CN110736911A - 飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质 - Google Patents
飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110736911A CN110736911A CN201810791569.2A CN201810791569A CN110736911A CN 110736911 A CN110736911 A CN 110736911A CN 201810791569 A CN201810791569 A CN 201810791569A CN 110736911 A CN110736911 A CN 110736911A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- auxiliary
- points
- coordinates
- coordinate
- point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2812—Checking for open circuits or shorts, e.g. solder bridges; Testing conductivity, resistivity or impedance
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明属于PCB测试技术领域，涉及飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质。所述飞针测试方法包括：生成PCB的数字图像；预设辅助点的个数为N，将所述数字图像划分为N个辅助区域，并记录每一个辅助区域的坐标范围；并记录该辅助点的坐标；在所述PCB的正反两个测试面上，分别选择两个连线倾斜于PCB中线的焊点作为对位点；获取每一个所述对位点的机械坐标A；为每一个辅助点创建一个图像识别模板；在为每一个所述位置坐标确定的辅助区域内，相机根据该辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，结合所述位置坐标和所述机械坐标B计算探针到达该辅助区域内测试点的机械坐标C。本发明有利于提高飞针测试PCB开路点的准确度。
Description
技术领域
本发明属于PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)测试技术领域，涉及飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质。
背景技术
目前，PCB逐渐向轻薄化的方向发展，其电路结构变得越来越复杂，并且对可靠性的要求也越来越高。通常，PCB印制完成后需要使用探针对PCB的电路进行检测，例如测试PCB的电路是否存在不正常的开路。
现有技术中通常使用飞针测试方法测试PCB的开路点。当PCB的焊盘尺寸焊点间距较小时，现有技术中的飞针测试方法无法保证测试的准确度，因此在测试时容易出现一些假的开路点，此时往往需要再次进行测试。然而，现有技术中的飞针测试方法测试出假的开路点的原因往往是因为探针偏移了测试点，因此，现有技术中的飞针测试方法无法保证二次测试的准确度。
发明人在研究本发明的过程中发现，现有技术中的飞针测试方法存在测试的准确度偏低等技术问题。
发明内容
本发明的实施例公开了飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备、存储介质以及电子装置，旨在提高飞针测试PCB开路点的准确度。
本发明的一个或者多个实施例公开了一种飞针测试方法，应用于PCB。所述飞针测试方法包括：生成PCB的数字图像；预设辅助点的个数为N，将所述数字图像划分为N个辅助区域，并记录每一个辅助区域的坐标范围；为每一个辅助区域选定一个辅助点，并记录该辅助点的坐标；在所述PCB的正反两个测试面上，分别选择两个连线倾斜于PCB中线的焊点作为对位点；获取每一个所述对位点的机械坐标A；为每一个辅助点创建一个图像识别模板；根据每一个辅助点的坐标以及该辅助点距离所在测试面的两个对位点中较近的对位点的机械坐标A，计算相机到达每一个辅助点的机械坐标B；获取所述PCB上可能存在开路问题的测试点的位置坐标；根据各辅助区域的坐标范围，确定每一个所述位置坐标所处的辅助区域以及该辅助区域内辅助点的坐标；在为每一个所述位置坐标确定的辅助区域内，相机根据该辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，结合所述位置坐标和所述机械坐标B计算探针到达该辅助区域内测试点的机械坐标C；探针运动至所述机械坐标C对应的测试点并对该测试点进行测试。
在本发明的一个或者多个实施例中，所述飞针测试方法还包括：获取所述两个对位点连线中点的对位坐标，计算每一个辅助点的坐标与所述对位坐标的偏差值，所述机械坐标A加上或者减去所述偏差值得到相机运动至每一个辅助点的理论坐标。
