CN113805047B - 一种主板测试头 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种主板测试头,其包括连接柱、探针以及柔性套,其中,该探针插设在该连接柱中,该柔性套套设在该探针前端,该柔性套由弹性材料制成,该柔性套具有外表面、内表面以及前端面,借助该内表面围绕形成一套腔,该探针插设在该套腔中,在该探针的前端并且在该套腔中形成一变形接触腔,该柔性套的该内表面上设置有导电层,在测试时,该主板测试头向被测试点方向移动,当该柔性套完全接触被测试点后,进行测试的动作,在该柔性套接触被测试点的过程中,首先,由该前端面接触被测试点,而后,该柔性套继续移动,该变形接触腔受压变形使该导电层包裹在被测试点的外表面上以增加接触面积。

Description

一种主板测试头
技术领域
本发明涉及一种测试头,特别是指一种对主板进行检测的测试头。
背景技术
主板又称机板、系统板或母板,其一般分为商用主板和工业主板两种。主板安装在机箱或者设备内,是微机以及自动化设备、服务器等最基本的也是最重要的部件之一。主板一般为矩形电路板,上面安装了组成计算机的主要电路系统,一般有BIOS芯片、I/O控制芯片、键盘和面板控制开关接口、指示灯插接件、扩充插槽、主板及插卡的直流电源供电接插件等元件。主板一般采用开放式结构。主板上大都有数个扩展插槽,供PC机外围设备的控制卡(适配器)插接。通过更换这些插卡,可以对微机的相应子系统进行局部升级,使厂家和用户在配置机型方面有更大的灵活性。总之,主板在整个微机、设备、服务器系统中扮演着举足轻重的角色。主板的类型和档次决定着整个系统的类型和档次。主板的性能影响着整个系统的性能。随着数字技术的发展各种领域的服务器以及自动化设备的产量呈几何数量级增长,主板的需求快速提升,为了提升主板的品质、质量,在主板类产品出厂的时候都会对其进行测试以筛除不良品。传统的主板测试设备都是利用硬质探针对主板进行接触式测试,然而在探针接触主板的时候经常会出现损坏主板,接触不安全,接触不良的情况,而此是为传统技术的主要缺点。
发明内容
本发明所采用的技术方案为:一种主板测试头,其包括连接柱、探针以及柔性套,其中, 该探针插设在该连接柱中,该柔性套套设在该探针前端,该柔性套由弹性材料制成,该柔性套具有外表面、内表面以及前端面,借助该内表面围绕形成一套腔,该探针插设在该套腔中,在该探针的前端并且在该套腔中形成一变形接触腔,该柔性套的该内表面上设置有导电层,该导电层设置在该探针的外表面与该柔性套的该内表面之间,该柔性套的该前端面上设置有端面导电层,该端面导电层与该导电层连接在一起,在测试时,该主板测试头向被测试点方向移动,当该柔性套完全接触被测试点后,进行测试的动作,在该柔性套接触被测试点的过程中,首先,由该前端面接触被测试点,而后,该柔性套继续移动,该变形接触腔受压变形使该导电层包裹在被测试点的外表面上以增加接触面积。
本发明的有益效果为:本发明工作的时候,测试系统驱动该测试头使该柔性套向被测试点方向移动,当该柔性套完全接触被测试点后,该测试系统进行测试的动作,在该柔性套接触被测试点的过程中,首先,由该前端面接触被测试点,而后,该柔性套继续移动,该变形接触腔受压变形使该导电层包裹在被测试点的外表面上以达到增加接触面积,提升测试准确性的作用,在上述的过程中,该探针的前端面不接触或者轻微接触被测试点从而避免物理碰撞损坏。
附图说明
图1为本发明应用在测试设备上的示意图。
图2为本发明测试设备的板腔的示意图。
图3为本发明测试设备的治具的示意图。
图4为本发明测试系统的示意图。
图5为本发明的剖面结构示意图。
图6为本发明进行接触测试的示意图。
图7为本发明柔性套的前端面为倾斜面的示意图。
图8为本发明的测试设备的俯视结构示意图。
具体实施方式
如图5至图7所示,一种主板测试头400,其用以接触测试主板A,并对该主板A上的触点、电路、焊盘等进行接触测试。
