CN113763253A - 提高x射线图像均匀性的方法和装置以及计算机存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及提高X射线图像均匀性的方法和装置以及计算机存储介质。根据一实施方式，提高X射线图像均匀性的方法用于一X射线医疗设备，所述方法包括：以一当前电压获取一待测对象的一X射线图像；对所述X射线图像进行漂移补偿处理，得到补偿图像；以及基于预设校正因子，对所述补偿图像进行校正处理得到校正图像。本发明能够在不改变X射线医疗设备硬件设计的情况下，提高X射线图像的均匀性。
Description
技术领域
本发明涉及医疗器械技术领域，特别是一种提高X射线图像均匀性的方法和装置以及计算机存储介质。
背景技术
X射线医疗设备已经被广泛应用于医疗检查和诊断治疗，而X射线的足跟效应(heel effect)使得X射线图像的均匀性(uniformity)会受到影响。足跟效应又称X射线阳极端效应，会导致X射线密度和强度的分布不均匀，影响成像质量。
如何提高X射线图像的均匀性成为业内努力的方向，例如，授权公告号为CN208861929U的中国实用新型专利提出了一种通过在X射线发生组件中设置X射线过滤器的方式改善足跟效应的方案。如何在不改变现有X射线医疗设备的硬件设计的情况下，提高X射线图像的均匀性成为新的研究方向。
发明内容
有鉴于此，本发明一方面提出了一种提高X射线图像均匀性的方法，用于一X射线医疗设备，所述方法包括：以一当前电压获取一待测对象的一X射线图像；对所述X射线图像进行漂移补偿处理，得到补偿图像；以及基于预设校正因子，对所述补偿图像进行校正处理得到校正图像。
其中，所述预设校正因子包括一第一预设校正因子F1(i)和一第二预设校正因子F2(j)；
F1(i)＝P1(i)/P1_average，F2(j)＝P2(j)/P2_average
其中，P1(i)为所述X射线医疗设备在空载情况下以一特定预设电压获取的一第一参考图中像素单元i的像素值，P1_average为所述第一参考图的平均像素值；其中，P2(j)为所述X射线医疗设备在空载情况下以所述当前电压获取的一第二参考图中像素单元j的像素值，P2_average为所述第二参考图的平均像素值。
其中，基于预设校正因子对所述补偿图像进行校正处理的步骤包括通过如下方式确定所述校正图像上像素单元m的像素值：
P(m)＝P(m)_0/(F1(i)*F2(j))
其中，P(m)为所述校正图像上像素单元m的像素值，P(m)_0为所述补偿图像上的该像素单元的像素值。
其中，所述预设校正因子通过如下方式确定：
F(k)＝P(k)/P_average
其中，F(k)为所述预设校正因子，P(k)为所述X射线医疗设备在空载情况下以所述当前电压获取的一第三参考图中像素单元k的像素值，P_average为所述第三参考图的平均像素值。
其中，基于预设校正因子对所述补偿图像进行校正处理的步骤包括通过如下方式确定所述校正图像上像素单元n的像素值：
P(n)＝P(n)_0/F(k)
其中，P(n)为所述校正图像上像素单元n的像素值，P(n)_0为所述补偿图像上的该像素单元的像素值。
本发明另一方面提出了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有程序指令，所述程序指令能够被运行来实现如上所述的任一项所述的方法。
本发明再一方面提出了一种提高X射线图像均匀性的装置，用于一X射线医疗设备，所述装置包括：一成像单元，用于以一当前电压获取一待测对象的一X射线图像；一补偿单元，用于对所述X射线图像进行漂移补偿处理，得到补偿图像；以及一校正单元，用于基于预设校正因子，对所述补偿图像进行校正处理得到校正图像。
其中，所述预设校正因子包括一第一预设校正因子F1(i)和一第二预设校正因子F2(j)；
F1(i)＝P1(i)/P1_average，F2(j)＝P2(j)/P2_average
其中，P1(i)为所述X射线医疗设备在空载情况下以一特定预设电压获取的一第一参考图中像素单元i的像素值，P1_average为所述第一参考图的平均像素值；
其中，P2(j)为所述X射线医疗设备在空载情况下以所述当前电压获取的一第二参考图中像素单元j的像素值，P2_average为所述第二参考图的平均像素值。
