设偏差范围。

预设偏差范围根据COB光模块的类型确定。

（3）若偏差参数满足预设偏差范围，则确定COB光模块的第三检测结果为正常；若偏差参数不满足预设偏差范围，则确定COB光模块的第三检测结果为异常。

第三检测结果为正常，表示COB光模块老化前后性能变化正常，第三检测结果为异常，表示COB光模块老化前后性能变化异常。

（4）基于COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果确定COB光模块的目标检测结果。

具体的，若COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果中存在至少一个检测结果为异常，则确定COB光模块的目标检测结果为异常；若COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果均为正常，则确定COB光模块的目标检测结果为正常。

进一步的，在COB光模块测试系统1000集成有Lens耦合设备200时，控制Lens耦合设备对目标检测结果为正常的COB光模块进行Lens耦合。

需要说明的是，在获取测试指令前，还包括贴片、打线、等离子清洗等，在此不再赘述。

为了更好实施本申请实施例中Lens耦合前COB光模块的测试方法，在Lens耦合前COB光模块的测试方法基础之上，本申请实施例中还提供一种COB光模块测试装置，如图10所示，COB光模块测试装置500包括：

COB光模块测试装置应用于COB光模块测试系统，COB光模块测试系统包括计算机设备和与计算机设备连接的Lens耦合设备和光模块检测设备，光模块检测设备包括机柜，机柜设有老化板、老化板上方的至少两个光检测装置，光检测装置包括设置于机柜上的驱动装置和光探测器，驱动装置用于驱动光探测器移动，老化板上阵列设置有多个插座，COB光模块通过插入插座与老化板可拆卸连接，COB光模块测试装置集成于计算机设备上，COB光模块测试装置包括：

获取单元501，用于获取测试指令；

判断单元502，用于判断老化板上是否插置有COB光模块；

检测单元503，用于若老化板上插置有COB光模块，则控制光探测器对老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，目标检测结果为异常或正常；

可选地，检测单元503，用于：

若老化板上插置有COB光模块，将老化板上插置有COB光模块的插座分别确定目标插座；

控制光探测器对目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果；

获取各个目标插座上COB光模块的目标检测结果，得到多个COB光模块的目标检测结果。

可选地，机柜的内部设有驱动板卡和电源控制模块，检测单元503，用于：

获取目标插座上COB光模块的目标检测位置，其中，目标插座上不同类型的COB光模块具有不同的目标检测位置；

通过驱动装置驱动光探测器移动至COB光模块的上方的目标检测位置；

控制电源控制模块向COB光模块输入预设驱动电流Iop，其中，COB光模块在输入驱动电流Iop时发光并照射在光探测器的探测面上，光探测器通过光电效应生成光电流，生成的光电流经过驱动板卡转换成光功率；

基于驱动电流和驱动板卡采集的光功率确定COB光模块的第一测试参数；

若第一测试参数不满足第一预设参数范围，则确定COB光模块的第一检测结果为异常；若第一测试参数满足第一预设参数范围，则确定COB光模块的第一检测结果为正常；

基于各个COB光模块的第一检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

可选地，COB光模块测试系统还包括老化设备，检测单元503，用于：

控制老化设备对老化板和老化板上的COB光模块老化，得到老化后的COB光模块；

在检测到老化板和老化板上经过老化的COB光模块放入老化板收容位时；

对老化后的COB光模块进行检测，得到老化后的COB光模块的第二测试参数；

若第二测试参数不满足第二预设参数范围，则确定COB光模块的第二检测结果为异常；若第二测试参数满足第二预设参数范围，则确定COB光模块的第二检测结果为正常；

基于各个COB光模块的第一检测结果和各个COB光模块的第二检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

可选地，检测单元503，用于：

计算第一测试参数和第二测试参数之间的偏差，得到偏差参数；

判断偏差参数是否满足预设偏差范围；

若偏差参数满足预设偏差范围，则确定COB光模块的第三检测结果为正常；若偏差参数不满足预设偏差范围，则确定COB光模块的第三检测结果为异常；

基于第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

可选地，检测单元503，用于：

若COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果中存在至少一个检测结果为异常，则确定COB光模块的目标检测结果为异常；若COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果均为正常，则确定COB光模块的目标检测结果为正常。

本申请实施例还提供一种计算机设备，其集成了本申请实施例所提供的任一种COB光模块测试装置，计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储器；以及

