CN114002616A - 电容测试系统及可调式微短压降产生装置 - Google Patents
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Abstract
一种可调式微短压降产生装置，包含第一与一第二输出端，直流输入电源，其一端电连接于所述第一输出端，其另一端接地且电连接于所述第二输出端，固定值电容，其一端电连接于所述第一输出端，可调限流电阻，其一端电连接于所述固定值电容的另一端，开关，其一端电连接于所述可调限流电阻的另一端，其另一端接地，以及可调直流电压源，具第一端电连接于所述固定值电容的另一端，及另一端接地，且用以产生可调电压，俾藉调整所述可调电压，在所述第一输出端与所述所述第二输出端间产生可调压降。
Description
技术领域
本发明涉及一种电容测试系统，所述系统包含可调式微短压降产生装置与电容测试装置，其中所述电容测试装置是用于检测待测电容是否具有微短路缺陷，而所述可调式微短压降产生装置是用于产生可调压降，用以输入至所述电容测试装置，以检测所述电容测试装置是否运作正常。
背景技术
当前在检测电路板上两根金属线间耦合电容时，常会遭遇微短路(Micro short)的现象，即两根相邻金属线间有微小的电阻值(例如10mΩ或100mΩ)，当加上直流电压一段时间后，所述两相邻金属线有可能相互导通，而产生电压降，此时所述两相邻金属线间具有微短路。例如，导电性阳极细丝物(CAF(Conductive Anodic Filament)，或称阳极性玻璃纤维丝漏电现象)即为电路板上的微短路。
用于检测两根金属线间耦合电容的微短路缺陷的电容测试装置的重要性自不待言，但如何确保所述电容测试装置运作正常，亦是一值得深思的问题。
职是的故，发明人鉴于习知技术的缺失，乃思及改良发明的意念，终能发明出本案的“电容测试系统及可调式微短压降产生装置”。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种电容测试系统，包含可调式微短压降产生装置与电容测试装置，其中所述电容测试装置是用以判断电路板的相邻两线路间的耦合电容在充电过程中，是否会产生微小的压降，当所述耦合电容在所述充电过程中产生了所述微小的压降时，则所述相邻二线路间存在微短路的缺陷；而所述可调式微短压降产生装置是用于产生可调压降，且使所述电容测试装置接收所述可调压降以检测所述电容测试装置是否运作正常。
本案的又一主要目的在于提供一种电容测试系统，包含可调式微短压降产生装置，包括可调限流电阻，具第一端与第二端，开关，具第一端与第二端，其中所述开关的所述第二端接地，且所述开关的所述第一端电连接于所述可调限流电阻的所述第二端，可调直流电源，具第一端与第二端，其中所述可调直流电源的所述第一端电连接于所述可调限流电阻的所述第一端，且所述可调直流电源的所述第二端接地，固定值电容，具第一端与第二端，其中所述固定值电容的所述第二端电连接于所述可调直流电源的所述第一端与所述可调限流电阻的所述第一端，以及直流输入电源，具第一端与第二端，其中所述直流输入电源的所述第一端电连接于所述固定值电容的所述第一端，所述直流输入电源的所述第二端接地，且所述产生装置是用于在所述固定值电容的所述第一端与所述接地间产生可调压降，以及电容测试装置，与所述可调式微短压降产生装置耦接，用以接收所述可调压降以检测所述电容测试装置。
本案的下一主要目的在于提供一种可调式微短压降产生装置，包含第一与第二输出端，直流输入电源，其一端电连接于所述第一输出端，其另一端接地且电连接于所述第二输出端，固定值电容，其一端电连接于所述第一输出端，一可调限流电阻，其一端电连接于所述固定值电容的另一端，开关，其一端电连接于所述可调限流电阻的另一端，其另一端接地，以及可调直流电压源，具第一端电连接于所述固定值电容的另一端，及另一端接地，且用以产生可调电压，俾藉调整所述可调电压，在所述第一输出端与所述所述第二输出端间产生可调压降。
附图说明
图1是显示依据本发明构想的优选实施例的可调式微短压降产生装置的电路图。
