CN113970826A - 一种具有可调法珀干涉器的成像组件和光学采集设备 - Google Patents

一种具有可调法珀干涉器的成像组件和光学采集设备 Download PDF

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Abstract

一种具有可调法珀干涉器的成像组件，包括镜筒、镜筒爪和固定安装在所述镜筒内的透镜组，镜筒固定安装在镜筒爪上，其中镜筒具有容纳透镜组的中空内腔，中空内腔的内壁上设有用于固定可调法珀干涉器的固定单元；并且镜筒还设有导电部件，以实现可调法珀干涉器的对外电连接。本发明还提供一种光学采集设备，包括如前所述的成像组件以及PCB电路板，PCB电路板上设置有用于固定镜筒爪的固定装置，固定装置与镜筒爪贴合的部位设置有焊盘以与镜筒爪上的导电部件电连接。通过上述结构，可调法珀干涉器及其支撑结构能固定在镜筒的内部，得到稳定的支撑并实现对外的电气连接，便于整个成像组件作为整体进行组装测试，提高了成像组件的组装测试效率。

Description

一种具有可调法珀干涉器的成像组件和光学采集设备
技术领域
本发明涉及数码成像设备领域，特别涉及一种具有可调法珀干涉器的成像组件和光学采集设备。
背景技术
可调法珀干涉器是精密器件，对应力敏感，外部作用的应力较大的情况下会造成可调法珀干涉器产生变形，从而报废，因此需要安装支撑结构对可调法珀干涉器进行固定和电气连接。现有的数码成像设备中，可调法珀干涉器及其支撑结构与透镜组等光学元件在结构上是分离的，因此，在进行组装测试时需要调整二者之间的位置以保证其能配合工作，测试不方便且测试效率低。
发明内容
为解决上述现有技术存在的成像组件测试不便且测试效率低的问题，本申请的目的在于提供一种具有可调法珀干涉器的成像组件，通过将可调法珀干涉器及其支撑结构与透镜组整合为一个整体，以解决上述因结构分离所带来的组装测试不便的问题。
本发明提供一种具有可调法珀干涉器的成像组件，包括镜筒、镜筒爪和固定安装在所述镜筒内的透镜组，所述镜筒固定安装在所述镜筒爪上，其中所述镜筒具有容纳所述透镜组的中空内腔，所述中空内腔的内壁上设有用于固定所述可调法珀干涉器的固定单元；并且所述镜筒还设有导电部件，以实现所述可调法珀干涉器的对外电连接。通过上述结构，可调法珀干涉器及其支撑结构能固定在镜筒的内部，得到稳定的支撑并实现对外的电气连接，便于整个成像组件作为整体进行组装测试，提高了成像组件的组装测试效率。
在一个优选的实施例中，所述可调法珀干涉器具有块状结构，并且所述块状结构的表面设有焊盘以由所述导电部件电连接。块状结构便于可调法珀干涉器在镜筒内的安装固定，焊盘用于对外的电连接。
在一个优选的实施例中，所述成像组件还包括滤光片，所述光学滤光片被设置在成像组件的光路上以与所述可调法珀干涉器配合工作。滤光片将不需要的波段截止，不让其透过。
在一个优选的实施例中，所述固定单元包括固定连接在所述镜筒内腔壁上的上卡环和下卡环，所述可调法珀干涉器嵌入所述上卡环和下卡环之间。此结构给可调法珀干涉器提供稳定支撑，且便于安装固定在镜筒内。
在一个优选的实施例中，所述导电部件包括设置在所述上卡环或下卡环上且对应于所述可调法珀干涉器的焊盘的内表面的内焊盘；所述内焊盘与所述可调法珀干涉器的焊盘电连接并通过所述内焊盘的外端对外电连接。通过内焊盘的设置便于将可调法珀干涉器与外部电连接。
在一个优选的实施例中，所述内焊盘通过导电胶与所述可调法珀干涉器的焊盘电连接。导电胶保证电连接的稳定性。
在一个优选的实施例中，所述内焊盘与所述可调法珀干涉器的焊盘触压导电。触压导电模式结构简单，减少成本和工序。
在一个优选的实施例中，所述镜筒还设有沿镜筒圆周并与所述内腔等深的镜筒腔，所述导电部件还包括与所述内焊盘外端连接并在镜筒腔内走线的内导线。导电部件在镜筒腔内走线，使电气连接线路更为安全和美观。