其中，所述校正单元进一步用于通过如下方式确定所述校正图像上像素单元m的像素值：
P(m)＝P(m)_0/(F1(i)*F2(j))
其中，P(m)为所述校正图像上像素单元m的像素值，P(m)_0为所述补偿图像上的该像素单元的像素值。
其中，所述预设校正因子通过如下方式确定：
F(k)＝P(k)/P_average
其中，F(k)为所述预设校正因子，P(k)为所述X射线医疗设备在空载情况下以所述当前电压获取的一第三参考图中像素单元k的像素值，P_average为所述第三参考图的平均像素值。
其中，所述校正单元进一步用于通过如下方式确定所述校正图像上像素单元n的像素值：
P(n)＝P(n)_0/F(k)
其中，P(n)为所述校正图像上像素单元n的像素值，P(n)_0为所述补偿图像上的该像素单元的像素值。
本发明又一方面提出一种X射线医疗设备，包括如上所述的计算机存储介质或者如前所述的任一种提高X射线图像均匀性的装置。
本发明能够在不改变X射线医疗设备的硬件设计的情况下，提高X射线图像的均匀性。
附图说明
下面将通过参照附图详细描述本发明的实施例，使本领域的普通技术人员更清楚本发明的上述及其他特征和优点，附图中：
图1为根据本发明一实施方式的提高X射线图像均匀性的方法的示意性流程图。
图2为根据本发明一实施方式的图像上由选定范围内的若干像素点形成的小区域的示意图。
图3为示意性C臂型X射线医疗设备的示意图。
图4为根据本发明一实施方式的提高X射线图像均匀性的装置的示意性框图。
其中，附图标记如下：
100 提高X射线图像均匀性的方法
S110-S130 步骤
A 像素点
400 提高X射线图像均匀性的装置
410 成像单元
420 补偿单元
430 校正单元
具体实施方式
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本发明的具体实施方式，在各图中相同的标号表示相同的部分。
在本文中，“示意性”表示“充当实例、例子或说明”，不应将在本文中被描述为“示意性”的任何图示、实施方式解释为一种更优选的或更具优点的技术方案。
为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。
在本文中，“一”、“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。在本文中，“第一”、“第二”等仅用于彼此的区分，而非表示它们的重要程度及顺序、以及互为存在的前提等。
首先参见图1，图1为根据本发明一实施方式的提高X射线图像均匀性的方法的示意性流程图。如图所示，提高X射线图像均匀性的方法100用于一X射线医疗设备(图1未示)，方法100包括：
步骤S110：获取待测对象的X射线图像；
步骤S120：进行漂移补偿处理，得到补偿图像；以及
步骤S130：对补偿图像进行校正处理得到校正图像。
在步骤S110中，以一当前电压获取一待测对象的一X射线图像。本领域的技术人员可以根据方法100的具体应用场景选择设置前述当前电压，例如根据不同的待测对象(如不同器官)情况在可曝光电压阈值内设置当前电压，例如可以为60KV，本发明不以此为限。
在步骤S120中，对X射线图像进行漂移补偿处理，得到补偿图像。在实际应用中，通过X射线医疗设备的成像部件即平板探测器获取X射线图像，而平板探测器通常包括非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器。在使用过程中，平板探测器会产生电子基准漂移现象，需要进行校准，即漂移补偿处理，以提高平板探测器的稳定性。
在实施方式中，举例来说，可以预先获取并存储平板探测器的暗场图像，并通过如下方式完成漂移补偿处理：将步骤S110中获取的X射线图像上各像素单元的像素值减去暗场图像上相应的各像素单元的像素值来得到补偿图像。换言之，补偿图像上各像素单元的像素值是通过将步骤S110中获取的X射线图像上各像素单元的像素值减去暗场图像上相应的各像素单元的像素值来确定的。在这里，暗场图像的含义是指关闭X射线医疗设备的X射线时，平板探测器所产生的图像。
在本文中，X射线图像、暗场图像、补偿图像上各像素单元的含义应作广义理解，既可以是指各个独立像素点，也可以是指由选定范围内的若干像素点形成的小区域。换言之，可以将各个独立的像素点作为前述漂移补偿处理的像素单元，也可以将预定义的小区域作为前述漂移补偿处理的像素单元。