一个或多个应用程序，其中一个或多个应用程序被存储于存储器中，并配置为由处理器执行上述Lens耦合前COB光模块的测试方法实施例中任一实施例中的Lens耦合前COB光模块的测试方法的步骤。

如图11所示，其示出了本申请实施例所涉及的计算机设备的结构示意图，具体来讲：

该计算机设备可以包括一个或者一个以上处理核心的处理器601、一个或一个以上计算机可读存储介质的存储器602、电源603和输入单元604等部件。本领域技术人员可以理解，图中示出的计算机设备结构并不构成对计算机设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。其中：

处理器601是该计算机设备的控制中心，利用各种接口和线路连接整个计算机设备的各个部分，通过运行或执行存储在存储器602内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器602内的数据，执行计算机设备的各种功能和处理数据，从而对计算机设备进行整体监控。可选的，处理器601可包括一个或多个处理核心；处理器601可以是中央处理单元（Central Processing Unit，CPU），还可以是其他通用处理器、数字信号处理器（DigitalSignal Processor，DSP）、专用集成电路（Application Specific Integrated Circuit，ASIC）、现成可编程门阵列（Field-Programmable Gate Array，FPGA）或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等，优选的，处理器601可集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等，调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器601中。

存储器602可用于存储软件程序以及模块，处理器601通过运行存储在存储器602的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理。存储器602可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序（比如声音播放功能、图像播放功能等）等；存储数据区可存储根据计算机设备的使用所创建的数据等。此外，存储器602可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。相应地，存储器602还可以包括存储器控制器，以提供处理器601对存储器602的访问。

计算机设备还包括给各个部件供电的电源603，优选的，电源603可以通过电源管理系统与处理器601逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。电源603还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电系统、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。

该计算机设备还可包括输入单元604，该输入单元604可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。

尽管未示出，计算机设备还可以包括显示单元等，在此不再赘述。具体在本实施例中，计算机设备中的处理器601会按照如下的指令，将一个或一个以上的应用程序的进程对应的可执行文件加载到存储器602中，并由处理器601来运行存储在存储器602中的应用程序，从而实现各种功能，如下：

获取测试指令；判断老化板上是否插置有COB光模块；若老化板上插置有COB光模块，则控制光探测器对老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，目标检测结果为异常或正常。

本领域普通技术人员可以理解，上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤可以通过指令来完成，或通过指令控制相关的硬件来完成，该指令可以存储于一计算机可读存储介质中，并由处理器进行加载和执行。

为此，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，该存储介质可以包括：只读存储器（ROM，Read Only Memory）、随机存取记忆体（RAM，Random Access Memory）、磁盘或光盘等。其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器进行加载，以执行本申请实施例所提供的任一种Lens耦合前COB光模块的测试方法中的步骤。例如，计算机程序被处理器进行加载可以执行如下步骤：

获取测试指令；判断老化板上是否插置有COB光模块；若老化板上插置有COB光模块，则控制光探测器对老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，目标检测结果为异常或正常。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见上文针对其他实施例的详细描述，此处不再赘述。

具体实施时，以上各个单元或结构可以作为独立的实体来实现，也可以进行任意组合，作为同一或若干个实体来实现，以上各个单元或结构的具体实施可参见前面的方法实施例，在此不再赘述。

以上各个操作的具体实施可参见前面的实施例，在此不再赘述。

以上对本申请实施例所提供的一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种Lens耦合前COB光模块的测试方法，其特征在于，应用于COB光模块测试系统，所述COB光模块测试系统包括计算机设备和与所述计算机设备连接的光模块检测设备，所述光模块检测设备包括机柜，所述机柜设有老化板、所述老化板上方的至少两个光检测装置，所述光检测装置包括设置于所述机柜上的驱动装置和光探测器，所述驱动装置用于驱动所述光探测器移动，所述老化板上阵列设置有多个插座，所述COB光模块通过插入所述插座与所述老化板可拆卸连接，所述计算机设备用于执行所述Lens耦合前COB光模块的测试方法，所述Lens耦合前COB光模块的测试方法包括：

获取测试指令；

判断所述老化板上是否插置有COB光模块；

若所述老化板上插置有COB光模块，则控制所述光探测器对所述老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，所述目标检测结果为异常或正常。

2.根据权利要求1所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法，其特征在于，所述若所述老化板上插置有COB光模块，则控制所述光探测器对所述老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，包括：