该主板测试头400包括连接柱410、探针420以及柔性套500,其中,该连接柱410连接在测试系统200与该探针420之间,该探针420插设在该连接柱410中,该柔性套500套设在该探针420前端,该柔性套500由弹性材料制成,比如,硅胶,弹性树脂等,该柔性套500能够导电,使该柔性套500能够与该探针420电连接在一起。
工作的时候,该柔性套500首先接触被测试点,而后该柔性套500受压变形并增大该柔性套500与被测试点之间的接触面积,以达到以柔性的方式接触被测试点避免物理碰撞损坏,同时,能够增加测试接触面积,提升测试准确率。
该柔性套500具有外表面511、内表面512以及前端面513,借助该内表面512围绕形成一套腔510,该探针420插设在该套腔510中,在该探针420的前端并且在该套腔510中形成一变形接触腔520,该柔性套500的该内表面512上设置有导电层530,该导电层530设置在该探针420的外表面与该柔性套500的该内表面512之间,该柔性套500的该前端面513上设置有端面导电层531,该端面导电层531与该导电层530连接在一起。
工作的时候,该测试系统200驱动该测试头400使该柔性套500向被测试点方向移动,当该柔性套500完全接触被测试点后,该测试系统200进行测试的动作,在该柔性套500接触被测试点的过程中,首先,由该前端面513接触被测试点,而后,该柔性套500继续移动,该变形接触腔520受压变形使该导电层530包裹在被测试点的外表面上以达到增加接触面积,提升测试准确性的作用,在上述的过程中,该探针420的前端面不接触或者轻微接触被测试点从而避免物理碰撞损坏。
在具体实施的时候,该导电层530以及该端面导电层531可以为金属银层或者其它导电金属层,该导电层530能够以电镀、镀膜或者物理、化学嵌入等方式设置在该柔性套500的该内表面512上。
在具体实施的时候,在该柔性套500的该外表面511上设置有数个外环体540,数个该外环体540处于该变形接触腔520四周,从该柔性套500的后端面向该前端面513方向数个该外环体540的直径递增,实践中,该外环体540能够保持该变形接触腔520的物理形态,同时限制该变形接触腔520的最大变形量,该外环体540可以为金属环、树脂环或者塑料环。
在具体实施的时候,该探针420上凸设有挡肋421,该挡肋421压设在该柔性套500的后端面上,该探针420上凹设有环槽422,该柔性套500卡接在该环槽422中,以对该柔性套500进行整体定位。
在具体实施的时候,该测试系统200包括动作单元,该测试头400设置在该动作单元前端,该动作单元驱动该测试头400上下前后移动,该动作单元包括主运动部分210以及前探运动部分220,该前探运动部分220设置在该主运动部分210上,该测试头400设置在该前探运动部分220前端。
在具体实施的时候,该主运动部分210为立柱,该前探运动部分220滑动设置在该立柱上,该前探运动部分220在该立柱上能够进行上下运动,同时,该前探运动部分220能够驱动该测试头400前后运动。
在具体实施的时候,该主运动部分210具有倾斜运动面211,该倾斜运动面211与该倾斜下腔面161相垂直,该前探运动部分220滑动设置在该倾斜运动面211上,该测试头400与该倾斜下腔面161相垂直,从而使该测试头400能够以通用的垂直探测的方式对主板进行测试。
在具体实施的时候,该柔性套500的该前端面513为一直立面,该柔性套500的该前端面513也可以为一倾斜面。
实践中,如上所述,当该主运动部分210为立柱,该前探运动部分220在该立柱上能够进行上下运动,该前探运动部分220驱动该测试头400前后运动时,该前端面513为倾斜面,以此结构来进一步加大测试接触面积,同时匹配该测试系统200的结构。
如上所述,当该主运动部分210具有倾斜运动面211,该测试头400与该倾斜下腔面161相垂直时,该前端面513为直立面,以匹配该测试系统200的结构。
