CN113804083A - 一种瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置及方法。该装置装置，包括带立杆的底座，其特征在于该底座上设有滑轨，滑轨一端设有与移动机构相连的移动支撑块、另一端设有其上带测量通孔、其背面带磁板的固定支撑块，以及与滑轨相连的锁紧块。在对本装置进行校准后，即可对旧瓦键的厚度进行精准测量，准确地获得新瓦键的加工厚度和旧瓦键的磨削量，提高轴瓦瓦间隙调整精度，节约轴瓦瓦间隙调整过程的时间，提高工作效率，避免测量误差带来的诸多问题，保障水轮发电机组导轴承正常运行。

Description

一种瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置及方法

技术领域

本发明涉及一种瓦键厚度测量校准装置及方法，尤其是一种轴瓦瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置及方法，属于水轮发电技术领域。

背景技术

在水轮发电工作过程中，为保障水轮发电机导轴承运行正常，当轴瓦温度偏差较大、机组摆度大或者超过规定时，需要对轴瓦间隙进行调整，在轴瓦间隙调整过程中，需要对旧瓦键厚度及对应的瓦间隙进行测量，再依据测量数据及设定轴瓦间隙来确定新瓦键的厚度，加工出相应的新瓦键，以及确定旧瓦键的磨削量。现有技术大多通过外径千分尺获取旧瓦键的厚度数据，不仅工作效率低下，而且测量方式不合理、测量误差大，导致新瓦键加工尺寸与要求的厚度尺寸偏差大，现场需要使用角磨机手工打磨新瓦键的工作面，使其厚度减少到需要的数值，由于使用角磨机手工打磨难以把握力度，导致新瓦键工作面打磨后的平面度较差，使瓦间隙调整精度差，而且瓦间隙调整过程中劳动强度大，工作效率低。因此，有必要对现有技术加以改进。

发明内容

为克服现有技术存在的上述不足，本发明的目的之一是提供一种兼具校准与测量的瓦键厚度测量校准装置，以便依据测量厚度加工出满足要求的新瓦键，为轴瓦瓦间隙调整提供快捷、精准的新瓦键，减少打磨工作量，提高工作效率。

本发明的第二个目的在于基于瓦键厚度测量校准装置对瓦键厚度进行检测的方法，以便高精度加工出符合要求的新瓦键，避免现场进行轴瓦瓦间隙调整时，反复对新瓦键工作面进行手工打磨而影响调整进度。

本发明的第一个目的通过下列技术方案完成：一种瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置，包括带立杆的底座，其特征在于该底座上设有滑轨，滑轨一端设有与移动机构相连的移动支撑块、另一端设有其上带测量通孔、其背面带磁板的固定支撑块，以及与滑轨相连的锁紧块。

所述滑轨纵向且向上凸起于底座中部，并与底座连为一个整体，使底座工作面形成中间的凸台式滑轨和两侧的下凹平台。

所述固定支撑块为竖直板，其下端固定在滑轨中部，测量通孔设于其上部中间位置，磁板设于其背面且位于测量通孔外围，并在测量通孔两侧的磁板上分别设有限位水平块，以便深度千分尺测量杆从固定支撑块的背面伸入到专用测量孔中后，使其尺座置于限位水平块上向前平移，直至磁板吸住尺座。

所述移动支撑块包括上部的第二竖直板，该第二竖直板上部中间位置设有水平螺孔、底部中间位置设有与底座凸台式滑轨配接的凹槽，凹槽两侧分别设有与底座下凹平台相配接的水平滑块，以便移动支撑块滑动置于凸台式滑轨和下凹平台上后，通过移动机构带动其沿凸台式滑轨往复移动。

所述移动机构包括与移动支撑块上部中间位置处的水平螺孔相螺接的水平螺杆，该水平螺杆外端穿过底座立杆上的第二水平螺孔向外延伸后与手轮相连，并在第二水平螺孔外侧的水平螺杆上设有锁紧螺母，以便操纵手轮带动水平螺杆转动时，即可带动移动支撑块随水平螺杆一同移动，到位后通过锁紧螺母进行固定。

所述锁紧块为一矩形平板，其中部通过多个螺孔及螺孔中的螺钉固定在位于固定支撑块背部的滑轨上、两侧分别设有多个螺孔，螺孔内设有螺杆，螺杆上端设有手柄，以便操纵手柄使螺杆上升后，使移动支撑块两侧的水平滑块顺利进入锁紧块与底座下凹平台之间，再操纵手柄使螺杆下降后，即可对移动支撑块两侧的水平滑块进行锁紧，从而对移动支撑块进行固定。

