CN114235693A - 一种瓷管检测辅助装置 - Google Patents

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Abstract

本申请属于烧结瓷管检测技术领域,特别涉及一种瓷管检测辅助装置。该装置包括底座、定位支撑装置及旋转支撑头,底座固定在检测台面上,定位支撑装置包括方撑块及连接杆,方撑块一端固定在底座上,另一端具有单耳片,通过销轴连接在连接杆的底端双耳片上,方撑块的单耳片上具有多个半球形槽,连接杆的双耳片底端具有槽口,槽口内设置有弹簧,弹簧端部连接有一钢珠,钢珠位于双耳片底端,且能够进入单耳片的不同球形槽内,以使连接杆与方撑块的轴线呈现多个不同角度,旋转支撑头通过轴承安装在所述连接杆顶端,旋转支撑头上方固定有装夹头,装夹头上设置有多个夹持结构。本申请极大地提高了检测效率,缩短了检测时间,降低了一次提交产品的废品率。

Description

一种瓷管检测辅助装置
技术领域
本申请属于烧结瓷管检测技术领域,特别涉及一种瓷管检测辅助装置。
背景技术
瓷管产品烧结成型后,需用专用的电子显微镜对烧结瓷管内外部微观结构进行观察检测,判断是否满足使用要求。检验人员将瓷管产品水平放置检测台上进行外部检测,进行一次对焦检测,然后立起来进行内部检测,又进行一次对焦检测,1件产品需进行2次对焦检测,浪费人工、时间,效率低下,在瓷管需要大批量检测时不能满足检测要求,只能进行抽查检测。
发明内容
为了解决上述技术问题,本申请提供了一种瓷管检测辅助装置,实现一次定位对焦,批量、高效的检测瓷管烧结状况。
本申请提供的瓷管检测辅助装置,包括底座、定位支撑装置及旋转支撑头,底座固定在检测台面上,所述定位支撑装置包括方撑块及连接杆,方撑块一端固定在所述底座上,另一端具有单耳片,所述单耳片通过销轴连接在所述连接杆的底端双耳片上,方撑块的单耳片上具有多个半球形槽,连接杆的双耳片底端具有槽口,槽口内设置有弹簧,弹簧端部连接有一钢珠,钢珠位于所述双耳片底端,且能够进入所述单耳片的不同球形槽内,以使所述连接杆与方撑块的轴线呈现多个不同角度,所述旋转支撑头通过轴承安装在所述连接杆顶端,旋转支撑头上方固定有装夹头,装夹头上设置有多个夹持结构。
优选的是,所述底座为磁吸底座,所述磁吸底座通过多个永磁体吸附于检测台面上。
优选的是,所述永磁体包括多个,多个永磁体周向均匀分布在所述磁吸底座的圆盘上。
优选的是,所述底座中间具有凸起,方撑块底端具有盲孔,所述盲孔能够适配容纳所述凸起。
优选的是,所述凸起为沉头螺钉,所述沉头螺钉自底座背部向上穿过所述底座,并在底座的凹槽中伸出,进入所述方撑块中,所述方撑块的底端通过止口安装在所述底座的凹槽中。
优选的是,所述方撑块的单耳片上至少具有三个半球形槽,第一个半球形槽使所述连接杆竖直安装在所述方撑块上方,第二个半球形槽使所述连接杆安装在所述方撑块上方左侧45°,第三个半球形槽使所述连接杆安装在所述方撑块上方右侧45°。
优选的是,所述装夹头具有V型支架。
优选的是,所述夹持结构包括顶头及弹簧杆,弹簧杆具有位于装夹头两侧端板外侧的拉伸段,及穿过所述端板的通孔后进入装夹头内的延伸段,所述延伸段外部套接有弹簧,顶头位于所述延伸段端部,所述拉伸段的直径及弹簧的外径均大于所述端板的通孔内径。
本申请极大地提高了检测效率,缩短了检测时间,降低了一次提交产品的废品率。
附图说明
图1是本申请瓷管检测辅助装置的一优选实施例的结构示意图。
图2是本申请图1所示实施例的连接杆偏转示意图。
图3是本申请图1所示实施例的装夹头结构俯视图。
其中,1-底座,11-凸起,2-方撑块,3-连接杆,4-弹簧,5-钢珠,6-旋转支撑头,7-轴承,8-装夹头,9-夹持结构,91-顶头,92-弹簧杆,93-压缩弹簧。