如图1至图8所示,在具体实施的时候,该主板测试头400装配在主板测试设备上使用,该主板测试设备,包括主板固定平台100、该测试系统200以及辅助系统300,其中,该主板固定平台100用以放置被测试的主板A,该测试系统200用以对该主板A进行测试,该辅助系统300用以对该主板A进行固定,在具体实施的时候,该辅助系统300还能够进行上料以及卸料的工作。
该主板固定平台100包括平台110以及治具120,该平台110具有水平顶面111,该治具120设置在该水平顶面111上,被测试的该主板A放置在该治具120中,该主板A与该水平顶面111之间形成一倾斜夹角112,在具体实施的时候,该倾斜夹角112在80度至60度之间。
该测试系统200设置在该主板固定平台100一侧,该测试头400与该治具120中的该主板A相对应,该辅助系统300设置在该主板固定平台100的正上方,该辅助系统300包括顶杆310。
该测试设备工作的时候,按照如下的步骤进行:第一步、将被测试的该主板A放置在该治具120中,第二步、该辅助系统300的该顶杆310前推,该顶杆310顶压该主板A的背面,使该主板A被定位在该治具120中,第三步、该测试系统200的该测试头400前伸接触该主板A并进行测试动作,第四步、完成测试后,该测试头400后移,该顶杆310后撤,之后,将该主板A从该治具120中取出,以完成整体的测试工作。
具体实施的时候,该治具120包括底槽板130、第一侧槽板140以及第二侧槽板150,该第一侧槽板140以及该第二侧槽板150倾斜设置在该底槽板130的两侧,借助该底槽板130、该第一侧槽板140以及该第二侧槽板150相互连通形成一板腔160,该主板A放置在该板腔160中,该板腔160具有倾斜下腔面161、腔底面162以及板腔敞口163,其中,该倾斜下腔面161处于该底槽板130、该第一侧槽板140以及该第二侧槽板150中,该腔底面162处于该底槽板130中,该倾斜下腔面161与该平台110的该水平顶面111之间的夹角为该倾斜夹角112。
在具体实施的时候,该倾斜下腔面161上设置有三个定位凸点164,其中,两个该定位凸点164设置在该第一侧槽板140中,一个该定位凸点164设置在该第二侧槽板150中,该腔底面162上设置有两个定位凸头165,两个该定位凸头165设置在该底槽板130中,该板腔敞口163为取料卸料口。
工作的时候,该主板A采用倾斜的方式被放置在该板腔160中,放置完成后,该辅助系统300的该顶杆310顶压该主板A的背面就可以完成定位,同时,通过三个该定位凸点164能够保证主板的平整度,通过两个该定位凸头165能够保证主板的水平度,其整体定位结构简单,取料卸料快速有效,另外,该板腔敞口163为取料卸料口,能够实现从该治具120后方进行快速取料卸料,方便手动或者自动进行取料卸料动作。
在具体实施的时候,该第二侧槽板150滑动设置在该底槽板130上,从而使该第一侧槽板140与该第二侧槽板150之间的距离能够改变,方便测试不同大小的主板。
在具体实施的时候,该辅助系统300的该顶杆310包括三个压头311,三个该压头311以三点定位的方式顶压该主板A对其进行定位测试。
在具体实施的时候,该辅助系统300还包括上下料机械手,该上下料机械手能够抓取该主板A并放置到该治具120中,同时,也能够抓取该主板A从该治具120中取出。
在具体实施的时候,该辅助系统300还包括驱动系统,该驱动系统能够驱动该顶杆310以及该上下料机械手上下左右移动,以使该辅助系统300能够完成特定的动作。
该上下料机械手以及该驱动系统为现有技术这里不再累述。

Claims (7)

1.一种主板测试头,其特征在于:包括连接柱、探针以及柔性套,其中, 该探针插设在该连接柱中,该柔性套套设在该探针前端,该柔性套由弹性材料制成,