在本发明的一个或者多个实施例中，所述飞针测试方法还包括：相机运动至所述理论坐标，并根据所述理论坐标所属的辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，计算搜索到的辅助点与该辅助区域内辅助点的坐标的偏移量，根据所述偏移量计算所述机械坐标B。
在本发明的一个或者多个实施例中，所述飞针测试方法还包括：相机运动至每一个辅助点，获取包括该辅助点在内的识别图像，基于所述识别图像生成该辅助点的图像识别模板。
本发明的一个或者多个实施例公开了一种飞针测试装置。所述飞针测试装置包括：PCB数字图像生成模块、图像识别模板创建模块、坐标处理模块(30)以及飞针测试模块；
所述PCB数字图像生成模块用于：生成PCB的数字图像；预设辅助点的个数为N，将所述数字图像划分为N个辅助区域，并记录每一个辅助区域的坐标范围；为每一个辅助区域选定一个辅助点，并记录该辅助点的坐标；
所述图像识别模板创建模块用于：在所述PCB的正反两个测试面上，分别选择两个连线倾斜于PCB中线的焊点作为对位点；获取每一个所述对位点的机械坐标A；根据每一个辅助点的坐标以及该辅助点距离所在测试面的两个对位点中较近的对位点的机械坐标A，计算相机到达每一个辅助点的机械坐标B；为每一个辅助点创建一个图像识别模板；
所述坐标处理模块用于：获取所述PCB上可能存在开路问题的测试点的位置坐标；根据各辅助区域的坐标范围，确定每一个所述位置坐标所处的辅助区域以及该辅助区域内辅助点的坐标；在为每一个所述位置坐标确定的辅助区域内，相机根据该辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，结合所述位置坐标和所述机械坐标B计算探针到达该辅助区域内测试点的机械坐标C；
所述飞针测试模块用于：控制探针运动至所述机械坐标C对应的测试点并对该测试点进行测试。
在本发明的一个或者多个实施例中，所述坐标处理模块还用于：获取所述两个对位点连线中点的对位坐标，计算每一个辅助点的坐标与所述对位坐标的偏差值，所述机械坐标A加上或者减去所述偏差值得到相机运动至每一个辅助点的理论坐标。
在本发明的一个或者多个实施例中，所述坐标处理模块还用于：相机运动至所述理论坐标，并根据所述理论坐标所属的辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，计算搜索到的辅助点与该辅助区域内辅助点的坐标的偏移量，根据所述偏移量计算所述机械坐标B。
在本发明的一个或者多个实施例中，所述图像识别模板创建模块还用于：控制相机运动至每一个辅助点，获取包括该辅助点在内的识别图像，基于所述识别图像生成该辅助点的图像识别模板。
本发明的一个或者多个实施例公开了一种飞针测试设备。所述飞针测试设备包括：控制部、驱动部、PCB承载平台、相机部以及飞针测试部；其中，所述控制部用于控制所述驱动部、所述相机部以及所述飞针测试部；所述驱动部用于驱动所述相机部和所述飞针测试部；所述PCB承载平台用于装载PCB；所述相机部用于从PCB上获取图像；所述飞针测试部用于对PCB进行飞针测试；所述飞针测试设备应用于上述任意一种飞针测试方法。
本发明的一个或者多个实施例公开了一种非暂态计算机可读存储介质。所述非暂态计算机可读存储介质中存储有计算机指令，所述计算机指令适于处理器加载，以实现上述任意一种飞针测试方法。
本发明的一个或者多个实施例公开了一种应用于飞针测试设备的电子装置。所述应用于飞针测试设备的电子装置包括：至少一个处理器、至少一个存储器、至少一个输入装置以及至少一个输出装置。所述处理器、存储器、输入装置以及输出装置通过总线相连。所述应用于飞针测试设备的电子装置用于实现上述任意一种飞针测试方法。
与现有技术相比，本发明公开的技术方案主要有以下有益效果：
在本发明的实施例中，所述辅助点和所述辅助区域的作用在于：首先，所述辅助点和所述辅助区域让相机在一个更小的范围内(相对于整个PCB而言)获取图像，因此相机能够获取到更多PCB的图像特征，有利于提高视觉定位的准确度，进而提高了测试点的机械坐标C的准确度，使得探针与测试点之间的偏移量更少，飞针测试PCB开路点的准确度更高。其次，通过计算获取所述辅助点的机械坐标B，相机运动至所述机械坐标B时，相机的视觉中心与所述辅助点的中心的同轴度更高，因此基于所述辅助区域对应的图像识别模板搜索所述辅助区域的辅助点时相应的准确度也会更高，有利于计算获取更准确的机械坐标C，减少了探针与测试点之间的偏移量，提高了飞针测试PCB开路点的准确度。再者，每一个辅助点的机械坐标B确定后，对多片同样的PCB进行飞针测试时无需反复计算获取每一个辅助点的机械坐标B，只需要根据每一个辅助区域的图像识别模板搜索对应的辅助点即可。由于PCB上开路点不一定只出现在同一处，对应的测试点的位置坐标也是不确定的，因此根据辅助区域的图像识别模板搜索对应的辅助点，然后计算测试点的机械坐标C，飞针测试PCB开路点的效率会更高。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明的一实施例中所述飞针测试方法一种可能的流程示意图；