图2是显示依据本发明构想的优选实施例的电容测试装置用于检测待测电容时的电路示意图。
图3是显示依据本发明构想的优选实施例的电容测试系统的电路示意图。
图4(a)是显示依据本发明构想的优选实施例的可调式微短压降产生装置于其输出端产生可调压降的第一波形图。
图4(b)是显示依据本发明构想的优选实施例的可调式微短压降产生装置于其输出端产生可调压降的第二波形图。
具体实施方式
图1是显示依据本发明构想的优选实施例的可调式微短压降产生装置的电路图。在图1中，可调式微短压降产生装置11包括具第一端与第二端的可调限流电阻Rx，具第一端与第二端的开关SW1，其中所述开关SW1的所述第二端接地，且所述开关SW1的所述第一端电连接于所述可调限流电阻Rx的所述第二端，一具第一端与第二端的可调直流电源(其为可调直流电压源)Vx，其中所述可调直流电源Vx的所述第一端电连接于所述可调限流电阻Rx的所述第一端，且所述可调直流电源Vx的所述第二端接地，一具第一端与第二端的固定值电容C1，其中所述固定值电容C1的所述第二端电连接于所述可调直流电源Vx的所述第一端与所述可调限流电阻Rx的所述第一端，以及一具第一端与第二端的直流输入电源VS，其中所述直流输入电源VS的所述第一端电连接于所述固定值电容C1的所述第一端，所述直流输入电源VS的所述第二端接地，且所述产生装置11是用于在所述固定值电容C1的所述第一端与所述接地间产生可调压降。所述可调压降是任意大小的正值，代表电容压降，且所述电容压降作为电容变异检查的测试信号，以测试所述电容测试装置的运作是否正常。
如图1所示，所述直流输入电源VS具有第一等效内阻R1，电连接于所述固定值电容C1的所述第一端与所述直流输入电源VS的所述第一端间，所述可调直流电源Vx具有第二等效内阻R2，电连接于所述固定值电容C1的所述第二端与所述可调直流电源Vx的所述第一端间，调整所述可调直流电源Vx大小以调整所述电容压降大小，所述开关是双极晶体管(BJT)或场效晶体管(FET)，调整所述开关的速度以调整所述电容压降的一产生速度，所述可调限流电阻是用以调整所述电容压降的信号强弱，当所述开关导通时，产生所述电容压降，且所述电容压降是所述直流输入电源与所述可调直流电源间的电压差。
图2是显示依据本发明构想的优选实施例的电容测试装置用于检测待测电容时的电路示意图。在图2中，所述电容测试装置12用于检测待测电容Cin。所述待测电容Cin可为电路板上两金属线间的耦合电容。所述待测电容Cin是并联电连接于直流输入电源(提供输入电压Vin)与所述电容测试装置12间。所述电容测试装置12是用以判断电路板的相邻两线路间的耦合电容在充电过程中，是否会产生微小的压降，俾据以判断所述两线路间是否存在一微短路的缺陷。当所述待测电容(例如所述耦合电容)在所述充电过程中，产生所述微小的压降时，则知所述两线路间存在微短路的缺陷。
图3是显示依据本发明构想的优选实施例的电容测试系统的电路示意图。在图3中，所述电容测试系统1包含可调式微短压降产生装置11与电容测试装置12。当所述电容测试装置12接收所述可调式微短压降产生装置11所产生的所述电容压降，且所述电容测试装置12输出高电位，代表侦测到所述微短路的缺陷，则所述电容测试装置12的所述运作是正常的，而当所述电容测试装置12接收所述可调式微短压降产生装置11所产生的所述电容压降，且所述电容测试装置12输出低电位，代表未侦测到所述微短路的缺陷，则所述电容测试装置12的所述运作是不正常的。
图4(a)是显示依据本发明构想的优选实施例的可调式微短压降产生装置于其输出端产生可调压降的第一波形图。在图4(a)中，所述可调式微短压降产生装置11的输出端所产生的输出电压(亦即所述电容压降)Vout是模拟待测电容在其充电过程中，于其电容跨压持续上升的中途产生了电压降，其大小(或深度)为Vs。
图4(b)是显示依据本发明构想的优选实施例的可调式微短压降产生装置于其输出端产生可调压降的第二波形图。在图4(b)中，所述可调式微短压降产生装置11的输出端所产生的输出电压(亦即所述电容压降)Vout是模拟待测电容在充电至饱和电压的后，产生了电压降，其大小(或深度)为Vs。