该柔性套具有外表面、内表面以及前端面,借助该内表面围绕形成一套腔,该探针插设在该套腔中,在该探针的前端并且在该套腔中形成一变形接触腔,该柔性套的该内表面上设置有导电层,该导电层设置在该探针的外表面与该柔性套的该内表面之间,该柔性套的该前端面上设置有端面导电层,该端面导电层与该导电层连接在一起,
在测试时,该主板测试头向被测试点方向移动,当该柔性套完全接触被测试点后,进行测试的动作,在该柔性套接触被测试点的过程中,首先,由该前端面接触被测试点,而后,该柔性套继续移动,该变形接触腔受压变形使该导电层包裹在被测试点的外表面上以增加接触面积,
在上述测试的过程中,该探针的前端面不接触被测试点,
在该柔性套的该外表面上设置有数个外环体,数个该外环体处于该变形接触腔四周,从该柔性套的后端面向该前端面方向数个该外环体的直径递增。
2.如权利要求1所述的一种主板测试头,其特征在于:该导电层以及该端面导电层为金属银层。
3.如权利要求1所述的一种主板测试头,其特征在于:该探针上凸设有挡肋,该挡肋压设在该柔性套的后端面上,该探针上凹设有环槽,该柔性套卡接在该环槽中。
4.如权利要求1所述的一种主板测试头,其特征在于:该主板测试头设置在测试系统上,该测试系统包括动作单元,该主板测试头设置在该动作单元前端,该动作单元驱动该测试头移动,该动作单元包括主运动部分以及前探运动部分,该前探运动部分设置在该主运动部分上,该主板测试头设置在该前探运动部分前端。
5.如权利要求4所述的一种主板测试头,其特征在于:该主运动部分为立柱,该前探运动部分滑动设置在该立柱上,该前探运动部分在该立柱上能够进行上下运动,该前探运动部分能够驱动该测试头前后运动,该柔性套的该前端面也可以为一倾斜面。
6.如权利要求4所述的一种主板测试头,其特征在于:该主运动部分具有倾斜运动面,该前探运动部分滑动设置在该倾斜运动面上,该主板测试头以垂直探测的方式对主板进行测试,该柔性套的该前端面为一直立面。
7.如权利要求1所述的一种主板测试头,其特征在于:该柔性套由硅胶材料制成。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008157793A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Yokogawa Electric Corp コンタクトプローブ
JP5471144B2 (ja) * 2009-08-07 2014-04-16 大日本印刷株式会社 基板検査用治具および基板検査方法
CN202631587U (zh) * 2012-01-18 2012-12-26 苏州赛腾精密电子有限公司 一种探针测试装置
TWI574013B (zh) * 2013-03-15 2017-03-11 穩懋半導體股份有限公司 探針卡、探針結構及其製造方法
CN204514967U (zh) * 2015-04-07 2015-07-29 梅县梅雁旋窑水泥有限公司 一种pcb测试连接器
TWM516056U (zh) * 2015-10-22 2016-01-21 Guang-Ru Xia 一種具間距功能之晒衣架裝置。
CN105555123B (zh) * 2015-12-22 2018-01-26 华中科技大学 一种面向料盘的smd抽检及清点设备
CN106597301B (zh) * 2016-11-24 2019-02-22 李莉 大电流平面接触导电装置
CN209878830U (zh) * 2019-04-19 2019-12-31 南京微桥检测技术有限公司 显示模组精密检测压接探针及其检测治具
CN210801254U (zh) * 2019-09-19 2020-06-19 北京国能华瑞环保科技发展有限公司 一种基于图像识别的锅炉燃烧状况监控及控制系统

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