图2为本发明的一实施例中生成图像识别模板所需步骤的流程图；
图3为本发明的一实施例中计算获取机械坐标B所需步骤的流程图；
图4为本发明的一实施例中一种PCB的数字图像的示意图；
图5为本发明的一实施例中一种飞针测试装置的示意图；
图6为本发明的一实施例中一种飞针测试设备的示意图；
图7为本发明的一实施例中飞针测试设备的电子装置的示意图。
附图标记说明：
具体实施方式
为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。
目前，PCB逐渐向轻薄化的方向发展，其电路结构变得越来越复杂，并且对可靠性的要求也越来越高。通常，PCB印制完成后需要使用探针对PCB的电路进行检测，例如测试PCB的电路是否存在不正常的开路。本发明的一些实施例公开了一种飞针测试方法，应用于PCB，尤其是测试PCB的开路问题。
参考图1，为本发明的一实施例中所述飞针测试方法一种可能的流程示意图。本领域的技术人员应当了解，图1中示意的各步骤的先后顺序不是绝对的。
如图1中所示意的，所述飞针测试方法包括：
步骤1：生成PCB的数字图像。
步骤2：预设辅助点的个数为N，将所述数字图像划分为N个辅助区域，并记录每一个辅助区域的坐标范围；为每一个辅助区域选定一个辅助点，并记录该辅助点的坐标。
步骤3：在所述PCB的正反两个测试面上，分别选择两个连线倾斜于PCB中线的焊点作为对位点；获取每一个所述对位点的机械坐标A。
步骤4：为每一个辅助点创建一个图像识别模板。
步骤5：根据每一个辅助点的坐标以及该辅助点距离所在测试面的两个对位点中较近的对位点的机械坐标A，计算相机到达每一个辅助点的机械坐标B。
步骤6：获取所述PCB上可能存在开路问题的测试点的位置坐标；根据各辅助区域的坐标范围，确定每一个所述位置坐标所处的辅助区域以及该辅助区域内辅助点的坐标。
步骤7：在为每一个所述位置坐标确定的辅助区域内，相机根据该辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，结合所述位置坐标和所述机械坐标B计算探针到达该辅助区域内测试点的机械坐标C。
步骤8：探针运动至所述机械坐标C对应的测试点并对该测试点进行测试。
在本发明的实施例中，探针和相机都基于机械坐标系运动。如果探针和相机要运动至辅助点、两个对位点的连线中点以及测试点，则需要获得辅助点、两个对位点的连线中点以及测试点在机械坐标系中对应的机械坐标。机械坐标A、机械坐标B以及机械坐标C仅用于区分不同类对象的机械坐标。
在本发明的实施例中，所述辅助点和所述辅助区域的作用在于：首先，所述辅助点和所述辅助区域让相机在一个更小的范围内(相对于整个PCB而言)获取图像，因此相机能够获取到更多PCB的图像特征，有利于提高视觉定位的准确度，进而提高了测试点的机械坐标C的准确度，使得探针与测试点之间的偏移量更少，飞针测试PCB开路点的准确度更高。其次，通过计算获取所述辅助点的机械坐标B，相机运动至所述机械坐标B时，相机的视觉中心与所述辅助点的中心的同轴度更高，因此基于所述辅助区域对应的图像识别模板搜索所述辅助区域的辅助点时相应的准确度也会更高，有利于计算获取更准确的机械坐标C，减少了探针与测试点之间的偏移量，提高了飞针测试PCB开路点的准确度。再者，每一个辅助点的机械坐标B确定后，对多片同样的PCB进行飞针测试时无需反复计算获取每一个辅助点的机械坐标B，只需要根据每一个辅助区域的图像识别模板搜索对应的辅助点即可。由于PCB上开路点不一定只出现在同一处，对应的测试点的位置坐标也是不确定的，因此根据辅助区域的图像识别模板搜索对应的辅助点，然后计算测试点的机械坐标C，飞针测试PCB开路点的效率会更高。
参考图2和图3，其中图2为本发明的一实施例中生成图像识别模板所需步骤的流程图，图3为本发明的一实施例中计算获取机械坐标B所需步骤的流程图。
所述飞针测试方法在创建图像识别模板阶段所需的步骤包括：
步骤1：生成PCB的数字图像。
步骤2：预设辅助点的个数为N，将所述数字图像划分为N个辅助区域，并记录每一个辅助区域的坐标范围；为每一个辅助区域选定一个辅助点，并记录该辅助点的坐标。
步骤3：在所述PCB的正反两个测试面上，分别选择两个连线倾斜于PCB中线的焊点作为对位点；获取每一个所述对位点的机械坐标A。
步骤4：为每一个辅助点创建一个图像识别模板。
如图2中所示意的，在本发明的一个或者多个实施例中，步骤4进一步包括：
步骤41：相机运动至每一个辅助点，获取包括该辅助点在内的识别图像。
步骤42：基于所述识别图像生成该辅助点的图像识别模板。
步骤5：根据每一个辅助点的坐标以及该辅助点距离所在测试面的两个对位点中较近的对位点的机械坐标A，计算相机到达每一个辅助点的机械坐标B。
如图3中所示意的，在本发明的一个或者多个实施例中，还可以采用以下的步骤计算相机到达每一个辅助点的机械坐标B：
步骤51：获取所述两个对位点连线中点的对位坐标。
步骤52：计算每一个辅助点的坐标与所述对位坐标的偏差值，所述机械坐标A加上或者减去所述偏差值得到相机运动至每一个辅助点的理论坐标。