若所述老化板上插置有COB光模块，将老化板上插置有COB光模块的插座分别确定目标插座；

控制所述光探测器对所述目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果；

获取各个目标插座上COB光模块的目标检测结果，得到多个COB光模块的目标检测结果。

3.根据权利要求2所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法，其特征在于，所述机柜的内部设有驱动板卡和电源控制模块，所述控制所述光探测器对所述目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果，包括：

获取目标插座上COB光模块的目标检测位置，其中，目标插座上不同类型的COB光模块具有不同的目标检测位置；

通过所述驱动装置驱动所述光探测器移动至所述COB光模块的上方的目标检测位置；

控制所述电源控制模块向所述COB光模块输入预设驱动电流Iop，其中，所述COB光模块在输入驱动电流Iop时发光并照射在所述光探测器的探测面上，所述光探测器通过光电效应生成光电流，生成的光电流经过所述驱动板卡转换成光功率；

基于所述驱动电流和所述驱动板卡采集的光功率确定所述COB光模块的第一测试参数；

若所述第一测试参数不满足第一预设参数范围，则确定所述COB光模块的第一检测结果为异常；若所述第一测试参数满足第一预设参数范围，则确定所述COB光模块的第一检测结果为正常；

基于各个COB光模块的第一检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

4.根据权利要求3所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法，其特征在于，所述COB光模块测试系统还包括老化设备，所述基于各个COB光模块的第一检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果，包括：

控制所述老化设备对所述老化板和所述老化板上的COB光模块老化，得到老化后的COB光模块；

在检测到老化板和老化板上经过老化的COB光模块放入所述老化板收容位时；

对老化后的COB光模块进行检测，得到老化后的COB光模块的第二测试参数；

若所述第二测试参数不满足第二预设参数范围，则确定所述COB光模块的第二检测结果为异常；若所述第二测试参数满足第二预设参数范围，则确定所述COB光模块的第二检测结果为正常；

基于各个COB光模块的第一检测结果和各个COB光模块的第二检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

5.根据权利要求4所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法，其特征在于，所述基于各个COB光模块的第一检测结果和各个COB光模块的第二检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果，包括：

计算所述第一测试参数和第二测试参数之间的偏差，得到偏差参数；

判断所述偏差参数是否满足预设偏差范围；

若所述偏差参数满足预设偏差范围，则确定所述COB光模块的第三检测结果为正常；若所述偏差参数不满足预设偏差范围，则确定所述COB光模块的第三检测结果为异常；

基于所述第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。

6.根据权利要求5所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法，其特征在于，所述基于所述第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果，包括：

若所述COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果中存在至少一个检测结果为异常，则确定所述COB光模块的目标检测结果为异常；若所述COB光模块的第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果均为正常，则确定所述COB光模块的目标检测结果为正常。

7.一种COB光模块测试系统，其特征在于，所述COB光模块测试系统包括计算机设备和与所述计算机设备连接的光模块检测设备，所述光模块检测设备包括机柜，所述机柜设有老化板、所述老化板上方的至少两个光检测装置，所述光检测装置包括设置于所述机柜上的驱动装置和光探测器，所述驱动装置用于驱动所述光探测器移动，所述老化板上阵列设置有多个插座，所述COB光模块通过插入所述插座与所述老化板可拆卸连接，所述计算机设备用于执行权利要求1至6中任一项所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法。

8.一种COB光模块测试装置，其特征在于，所述COB光模块测试装置应用于COB光模块测试系统，所述COB光模块测试系统包括计算机设备和与所述计算机设备连接的光模块检测设备，所述光模块检测设备包括机柜，所述机柜设有老化板、所述老化板上方的至少两个光检测装置，所述光检测装置包括设置于所述机柜上的驱动装置和光探测器，所述驱动装置用于驱动所述光探测器移动，所述老化板上阵列设置有多个插座，所述COB光模块通过插入所述插座与所述老化板可拆卸连接，所述COB光模块测试装置集成于所述计算机设备上，所述COB光模块测试装置包括：

获取单元，用于获取测试指令；

判断单元，用于判断所述老化板上是否插置有COB光模块；

检测单元，用于若所述老化板上插置有COB光模块，则控制所述光探测器对所述老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，所述目标检测结果为异常或正常。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储器；以及

一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现权利要求1至6中任一项所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行权利要求1至6中任一项所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法的步骤。

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