在一个优选的实施例中，所述导电部件还包括在所述镜筒爪内壁走线的外导线和在所述镜筒爪下方设置的外焊盘，所述内导线与所述镜筒爪内走线的外导线连接，并延伸连接至所述镜筒爪下方的外焊盘以实现对外电连接。导电部件在镜筒爪内部走线，使成像组件的电气连接线路隐蔽在内，更为安全和美观。
在一个优选的实施例中，所述外导线是柔性线路板，所述外焊盘设置于所述柔性线路板上。此种结构使导电部件对外连接更灵活方便。
本发明还提供了一种光学采集设备，包括如前实施例所述的成像组件，还包括PCB电路板，所述PCB电路板上设置有用于固定所述镜筒爪的固定装置，所述固定装置与所述镜筒爪贴合的部位设置有焊盘以与所述镜筒爪上的导电部件电连接。PCB电路板为可调法珀干涉器提供信号。
在一个优选的实施例中，所述PCB电路板上还设置有CMOS传感器，所述CMOS传感器用于采集来自所述光学组件的入射光。
在一个优选的实施例中，所述PCB电路板上还设置有控制器，用于控制所述CMOS传感器和/或所述可调法珀干涉器。
本发明公开的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，包括镜筒、镜筒爪和固定安装在所述镜筒内的透镜组，所述镜筒固定安装在所述镜筒爪上，其中所述镜筒具有容纳所述透镜组的中空内腔，所述中空内腔的内壁上设有用于固定所述可调法珀干涉器的固定单元；并且所述镜筒还设有导电部件，以实现所述可调法珀干涉器的对外电连接。通过上述结构，可调法珀干涉器及其支撑结构能固定在镜筒的内部，得到稳定的支撑并实现对外的电气连接，便于整个成像组件作为整体进行组装测试，提高了成像组件的组装测试效率。
附图说明
包括附图1，以提供对实施例的进一步理解并且附图被并入本说明书中并且构成本说明书的一部分。附图图示了实施例并且与描述一起用于解释本发明的工作原理。将容易认识到其它实施例和实施例的很多预期优点，因为通过引用以下详细描述，它们变得被更好地理解。附图的元件不一定是相互按照比例的。同样的附图标记指代对应的类似部件。
图1是本发明一种具有可调法珀干涉器的成像组件的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
下面结合附图和实施例对本发明作详细的说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的技术特征可以相互组合。
如图1所示，本发明提供了一种具有可调法珀干涉器的成像组件，包括镜筒1、镜筒爪2和固定安装在所述镜筒内的透镜组8，所述镜筒1固定安装在所述镜筒爪2上，其中所述镜筒1具有容纳所述透镜组的中空内腔101，所述中空内腔101的内壁上设有用于固定所述可调法珀干涉器3的固定单元4；并且所述镜筒1还设有导电部件5，以实现所述可调法珀干涉器3的对外电连接。通过上述结构，可调法珀干涉器及其固定单元能固定在镜筒的内部，得到稳定的支撑并实现电气连接，便于整个成像组件作为整体进行组装测试，提高了成像组件的组装测试效率。
在具体的实施例中，所述可调法珀干涉器3具有块状结构，并且所述块状结构的表面设有焊盘以由所述导电部件5电连接。块状结构便于可调法珀干涉器3在镜筒1内的安装固定，焊盘用于对外的电连接。
在具体的实施例中，所述成像组件还包括滤光片6，所述光学滤光片6被设置在成像组件的光路上以与所述可调法珀干涉器3配合工作。滤光片6将不需要的波段截止，不让其透过。
滤光片6可置于可调法珀干涉器3的上方位置，也可以置于可调法珀干涉器的下方位置，根据实际镜头的设计情况选择应用，同样可以实现本发明的技术效果。
在具体的实施例中，所述固定单元4包括固定连接在所述镜筒内腔壁上的上卡环41和下卡环42，所述可调法珀干涉器3嵌入所述上卡环41和下卡环42之间。此结构给可调法珀干涉器3提供稳定支撑，且便于安装固定在镜筒1内，并保证通过可调法珀干涉器3的光路。
固定单元4依附于镜筒1，与镜筒1之间保持绝缘，避免与镜筒1之间的电气导通，同时固定单元4表面涂覆黑漆，以避免透光，影响通过可调法珀干涉器的光线折射。
在具体实施例中，所述导电部件5包括设置在所述上卡环41或下卡环42上且对应于所述可调法珀干涉器3的焊盘的内表面的内焊盘51；所述内焊盘51与所述可调法珀干涉器3的焊盘电连接并通过所述内焊盘51的外端对外电连接。通过内焊盘51的设置便于将可调法珀干涉器3与外部电连接。
内焊盘51的位置由可调法珀干涉器的正向或倒置决定，设置在上卡环41的内表面上，或者设置在下卡环42的内表面上。
在具体的实施例中，所述内焊盘51通过导电胶与所述可调法珀干涉器3的焊盘电连接。软性导电胶使内焊盘51与可调法珀干涉器3的焊盘紧密接触，保证电连接的稳定性。
在具体的实施例中，所述内焊盘51与所述可调法珀干涉器3的焊盘触压导电。通过触压导电的方式，减少点胶的工艺环节，节省导电胶材料的使用量。
在具体的实施例中，所述镜筒1还设有沿镜筒圆周并与所述内腔101等深的镜筒腔102，所述导电部件5还包括与所述内焊盘51外端连接并在镜筒腔102内走线的内导线52。内导线52在镜筒腔内走线，电气连接线路隐蔽，外观美观、安全。
也可以在镜筒内壁上开设引线孔，将与内焊盘51外端连接的导线从引线孔引出直接对外电气连接。
在具体的实施例中，所述导电部件5还包括在所述镜筒爪2内壁走线的外导线53和在所述镜筒爪2下方设置的外焊盘54，所述内导线52与所述镜筒爪2内走线的外导线53连接，并延伸连接至所述镜筒爪2下方的外焊盘54以实现对外电连接。成像组件的电气连接全部在镜筒内部走线，更加美观和安全。
外焊盘54可以作为镜筒爪2的一部分，固定设置于镜筒爪下方；也可以游离设置于与镜筒爪2之外，例如，设置在外导线54的末端。
在具体的实施例中，所述外导线53是柔性线路板，所述外焊盘54设置于所述柔性线路板上。此种结构更便于电气连接，方便成像组件与各种规格型号的元器件配合组装。
本发明还提供了一种光学采集设备，包括如前所述的成像组件，还包括PCB电路板7，所述PCB电路板7上设置有用于固定所述镜筒爪2的固定装置，所述固定装置与所述镜筒爪2贴合的部位设置有焊盘以与所述镜筒爪2上的导电部件5电连接。
在具体的实施例中，所述PCB电路板7上还设置有CMOS传感器，所述CMOS传感器用于采集来自所述光学组件的入射光。经过滤光片6后的光进入所述CMOS传感器，CMOS传感器可以捕捉单波段二维的图像信息和每个像素的光谱信息，通过电信号传输到外部处理器，再整合成照片和光谱曲线，最后根据光谱曲线做相关的应用和分析。
在具体的实施例中，所述PCB电路板上还设置有控制器，用于控制所述CMOS传感器和/或所述可调法珀干涉器。
在上述具体实施例中公开的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，包括镜筒、镜筒爪和固定安装在所述镜筒内的透镜组，所述镜筒固定安装在所述镜筒爪上，其中所述镜筒具有容纳所述透镜组的中空内腔，所述中空内腔的内壁上设有用于固定所述可调法珀干涉器的固定单元；并且所述镜筒还设有导电部件，以实现所述可调法珀干涉器的对外电连接。通过上述结构，可调法珀干涉器及其支撑结构能固定在镜筒的内部，得到稳定的支撑并实现对外的电气连接，便于整个成像组件作为整体进行组装测试，提高了成像组件的组装测试效率。
虽然上面结合具体实施例对本发明的原理进行了详细的描述，本领域技术人员应该理解，上述实施例仅仅是对本发明的示意性实现方式的解释，并非对本发明包含范围的限定。实施例中的细节并不构成对本发明范围的限制，在不背离本发明的精神和范围的情况下，任何基于本发明技术方案的等效变换、简单替换等显而易见的改变，均落在本发明保护范围之内。

Claims (13)

1.一种具有可调法珀干涉器的成像组件，包括镜筒、镜筒爪和固定安装在所述镜筒内的透镜组，所述镜筒固定安装在所述镜筒爪上，其特征在于，其中所述镜筒具有容纳所述透镜组的中空内腔，所述中空内腔的内壁上设有用于固定所述可调法珀干涉器的固定单元；并且所述镜筒还设有导电部件，以实现所述可调法珀干涉器的对外电连接。
2.根据权利要求1所述的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，其特征在于，所述可调法珀干涉器具有块状结构，并且所述块状结构的表面设有焊盘以由所述导电部件电连接。
3.根据权利要求2所述的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，其特征在于，所述成像组件还包括滤光片，所述滤光片被设置在成像组件的光路上以与所述可调法珀干涉器配合工作。
4.根据权利要求1所述的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，其特征在于，所述固定单元包括固定连接在所述镜筒内腔壁上的上卡环和下卡环，所述可调法珀干涉器嵌入所述上卡环和下卡环之间。
5.根据权利要求4所述的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，其特征在于，所述导电部件包括设置在所述上卡环或下卡环上且对应于所述可调法珀干涉器的焊盘的内表面的内焊盘；所述内焊盘与所述可调法珀干涉器的焊盘电连接并通过所述内焊盘的外端对外电连接。
6.根据权利要求5所述的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，其特征在于，所述内焊盘通过导电胶与所述可调法珀干涉器的焊盘电连接。
7.根据权利要求5所述的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，其特征在于，所述内焊盘与所述可调法珀干涉器的焊盘触压导电。
8.根据权利要求5所述的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，其特征在于，所述镜筒还设有沿镜筒圆周并与所述内腔等深的镜筒腔，所述导电部件还包括与所述内焊盘外端连接并在镜筒腔内走线的内导线。
9.根据权利要求8所述的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，其特征在于，所述导电部件还包括在所述镜筒爪内壁走线的外导线和在所述镜筒爪下方设置的外焊盘，所述内导线与所述镜筒爪内走线的外导线连接，并延伸连接至所述镜筒爪下方的外焊盘以实现对外电连接。
10.根据权利要求9所述的一种具有可调法珀干涉器的成像组件，其特征在于，所述外导线是柔性线路板，所述外焊盘设置于所述柔性线路板上。
11.一种光学采集设备，其特征在于，包括如权利要求1-10中任何一项所述的成像组件，还包括PCB电路板，所述PCB电路板上设置有用于固定所述镜筒爪的固定装置，所述固定装置与所述镜筒爪贴合的部位设置有焊盘以与所述镜筒爪上的导电部件电连接。
12.根据权利要求11所述的一种光学采集设备，其特征在于，其中所述PCB电路板上还设置有CMOS传感器，所述CMOS传感器用于采集来自所述光学组件的入射光。
13.根据权利要求12所述的一种光学采集设备，其中所述PCB电路板上还设置有控制器，用于控制所述CMOS传感器和/或所述可调法珀干涉器。
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