步骤53：相机运动至所述理论坐标，并根据所述理论坐标所属的辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索。
步骤54：在搜索到该辅助区域内的辅助点时，计算搜索到的辅助点与该辅助区域内辅助点的坐标的偏移量，根据所述偏移量计算所述机械坐标B。
进一步地，所述飞针测试方法在生成所需的图像识别模板和机械坐标B后可进入实际测试阶段。实际测试阶段包括：
步骤6：获取所述PCB上可能存在开路问题的测试点的位置坐标；根据各辅助区域的坐标范围，确定每一个所述位置坐标所处的辅助区域以及该辅助区域内辅助点的坐标。
步骤7：在为每一个所述位置坐标确定的辅助区域内，相机根据该辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，结合所述位置坐标和所述机械坐标B计算探针到达该辅助区域内测试点的机械坐标C。
步骤8：探针运动至所述机械坐标C对应的测试点并对该测试点进行测试。
通常可能存在开路问题的测试点都会成对出现，下面将结合图4简述创建图像识别模板的过程和用双探针探测成对测试点的过程。
参考图4，为本发明的一实施例中一种PCB的数字图像的示意图。如图中所示意的，在平面坐标系X-Y内，根据PCB的长、宽等数据生成PCB的数字图像。
预设辅助点的个数为10，将所述数字图像划分为10个辅助区域，分别为：辅助区域a1、辅助区域a2、辅助区域a3、辅助区域a4、辅助区域a5、辅助区域a6、辅助区域a7、辅助区域a8、辅助区域a9以及辅助区域a10。记录每一个辅助区域在平面坐标系X-Y内的坐标范围。为每一个辅助区域选定一个辅助点(图4中各辅助区域内的黑色椭圆形区域)，并记录该辅助点在平面坐标系X-Y内的坐标。在所述PCB的一个测试面上，选择两个连线倾斜于PCB中线的焊点作为对位点(图4中对角线上的两个黑色三角形区域)，获取每一个所述对位点的机械坐标A。根据每一个辅助点的坐标以及该辅助点距离所在测试面的两个对位点中较近的对位点的机械坐标A，计算相机到达每一个辅助点的机械坐标B。为每一个辅助点创建一个图像识别模板。
假定在辅助区域a1和辅助区域a4内出现了一对可能存在开路问题的测试点(图4中辅助区域a1和辅助区域a4内的黑色矩形区域)。获取PCB上可能存在开路问题的测试点的位置坐标，也即两黑色矩形区域的中心坐标。根据各辅助区域的坐标范围，确定每一个所述位置坐标所处的辅助区域以及该辅助区域内辅助点的坐标。也即确定可能存在开路问题的两测试点位于辅助区域a1和辅助区域a4，并进一步确定辅助区域a1和辅助区域a4内各辅助点的坐标。
在为每一个所述位置坐标确定的辅助区域内，相机根据该辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，结合所述位置坐标和所述机械坐标B计算探针到达该辅助区域内测试点的机械坐标C。也即分别根据辅助区域a1和辅助区域a4内辅助点对应的图像识别模板进行搜索。在搜索到辅助区域a1内的辅助点时，结合辅助区域a1内的位置坐标和所述机械坐标B计算探针到达该辅助区域内测试点的机械坐标C。采用同样的方法计算辅助区域a4内的测试点对应的机械坐标C。
为辅助区域a1和辅助区域a4内的测试点分配探针，也即将两根探针中的一根分配给辅助区域a1内的测试点，而另一根探针则分配给辅助区域a4内的测试点。
分配给辅助区域a1内的探针运动至辅助区域a1内的测试点对应的机械坐标C，并对该机械坐标C处的测试点进行测试。分配给辅助区域a4内的探针运动至辅助区域a4内的测试点对应的机械坐标C，并对该机械坐标C处的测试点进行测试。最终完成成对测试点的双探针探测。
本发明的一实施例公开一种飞针测试装置。
参考图5，为本发明的一实施例中一种飞针测试装置的示意图。如图5中所示意的，所述飞针测试装置包括：PCB数字图像生成模块10、图像识别模板创建模块20、坐标处理模块30以及飞针测试模块40。
所述PCB数字图像生成模块10用于：生成PCB的数字图像；预设辅助点的个数为N，将所述数字图像划分为N个辅助区域，并记录每一个辅助区域的坐标范围；为每一个辅助区域选定一个辅助点，并记录该辅助点的坐标。
所述图像识别模板创建模块20用于：在所述PCB的正反两个测试面上，分别选择两个连线倾斜于PCB中线的焊点作为对位点；获取每一个所述对位点的机械坐标A；根据每一个辅助点的坐标以及该辅助点距离所在测试面的两个对位点中较近的对位点的机械坐标A，计算相机到达每一个辅助点的机械坐标B；为每一个辅助点创建一个图像识别模板。
所述坐标处理模块30用于：获取所述PCB上可能存在开路问题的测试点的位置坐标；根据各辅助区域的坐标范围，确定每一个所述位置坐标所处的辅助区域以及该辅助区域内辅助点的坐标；在为每一个所述位置坐标确定的辅助区域内，相机根据该辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，结合所述位置坐标和所述机械坐标B计算探针到达该辅助区域内测试点的机械坐标C。
