CN114034582B - 一种芯片测试用局部强度测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种芯片测试用局部强度测试装置，涉及芯片测试领域。该芯片测试用局部强度测试装置，包括顶壳，顶壳下端固定连接有固定臂，固定臂下端滑动连接有固定夹，固定夹靠近固定臂的一端套接有夹取弹簧，顶壳内槽固定连接有旋转电机，旋转电机输出端固定连接有联动套筒，顶壳下端固定连接有定位框，定位框内侧固定连接有调整环，调整环外表面转动连接有限制壳。该芯片测试用局部强度测试装置，通过加压环始终对撑力爪具有压力，使平衡框始终保持向上的压力，通过撑力爪的弹性，使冲击头不受力后有回弹的趋势，防止冲击头在芯片表面震动，达到了消除震动对强度测试造成影响的效果，解决了震动对强度测试数据影响的问题。

Description

一种芯片测试用局部强度测试装置

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，具体为一种芯片测试用局部强度测试装置。

背景技术

芯片又被称为微电路、微芯片、集成电路，它其实是半导体元件产品的统称。芯片的分类有很多，按照不同的处理信号可分为模拟芯片和数字芯片两种。简单来说，模拟芯片利用的是晶体管的放大作用，而数字模拟芯片利用的是晶体的开关作用。

芯片在制作完成后需要经过各种测试才能投入使用，其中芯片局部强度就需要做大量测试，但现有的测试装置不能消除点击后的震颤从而严重一影响实验数据，为此设计了一种局部强度测试装置。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供了一种芯片测试用局部强度测试装置，解决了震动对强度测试数据影响、强度测试时机械对芯片产生附属压力和冲击头长期挤压边角导致表面受力不均匀的问题。

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种芯片测试用局部强度测试装置，包括顶壳，顶壳下端固定连接有固定臂，固定臂下端滑动连接有固定夹，固定夹靠近固定臂的一端套接有夹取弹簧，顶壳内槽固定连接有旋转电机，旋转电机输出端固定连接有联动套筒，顶壳下端固定连接有定位框，定位框内侧固定连接有调整环，调整环外表面转动连接有限制壳，限制壳与定位框固定连接，限制壳下端固定连接有支撑棒，支撑棒远离限制壳的一端固定连接有加压环顶壳下端滑动连接有吊杆，吊杆外表面滑动连接有控制板，控制板上端固定连接有推动柱，推动柱外表面套接有联动套筒，吊杆远离顶壳的一端套接有挤压弹簧，控制板远离吊杆的两端啮合有螺纹柱，螺纹柱表面固定连接有直齿轮，螺纹柱远离控制板的一端转动连接有基板，基板与限制壳卡接，基板上表面固定连接有冲击电机，冲击电机输出端固定连接有动力齿轮，动力齿轮外表面与直齿轮啮合，基板下表面固定连接有冲击槽，冲击槽内槽滑动连接有受力杆，受力杆外表面套接有除颤弹簧，受力杆远离冲击槽的一端固定连接有平衡框，平衡框底端固定连接有冲击头，平衡框上端固定连接有撑力爪，撑力爪与加压环滑动连接。

优选的，所述调整环由四个支脚和一个圆环组成，支脚外形为“L”形，支脚上端与定位框固定连接，支脚下端与圆环转动连接，圆环外侧与限制壳转动连接。

优选的，所述吊杆整体外形为“N”字形，吊杆两侧为滑杆，两个滑杆表面均套接有滑套，滑套在挤压弹簧上方，滑杆底端固定连接有圆弧形冲击板。

优选的，所述控制板外形为十字形，控制板四个角开设有四个圆孔，两个相对的圆孔与吊杆滑动连接，另外一组相对的圆孔与螺纹柱啮合。

优选的，所述螺纹柱由上下两部分组成，上端为螺纹杆，螺纹杆与控制板啮合，下端为转动轴，转动轴与基板转动连接。

优选的，所述冲击槽横截面为圆形，冲击槽整体为圆柱，圆柱上端开设有凹槽，吊杆在凹槽内，圆柱中心开设有圆形通孔，受力杆在圆孔内滑动。

优选的，所述撑力爪共有六个，撑力爪环形阵列在平衡框上方，每个撑力爪为弯曲的弹性板，弹性板与加压环滑动连接。

与现有技术相比，本发明具备以下有益效果：

1、该芯片测试用局部强度测试装置，通过加压环始终对撑力爪具有压力，使平衡框始终保持向上的压力，通过撑力爪的弹性，使冲击头不受力后有回弹的趋势，防止冲击头在芯片表面震动，达到了消除震动对强度测试造成影响的效果，解决了震动对强度测试数据影响的问题。

2、该芯片测试用局部强度测试装置，通过吊杆接触式连接受力杆，使装置在输出力时延迟，在消除力时迅速，通过在吊杆表面套接两个挤压弹簧，使控制板压力大于撑力爪弹力后，冲击头瞬间接触芯片，达到了对芯片进行点击强度测试的效果，解决了强度测试时机械对芯片产生附属压力的问题。

3、该芯片测试用局部强度测试装置，通过调整环旋转调整装置内部旋转角度，防止撑力爪单独磨损加压环的同一位置，通过联动套筒带动推动柱转动，使冲击头在挤压芯片边角时能够旋转调整角度，达到了旋转调整冲击头防止冲击头受力影响测试的效果，解决了冲击头长期挤压边角导致表面受力不均匀的问题。

附图说明

图1为本发明结构示意图：

图2为本发明内部结构示意图：

图3为本发明加压环结构示意图：

图4为本发明调整环结构示意图：

图5为本发明撑力爪结构示意图：

图6为本发明控制板结构示意图：

图7为本发明限制壳半剖图。

其中，顶壳-1、固定臂-2、固定夹-3、夹取弹簧-4、旋转电机-5、联动套筒-6、定位框-7、调整环-8、限制壳-9、支撑棒-10、加压环-11、吊杆-12、控制板-13、推动柱-14、挤压弹簧-15、冲击头-16、螺纹柱-17、直齿轮-18、基板-19、冲击电机-20、动力齿轮-21、冲击槽-22、受力杆-23、除颤弹簧-24、平衡框-25、撑力爪-26。

实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1-7所示，一种芯片测试用局部强度测试装置，包括顶壳1，顶壳1下端固定连接有固定臂2，固定臂2下端滑动连接有固定夹3，固定夹3靠近固定臂2的一端套接有夹取弹簧4，顶壳1内槽固定连接有旋转电机5，旋转电机5输出端固定连接有联动套筒6，顶壳1下端固定连接有定位框7。

定位框7内侧固定连接有调整环8，调整环8外表面转动连接有限制壳9，调整环8由四个支脚和一个圆环组成，支脚外形为“L”形，支脚上端与定位框7固定连接，支脚下端与圆环转动连接，圆环外侧与限制壳9转动连接，调整环8具有调整装置易磨损位置的作用。

限制壳9与定位框7固定连接，限制壳9下端固定连接有支撑棒10，支撑棒10远离限制壳9的一端固定连接有加压环11，顶壳1下端滑动连接有吊杆12，吊杆12外表面滑动连接有控制板13，控制板13上端固定连接有推动柱14，推动柱外表面套接有联动套筒6，吊杆12远离顶壳1的一端套接有挤压弹簧15，吊杆12整体外形为“N”字形，吊杆12两侧为滑杆，两个滑杆表面均套接有滑套，滑套在挤压弹簧15上方，滑杆底端固定连接有圆弧形冲击板，吊杆12能够为控制板13通过滑动轨道。

控制板13远离吊杆12的两端啮合有螺纹柱17，控制板13外形为十字形，控制板13四个角开设有四个圆孔，两个相对的圆孔与吊杆12滑动连接，另外一组相对的圆孔与螺纹柱17啮合，控制板13通知对芯片挤压的时机和装置上升的幅度。

螺纹柱17表面固定连接有直齿轮18，螺纹柱17远离控制板13的一端转动连接有基板19，基板19与限制壳9卡接，螺纹柱17由上下两部分组成，上端为螺纹杆，螺纹杆与控制板13啮合，下端为转动轴，转动轴与基板19转动连接，螺纹柱17能够推动控制板13上升和下降。

基板19上表面固定连接有冲击电机20，冲击电机20输出端固定连接与有动力齿轮21，动力齿轮21外表面与直齿轮18啮合，基板19下表面固定连接有冲击槽22，冲击槽22内槽滑动连接有受力杆23，冲击槽22横截面为圆形，冲击槽22整体为圆柱，圆柱上端开设有凹槽，吊杆12在凹槽内，圆柱中心开设有圆形通孔，受力杆23在圆孔内滑动，冲击槽22具有提供受力杆23缓冲幅度的效果。

受力杆23外表面套接有除颤弹簧24，受力杆23远离冲击槽22的一端固定连接有平衡框25，平衡框25底端固定连接有冲击头16，平衡框25上端固定连接有撑力爪26，撑力爪26与加压环11滑动连接，撑力爪26共有六个，撑力爪26环形阵列在平衡框25上方，每个撑力爪26为弯曲的弹性板，弹性板与加压环11滑动连接，撑力爪26具有利用弧度挤压尝试产生上升力防止在芯片表面产生震动的作用。

在使用时，首先将芯片放置在固定夹3之间通过夹取弹簧4将芯片固定，启动冲击电机20带动动力齿轮21旋转，直齿轮18受推动后螺纹柱17旋转收缩控制板13，控制板13通过挤压挤压弹簧15推动吊杆12撞击受力杆23，受力杆23带动平衡框25挤压撑力爪26下降，冲击头16点击芯片表面，翻转冲击电机20，撑力爪26受力挤压加压环11迅速推动冲击头16上升防止长时间接触芯片，当冲击头16长时间挤压芯片边角时，启动旋转电机5带动和联动套筒6，再不影响挤压的同时能够通过推动柱14和控制板13带动冲击头16转动，为防止撑力爪26反复摩擦加压环11同一位置可以旋转调整环8进行调整。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种芯片测试用局部强度测试装置，包括顶壳（1），其特征在于：所述顶壳（1）下端固定连接有固定臂（2），固定臂（2）下端滑动连接有固定夹（3），固定夹（3）靠近固定臂（2）的一端套接有夹取弹簧（4），顶壳（1）内槽固定连接有旋转电机（5），旋转电机（5）输出端固定连接有联动套筒（6），顶壳（1）下端固定连接有定位框（7），定位框（7）内侧固定连接有调整环（8），调整环（8）外表面转动连接有限制壳（9），限制壳（9）与定位框（7）固定连接，调整环（8）由四个支脚和一个圆环组成，支脚外形为“L”形，支脚上端与定位框（7）固定连接，支脚下端与圆环转动连接，圆环外侧与限制壳（9）转动连接，限制壳（9）下端固定连接有支撑棒（10），支撑棒（10）远离限制壳（9）的一端固定连接有加压环（11）；

所述顶壳（1）下端滑动连接有吊杆（12），吊杆（12）外表面滑动连接有控制板（13），控制板（13）上端固定连接有推动柱（14），推动柱外表面套接有联动套筒（6），吊杆（12）远离顶壳（1）的一端套接有挤压弹簧（15），控制板（13）远离吊杆（12）的两端啮合有螺纹柱（17），螺纹柱（17）表面固定连接有直齿轮（18），螺纹柱（17）远离控制板（13）的一端转动连接有基板（19），基板（19）与限制壳（9）卡接，基板（19）上表面固定连接有冲击电机（20），冲击电机（20）输出端固定连接有动力齿轮（21），动力齿轮（21）外表面与直齿轮（18）啮合，基板（19）下表面固定连接有冲击槽（22），冲击槽（22）内槽滑动连接有受力杆（23），受力杆（23）外表面套接有除颤弹簧（24），受力杆（23）远离冲击槽（22）的一端固定连接有平衡框（25），平衡框（25）底端固定连接有冲击头（16），平衡框（25）上端固定连接有撑力爪（26），撑力爪（26）与加压环（11）滑动连接，撑力爪（26）为弯曲的弹性板，加压环（11）始终对撑力爪（26）具有压力，使平衡框（25）始终保持向上的压力，通过撑力爪（26）的弹性，使冲击头（16）不受力后有回弹的趋势，防止冲击头（16）在芯片表面震动。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用局部强度测试装置，其特征在于：所述吊杆（12）整体外形为“N”字形，吊杆（12）两侧为滑杆，两个滑杆表面均套接有滑套，滑套在挤压弹簧（15）上方，滑杆底端固定连接有圆弧形冲击板。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试用局部强度测试装置，其特征在于：所述控制板（13）外形为十字形，控制板（13）四个角共开设有四个圆孔，两个相对的圆孔与吊杆（12）滑动连接，另外一组相对的圆孔与螺纹柱（17）啮合。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试用局部强度测试装置，其特征在于：所述螺纹柱（17）由上下两部分组成，上端为螺纹杆，螺纹杆与控制板（13）啮合，下端为转动轴，转动轴与基板（19）转动连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试用局部强度测试装置，其特征在于：所述冲击槽（22）横截面为圆形，冲击槽（22）整体为圆柱，圆柱上端开设有凹槽，吊杆（12）在凹槽内，圆柱中心开设有圆形通孔，受力杆（23）在圆孔内滑动。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试用局部强度测试装置，其特征在于：所述撑力爪（26）共有六个，撑力爪（26）呈环形地设置阵列在平衡框（25）上方，弹性板与加压环（11）滑动连接。