所述滑轨上设有导向块，该导向块设为T形平板， T形平板头部通过多个螺孔及螺孔中的螺钉固定在底座上、尾部置于滑轨上，以便移动支撑块置于该导向块和下凹平台后，可准确在其上进行往复移动。

本发明的第二个目的通过下列技术方案完成：一种基于瓦键厚度测量校准装置对瓦键厚度进行检测的方法，其特征在于包括下列步骤：

1）校准：松开水平螺杆上的锁紧螺母及锁紧块两侧的多个螺杆，使动移动支撑块移动而与固定支撑块保护间距后，全面清洁各个配合表面，操纵手轮带动水平螺杆正向转动，带动移动支撑块移动至与固定支撑块完全接触后，操纵锁紧块两侧的多个螺杆下降，锁紧移动支撑块两侧的水平滑块，用0.02mm的塞尺检查移动支撑块与固定支撑块的接触面、移动支撑块底面与滑轨的接触面，以塞尺不能塞入为合格，完成校准；

2）旧瓦键厚度测量：松开水平螺杆上的锁紧螺母及锁紧块两侧的多个螺杆，操纵手轮带动水平螺杆反向转动，使移动支撑块回移，放入旧瓦键，使旧瓦键工作面正对着移动支撑块一侧，并在旧瓦键背面中部凸台处倾斜放置0.1mm及以上厚度的塞尺，操纵手轮带动水平螺杆正向转动，推动旧瓦键朝着固定支撑块方向移动，直至接触固定支撑块，并使塞尺受力至稍微用力即可抽出塞尺为宜，调整塞尺正对固定支撑块上的专用测量孔，操纵锁紧块两侧的多个螺杆下降来锁紧移动支撑块，将水平螺杆上的锁紧螺母拧紧；

将深度千分尺测量杆从固定支撑块的背面伸入到固定支撑块上的专用测量孔中至接触到塞尺，之后使塞尺尺座置于限位水平块上并移动至固定支撑块背面的磁板吸住尺座，转动深度千分尺的微分筒，测量出固定支撑块背面至塞尺处的距离，然后抽出塞尺、取出旧瓦键，用同样的方法放置深度千分尺，转动微分筒直至测杆接触移动支撑块，测量出固定支撑块背面至移动支撑块处的距离，两次测量距离之差的绝对值、再减去塞尺厚度，即得到旧瓦键的厚度；

3）新瓦键厚度确定：瓦间隙调整过程中有些轴瓦间隙需要减小，当需要减小旧瓦键对应的轴瓦间隙时，需要使旧瓦键厚度增加才能达到要求，也就是说需要加工新瓦键来代替旧瓦键；

旧瓦键厚度加上轴瓦间隙的变化量，得到新瓦键的理论厚度，扣除加工误差值±0.02mm，需要在理论厚度的基础上加上0.03mm，即为新瓦键的加工厚度；

4）旧瓦键磨削量确定：瓦间隙调整过程中，有些轴瓦间隙需要增加，当需要增加旧瓦键对应的轴瓦间隙时，需要减小旧瓦键厚度来增加瓦间隙，瓦间隙的增加量即为该旧瓦键的磨削量。

本发明具有下列优点和效果：采用上述方案，可方便地对本装置进行校准后，即可对旧瓦键的厚度进行精准测量，准确地获得新瓦键的加工厚度和旧瓦键的磨削量，提高轴瓦瓦间隙调整精度，节约轴瓦瓦间隙调整过程的时间，提高工作效率，避免测量误差带来的诸多问题，保障水轮发电机组导轴承正常运行。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为图1中的移动支撑块结构图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本发明做进一步描述。

本发明提供的轴瓦瓦间隙测量、校准装置，包括带立杆2的底座1，该底座1上设有滑轨，滑轨前端设有与移动机构相连的移动支撑块7、后端设有其上带测量通孔11、其背面带磁板10的固定支撑块9，以及与滑轨15相连的锁紧块14；

所述滑轨15纵向且向上凸起于底座1中部，并与底座1连为一个整体，使底座1工作面形成中间的凸台式滑轨15和两侧的下凹平台20；

所述固定支撑块9为竖直板，其下端固定在凸台式滑轨15中部，测量通孔11设于其上部中间位置，磁板10设于其背面且位于测量通孔11外围，并在测量通孔11两侧的磁板10上分别设有限位水平块16，以便深度千分尺12的测量杆从固定支撑块9的背面伸入到固定支撑块9上的专用测量通孔11中后，使其尺座置于限位水平块16上向前平移，直至磁板10吸住尺座；