所述飞针测试模块40用于：控制探针运动至所述机械坐标C对应的测试点并对该测试点进行测试。
在本发明的一个或者多个实施例中，所述坐标处理模块30还用于：获取所述两个对位点连线中点的对位坐标，计算每一个辅助点的坐标与所述对位坐标的偏差值，所述机械坐标A加上或者减去所述偏差值得到相机运动至每一个辅助点的理论坐标。
进一步地，所述坐标处理模块30还用于：相机运动至所述理论坐标，并根据所述理论坐标所属的辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，计算搜索到的辅助点与该辅助区域内辅助点的坐标的偏移量，根据所述偏移量计算所述机械坐标B。
在本发明的一个或者多个实施例中，所述图像识别模板创建模块20还用于：控制相机运动至每一个辅助点，获取包括该辅助点在内的识别图像，基于所述识别图像生成该辅助点的图像识别模板。
本发明的一实施例公开一种飞针测试设备。
参考图6，为本发明的一实施例中一种飞针测试设备的示意图。如图6中所示意的，所述飞针测试设备，包括：控制部100、驱动部200、PCB承载平台300、相机部400以及飞针测试部500；其中，所述控制部100用于控制所述驱动部200、所述相机部400以及所述飞针测试部500；所述驱动部200用于驱动所述相机部400和所述飞针测试部500；所述PCB承载平台300用于装载PCB；所述相机部400用于从PCB上获取图像；所述飞针测试部500用于对PCB进行飞针测试。本发明实施例中的飞针测试设备用于实现上述任意一种飞针测试方法。
在本发明的实施例中，所述驱动部200驱动相机部400以及飞针测试部500在机械坐标系内运动，因此所述相机部400和所述飞针测试部500需要获得对应的机械坐标才能到达指定的位置。
本发明的一实施例公开一种应用于飞针测试设备的电子装置。
参考图7，为本发明的一实施例中飞针测试设备的电子装置的示意图。如图7中所示意的，所述应用于飞针测试设备的电子装置包括：至少一个处理器201、至少一个存储器202、至少一个输入装置203以及至少一个输出装置204。所述处理器201、存储器202、输入装置203以及输出装置204通过总线205相连。所述电子装置用于实现上述任意一种飞针测试方法。
本发明的一实施例公开一种一种非暂态计算机可读存储介质。所述非暂态计算机可读存储介质中存储有计算机指令，所述计算机指令适于处理器加载，以实现上述任意一种飞针测试方法。
当上述各个实施例中的技术方案使用到软件实现时，可以将实现上述各个实施例的计算机指令和/或数据存储在计算机可读介质中或作为可读介质上的一个或多个指令或代码进行传输。计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质，其中通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。存储介质可以是计算机能够存储的任何可用介质。以此为例但不限于此：计算机可读介质可以包括RAM、ROM、EEPROM、CD-ROM或其他光盘存储、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质。此外，任何连接可以适当的成为计算机可读介质。例如，如果软件是使用同轴电缆、光钎光缆、双绞线、数字用户线(DSL)或者诸如红外线、无线电和微波之类的无线技术从网站、服务器或者其他远程源传输的，那么同轴电缆、光纤光缆、双绞线、DSL或者诸如红外线、无线和微波之类的无线技术包括在所述介质的定义中。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制。尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种飞针测试方法，应用于PCB，其特征在于，包括：
生成PCB的数字图像；
预设辅助点的个数为N，将所述数字图像划分为N个辅助区域，并记录每一个辅助区域的坐标范围；为每一个辅助区域选定一个辅助点，并记录该辅助点的坐标；
在所述PCB的正反两个测试面上，分别选择两个连线倾斜于PCB中线的焊点作为对位点；获取每一个所述对位点的机械坐标A；
为每一个辅助点创建一个图像识别模板；
根据每一个辅助点的坐标以及该辅助点距离所在测试面的两个对位点中较近的对位点的机械坐标A，计算相机到达每一个辅助点的机械坐标B；
获取所述PCB上可能存在开路问题的测试点的位置坐标；根据各辅助区域的坐标范围，确定每一个所述位置坐标所处的辅助区域以及该辅助区域内辅助点的坐标；
在为每一个所述位置坐标确定的辅助区域内，相机根据该辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，结合所述位置坐标和所述机械坐标B计算探针到达该辅助区域内测试点的机械坐标C；
探针运动至所述机械坐标C对应的测试点并对该测试点进行测试。
2.根据权利要求1所述的飞针测试方法，其特征在于，获取所述两个对位点连线中点的对位坐标，计算每一个辅助点的坐标与所述对位坐标的偏差值，所述机械坐标A加上或者减去所述偏差值得到相机运动至每一个辅助点的理论坐标。