具体实施方式
为使本申请实施的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施方式中的附图,对本申请实施方式中的技术方案进行更加详细的描述。在附图中,自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。所描述的实施方式是本申请一部分实施方式,而不是全部的实施方式。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的,旨在用于解释本申请,而不能理解为对本申请的限制。基于本申请中的实施方式,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式,都属于本申请保护的范围。下面结合附图对本申请的实施方式进行详细说明。
本申请提供了一种瓷管检测辅助装置,如图1-图2所示,包括底座1、定位支撑装置及旋转支撑头6,底座1固定在检测台面上,所述定位支撑装置包括方撑块2及连接杆3,方撑块2一端固定在所述底座1上,另一端具有单耳片,所述单耳片通过销轴连接在所述连接杆3的底端双耳片上,方撑块2的单耳片上具有多个半球形槽,连接杆3的双耳片底端具有槽口,槽口内设置有弹簧4,弹簧4端部连接有一钢珠5,钢珠5位于所述双耳片底端,且能够进入所述单耳片的不同球形槽内,以使所述连接杆3与方撑块2的轴线呈现多个不同角度,所述旋转支撑头6通过轴承7安装在所述连接杆3顶端,旋转支撑头6上方固定有装夹头8,装夹头8上设置有多个夹持结构9。
在一些可选实施方式中,所述底座1为磁吸底座,所述磁吸底座通过多个永磁体吸附于检测台面上。
在一些可选实施方式中,所述永磁体包括多个,多个永磁体周向均匀分布在所述磁吸底座的圆盘上。例如底座配有4块Ф30的永磁体,吸附于检测台面上。
在一些可选实施方式中,所述底座1中间具有凸起11,方撑块2底端具有盲孔,所述盲孔能够适配容纳所述凸起11。
在一些可选实施方式中,所述凸起11为沉头螺钉,所述沉头螺钉自底座1背部向上穿过所述底座1,并在底座1的凹槽中伸出,进入所述方撑块中,所述方撑块2的底端通过止口安装在所述底座1的凹槽中。
在一些可选实施方式中,所述方撑块2的单耳片上至少具有三个半球形槽,第一个半球形槽使所述连接杆3竖直安装在所述方撑块2上方,第二个半球形槽使所述连接杆3安装在所述方撑块2上方左侧45°,第三个半球形槽使所述连接杆3安装在所述方撑块2上方右侧45°。
可以理解的是,由于方撑块2与连接杆3通过销轴连接,因此连接杆3能够相对于方撑块在前后方向180°(或者更高)范围内转动,转动的灵敏度可以通过方撑块2与连接杆3的耳片摩擦力或拧紧力来调节,但该调节方式不利于连接杆3的固定,为此,本申请通过在方撑块上开槽的形式来实现连接杆的固定,钢珠5在弹簧4的推力下能够伸入半球形槽内,从而使方撑块2与连接杆3相对固定,转动连接杆之前,手动将钢珠从半球形槽内拉出,转动连接杆,直至钢珠对准下一个半球形槽,在弹簧4的作用下,进行新的半球形槽,实现连接杆3相对于方撑块2的角度调节。
其它实施方式中,也可以设置更多个半球形槽,以实现更多方位的固定。如图2所示,为两个呈90°的连接杆3位置示意图。
本辅助瓷管检测装置的“磁吸底座”对整个装置起到支撑作用,同时利用底部的永磁体将整个装置吸附固定在检测台面上,取消传统的螺钉固定方式,使移动微调整个装置十分方便。“定位支撑”由方撑块和连接杆组成,两者之间利用销轴连接,同时方撑块顶部圆弧部分有3处定位凹坑,利用波珠弹簧在凹坑处定位,可实现连接杆在前后方向180°旋转,3处角度(-45°、90°、45°)固定位置,以方便观测瓷管。“旋转支撑头”由轴承室和球轴承组成,可以在水平面上进行360°的旋转,方便一件瓷管检测完毕后,其余待检瓷管旋转到电子显微镜下的待检区域。“V型支架”由V型装夹头和弹簧固定装置组成,V型装夹头上一次可放置2件水平放置瓷管及2件竖直放置的瓷管,弹簧固定装置可弹性的固定竖直放置的不同直径尺寸瓷管。