所述移动支撑块7包括上部的第二竖直板，该第二竖直板上部中间位置设有水平螺孔19、底部中间位置设有与底座1凸台式滑轨15配接的凹槽17，凹槽17两侧分别设有与底座1下凹平台20相配接的水平滑块18，以便移动支撑块7滑动置于凸台式滑轨15和下凹平台20上后，通过移动机构带动其沿凸台式滑轨15往复移动；

所述移动机构包括与移动支撑块7上部中间位置处的水平螺孔19相螺接的水平螺杆5，该水平螺杆5外端穿过底座1立杆2上的第二水平螺孔向外延伸后与手轮3相连，并在第二水平螺孔外侧的水平螺杆5上设有锁紧螺母4，以便操纵手轮3带动水平螺杆5转动时，即可带动移动支撑块7随水平螺杆5一同移动，到位后通过锁紧螺母4进行固定；

所述锁紧块14为一矩形平板，其中部通过多个螺孔及螺孔中的螺钉固定在位于固定支撑块9背部的凸台式滑轨15上、两侧分别设有多个螺孔，螺孔内设有螺杆13，螺杆13上端设有手柄，以便操纵手柄带动螺杆13上升后，使移动支撑块7两侧的水平滑块18顺利进入锁紧块14与底座1下凹平台20之间，再操纵手柄使螺杆13下降后，即可对移动支撑块7两侧的水平滑块18进行锁紧，从而对移动支撑块7进行固定。

所述滑轨15上设有导向块21，该导向块21为T形平板，T形平板头部通过多个螺孔及螺孔中的螺钉固定在底座1上，尾部置于凸台式滑轨15上，以便移动支撑块7置于该导向块21和下凹平台20后，可准确在其上进行往复移动。

本发明提供的基于瓦键厚度测量校准装置对瓦键厚度进行检测的方法，包括下列步骤：

1）校准：松开水平螺杆5上的锁紧螺母4及锁紧块14两侧的多个螺杆13，使动移动支撑块7移动而与固定支撑块9保护间距后，全面清洁各个配合表面，操纵手轮3带动水平螺杆5正向转动，带动移动支撑块7移动至与固定支撑块9完全接触后，操纵锁紧块14两侧的多个螺杆13下降，用0.02mm的塞尺6检查移动支撑块7与固定支撑块9的接触面、移动支撑块7底面与滑轨15的接触面，以塞尺6不能塞入为合格，完成校准；

2）旧瓦键厚度测量：松开水平螺杆5上的锁紧螺母4及锁紧块14两侧的多个螺杆13，操纵手轮3带动水平螺杆5反向转动，使移动支撑块7回移，放入旧瓦键8，使旧瓦键8工作面正对着移动支撑块7，并在旧瓦键8背面中部凸台处倾斜放置0.1mm及以上厚度的塞尺6，操纵手轮3带动水平螺杆5正向转动，推动旧瓦键8朝着固定支撑块9方向移动，直至接触固定支撑块9，并使塞尺6受力至稍微用力即可抽出塞尺6为宜，调整塞尺6正对固定支撑块9上的专用测量通孔11，操纵锁紧块14两侧的多个螺杆13下降，将水平螺杆5上的锁紧螺母4拧紧；

将深度千分尺12测量杆从固定支撑块9的背面伸入到固定支撑块9上的专用测量通孔11中至接触到塞尺6，之后使塞尺尺座置于限位水平块16上并移动至固定支撑块9背面的磁板10吸住尺座，转动深度千分尺的微分筒，测量出固定支撑块9背面至塞尺6处的距离，然后抽出塞尺6、取出旧瓦键8，用同样的方法放置深度千分尺12，转动深度千分尺的微分筒直至测杆接触移动支撑块7，测量出固定支撑块9背面至移动支撑块7处的距离，两次测量距离之差的绝对值，再减去塞尺厚度，即得到旧瓦键8的厚度；

3）新瓦键厚度确定：瓦间隙调整过程中有些轴瓦间隙需要减小，当需要减小旧瓦键对应的轴瓦间隙时，需要使旧瓦键厚度增加才能达到要求，也就是说需要加工新瓦键来代替旧瓦键；

旧瓦键厚度加上轴瓦间隙的变化量，得到新瓦键的理论厚度，扣除加工误差值±0.02mm，需要在理论厚度的基础上加上0.03mm，即为新瓦键的加工厚度。

4）旧瓦键磨削量确定：瓦间隙调整过程中，有些轴瓦间隙需要增加，当需要增加旧瓦键对应的轴瓦间隙时，需要减小旧瓦键厚度来增加瓦间隙，瓦间隙的增加量即为该旧瓦键的磨削量。

Claims (8)

1.一种瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置，包括带立杆的底座，其特征在于该底座上设有滑轨，滑轨一端设有与移动机构相连的移动支撑块、另一端设有其上带测量通孔、其背面带磁板的固定支撑块，以及与滑轨相连的锁紧块。