3.根据权利要求2所述的飞针测试方法，其特征在于，相机运动至所述理论坐标，并根据所述理论坐标所属的辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，计算搜索到的辅助点与该辅助区域内辅助点的坐标的偏移量，根据所述偏移量计算所述机械坐标B。
4.根据权利要求1所述的飞针测试方法，其特征在于，相机运动至每一个辅助点，获取包括该辅助点在内的识别图像，基于所述识别图像生成该辅助点的图像识别模板。
5.一种飞针测试装置，其特征在于，包括：PCB数字图像生成模块(10)、图像识别模板创建模块(20)、坐标处理模块(30)以及飞针测试模块(40)；
所述PCB数字图像生成模块(10)用于：生成PCB的数字图像；预设辅助点的个数为N，将所述数字图像划分为N个辅助区域，并记录每一个辅助区域的坐标范围；为每一个辅助区域选定一个辅助点，并记录该辅助点的坐标；
所述图像识别模板创建模块(20)用于：在所述PCB的正反两个测试面上，分别选择两个连线倾斜于PCB中线的焊点作为对位点；获取每一个所述对位点的机械坐标A；根据每一个辅助点的坐标以及该辅助点距离所在测试面的两个对位点中较近的对位点的机械坐标A，计算相机到达每一个辅助点的机械坐标B；为每一个辅助点创建一个图像识别模板；
所述坐标处理模块(30)用于：获取所述PCB上可能存在开路问题的测试点的位置坐标；根据各辅助区域的坐标范围，确定每一个所述位置坐标所处的辅助区域以及该辅助区域内辅助点的坐标；在为每一个所述位置坐标确定的辅助区域内，相机根据该辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，结合所述位置坐标和所述机械坐标B计算探针到达该辅助区域内测试点的机械坐标C；
所述飞针测试模块(40)用于：控制探针运动至所述机械坐标C对应的测试点并对该测试点进行测试。
6.根据权利要求5所述的飞针测试装置，其特征在于，所述坐标处理模块(30)还用于：获取所述两个对位点连线中点的对位坐标，计算每一个辅助点的坐标与所述对位坐标的偏差值，所述机械坐标A加上或者减去所述偏差值得到相机运动至每一个辅助点的理论坐标。
7.根据权利要求6所述的飞针测试装置，其特征在于，所述坐标处理模块(30)还用于：相机运动至所述理论坐标，并根据所述理论坐标所属的辅助区域内辅助点对应的图像识别模板进行搜索，在搜索到该辅助区域内的辅助点时，计算搜索到的辅助点与该辅助区域内辅助点的坐标的偏移量，根据所述偏移量计算所述机械坐标B。
8.根据权利要求5所述的飞针测试装置，其特征在于，所述图像识别模板创建模块(20)还用于：控制相机运动至每一个辅助点，获取包括该辅助点在内的识别图像，基于所述识别图像生成该辅助点的图像识别模板。
9.一种飞针测试设备，包括：控制部(100)、驱动部(200)、PCB承载平台(300)、相机部(400)以及飞针测试部(500)；其中，所述控制部(100)用于控制所述驱动部(200)、所述相机部(400)以及所述飞针测试部(500)；所述驱动部(200)用于驱动所述相机部(400)和所述飞针测试部(500)；所述PCB承载平台(300)用于装载PCB；所述相机部(400)用于从PCB上获取图像；所述飞针测试部(500)用于对PCB进行飞针测试；
其特征在于，所述飞针测试设备应用于权利要求1至4任意一项所述的飞针测试方法。
10.一种非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，所述非暂态计算机可读存储介质中存储有计算机指令，所述计算机指令适于处理器加载，以实现权利要求1至4任意一项所述的飞针测试方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810791569.2A CN110736911B (zh) | 2018-07-18 | 2018-07-18 | 飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810791569.2A CN110736911B (zh) | 2018-07-18 | 2018-07-18 | 飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110736911A true CN110736911A (zh) | 2020-01-31 |
| CN110736911B CN110736911B (zh) | 2022-01-25 |
Family
ID=69235122