在一些可选实施方式中,所述装夹头8具有V型支架。
在一些可选实施方式中,如图3所示,所述夹持结构9包括顶头91及弹簧杆92,弹簧杆92具有位于装夹头8两侧端板外侧的拉伸段,及穿过所述端板的通孔后进入装夹头8内的延伸段,所述延伸段外部套接有压缩弹簧93,顶头91位于所述延伸段端部,所述拉伸段的直径及弹簧的外径均大于所述端板的通孔内径。
本申请的V型装夹头适合各直径尺寸的瓷管,可水平、垂直放置,通过两侧的弹簧压杆机构进行固定。
利用这种瓷管检测辅助装置,从检测一件瓷管产品耗时5分钟提高到5分钟检测30件瓷管产品,检测效率提高了30倍,大大降低了检测瓷管所需人工及时间,同时降低了一次提交瓷管产品的废品率。
以上所述,仅为本申请的具体实施方式,但本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种瓷管检测辅助装置,其特征在于,包括底座(1)、定位支撑装置及旋转支撑头(6),底座(1)固定在检测台面上,所述定位支撑装置包括方撑块(2)及连接杆(3),方撑块(2)一端固定在所述底座(1)上,另一端具有单耳片,所述单耳片通过销轴连接在所述连接杆(3)的底端双耳片上,方撑块(2)的单耳片上具有多个半球形槽,连接杆(3)的双耳片底端具有槽口,槽口内设置有弹簧(4),弹簧(4)端部连接有一钢珠(5),钢珠(5)位于所述双耳片底端,且能够进入所述单耳片的不同球形槽内,以使所述连接杆(3)与方撑块(2)的轴线呈现多个不同角度,所述旋转支撑头(6)通过轴承(7)安装在所述连接杆(3)顶端,旋转支撑头(6)上方固定有装夹头(8),装夹头(8)上设置有多个夹持结构(9)。
2.如权利要求1所述的瓷管检测辅助装置,其特征在于,所述底座(1)为磁吸底座,所述磁吸底座通过多个永磁体吸附于检测台面上。
3.如权利要求2所述的瓷管检测辅助装置,其特征在于,所述永磁体包括多个,多个永磁体周向均匀分布在所述磁吸底座的圆盘上。
4.如权利要求1所述的瓷管检测辅助装置,其特征在于,所述底座(1)中间具有凸起(11),方撑块(2)底端具有盲孔,所述盲孔能够适配容纳所述凸起(11)。
5.如权利要求4所述的瓷管检测辅助装置,其特征在于,所述凸起(11)为沉头螺钉,所述沉头螺钉自底座(1)背部向上穿过所述底座(1),并在底座(1)的凹槽中伸出,进入所述方撑块中,所述方撑块(2)的底端通过止口安装在所述底座(1)的凹槽中。
6.如权利要求1所述的瓷管检测辅助装置,其特征在于,所述方撑块(2)的单耳片上至少具有三个半球形槽,第一个半球形槽使所述连接杆(3)竖直安装在所述方撑块(2)上方,第二个半球形槽使所述连接杆(3)安装在所述方撑块(2)上方左侧45°,第三个半球形槽使所述连接杆(3)安装在所述方撑块(2)上方右侧45°。
7.如权利要求1所述的瓷管检测辅助装置,其特征在于,所述装夹头(8)具有V型支架。
8.如权利要求7所述的瓷管检测辅助装置,其特征在于,所述夹持结构(9)包括顶头(91)及弹簧杆(92),弹簧杆(92)具有位于装夹头(8)两侧端板外侧的拉伸段,及穿过所述端板的通孔后进入装夹头(8)内的延伸段,所述延伸段外部套接有压缩弹簧(93),顶头(91)位于所述延伸段端部,所述拉伸段的直径及弹簧的外径均大于所述端板的通孔内径。
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