当然，本发明所提出的所述可调式微短压降产生装置11亦可运用于任何需要产生任意电压降的其他各种应用场合中。
综上所述，本发明提供一种电容测试系统，包含可调式微短压降产生装置与电容测试装置，其中所述电容测试装置是用以判断电路板的相邻两线路间的耦合电容在充电过程中，是否会产生微小的压降，当所述耦合电容在所述充电过程中产生了所述微小的压降时，则所述相邻二线路间存在微短路的缺陷；而所述可调式微短压降产生装置是用于产生可调压降，且使所述电容测试装置接收所述可调压降以检测所述电容测试装置是否运作正常，故其确实具有新颖性与进步性。
是以，纵使本案已由上述的实施例所详细叙述而可由熟悉本技艺的人士任施匠思而为诸般修饰，然皆不脱如附权利要求书所欲保护者。
符号说明
1：电容测试系统
11：可调式微短压降产生装置
12：电容检测装置
C1：固定值电容
Cin：待测电容/耦合电容
R1：第一内阻
R2：第二内阻
Rx：可调限流电阻
SW1：开关
Vin：输入电压
Vout：输出电压
Vs：直流输入电源
Vx：可调直流电源/可调直流电压
Claims (9)
1.一种电容测试系统，包含：
可调式微短压降产生装置，包括：
可调限流电阻，具第一端与第二端；
开关，具第一端与第二端，其中所述开关的所述第二端接地，且所述开关的所述第一端电连接于所述可调限流电阻的所述第二端；
可调直流电源，具第一端与第二端，其中所述可调直流电源的所述第一端电连接于所述可调限流电阻的所述第一端，且所述可调直流电源的所述第二端接地；
固定值电容，具第一端与第二端，其中所述固定值电容的所述第二端电连接于所述可调直流电源的所述第一端与所述可调限流电阻的所述第一端；以及
直流输入电源，具第一端与第二端，其中所述直流输入电源的所述第一端电连接于所述固定值电容的所述第一端，所述直流输入电源的所述第二端接地，且所述产生装置是用于在所述固定值电容的所述第一端与所述接地间产生可调压降；以及
电容测试装置，与所述可调式微短压降产生装置耦接，用以接收所述可调压降以检测所述电容测试装置。
2.根据权利要求1所述的电容测试系统，其中所述可调压降是任意大小的正值，代表电容压降，且所述电容压降作为电容变异检查的测试信号，以测试所述电容测试装置的运作是否正常。
3.根据权利要求2所述的电容测试系统，其中所述电容测试装置是用以判断电路板的相邻两线路间的耦合电容在充电过程中，是否会产生微小的压降，俾据以判断所述两线路间是否存在微短路的缺陷。
4.根据权利要求3所述的电容测试系统，其中当所述电容测试装置感测到所述耦合电容在所述充电过程中产生了所述微小的压降，且所述微小的压降为正值时，则所述相邻二线路间存在所述微短路的缺陷。
5.根据权利要求3所述的电容测试系统，其中当所述电容测试装置接收所述可调式微短压降产生装置所产生的所述电容压降，且所述电容测试装置输出高电位，代表侦测到所述微短路的缺陷，则所述电容测试装置的所述运作是正常的；以及当所述电容测试装置接收所述可调式微短压降产生装置所产生的所述电容压降，且所述电容测试装置输出低电位，代表未侦测到所述微短路的缺陷，则所述电容测试装置的所述运作是不正常的。
6.根据权利要求2所述的电容测试系统，其中所述直流输入电源具有第一等效内阻，电连接于所述固定值电容的所述第一端与所述直流输入电源的所述第一端间，所述可调直流电源具有第二等效内阻，电连接于所述固定值电容的所述第二端与所述可调直流电源的所述第一端间，调整所述可调直流电源大小以调整所述电容压降大小，所述开关是双极晶体管或场效晶体管，调整所述开关的一速度以调整所述电容压降的产生速度，所述可调限流电阻是用以调整所述电容压降的信号强弱，当所述开关导通时，产生所述电容压降，且所述电容压降是所述直流输入电源与所述可调直流电源间的电压差。
7.一种可调式微短压降产生装置，包含：
第一与第二输出端；
直流输入电源，其一端电连接于所述第一输出端，其另一端接地且电连接于所述第二输出端；
固定值电容，其一端电连接于所述第一输出端；
可调限流电阻，其一端电连接于所述固定值电容的另一端；
开关，其一端电连接于所述可调限流电阻的另一端，其另一端接地；以及
可调直流电压源，具第一端电连接于所述固定值电容的另一端，及另一端接地，且用以产生可调电压，俾藉调整所述可调电压，在所述第一输出端与所述所述第二输出端间产生可调压降。
8.根据权利要求7所述的可调式微短压降产生装置，其中所述可调压降是任意大小的正值，代表电容压降，用以作为电容变异检查的测试信号。
9.根据权利要求8所述的可调式微短压降产生装置，其中所述直流输入电源具有第一等效内阻，电连接于所述固定值电容的所述一端与所述直流输入电源的所述一端间，所述可调直流电压源具有第二等效内阻，电连接于所述固定值电容的所述另一端与所述可调直流电压源的所述一端间，调整所述可调直流电压源大小以调整所述电容压降大小，所述开关是双极晶体管或场效晶体管，调整所述开关的速度以调整所述电容压降的产生速度，所述可调限流电阻是用以调整所述电容压降的信号强弱，当所述开关导通时，产生所述电容压降，且所述电容压降是所述直流输入电源与所述可调直流电压源间的电压差。
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Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN206821064U (zh) * | 2017-05-23 | 2017-12-29 | 歌尔科技有限公司 | 一种耐电压测试的结构及电路板 |
| CN109828190A (zh) * | 2019-02-22 | 2019-05-31 | 珠海高赢电子科技有限公司 | 漆包线击穿电压测试装置及测试方法 |
| CN110247368A (zh) * | 2018-03-09 | 2019-09-17 | 陈晓萍 | 保护电路 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN203798938U (zh) * | 2014-04-02 | 2014-08-27 | 泉州市鲤城区强力巨彩光电科技有限公司 | 一种电容测试装置 |
| CN104020357B (zh) * | 2014-05-29 | 2017-03-29 | 南京航空航天大学 | 一种直流偏压下的电容测试电路及测试方法 |
| CN104597361A (zh) * | 2015-03-07 | 2015-05-06 | 黄宇嵩 | 电容性能检测器 |
| US9646657B2 (en) * | 2015-09-04 | 2017-05-09 | Intel Corporation | Power loss capacitor test using voltage ripple |
| CN209296837U (zh) * | 2018-12-07 | 2019-08-23 | 北京金风科创风电设备有限公司 | 电容测试装置及设备 |
-
2020
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-
2021
- 2021-02-25 CN CN202110210487.6A patent/CN114002616A/zh active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN206821064U (zh) * | 2017-05-23 | 2017-12-29 | 歌尔科技有限公司 | 一种耐电压测试的结构及电路板 |
| CN110247368A (zh) * | 2018-03-09 | 2019-09-17 | 陈晓萍 | 保护电路 |
| CN109828190A (zh) * | 2019-02-22 | 2019-05-31 | 珠海高赢电子科技有限公司 | 漆包线击穿电压测试装置及测试方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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