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201810791569.2A Active CN110736911B (zh) | 2018-07-18 | 2018-07-18 | 飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN110736911B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113721132A (zh) * | 2021-09-07 | 2021-11-30 | 广东通元精密电路有限公司 | 一种led线路板测试方法 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012039600A (ja) * | 2010-07-14 | 2012-02-23 | Canon Inc | 画像処理装置及びその制御方法 |
| CN103797328A (zh) * | 2011-08-12 | 2014-05-14 | 莱卡地球系统公开股份有限公司 | 用于确定辅助测量仪器的空间位置的测量装置 |
| CN104457539A (zh) * | 2014-11-05 | 2015-03-25 | 深圳市大族激光科技股份有限公司 | 一种飞针测试机测试探针抬针高度的计算方法 |
| CN104914375A (zh) * | 2015-05-11 | 2015-09-16 | 南京协辰电子科技有限公司 | 飞针测试机的偏差校正方法 |
| CN106980099A (zh) * | 2017-05-26 | 2017-07-25 | 深圳市赛伦北斗科技有限责任公司 | 一种电路板自动测试系统的校准方法及系统 |
| CN107462824A (zh) * | 2017-08-07 | 2017-12-12 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 飞针测试机的运动轴的控制方法及定位精度的补偿方法 |
-
2018
- 2018-07-18 CN CN201810791569.2A patent/CN110736911B/zh active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012039600A (ja) * | 2010-07-14 | 2012-02-23 | Canon Inc | 画像処理装置及びその制御方法 |
| CN103797328A (zh) * | 2011-08-12 | 2014-05-14 | 莱卡地球系统公开股份有限公司 | 用于确定辅助测量仪器的空间位置的测量装置 |
| CN104457539A (zh) * | 2014-11-05 | 2015-03-25 | 深圳市大族激光科技股份有限公司 | 一种飞针测试机测试探针抬针高度的计算方法 |
| CN104914375A (zh) * | 2015-05-11 | 2015-09-16 | 南京协辰电子科技有限公司 | 飞针测试机的偏差校正方法 |
| CN106980099A (zh) * | 2017-05-26 | 2017-07-25 | 深圳市赛伦北斗科技有限责任公司 | 一种电路板自动测试系统的校准方法及系统 |
| CN107462824A (zh) * | 2017-08-07 | 2017-12-12 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 飞针测试机的运动轴的控制方法及定位精度的补偿方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113721132A (zh) * | 2021-09-07 | 2021-11-30 | 广东通元精密电路有限公司 | 一种led线路板测试方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN110736911B (zh) | 2022-01-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110842901B (zh) | 基于一种新型三维标定块的机器人手眼标定方法与装置 | |
| CN111028205B (zh) | 一种基于双目测距的眼睛瞳孔定位方法及装置 | |
| CN108381549A (zh) | 一种双目视觉引导机器人快速抓取方法、装置及存储介质 | |
| CN110346704B (zh) | 板卡测试中测试文件的确定方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN114952856A (zh) | 机械臂手眼标定方法、系统、计算机及可读存储介质 | |
| US20200371195A1 (en) | Geophone locating accuracy evaluation method and device | |
| WO2024001916A1 (zh) | 扫描仪姿态定位方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN111881764A (zh) | 一种目标检测方法、装置、电子设备及存储介质 | |