2.根据权利要求1所述的瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置，其特征在于所述滑轨纵向且向上凸起于底座中部，并与底座连为一个整体，使底座工作面形成中间的凸台式滑轨和两侧的下凹平台。

3.根据权利要求1所述的瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置，其特征在于所述固定支撑块为竖直板，其下端固定在滑轨中部，测量通孔设于其上部中间位置，磁板设于其背面且位于测量通孔外围，并在测量通孔两侧的磁板上分别设有限位水平块。

4.根据权利要求1所述的瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置，其特征在于所述移动支撑块包括上部的第二竖直板，该第二竖直板上部中间位置设有水平螺孔、底部中间位置设有与底座凸台式滑轨配接的凹槽，凹槽两侧分别设有与底座下凹平台相配接的水平滑块。

5.根据权利要求1所述的瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置，其特征在于所述移动机构包括与移动支撑块上部中间位置处的水平螺孔相螺接的水平螺杆，该水平螺杆外端穿过底座立杆上的第二水平螺孔向外延伸后与手轮相连，并在第二水平螺孔外侧的水平螺杆上设有锁紧螺母。

6.根据权利要求1所述的瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置，其特征在于所述锁紧块为一矩形平板，其中部通过多个螺孔及螺孔中的螺钉固定在位于固定支撑块背部的滑轨上、两侧分别设有多个螺孔，螺孔内设有螺杆，螺杆上端设有手柄。

7.根据权利要求1所述的瓦间隙调整用的瓦键厚度测量校准装置，其特征在于所述滑轨上设有导向块，该导向块设为T形平板， T形平板头部通过多个螺孔及螺孔中的螺钉固定在底座上、尾部置于滑轨上。

8.一种基于权利要求1所述瓦键厚度测量用的瓦键厚度测量校准装置进行瓦键厚度测量的方法，其特征在于包括下列步骤：

1）校准：松开水平螺杆上的锁紧螺母及锁紧块两侧的多个螺杆，使动移动支撑块移动而与固定支撑块保护间距后，全面清洁各个配合表面，操纵手轮带动水平螺杆正向转动，带动移动支撑块移动至与固定支撑块完全接触后，操纵锁紧块两侧的多个螺杆下降，锁紧移动支撑块两侧的水平滑块，用0.02mm的塞尺检查移动支撑块与固定支撑块的接触面、移动支撑块底面与滑轨的接触面，以塞尺不能塞入为合格，完成校准；

2）旧瓦键厚度测量：松开水平螺杆上的锁紧螺母及锁紧块两侧的多个螺杆，操纵手轮带动水平螺杆反向转动，使移动支撑块回移，放入旧瓦键，使旧瓦键工作面正对着移动支撑块一侧，并在旧瓦键背面中部凸台处倾斜放置0.1mm及以上厚度的塞尺，操纵手轮带动水平螺杆正向转动，推动旧瓦键朝着固定支撑块方向移动，直至接触固定支撑块，并使塞尺受力至稍微用力即可抽出塞尺为宜，调整塞尺正对固定支撑块上的专用测量孔，操纵锁紧块两侧的多个螺杆下降来锁紧移动支撑块，将水平螺杆上的锁紧螺母拧紧；

将深度千分尺测量杆从固定支撑块的背面伸入到固定支撑块上的专用测量孔中至接触到塞尺，之后使塞尺尺座置于限位水平块上并移动至固定支撑块背面的磁板吸住尺座，转动深度千分尺的微分筒，测量出固定支撑块背面至塞尺处的距离，然后抽出塞尺、取出旧瓦键，用同样的方法放置深度千分尺，转动微分筒直至测杆接触移动支撑块，测量出固定支撑块背面至移动支撑块处的距离，两次测量距离之差的绝对值、再减去塞尺厚度，即得到旧瓦键的厚度；

3）新瓦键厚度确定：瓦间隙调整过程中有些轴瓦间隙需要减小，当需要减小旧瓦键对应的轴瓦间隙时，需要使旧瓦键厚度增加才能达到要求，也就是说需要加工新瓦键来代替旧瓦键；

旧瓦键厚度加上轴瓦间隙的变化量，得到新瓦键的理论厚度，扣除加工误差值±0.02mm，需要在理论厚度的基础上加上0.03mm，即为新瓦键的加工厚度；

4）旧瓦键磨削量确定：瓦间隙调整过程中，有些轴瓦间隙需要增加，当需要增加旧瓦键对应的轴瓦间隙时，需要减小旧瓦键厚度来增加瓦间隙，瓦间隙的增加量即为该旧瓦键的磨削量。

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