CN114113099A

CN114113099A - 自动化调整电子设备的方法

Info

Publication number: CN114113099A
Application number: CN202010883553.1A
Authority: CN
Inventors: 陈庭玮; 胡皓强; 薛名凯; 林柏廷
Original assignee: Chroma ATE Suzhou Co Ltd
Current assignee: Chroma ATE Suzhou Co Ltd
Priority date: 2020-08-28
Filing date: 2020-08-28
Publication date: 2022-03-01

Abstract

本申请提供一种自动化调整电子设备的方法，适用于电子设备，所述自动化调整电子设备的方法包含下列步骤。首先，产生第一参数组合，第一参数组合至少关联于第一光学检测参数与第一自动化脚本。依据第一参数组合判断所述多个测试影像是否合格，并计算第一指标参数。判断第一指针参数是否达到设定目标值。当第一指针参数达到设定目标值时，设定对应第一指标参数的第一参数组合为最佳参数组合。当第一指针参数未达到设定目标值时，依据算法调整第一参数组合，以产生第二参数组合。其中第二参数组合相异于第一参数组合。

Description

自动化调整电子设备的方法

技术领域

本申请是关于一种调整电子设备的方法，特别是关于一种利用算法达成以自动化方式调整电子设备的方法。

背景技术

传统上，厂商销售给客户一台电子设备后，除了需要派工程师前往客户的公司安装电子设备，工程师还需要留在现场调整电子设备的参数，使电子设备的产出能够达到客户的规定。举例来说，假设电子设备是一种测试装置，那么测试装置在测量待测物是否符合标准时，有可能会遇到过判(正常的待测物被判断不合格)或漏判(异常的待测物被判断合格)的问题。一般来说，客户对过判率、漏判率或吻合率(正确判断待测物的比例)会有规定，资深的工程师可以在现场凭着实务经验调整测试装置，使前述的过判率、漏判率或吻合率够达到客户的规定。

然而，调整测试装置并不容易，即使是资深的工程师都有可能需要花费非常长的时间才能找出适合的参数。此外，调整测试装置的实务经验不易传承，导致新进的工程师难以立刻派上用场，还需要长时间培训与累积经验。对厂商来说，无疑也是增加了成本上的负担。据此，业界需要一种新的调整电子设备的方法，除了要能避免工程师花过多时间调整电子设备，也要缩短工程师的培训时间。

发明内容

有鉴于此，本申请的主要目的在于提供一种自动化调整电子设备的方法，可以让电子设备自动化地找出合适的参数，从而取代以人工调整电子设备的作业方式。

本申请提出一种自动化调整电子设备的方法，适用于电子设备，所述自动化调整电子设备的方法包含下列步骤。首先，产生第一参数组合，第一参数组合至少关联于第一光学检测参数与第一自动化脚本。依据第一参数组合判断所述多个测试影像是否合格，并计算第一指标参数。判断第一指针参数是否达到设定目标值。当第一指针参数达到设定目标值时，设定对应第一指标参数的第一参数组合为最佳参数组合。当第一指针参数未达到设定目标值时，依据算法调整第一参数组合，以产生第二参数组合。其中第二参数组合相异于第一参数组合。

于一些实施例中，自动化调整电子设备的方法更可以包含下列步骤。首先，依据第二参数组合计算第二指针参数。接着，判断第二指标参数是否达到设定目标值。另外，自动化调整电子设备的方法还可以判断是否存在第三参数组合，第三参数组合相异于第一参数组合与第二参数组合。当第三参数组合不存在，则判断第一指标参数或第二指标参数何者较接近设定目标值。以及，将较接近设定目标值的第一指针参数或第二指标参数对应的第一参数组合或第二参数组合设定为最佳参数组合。

于一些实施例中，第二参数组合可以至少关联于第二光学检测参数与第二自动化脚本。并且，第一光学检测参数与第二光学检测参数可以选自光学检测参数数据库。另外，自动化调整电子设备的方法更可以包含下列步骤。首先，判断执行算法的次数是否达到上限次数。当执行算法的次数达到上限次数，则判断第一指标参数或第二指标参数何者较接近设定目标值。以及，将较接近设定目标值的第一指针参数或第二指标参数对应的第一参数组合或第二参数组合设定为最佳参数组合。

于一些实施例中，自动化调整电子设备的方法更可以包含下列步骤。首先，判断是否存在第三参数组合，第三参数组合相异于第一参数组合与第二参数组合。当第三参数组合不存在，则可以设定第二参数组合为最佳参数组合。此外，于依据第一参数组合判断所述多个测试影像是否合格，并计算第一指标参数的步骤中，更可以包含下列步骤。依据第一参数组合判断所述多个测试影像是否合格，以产生至少一个过判率参数、漏判率参数或吻合率参数。以及，将过判率参数、漏判率参数或吻合率参数乘上第一权重，以产生第一指标参数。另外，所述算法可以为牛顿算法、基因算法或遍历算法。

综上所述，有别于传统的用人工调整电子设备的作业方式，本申请的自动化调整电子设备的方法能有效简化调整电子设备的流程，让电子设备可以自动化地找出最佳的参数。除了可以降低对工程师的资历需求，使新进工程师也能够快速上手之外，也节省了工程师后续调整电子设备的时间。

有关本申请的其它功效及实施例的详细内容，配合附图说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是绘示本申请一实施例的自动化调整电子设备的方法的步骤流程图。

符号说明

S10～S18 步骤流程

具体实施方式

以下为具体说明本申请的实施方式与达成功效，提供一实施例并搭配图式说明如下。

请参阅图1，图1是绘示本申请一实施例的自动化调整电子设备的方法的步骤流程图。本实施例所示范的自动化调整电子设备的方法是适用于电子设备，而所述电子设备可以是一种自动光学检查(automated optical inspection，AOI)的设备，即通过拍摄待测物的测试影像来判断待测物是否存在瑕疵或判断待测物的质量是否合格。本实施例不限制所述电子设备可以应用的产业或者拍摄的待测物。例如，所述电子设备可以应用在发光二极管或者雷射二极管产业，而待测物可以是发光组件。或者，所述电子设备也可以应用在太阳能产业，而待测物可以是太阳能面板。又或者，所述电子设备还可以应用在半导体产业，而待测物可以是晶圆表面或晶圆中的晶粒。实务上，当电子设备被安装后，需要通过一些标准来判断电子设备的状态，所述标准可以例如是过判率、漏判率以及吻合率。如果不符合标准，则表示电子设备还需要后续的调整。在此，经过本实施例的方法调整后的电子设备，应当能由待测物的测试影像准确地判断待测物的质量是否合格，并能符合判率、漏判率以及吻合率的标准。

如图1所示，于本实施例所示范的自动化调整电子设备的方法步骤S10中，首先会产生第一参数组合，第一参数组合至少关联于第一光学检测参数与第一自动化脚本。实务上，第一参数组合可以从一个光学检测参数数据库中筛选出来，而光学检测参数数据库中可以包含许多自动光学检查(AOI)领域经常使用的参数。例如，第一光学检测参数可以用来指示测试影像中的比例(scale)、边界(border)、倒角(chamfer)、结构不连续性(discontinuity)、亮点(light spot)等，本实施例在此不加以限制。此外，第一自动化脚本中可以定义了每次调整第一光学检测参数的程度或比例，也可以定义第一光学检测参数的可调整范围(例如上限与下限)。也就是说，第一参数组合指示了第一光学检测参数可调整范围的排列组合。值得一提的是，第一参数组合中不限制只能有一个光学检测参数与一个自动化脚本，例如第一参数组合中还可以有更多个光学检测参数与对应的自动化脚本。换句话说，一个参数组合中有可能关联多个光学检测参数，并指示了多个光学检测参数可调整范围的排列组合。

于自动化调整电子设备的方法步骤S12中，会依据第一参数组合判断多个测试影像是否合格，并计算对应第一参数组合的指针参数(第一指标参数)。实务上，多个测试影像可以是预先取得的样本影像，例如多个测试影像可以是用经过验证的设备拍摄多个待测物样本而得。接着，电子设备可以依据第一参数组合中选定的光学检测参数与自动化脚本判断这些测试影像，并分类出电子设备认为合格的测试影像与不合格的测试影像。当然，由于每个测试影像实际上是否合格是已知的，便可以取得出在使用第一参数组合的情况下，电子设备的过判率、漏判率以及吻合率。所述过判率是指，实际上合格的测试影像被电子设备错误判断成不合格，所占全部测试影像的比例。所述漏判率是指，实际上不合格的测试影像被电子设备错误判断成合格，所占全部测试影像的比例。所述吻合率是指，实际上合格的测试影像被电子设备正确判断成合格，所占全部测试影像的比例。

因为要方便计算与量化，本实施例会基于电子设备的过判率、漏判率以及吻合率，先产生过判率参数、漏判率参数以及吻合率参数。于一个例子中，本实施例可以设定过判率以及过判率参数是负相关的，也就是过判率越小，过判率参数会越大。同样地，本实施例也可以设定漏判率以及漏判率参数是负相关的，也就是漏判率越小，漏判率参数会越大。此外，本实施例可以设定吻合率以及吻合率参数是正相关的，也就是吻合率越大，漏判率参数会越大。不过本实施例不以此为限，于所属技术领域具有通常知识者有可能随着电子设备的调整进度，而改变过判率参数、漏判率参数以及吻合率参数的相关性。另外，上述这样设定过判率参数、漏判率参数以及吻合率参数的原因，本实施例会于之后说明。

在取得过判率参数、漏判率参数以及吻合率参数后，便可以计算出对应第一参数组合的指针参数(第一指标参数)。本实施例在此不限制指标参数的计算方式，仅表示指标参数可以由过判率参数、漏判率参数以及吻合率参数运算而得。此外，指标参数也有可能只关联于过判率参数、漏判率参数以及吻合率参数其中之一，即不一定全部关联。假设指标参数中包含过判率参数、漏判率参数以及吻合率参数，上述三个参数也可能有重要性上的区别，从而可以有不同的权重。例如，过判率参数和漏判率参数可能有不同的权重。于一个例子中，指标参数可以由下列算式(1)计算：

Fi＝R1×w1+R2×w2+R3×w3 (1)

其中Fi是指标参数(前述第一指标参数)，R1可以是前述的过判率参数，R2可以是前述的漏判率参数，R3可以是前述的吻合率参数。并且，由上述算式(1)可知，w1是过判率参数的权重，w2是漏判率参数的权重，w3是吻合率参数的权重。当然，本实施例不限制指标参数只关联于过判率参数、漏判率参数以及吻合率参数，指标参数还可能包含其他自定义的参数，以及对应自定义参数的权重。一般来说，过判率参数、漏判率参数以及吻合率参数都应当是要越大越好，即电子设备的过判率与漏判率越小越好，而吻合率越大越好，这也表示着电子设备的判断越正确。从而，在过判率参数R1、漏判率参数R2以及吻合率参数R3相加之后取得的指标参数Fi越大越好。然而，以上述算式(1)举例，过判率参数R1、漏判率参数R2以及吻合率参数R3各自的权重还可能和电子设备应用的产业有关。

以LED产业来说，通常会设定过判率参数R1、漏判率参数R2以及吻合率参数R3有差不多的权重，例如w1、w2以及w3可以分别被设定为0.3、0.3以及0.4。一个可能的理由是，在LED产业的产品线上，会希望电子设备的检出结果能符合标准定义框架。以太阳能产业来说，为了冲高良品的输出量，吻合率相对不重要，而是尽量确保不要发生过判与漏判。据此，在权衡发电效能与建置成本下，w1、w2以及w3可以分别被设定为0.6、0.4以及0，由此可以看出太阳能产业相对不重视吻合率参数R3。另一方面，以半导体产业来说，确保产品无瑕疵相对更重要，即宁可过判也不要漏判，故w1、w2以及w3可以分别被设定为0.1、0.7以及0.2，可以看出半导体产业相对重视漏判率参数R2。当然，本实施例不限定各产业一定要按照上述的权重分布进行设定，于所属技术领域具有通常知识者可以依据各产业的需要自行设定权重分布。

接着，于自动化调整电子设备的方法步骤S14中，会判断对应第一参数组合的指针参数Fi是否达到设定目标值。如前所述，依据上述算式(1)来说，指标参数Fi应当是越大越好，本实施例可以给定一个设定目标值，来判断指针参数Fi是否足够大。当指针参数Fi达到设定目标值时，于步骤S16中，会设定对应指标参数Fi的第一参数组合为最佳参数组合。实务上，指针参数Fi达到设定目标值，表示电子设备用第一参数组合来判断测试影像(样本影像)的正确率很高，从而第一参数组合可以当成是最佳参数组合。反之，当对应第一参数组合的指针参数Fi未达到设定目标值时，于步骤S18中，会再依据算法调整第一参数组合，以产生一个新的参数组合(第二参数组合)。于一个例子中，算法可以为牛顿算法、基因算法或遍历算法等，本实施例不加以限制。

与第一参数组合相类似的是，第二参数组合也会关联于至少一个光学检测参数(第二光学检测参数)以及至少一个自动化脚本(第二自动化脚本)。于一个例子中，第一光学检测参数与第二光学检测参数可以都预先被记录于光学检测参数数据库中。当然，第二参数组合应当要相异于第一参数组合，算法即是从光学检测参数数据库中挑选不同的一个或多个光学检测参数。接着，电子设备会再以第二参数组合再判断一次前述的多个测试影像(样本影像)，并再次分类出电子设备认为合格的测试影像与不合格的测试影像。同前所述，由于每个测试影像实际上是否合格是已知的，便可以取得出在使用第二参数组合的情况下，电子设备的过判率、漏判率以及吻合率，以及新的过判率参数R1、漏判率参数R2以及吻合率参数R3。并且，同样会将新的过判率参数R1、漏判率参数R2以及吻合率参数R3代入算式(1)，以取得新的指标参数Fi(对应第二参数组合的指针参数)。以及，会继续判断对应第二参数组合的指针参数Fi是否达到设定目标值。于所属技术领域具有通常知识者可知，上述的步骤S10到步骤S14会一直重复循环，直到有一组参数组合对应的指针参数达到设定目标值(进入步骤S16)。

当然，本实施例并不限制步骤S16中有一组参数组合达到设定目标值是唯一的停止条件。举例来说，当步骤S10到步骤S14重复循环太多次，或说执行算法的次数达到上限次数时，则电子设备会从已经计算过的指标参数中，找出和设定目标值最接近的指针参数。并且，电子设备将可以将最接近设定目标值的指针参数所对应的那一组参数组合，设定为最佳参数组合。当然，本实施例也不排除电子设备可以直接设定当前的参数组合为最佳参数组合，或者不设定最佳参数组合而是直接停止并跳出警示。此外，当执行算法的次数还没有达到上限次数时，则可以继续步骤S10到步骤S14的循环，继续调整参数组合，直到某一组参数组合对应的指针参数达到设定目标值。

还有一种可能是，假设算法已经找不出任何一种还没有尝试过的参数组合，例如第三参数组合没有办法相异于第一参数组合和第二参数组合，表示无继续重复循环步骤S10到步骤S14的必要性。如同前面的例子，此时电子设备可以从已经计算过的指标参数中，找出和设定目标值最接近的指针参数。并且，电子设备将可以将最接近设定目标值的指针参数所对应的那一组参数组合，设定为最佳参数组合。当然，本实施例也不排除电子设备可以直接设定最后一组的参数组合为最佳参数组合，或者不设定最佳参数组合而是直接停止并跳出警示。

以上所述的实施例及/或实施方式，仅是用以说明实现本申请技术的较佳实施例及/或实施方式，并非对本申请技术的实施方式作任何形式上的限制，任何本领域技术人员，在不脱离本申请内容所公开的技术手段的范围，当可作些许的更动或修改为其它等效的实施例，但仍应视为与本申请实质相同的技术或实施例。

Claims

1.一种自动化调整电子设备的方法，适用于一电子设备，其特征在于，所述自动化调整电子设备的方法包含：

产生一第一参数组合，该第一参数组合至少关联于一第一光学检测参数与一第一自动化脚本；

依据该第一参数组合判断多个测试影像是否合格，并计算一第一指标参数；

判断该第一指标参数是否达到一设定目标值；

当该第一指针参数达到该设定目标值时，设定对应该第一指标参数的该第一参数组合为一最佳参数组合；以及

当该第一指标参数未达到该设定目标值时，依据一算法调整该第一参数组合，以产生一第二参数组合；

其中该第二参数组合相异于该第一参数组合。

2.根据权利要求1所述的自动化调整电子设备的方法，其特征在于，更包含：

依据该第二参数组合计算一第二指针参数；以及

判断该第二指标参数是否达到该设定目标值。

3.根据权利要求2所述的自动化调整电子设备的方法，其特征在于，更包含：

判断是否存在一第三参数组合，该第三参数组合相异于该第一参数组合与该第二参数组合；

当该第三参数组合不存在，判断该第一指标参数或该第二指标参数较接近该设定目标值；以及

将较接近该设定目标值的该第一指标参数或该第二指标参数对应的该第一参数组合或该第二参数组合设定为该最佳参数组合。

4.根据权利要求1所述的自动化调整电子设备的方法，其特征在于，该第二参数组合至少关联于一第二光学检测参数与一第二自动化脚本。

5.根据权利要求4所述的自动化调整电子设备的方法，其特征在于，该第一光学检测参数与该第二光学检测参数是选自一光学检测参数数据库。

6.根据权利要求1所述的自动化调整电子设备的方法，其特征在于，更包含：

判断执行该算法的次数是否达到一上限次数；

当执行该算法的次数达到该上限次数，判断该第一指标参数或该第二指标参数更接近该设定目标值；以及

将更接近该设定目标值的该第一指标参数或该第二指标参数对应的该第一参数组合或该第二参数组合设定为该最佳参数组合。

7.根据权利要求1所述的自动化调整电子设备的方法，其中于依据该第一参数组合判断该些测试影像是否合格，并计算该第一指标参数的步骤中，其特征在于，更包含：

依据该第一参数组合判断该些测试影像是否合格，以产生至少一过判率参数、一漏判率参数或一吻合率参数；以及

将该过判率参数、该漏判率参数或该吻合率参数乘上一第一权重，以产生该第一指标参数。

8.根据权利要求1所述的自动化调整电子设备的方法，其特征在于，该算法为一牛顿算法、一基因算法或一遍历算法。