CN114019366A - 电器元件触点损耗评估方法 - Google Patents

Abstract

本申请适用于电器元件检测技术领域，提供了一种电器元件触点损耗评估方法，包括：获取电器元件中线圈的初始上电时间，以及主回路的初始上电时间；当根据线圈的初始上电时间和主回路的初始上电时间，判定触点未出现导通故障时，根据线圈的初始上电时间、主回路的初始上电时间和主回路的电流，计算触点的本次导通损耗和累计导通损耗；根据累计导通损耗，评估触点是否损耗过度。本申请实施例提供的电器元件触点损耗评估方法，将触点损耗量化，能够有效排查出触点损耗过度但仍可正常工作的电器元件，帮助用户准确识别带病工作的电器元件。

Description

电器元件触点损耗评估方法

技术领域

本申请属于电器元件检测技术领域，尤其涉及一种电器元件触点损耗评估方法。

背景技术

在继电器和接触器等传统电器元件中，常会使用线圈和触点控制主回路的导通或截止。触点长期受大电流冲击，其表面容易出现氧化并形成凹坑。这些损耗持续积累，会造成继电器和接触器故障操作，进而给整个电路系统及设备运行造成障碍。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种电器元件触点损耗评估方法，以解决目前因无法对触点损耗进行有效评估而引起的电器元件故障的问题。

根据第一方面，本申请实施例提供了一种电器元件触点损耗评估方法，包括：获取电器元件中线圈的初始上电时间，以及主回路的初始上电时间；所述主回路的初始上电时间的判断依据为任一相电流大于预设的阈值；所述主回路为受所述电器元件中的触点控制的电回路；根据所述线圈的初始上电时间和所述主回路的初始上电时间，判断所述触点是否出现导通故障；当所述触点未出现导通故障时，根据所述线圈的初始上电时间、所述主回路的初始上电时间和所述主回路的电流，计算所述触点的本次导通损耗和累计导通损耗；根据所述累计导通损耗，评估所述触点是否损耗过度。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，当所述触点出现导通故障时，确定所述触点损耗过度。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，包括：根据所述线圈的初始上电时间和所述主回路的初始上电时间，计算所述触点的吸合时间；当所述吸合时间在预设的第一时间以内时，对所述主回路的电流连续进行若干个市电周期的有效值监测；若某个或某几个有效值小于预设的阈值，则确定所述触点出现抖动导通故障。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：当所述吸合时间在预设的第一时间以内，且所述若干个有效值全部大于预设的阈值，确定所述触点未出现导通故障。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：当所述吸合时间大于预设的第一时间且小于预设的第二时间时，确定所述触点出现卡滞导通故障；所述第二时间大于所述第一时间。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：从所述线圈的初始上电时间开始，经过预设的等待时间后，当所述主回路始终没有电流时，确定所述触点出现开路故障。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：从所述线圈的初始上电时间开始，经过预设的等待时间后，当所述主回路中的某一相始终没有电流时，确定所述触点出现缺相导通故障。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述电器元件触点损耗评估方法还包括：获取电器元件中线圈的初始断电时间，以及主回路的初始断电时间；所述主回路的初始断电时间判断依据为三相电流全部小于预设的阈值；根据所述线圈的初始断电时间和所述主回路的初始断电时间，判断所述触点是否出现断开故障；当所述触点未出现断开故障时，根据所述线圈的初始断电时间、所述主回路的初始断电时间和所述主回路的电流，计算所述触点的本次断开损耗和累计断开损耗；根据所述累计断开损耗，评估所述触点是否损耗过度。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，当所述触点出现断开故障时，确定所述触点损耗过度。

结合第一方面，在本申请的一些实施例中，所述判断所述触点是否出现断开故障的步骤，包括：根据所述线圈的初始断电时间和所述主回路的初始断电时间，计算所述触点的断开时间；当所述断开时间大于预设的第三时间时，确定所述触点出现卡滞关断故障；当所述断开时间大于预设的第四时间时，确定所述触点出现粘连故障。

根据第二方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括：输入单元，用于获取电器元件中线圈的初始上电时间，以及主回路的初始上电时间；所述主回路为受所述电器元件中的触点控制的电回路；故障识别单元，用于根据所述线圈的初始上电时间和所述主回路的初始上电时间，判断所述触点是否出现导通故障；损耗评估单元，当所述触点未出现导通故障时，所述损耗评估单元用于根据所述线圈的初始上电时间、所述主回路的初始上电时间和所述主回路的电流，计算所述触点的本次导通损耗和累计导通损耗，以及根据所述累计导通损耗，评估所述触点是否损耗过度。

根据第三方面，本申请实施例提供了另一种终端设备，包括：包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面或第一方面任一实施方式所述方法的步骤。

根据第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面或第一方面任一实施方式所述方法的步骤。

本申请实施例提供的电器元件触点损耗评估方法，首先检测电器元件触点是否能够正常导通，在电器元件触点能够正常工作的情况下，将触点损耗量化，实现针对触点损耗的量化评估，使得触点损耗评估有据可查、有法可依，能够有效排查出触点损耗过度但仍可正常工作的电器元件，防治电器元件及其触点的“未病”，帮助用户准确识别带病工作的电器元件。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的电器元件触点损耗评估方法的实现流程示意图；

图2是本申请实施例提供的终端设备的示意图；

图3是本申请实施例提供的另一终端设备的示意图。

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。

传统的继电器和接触器等开关器件，利用线圈控制触点的吸合及断开。继电器和接触器能否正确动作，对于电路系统及设备的连续可靠运行十分重要。以高铁车厢为例，高铁车厢中会设置数量众多的继电器和接触器。其中任一继电器或接触器动作错误都会造成高铁运营故障。一旦出现电气故障，如何从为数众多的继电器和接触器中筛选出故障点，是一个难题。此外，现有技术难以对继电器和接触器等电器元件的触点进行损耗评估，为了避免突发电气故障，运营人员会定期对高铁车厢中的继电器和接触器进行整体更换，由此产生高额运维费用。为此，本申请实施例提出了一种电器元件触点损耗评估方法，实现针对触点损耗的量化评估，能够帮助用户准确识别带病工作的电器元件，对带病工作的电器元件进行及时更换，一方面能够规避电气故障，另一方面能够降低设备和电路系统的运维费用。

为了说明本申请所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。

本申请实施例提供了一种电器元件触点损耗评估方法，如图1所示，该评估方法可以包括以下步骤：

步骤S101：获取电器元件中线圈的初始上电时间，以及主回路的初始上电时间。主回路为受电器元件中的触点控制的电回路。主回路的初始上电时间的判断依据为任一相电流大于预设的阈值。

步骤S102：根据线圈的初始上电时间和主回路的初始上电时间，判断触点是否出现导通故障。当触点未出现导通故障时，执行步骤S103；当触点出现导通故障时，执行步骤S107。

在识别触点的导通故障时，可以首先计算触点的吸合时间。吸合时间为线圈的初始上电时间至主回路的初始上电时间之间的时长。可以将线圈从无电变为有电的时机，认定为线圈初始上电的时机，对应的时间点即线圈的初始上电时间。在线圈的初始上电时间后，主回路从无电变为有电的时机即主回路初始上电的时机，对应的时间点即主回路的初始上电时间。

正常情况下，触点的吸合时间应当在50ms以内。可以将50ms设定为一个阈值，即将50ms设定为预设的第一时间，首先考察吸合时间是否在第一时间以内。当吸合时间在预设的第一时间(例如50ms)以内时，并不能直接判定触点正常吸合。在实际应用中，许多损耗较大的触点会在吸合后出现抖动故障，即时而吸合时而断开，应当对抖动故障进行识别。

对于吸合时间在预设的第一时间(50ms)以内的触点，可以设定一个监测时长，例如1s，即从主回路的初始上电时间开始，在监测时长内对主回路的电流连续进行若干个市电周期的有效值监测，以排查触点是否存在抖动导通故障。具体的，若某个或某几个有效值小于预设的阈值，则确定触点出现抖动导通故障。

当吸合时间超出预设的第一时间(例如50ms)时，可以判定触点出现导通故障。一旦触点的吸合时间超过50ms，可以认为其出现了导通故障。导通故障包括卡滞、开路和缺相等多种故障类型。为具体识别这些导通故障，可以引入第二时间。作为示例，可以将第二时间设定为1s。当触点的吸合时间在50ms与1s之间时，可以将其归入卡滞导通故障。

当触点出现开路故障时，由于线圈上电后对应的触点不会吸合，使得在线圈的初始上电时间后，对应的主回路始终无电流。为识别开路故障，引入等待时间作为监测开路故障的一个阈值。在一具体实施方式中，可以将预设的等待时间设定为2s。从线圈的初始上电时间开始，经过预设的等待时间(2s)后，当主回路始终没有电流时，确定对应的触点出现开路故障。

采用与上述开路故障类似的监测方法，可以对缺相故障进行有效监测。具体的，从线圈的初始上电时间开始，经过预设的等待时间(2s)后，当主回路中的任一相始终没有电流时，确定对应的触点出现缺相导通故障。

步骤S103：根据线圈的初始上电时间、主回路的初始上电时间和主回路的电流，计算触点的本次导通损耗。

作为示例，可以通过以下公式计算触点每一次吸合引起的导通损耗：

其中，s_i表示触点第i次吸合引起的导通损耗，I_i表示触点第i次吸合后主回路的电流值，t_1i表示第i次吸合对应的吸合时间。吸合时间即从线圈的初始上电时间开始，至主回路的初始上电时间为止，对应的时长。

步骤S104：根据触点的本次导通损耗，计算触点的累计导通损耗。

作为示例，可以通过以下公式计算触点的累计导通损耗：

其中，S表示触点的累计导通损耗，N表示触点吸合的总次数，通过将触点每一次吸合引起的导通损耗累加，可以计算得到触点的累计导通损耗。

步骤S105：根据累计导通损耗，评估触点是否损耗过度。

在一具体实施方式中，可以通过预设的导通损耗阈值，对触点的导通损耗进行评估。具体的，当触点的累计导通损耗小于预设的导通损耗阈值时，可以执行步骤S106，即判定触点损耗可控；当触点的累计导通损耗大于或等于预设的导通损耗阈值时，可以执行步骤S107，即判定触点损耗过度。

步骤S106：确定触点损耗可控。对于累计导通损耗较小的触点，可以认为其损耗处于可控、可接受范围。一般情况下，这类触点及电器元件能够有效执行对应的功能，不必进行更换。

步骤S107：确定触点损耗过度。对于累计导通损耗较大的触点，可以认为其损耗过渡，其表面氧化情况比较严重，甚至表面已出现凹坑。一般情况下，这类触点及电器元件难以继续执行对应的功能，如不及时更换会威胁电路系统及整个设备的正常运行。此外，对于已经出现抖动、卡滞、缺相或开路等导通故障的触点，可以不再考察期其累计导通损耗，而直接判定对应的触点及电器元件损耗过度，并提示告警，帮助用户识别故障点。

在实际应用中，除了考察电器元件中各个触点在吸合过程中产生的导通损耗以外，还需要对触点的断开损耗进行量化和统计，从而对触点损耗进行全方位评估和管控。具体的，如图1所示，可以在步骤S102判定触点未出现导通故障后，增设以下步骤：

步骤S108：获取电器元件中线圈的初始断电时间，以及主回路的初始断电时间。主回路的初始断电时间判断依据可以为三相电流全部小于预设的阈值。

步骤S109：根据线圈的初始断电时间和主回路的初始断电时间，判断触点是否出现断开故障。当触点未出现断开故障时，执行步骤S110；当触点出现断开故障时，步骤S107，即直接判定触点损耗过度。

在识别触点的断开故障时，可以首先计算触点的断开时间。断开时间为线圈的初始断电时间至主回路的初始断电时间之间的时长。可以将线圈从有电变为无电的时机，认定为线圈初始断电的时机，对应的时间点即线圈的初始断电时间。在线圈的初始断电时间后，主回路从有电变为无电的时机即主回路初始断电的时机，对应的时间点即主回路的初始断电时间。

当断开时间大于预设的第三时间(例如50ms)时，可以判定触点出现断开故障。正常情况下，触点的断开时间应当在50ms以内。一旦触点的断开时间超过50ms，可以认为其出现了断开故障。断开故障包括卡滞和黏连等多种故障类型。为具体识别这些断开故障，可以引入第四时间。作为示例，可以将第四时间设定为1s。当触点的断开时间在50ms至1s范围以内时，可以将其归入卡滞断开故障；当触点的断开时间超过1s时，可以将其归入粘连断开故障。

步骤S110：根据线圈的初始断电时间、主回路的初始断电时间和主回路的电流，计算触点的本次断开损耗。

作为示例，可以通过以下公式计算触点每一次断开引起的断开损耗：

其中，s’_i表示触点第i次断开引起的断开损耗，I_i表示触点第i次断开前主回路的电流值，t_2i表示第i次断开对应的断开时间。断开时间为从线圈的初始断电时间开始，至主回路的初始断电时间为止，对应的时长。

步骤S111：根据触点的本次断开损耗，计算触点的累计断开损耗。

作为示例，可以通过以下公式计算触点的累计断开损耗：

其中，S’表示触点的累计断开损耗，N表示触点断开的总次数，通过将触点每一次断开引起的断开损耗累加，可以计算得到触点的累计断开损耗。

步骤S112：根据累计断开损耗，评估触点是否损耗过度。

在利用累计断开损耗对触点进行损耗评估时，可以采用类似步骤S105的方法，通过预设的断开损耗阈值，对触点的断开损耗进行评估。具体的，当触点的累计断开损耗小于预设的断开损耗阈值时，可以执行步骤S106，即判定触点损耗可控；当触点的累计断开损耗大于或等于预设的断开损耗阈值时，可以执行步骤S107，即判定触点损耗过度。

本申请实施例提供的电器元件触点损耗评估方法，首先检测电器元件触点是否能够正常导通或断开，在电器元件触点能够正常工作的情况下，将触点损耗量化，实现针对触点损耗的量化评估，使得触点损耗评估有据可查、有法可依，能够有效排查出触点损耗过度但仍可正常工作的电器元件，防治电器元件及其触点的“未病”，帮助用户准确识别带病工作的电器元件。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。

本申请实施例提供了一种终端设备，如图2所述，该终端设备可以包括输入单元201、故障识别单元202和损耗评估单元203。

具体的，输入单元201用于获取电器元件中线圈的初始上电时间，以及主回路的初始上电时间；其对应的工作过程可参见上述方法实施例中步骤S101所述。

故障识别单元202用于根据线圈的初始上电时间和主回路的初始上电时间，判断触点是否出现导通故障；其对应的工作过程可参见上述方法实施例中步骤S102所述。

当触点未出现导通故障时，损耗评估单元203用于根据线圈的初始上电时间、主回路的初始上电时间和主回路的电流，计算触点的本次导通损耗和累计导通损耗，以及根据所述累计导通损耗，评估触点是否损耗过度；其对应的工作过程可参见上述方法实施例中步骤S104至步骤S107所述。

在一具体实施方式中，输入单元201还用于获取电器元件中线圈的初始断电时间，以及主回路的初始断电时间；其对应的工作过程可参见上述方法实施例中步骤S108所述。

故障识别单元202还用于根据线圈的初始断电时间和主回路的初始断电时间，判断触点是否出现断开故障；其对应的工作过程可参见上述方法实施例中步骤S109所述。

当触点未出现断开故障时，损耗评估单元203还用于根据线圈的初始断电时间、主回路的初始断电时间和主回路的电流，计算触点的本次断开损耗和累计断开损耗；根据累计断开损耗，评估触点是否损耗过度；其对应的工作过程可参见上述方法实施例中步骤S110至步骤S112所述。

图3是本申请实施例提供的另一终端设备的示意图。如图3所示，该实施例的终端设备300包括：处理器301、存储器302以及存储在所述存储器302中并可在所述处理器301上运行的计算机程序303，例如电器元件触点损耗评估程序。所述处理器301执行所述计算机程序303时实现上述各个电器元件触点损耗评估方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤S101至步骤S112。或者，所述处理器301执行所述计算机程序303时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如图2所示各个模块的功能。

所述计算机程序303可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器302中，并由所述处理器301执行，以完成本申请。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序303在所述终端设备300中的执行过程。例如，所述计算机程序303可以被分割成同步模块、汇总模块、获取模块、返回模块(虚拟装置中的模块)。

所述终端设备300可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述终端设备可包括，但不仅限于，处理器301、存储器302。本领域技术人员可以理解，图3仅仅是终端设备300的示例，并不构成对终端设备300的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。

所称处理器301可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

所述存储器302可以是所述终端设备300的内部存储单元，例如终端设备300的硬盘或内存。所述存储器302也可以是所述终端设备300的外部存储设备，例如所述终端设备300上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(SecureDigital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，所述存储器302还可以既包括所述终端设备300的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器302用于存储所述计算机程序以及所述终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器302还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。

以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电器元件触点损耗评估方法，其特征在于，包括：

获取电器元件中线圈的初始上电时间，以及主回路的初始上电时间；所述主回路为受所述电器元件中的触点控制的电回路；所述主回路的初始上电时间的判断依据为任一相电流大于预设的阈值；

根据所述线圈的初始上电时间和所述主回路的初始上电时间，判断所述触点是否出现导通故障；

当所述触点未出现导通故障时，根据所述线圈的初始上电时间、所述主回路的初始上电时间和所述主回路的电流，计算所述触点的本次导通损耗和累计导通损耗；

根据所述累计导通损耗，评估所述触点是否损耗过度。

2.如权利要求1所述的电器元件触点损耗评估方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述触点出现导通故障时，确定所述触点损耗过度。

3.如权利要求2所述的电器元件触点损耗评估方法，其特征在于，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，包括：

根据所述线圈的初始上电时间和所述主回路的初始上电时间，计算所述触点的吸合时间；

当所述吸合时间在预设的第一时间以内时，对所述主回路的电流连续进行若干个市电周期的有效值监测；

若某个或某几个有效值小于预设的阈值，则确定所述触点出现抖动导通故障。

4.如权利要求3所述的电器元件触点损耗评估方法，其特征在于，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：

若所述若干个有效值全部大于预设的阈值，则所述监测单元确定所述触点未出现导通故障。

5.如权利要求3所述的电器元件触点损耗评估方法，其特征在于，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：当所述吸合时间大于预设的第一时间且小于预设的第二时间时，所述监测单元确定所述触点出现卡滞导通故障；所述第二时间大于所述第一时间。

6.如权利要求3所述的电器元件触点损耗评估方法，其特征在于，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：

从所述线圈的初始上电时间开始，经过预设的等待时间后，当所述主回路始终没有电流时，确定所述触点出现开路故障。

7.如权利要求3所述的电器元件触点损耗评估方法，其特征在于，所述判断所述触点是否出现导通故障的步骤，还包括：

从所述线圈的初始上电时间开始，经过预设的等待时间后，当所述主回路中的任一相始终没有电流时，确定所述触点出现开路故障。

8.如权利要求1或2所述的电器元件触点损耗评估方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取电器元件中线圈的初始断电时间，以及主回路的初始断电时间；所述主回路的初始断电时间判断依据为三相电流全部小于预设的阈值；

根据所述线圈的初始断电时间和所述主回路的初始断电时间，判断所述触点是否出现断开故障；

当所述触点未出现断开故障时，根据所述线圈的初始断电时间、所述主回路的初始断电时间和所述主回路的电流，计算所述触点的本次断开损耗和累计断开损耗；

根据所述累计断开损耗，评估所述触点是否损耗过度。

9.如权利要求8所述的电器元件触点损耗评估方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述触点出现断开故障时，确定所述触点损耗过度。

10.如权利要求9所述的电器元件触点损耗评估方法，其特征在于，所述判断所述触点是否出现断开故障的步骤，包括：

根据所述线圈的初始断电时间和所述主回路的初始断电时间，计算所述触点的断开时间；

当所述断开时间大于预设的第三时间时，确定所述触点出现卡滞关断故障；

当所述断开时间大于预设的第四时间时，确定所述触点出现粘连故障。

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