| CN110736910B (zh) | Pcb的飞针测试方法、测试装置、测试设备及存储介质 | |
| CN110736911B (zh) | 飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质 | |
| CN117152145B (zh) | 一种基于图像的板卡工艺检测方法及装置 | |
| CN113172636B (zh) | 一种自动手眼标定方法、装置及存储介质 | |
| JPH08292014A (ja) | パターン位置の計測方法および計測装置 | |
| CN109509165B (zh) | 图像定位区域选取方法及装置 | |
| JP7024405B2 (ja) | 情報処理装置、プログラム及び情報処理方法 | |
| US11010634B2 (en) | Measurement apparatus, measurement method, and computer-readable recording medium storing measurement program | |
| CN116862979A (zh) | 重定位方法及相关设备 | |
| JPH09119982A (ja) | 飛しょう体誘導装置 | |
| JP2008014857A (ja) | プリント板の検査用座標取得装置、検査用座標取得方法、及び検査用座標取得プログラム | |
| JP4530723B2 (ja) | パターンマッチング方法、パターンマッチング装置、および電子部品実装方法 | |
| JP2850807B2 (ja) | 検査データ作成装置 | |
| CN117824504B (zh) | 一种屏体与fpc的压接对位精度检测方法以及相关装置 | |
| CN118518009B (zh) | 标定参数确定方法、校正方法、介质及设备 | |
| JPH038400A (ja) | プリント基板の位置補正方法 | |
| CN116140712B (zh) | 一种切割位置确定方法、装置、电子设备及可读存储介质 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20200618 Address after: 518000 workshop 5 / F, 1 / 2 / F, 14 / F, 17 / F, antuoshan hi tech Industrial Park, Xinsha Road, Shajing street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: SHENZHEN HAN'S CNC SCIENCE AND TECHNOLOGY Co.,Ltd. Address before: 518000, No. 9 West West Road, Nanshan District hi tech park, Shenzhen, Guangdong Applicant before: HAN'S LASER TECHNOLOGY INDUSTRY GROUP Co.,Ltd. Applicant before: SHENZHEN HAN'S CNC SCIENCE AND TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
|
| TA01 | Transfer of patent application right | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 518000 5 / F, 1 / 2 / F, 14 / F, 17 / F, No.3 Factory building, antuoshan hi tech Industrial Park, Xinsha Road, Shajing street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: Shenzhen Han's CNC Technology Co.,Ltd. Address before: 518000 5 / F, 1 / 2 / F, 14 / F, 17 / F, No.3 Factory building, antuoshan hi tech Industrial Park, Xinsha Road, Shajing street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant before: SHENZHEN HAN'S CNC SCIENCE AND TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
|
| CB02 | Change of applicant information | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |