CN113865632B - 电子设备内部磁场的校准方法、装置、系统及介质 - Google Patents

Abstract

本公开是关于一种电子设备内部磁场的校准方法、装置、系统及介质，电子设备包括可移动的摄像头以及随摄像头移动的磁体，校准方法包括第一校准方法：摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移；根据当前磁场参数和当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，其中，预设对应关系用于表征磁场参数与摄像头的位移的对应关系；若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准，避免出现因电子设备的内部磁场受到干扰而造成摄像头移动位置不准确的问题。

Description

电子设备内部磁场的校准方法、装置、系统及介质

技术领域

本公开涉及智能设备领域，尤其涉及一种电子设备内部磁场的校准方法、装置、系统及介质。

背景技术

相关技术中，移动设备通过霍尔传感器检测滑动指令等。对于具有折叠屏的移动设备，还可以使用霍尔传感器检测移动设备的张开角度，控制折叠屏的显示状态。

霍尔传感器通过检测其周围磁场的变化，输出不同的检测结果。然而，当霍尔传感器周围的磁性物质被磁化时，会严重干扰并影响霍尔传感器的工作状态，影响霍尔传感器的检测准确性，进而造成电子设备出现使用问题，影响用户的使用体验。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种电子设备内部磁场的校准方法、装置、系统及介质。

根据本公开实施例的第一方面，提供了一种电子设备内部磁场的校准方法，电子设备包括可移动的摄像头以及随摄像头移动的磁体，所述校准方法包括第一校准方法，所述第一校准方法包括：

摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移；

根据所述当前磁场参数和所述当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，其中，所述预设对应关系用于表征磁场参数与摄像头的位移的对应关系；

若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准。

可选地，所述根据所述当前磁场参数和所述当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，包括：

获取预存的所述预设对应关系；

根据所述当前磁场参数和所述预设对应关系，确定与所述当前磁场对应的预设位移；

根据所述当前位移和预设位移，判断电子设备的内部磁场是否需要校准。

可选地，所述根据所述当前位移和预设位移，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，包括：

判断所述当前位移与所述预设位移是否相同；

当所述当前位移与所述预设位移相同，确定电子设备的内部磁场不需要校准；

当所述当前位移与所述预设位移不相同，确定电子设备的内部磁场需要校准。

可选地，所述若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准，包括：

控制摄像头进行预设次数移动；

摄像头每一次移动过程中，获取多个校准磁场参数，以及摄像头的与每一个所述校准磁场参数对应的校准位移；

根据多个所述校准磁场参数和每个所述校准磁场参数对应的位移，确定所述校准磁场参数和与其对应的位移的校准对应关系；

根据所述校准对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。

可选地，所述根据所述校准对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准，包括：

删除所述预设对应关系；

将所述校准对应关系作为所述预设对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。

可选地，所述校准方法还包括第二校准方法，所述第二校准方法包括：

对电子设备中的金属结构进行退磁处理，或者，对电子设备中的金属结构施加同一磁场，以实现磁场均匀处理。

根据本公开实施例的第二方面，提供了一种电子设备内部磁场的校准装置，应用于电子设备，电子设备包括可移动的摄像头以及随摄像头移动的磁体，所述校准装置包括：

获取模块，用于在摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移；

确定模块，根据所述当前磁场参数和所述当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，其中，所述预设对应关系用于表征磁场参数与摄像头的位移的对应关系；

校准模块，用于若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准。

优选地，所述获取模块，还用于获取预存的所述预设对应关系；

所述确定模块具体用于：

获取预存的所述预设对应关系；

根据所述当前磁场参数和所述预设对应关系，确定与所述当前磁场对应的预设位移；

根据所述当前位移和预设位移，判断电子设备的内部磁场是否需要校准。

可选地，所述确定模块具体用于：

判断所述当前位移与所述预设位移是否相同；

当所述当前位移与所述预设位移相同，确定电子设备的内部磁场不需要校准；

当所述当前位移与所述预设位移不相同，确定电子设备的内部磁场需要校准。

可选地，所述校准模块具体用于：

控制摄像头进行预设次数移动；

摄像头每一次移动过程中，获取多个校准磁场参数，以及摄像头的与每一个所述校准磁场参数对应的校准位移；

根据多个所述校准磁场参数和每个所述校准磁场参数对应的位移，确定所述校准磁场参数和与其对应的位移的校准对应关系；

根据所述校准对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。

可选地，所述校准模块具体用于：

删除所述预设对应关系；

将所述校准对应关系作为所述预设对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种摄像头移动控制系统，应用于电子设备，电子设备包括可移动的摄像头，所述控制系统包括霍尔传感器和随摄像头一同移动的磁体，所述霍尔传感器用于检测摄像头移动过程中，磁体的磁场变化；

所述控制系统还包括控制器，所述控制器分别与所述霍尔传感器和所述摄像头电连接；

所述控制系统被配置为实现如上所述的电子设备内部磁场的校准方法。

可选地，所述控制系统还包括驱动控制单元，所述驱动控制单元与所述控制器电连接，所述驱动控制单元用于通过驱动结构驱动摄像头移动。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：本公开中的校准方法能够快速确定电子设备内部的磁场是否需要校准，当电子设备内部的磁场出现不准确的情况时，及时对电子设备内部的磁场进行校准，避免出现因电子设备的内部磁场受到干扰而造成摄像头移动位置不准确的问题。

本公开中的校准方法能够在电子设备使用过程中对当前电子设备的内部磁场进行校准，提高电子设备控制过程的可靠性和准确性，提升用户的使用体验。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的电子设备的内部磁场的校准方法的流程图。

图2是根据一示例性实施例示出的电子设备的内部磁场的校准方法的流程图。

图3是根据一示例性实施例示出的电子设备的内部磁场的校准方法的流程图。

图4是根据一示例性实施例示出的电子设备的内部磁场的校准方法的流程图。

图5是根据一示例性实施例示出的电子设备的内部磁场的校准方法的框图。

图6是根据一示例性实施例示出的摄像头移动控制系统的框图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。

相关技术中，移动设备通过霍尔传感器检测滑动指令等。对于具有折叠屏的移动设备，还可以使用霍尔传感器检测移动设备的张开角度，进而控制折叠屏的显示状态。

霍尔传感器在工作过程中，通过检测其周围磁场的变化，输出不同的检测结果。然而，当霍尔传感器周围的磁性物质被磁化时，会严重干扰霍尔传感器的工作状态，影响霍尔传感器的检测准确性，进而造成电子设备出现使用问题，影响用户的使用体验。

由于磁化过程涉及磁性物质分子内部磁矩，与物质所处的空间磁场有关，但与磁化的时间长短无关。为了解决上述霍尔传感器周围的物质被磁化，影响霍尔传感器检测准确性的问题，可以使移动设备中全部物质的磁化效果保持一致，或者，可以根据需要对移动设备中被磁化的物质进行退磁处理，以使移动设备的空间磁场保持一致。

下面对本公开中的技术内容的应用场景进行介绍。本公开中的技术内容应用于具有弹出式摄像头的电子设备。电子设备还包括磁体，在摄像头移动过程中，磁体随着摄像头一同运动，霍尔传感器通过检测磁体的磁场，以及磁场与摄像头位移的对应关系，确定出弹出式摄像头的推出位置，优化弹出式摄像头的工作过程。

摄像头移动过程中，霍尔传感器检测随着摄像头移动的磁体的在三维空间中的磁场变化，磁体的磁场随着摄像头变化呈现一定的变化关系，比如，可以是正弦或者余弦关系。通过对于磁体在x轴或者y轴上的磁场分量做比例或者其他运算，得到磁体的磁场B的变化与运动位移之间呈现的线性关系或者其他关系，然后以该关系作为霍尔传感器检测到的磁场数值与位移之间的关系模型写入电子设备中，以实现对于摄像头位移的运动位置的检测。

然而，由于摄像头的附近存在各种金属结构，比如，摄像头附近的金属装饰件和用户实现固定效果的金属螺丝钉等，这些金属结构在其加工过程中容易被磁化，造成这些金属结构带有一定的磁性，这些金属结构产生的磁场会影响到霍尔传感器对于磁体的磁场变化的检测结果，影响根据磁场数值和关系模型对摄像头位移的判断。因此，需要对电子设备内部的磁场信息进行校准，以提高摄像头移动过程的控制准确性。

本公开提供了一种电子设备内部磁场的校准方法，应用在具有弹出式摄像头的电子设备上，用户在使用弹出式摄像头进行拍摄时，以电子设备中的固定部件作为参考物，弹出式摄像头相对参考物可移动。通过对电子设备的内部磁场及时进行校准，解决了由于电子设备的内部磁场不准确造成摄像头移动位置不准确的问题。提升了摄像头弹出过程的控制稳定性和可靠性，提升了用户的使用体验。

在一个示例性实施例中，公开了一种电子设备内部磁场的校准方法，本实施例中的校准方法应用在电子设备的使用阶段，使用阶段是指用户购买手机后的使用过程，更确切的说是指用户购买手机后使用本实施例中的弹出式摄像头进行拍摄的过程。本实施例中的电子设备包括摄像头，摄像头能够相对电子设备中的某一固定位置移动。在摄像头上或者摄像头的连接件上设置有磁体，在摄像头移动过程中，磁体随着摄像头一起运动。磁体移动过程中，磁体周围的磁场会发生变化。本实施例中的电子设备还包括用于检测磁场变化的霍尔传感器，摄像头移动过程中，霍尔传感器检测磁体的磁场变化，根据磁场的变化确定摄像头的移动位置。

本实施例中的校准方法包括应用于电子设备使用阶段的第一校准方法，本实施例中的第一校准方法的执行主体是电子设备的控制器，比如，电子设备的主控芯片。如图1所示，第一校准方法包括：

S110、摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移。

在步骤S110中，磁体的当前磁场参数可以由霍尔传感器检测获得。摄像头在移动过程中，磁体随着摄像头一同运动，霍尔传感器在此过程中持续对磁体的磁场进行检测，比如，每间隔50ms检测一次。当摄像头移动至某一位置时，霍尔传感器将当前状态下磁体的当前磁场参数传输给电子设备的控制器。

同时，在步骤S110中，电子设备的控制器也可以获取到摄像头的当前位移，当前位移比如可以通过位移检测装置获得。

S120、根据当前磁场参数和当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，其中，预设对应关系用于表征磁场参数与摄像头的位移的对应关系。

在步骤S120中，预设对应关系在电子设备出厂之前就已经预存在电子设备中。在电子设备出厂之前，需要经过多次试验确定出电子设备的摄像头由第一位置移动至第二位置过程中，摄像头在第一位置和第二位置之间的各个停留位置时，磁体的磁场参数，进而确定出摄像头的位移与磁场参数之间的对应关系。

通过获取当前磁场参数和当前位移，利用当前磁场参数和当前位移与预设对应关系进行比对，根据比对结果判断电子设备的内部磁场是否需要校准，以确保在电子设备的当前状态下的内部磁场中，霍尔传感器检测的磁场参数和摄像头的位移能够持准确性和可靠性。

S130、若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准。

该步骤中的第一预设方法是写入至电子设备的存储器中的，当电子设备的控制器判断出电子设备的内部磁场需要进行校准时，执行第一预设方法对电子设备的内部磁场进行校准，以使霍尔传感器检测的磁场参数和摄像头的位移能够适应电子设备的当前状态下的内部磁场。

在一个示例性实施例中，本实施例中的电子设备内部磁场的校准方法应用在电子设备使用过程中。如图2所示，本实施例中的校准方法包括：

S210、摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移。

该步骤中，与上述实施例中的步骤S110的实现方式相同，在此，不再赘述。

S220、获取预存的预设对应关系。

本实施例中的预设对应关系存储在电子设备的存储器中，当需要使用预设对应关系时，电子设备的控制器可以直接从存储器中调用。

预设对应关系用于表征磁场参数与位移的对应关系，磁场参数与位移的关系一一对应。比如，以第一位置作为参考位置，摄像头在第一位置时，磁体在该位置下的磁场参数为第一参数；当摄像头由第一位置移动至第二位置时，位移为A，磁场在该位置下的磁场参数为第二参数。则位移A与第二参数对应。

在此，需要说明的是，本实施例中的预设对应关系中涉及到的摄像头的位移，可以是摄像头相对参考位置的位移差值，也可以是摄像头的位置相对参考位置的坐标值。

S230、根据当前磁场参数和预设对应关系，确定与当前磁场对应的预设位移。

在该步骤中，在控制器从霍尔传感器处获取到当前磁场参数后，采用遍历方式或者索引方式从预设对应关系中确定出与当前磁场参数对应的预设位移。该预设位移是存储在预设对应关系中，与当前磁场参数对应的，摄像头本该移动到的位置(也即本该相对参考位置的位移)。

S240、根据当前位移和预设位移，判断电子设备的内部磁场是否需要校准。

在步骤S230中确定了预设位移后，通过比较当前位移和预设位移，根据比较结果判断电子设备的内部磁场是否需要校准。该步骤中涉及到的比较过程在后续实施例中有详细说明，在此不再赘述。

在此，需要说明的是，在对当前位移和预设位移进行比较过程中，根据实际情况，两者之间的关系并不一定是相同或者不同的关系，还可以是倍数关系等。

S250、若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准。

在一个示例性实施例中，如图3所示，本实施例中的校准方法包括：

S310、摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移。

S320、获取预存的预设对应关系。

S330、根据当前磁场参数和预设对应关系，确定与当前磁场对应的预设位移。

步骤S310至S330的实现方式与上述实施例中的步骤S210至S230的实现方式相同，在此，不再赘述。

S340、判断当前位移与预设位移是否相同；

如果相同，则执行步骤S350；如果不相同，则执行步骤S360。

S350、电子设备的内部磁场不需要校准。

S360、电子设备的内部磁场需要校准。

S370、根据第一预设方法进行校准。

在本实施例中，根据当前位移和预设位移，判断是否需要对电子设备的内部磁场进行校准时采用的方式为，判断当前位移和预设位移是否相同。如果两者相同，说明电子设备在当前状态下的内部磁场与出厂之前或者上一次校准后的内部磁场的当前状态保持一致。也就是说，当前状态下的霍尔传感器检测的磁体的当前磁场参数和当前位移的对应关系，与预设对应关系中的磁场参数和位移的关系保持一致，无需对电子设备的内部磁场进行校准。

如果两者不同，说明电子设备在当前状态下的内部磁场与出厂之前或者上一次校准后的内部磁场的当前状态不一致。也就是说，当前状态下，摄像头的位移和磁体的磁场并不是按照预设对应关系在运动，说明摄像头和霍尔传感器附近一定有金属结构被磁化，金属结构被磁化后产生的磁场影响到了霍尔传感器的检测结果，造成摄像头的移动过程出错。为了保证通过霍尔传感器检测的磁体的当前磁场参数能够与摄像头的当前位移保持一致，需要对电子设备的内部磁场进行校准。

在一个示例性实施例中，如果电子设备的内部磁场需要校准时，可以采用本实施例中方法对内部磁场进行校准。本实施例是根据第一预设方法进行校准的过程，如图4所示，本实施例中的方法，包括：

S410、控制摄像头进行预设次数移动。

在该步骤中，预设次数可以根据实际情况进行设备，比如可以是三次、五次等。本实施例中，预设次数为三次，即控制摄像头在第一位置与第二位置之间往复运动三次。

其中，第一位置和第二位置是摄像头可以移动范围内的两个极限位置。

S420、摄像头每一次移动过程中，获取多个校准磁场参数，以及摄像头的与每一个校准磁场参数对应的校准位移。

在摄像头移动过程中，由于摄像头会在第一位置与第二位置两个极限位置之间存在多个停留位置。在每一次移动过程中，分别获取在每个停留位置上的霍尔传感器检测的磁体的磁场参数，该磁体参数就是校准参数，该停留位置就是校准位移。

当然，可以理解的是，如果摄像头在第一位置和第二位置之间不存在停留位置，永远只在第一位置或者第二位置停留，那么只需要获取摄像头在第一位置和第二位置时磁体的磁场参数。

S430、根据多个校准磁场参数和每个校准磁场参数对应的位移，确定校准磁场参数和与其对应的位移的校准对应关系。

在该步骤中，在摄像头的不同次的运动过程中，同一个停留位置上获得的预设次数个磁场参数可以通过平均值计算获得该位置上的校准磁场参数。把每一个停留位置上的位移和该位移对应的停留位置的位移建立对应关系，确定校准对应关系。

S440、根据校准对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。

该步骤中，在实施过程中，具体的实施方式是删除当前状态下已经存储在存储器中的预设对应关系，将当前状态下确定的校准对应关系存储至存储器中，作为下一次摄像头移动过程中的预设对应关系，从而实现对电子设备的内部磁场进行校准的过程。通过对电子设备的内部磁场进行校准，能够使霍尔传感器检测的当前磁场参数与摄像头的位移之间的对应关系符合当前状态下的磁场环境，保证摄像头移动过程的控制准确性和可靠性。

在一个示例性实施例中，提出了一种电子设备的内部磁场的校准方法，本实施例中的方法应用在电子设备出厂之前的测试阶段的第二校准方法。第二校准方法包括对电子设备以第二预设方法执行的磁场均匀处理。

在一个示例中，比如在出厂之前的测试阶段，如果发现霍尔传感器检测的磁场参数和摄像头的位于之间没有与预设对应关系中的对应关系进行对应，说明电子设备的内部存在干扰磁场。比如，霍尔传感器周围的螺丝钉被磁化后具有磁性，螺丝钉的磁场或影响磁体的磁场，导致霍尔传感器检测的磁体的磁场参数不准确。此时，需要对电子设备进行退磁处理。

在退磁过程中，可以选择施加反向磁场的方式进行退磁处理，还可以采用高温退磁的方式进行退磁处理。经过退磁处理后，检测之前被磁化的金属的磁性，如果之前被磁化的金属的磁性变为零，说明退磁过程完成。如果检测结果不为零，则需要继续进行退磁处理，直至之前被磁化的金属的磁性变为零。

在另一个示例中，通过对电子设备中的金属结构施加统一磁场的方式实现磁场均匀处理。比如，在电子设备出厂之前，通过机械设备将电子设备放置于磁铁上，磁铁的体积远远大于手机的体积。电子设备放置在磁铁上之后，电子设备中的金属结构全部被磁化，并且统一被磁化至同一状态，此时，电子设备内部的磁场环境处处都相同。在此情况下，由于磁场环境处处相等，并不会影响霍尔传感器的检测结果。

本公开还提供了一种电子设备内部磁场的校准装置，应用于电子设备，电子设备包括摄像头以及随摄像头移动的磁体。本实施例中的校准装置用于实现上述实施例中的电子设备内部磁场的校准方法。

在一个示例性实施例中，如图5所示，本实施例中的校准装置包括获取模块100、确定模块200和校准模块300，确定模块200分别与获取模块100和校准模块300电连接。本实施例中的校准装置可以集成在电子设备的控制器中，以实现上述方法实施例中的步骤S110至S130。

在实施过程中，获取模块100用于在摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移。确定模块200用于根据当前磁场参数和当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，其中，预设对应关系用于表征磁场参数与摄像头的位移的对应关系。校准模块300用于若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准。

在一个示例性实施例中，依旧参照图5，本实施例中的校准装置包括获取模块100、确定模块200和校准模块300，确定模块200分别与获取模块100和校准模块300电连接，本实施例中的校准装置用于实现上述方法实施例中的步骤S210至S250。在实施过程中，获取模块100除了用于获取摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移，还用于获取预存的预设对应关系。

在一个示例性实施例中，依旧参照图5，本实施例中的装置包括校准模块300，校准模块用于实现根据第一预设方法进行校准的步骤。在实施过程中，校准模块300用于实现方法实施例中的步骤S410至S440。

本公开还提供了一种摄像头移动控制系统，应用于具有弹出式摄像头的电子设备中，用于控制摄像头的移动过程中，本实施例中的摄像头移动控制系统用于执行上述实施例中的店址设备内部磁场的校准方法，以提高摄像头移动过程的准确性和可靠性。

在一个示例性实施例中，如图6所示，本实施例中的控制系统包括霍尔传感器400和随摄像头500一同移动的磁体600，霍尔传感器400用于检测摄像头500移动过程中，磁体600的磁场变化。

控制系统还包括控制器900，控制器900比如可以是电子设备的主控芯片。控制器900分别与霍尔传感器400和摄像头500电连接，控制器500与霍尔传感器400连接获得其检测的磁体600的磁场参数。

控制系统还包括驱动控制单元800，驱动控制单元800比如可以是驱动芯片，驱动控制单元800与控制器900电连接，驱动控制单元800用于通过驱动结构700驱动摄像头500移动。驱动结构700可以是现有技术中能够实现带动摄像头500沿直线运动的机械结构，比如微型气缸或者齿轮传动结构或者电机等，本领域技术人员均知晓上述结构的实现方式，在此，对机械结构不再赘述。

另外，本实施例中的霍尔传感器采用的是三轴霍尔传感器，是相关技术中用于对磁场进行检测的常用传感器，可以通过购买方式获得。霍尔传感器包括开关电路、模拟运放电路、采样电路、供电电路、震荡电路、数字和逻辑电路以及通信接口电路。上述霍尔传感器的内部结构是本领域技术人员均知晓的内容，在此，不再进行详细说明。本实施例中，霍尔传感器的通信接口电路通过通信结构与控制器电连接。

本实施例中的摄像头移动控制系统通过霍尔传感器检测随摄像头移动的磁体的磁场参数，确定摄像头是否按照设定的移动方式进行移动，实现了摄像头移动过程的闭环控制，提升了摄像头移动过程的控制准确性和可靠性。

本公开一个示例性实施例中提供的一种非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器，上述指令可由设备的处理器执行以完成上述方法。例如，计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。当存储介质中的指令由智能设备的处理器执行时，使得智能设备能够执行上述电子设备内部磁场的校准方法。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (11)

1.一种电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，电子设备包括可移动的摄像头以及随摄像头移动的磁体，所述校准方法包括第一校准方法，所述第一校准方法包括：

摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移；

根据所述当前磁场参数和所述当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，其中，所述预设对应关系用于表征磁场参数与摄像头的位移的对应关系；

若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准；

所述根据所述当前磁场参数和所述当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，包括：

获取预存的所述预设对应关系；

根据所述当前磁场参数和所述预设对应关系，确定与所述当前磁场对应的预设位移；

根据所述当前位移和预设位移，判断电子设备的内部磁场是否需要校准。

2.根据权利要求1所述的电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，所述根据所述当前位移和预设位移，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，包括：

判断所述当前位移与所述预设位移是否相同；

当所述当前位移与所述预设位移相同，确定电子设备的内部磁场不需要校准；

当所述当前位移与所述预设位移不相同，确定电子设备的内部磁场需要校准。

3.根据权利要求1所述的电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，所述若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准，包括：

控制摄像头进行预设次数移动；

摄像头每一次移动过程中，获取多个校准磁场参数，以及摄像头的与每一个所述校准磁场参数对应的校准位移；

根据多个所述校准磁场参数和每个所述校准磁场参数对应的位移，确定所述校准磁场参数和与其对应的位移的校准对应关系；

根据所述校准对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。

4.根据权利要求3所述的电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，所述根据所述校准对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准，包括：

删除所述预设对应关系；

将所述校准对应关系作为所述预设对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。

5.根据权利要求1所述的电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，所述校准方法还包括第二校准方法，所述第二校准方法包括：

对电子设备中的金属结构进行退磁处理，或者，对电子设备中的金属结构施加同一磁场，以实现磁场均匀处理。

6.一种电子设备内部磁场的校准装置，应用于电子设备，电子设备包括可移动的摄像头以及随摄像头移动的磁体，其特征在于，所述校准装置包括：

获取模块，用于在摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移；

确定模块，用于根据所述当前磁场参数和所述当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，其中，所述预设对应关系用于表征磁场参数与摄像头的位移的对应关系；

校准模块，用于若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准；

所述获取模块，还用于获取预存的所述预设对应关系；

所述确定模块具体用于：

获取预存的所述预设对应关系；

根据所述当前磁场参数和所述预设对应关系，确定与所述当前磁场对应的预设位移；

根据所述当前位移和预设位移，判断电子设备的内部磁场是否需要校准。

7.根据权利要求6所述的电子设备内部磁场的校准装置，其特征在于，所述确定模块具体用于：

判断所述当前位移与所述预设位移是否相同；

当所述当前位移与所述预设位移相同，确定电子设备的内部磁场不需要校准；

当所述当前位移与所述预设位移不相同，确定电子设备的内部磁场需要校准。

8.根据权利要求6所述的电子设备内部磁场的校准装置，其特征在于，所述校准模块具体用于：

控制摄像头进行预设次数移动；

摄像头每一次移动过程中，获取多个校准磁场参数，以及摄像头的与每一个所述校准磁场参数对应的校准位移；

根据多个所述校准磁场参数和每个所述校准磁场参数对应的位移，确定所述校准磁场参数和与其对应的位移的校准对应关系；

根据所述校准对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。

9.根据权利要求8所述的电子设备内部磁场的校准装置，其特征在于，所述校准模块具体用于：

删除所述预设对应关系；

将所述校准对应关系作为所述预设对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。

10.一种摄像头移动控制系统，应用于电子设备，电子设备包括可移动的摄像头，其特征在于，所述控制系统包括霍尔传感器和随摄像头一同移动的磁体，所述霍尔传感器用于检测摄像头移动过程中，磁体的磁场变化；

所述控制系统还包括控制器，所述控制器分别与所述霍尔传感器和所述摄像头电连接；

所述控制系统被配置为实现如权利要求1至5任一项所述的电子设备内部磁场的校准方法。

11.根据权利要求10所述的摄像头移动控制系统，其特征在于，所述控制系统还包括驱动控制单元，所述驱动控制单元与所述控制器电连接，所述驱动控制单元用于通过驱动结构驱动摄像头移动。