例如，参见图2，图2为根据本发明一实施方式的图像上由选定范围内的若干像素点形成的小区域的示意图。如图2所示，可以将像素点A及其周围邻域的8个像素点共同构成的3*3的小区域作为图像处理的像素单元，在这种情况下，X射线图像、暗场图像、补偿图像上各像素单元的像素值可以理解为前述小区域的平均像素值。将步骤S110中获取的X射线图像上各小区域的平均像素值减去暗场图像上相应的各小区域的平均像素值来得到补偿图像。换言之，补偿图像上各小区域的像素值是通过将步骤S110中获取的X射线图像上各小区域的像素值减去暗场图像上相应的各小区域的像素值来确定的。容易理解的是，选择小区域的具体方式如小区域的面积大小和形状等可以由本领域的技术人员灵活设置，本发明不以此为限，只要能够满足步骤S120中所述的漂移补偿处理即可。
同时，平板探测器由于生产工艺和部件老化等原因会造成缺陷像素点，如完全不显示图像的坏点或只在特定曝光剂量下正常成像而在其他剂量下表现异常的线性度较差的像素点等。对于前述缺陷像素点的像素值的确定亦可以采用类似方式确定，即基于缺陷像素点的位置在图像上确定选定范围内的小区域并以该小区域的平均像素值作为该缺陷像素点的像素值进行处理。
在步骤S130中，基于预设校正因子，对补偿图像进行校正处理得到校正图像。在步骤S120进行漂移补偿处理的基础上，通过步骤S130对图像进行进一步处理，以改善图像的均匀性。具体地，基于预设校正因子，对补偿图像进行校正处理，以提高其均匀性。在实施方式中，可以通过多种方式完成步骤S130中的校正过程。举例来说，预设校正因子包括一第一预设校正因子F1(i)和一第二预设校正因子F2(j)，
F1(i)＝P1(i)/P1_average---(1)
F2(j)＝P2(j)/P2_average---(2)
其中，P1(i)为X射线医疗设备在空载情况下以一特定预设电压获取的一第一参考图中像素单元i的像素值，P1_average为第一参考图的平均像素值。容易理解的是，第一参考图中各像素单元i的含义应作广义理解，既可以是指各个独立像素点，也可以是指由选定范围内的若干像素点形成的小区域。其中，i取自介于0和I之间的整数，即I≥i≥0，用于表示第一参考图上的各像素单元。I为第一参考图的像素单元总数，可以是第一参考图的像素点总数，也可以是第一参考图上小区域的总数。举例来说，当i＝0时，表示第0个像素单元或在图像上被标记为第0个位置的像素单元。根据不同的应用场景，本领域的技术人员可以调整对图像上各像素单元的编号方式，如改变编号的起点或以单双号等其他方式进行编号而不以顺序编号为限等。
F2(j)为X射线医疗设备在空载情况下以当前电压获取的一第二参考图中像素单元j的像素值，P2_average为第二参考图的平均像素值。容易理解的是，第二参考图中各像素单元j的含义应作广义理解，既可以是指各个独立像素点，也可以是指由选定范围内的若干像素点形成的小区域。其中，j取自介于0和J之间的整数，即J≥j≥0。J为第二参考图的像素单元总数，可以是第二参考图的像素点总数，也可以是第二参考图上小区域的总数。举例来说，当j＝0时，表示第0个像素单元或在图像上被标记为第0个位置的像素单元。根据不同的应用场景，本领域的技术人员可以调整对图像上各像素单元的编号方式，如改变编号的起点或以单双号等其他方式进行编号而不以顺序编号为限等。
在这里，空载情况是指X射线医疗设备在没有曝光对象(如待测对象)的情况下曝光。第一参考图和第二参考图都是在空载情况下获取的，获取第一参考图是在特定预设电压下获取的，该特定预设电压是根据不同X射线医疗设备所设置的电压，例如，以如图3所示的C臂型X射线医疗设备为例，基于行业内设置电压的相关技术标准如RQA5标准，该特定预设电压可以为70KV。本发明在此方面不受限制，本领域的技术人员可以根据实际应用的X射线医疗设备，基于设置电压的相关技术标准选择设置不同的电压。第二参考图是以当前电压获取的，即与生成待测对象的X射线图像的电压相同的电压，如上述举例说明的60KV。
在实施方式中，第一预设校正因子F1(i)和第二预设校正因子F2(j)可以设置为预存信息，如分别存储为校正因子图。实践中，利用第一预设校正因子F1(i)可以实现对图像的增益校正，利用第二预设校正因子F2(j)可以实现对图像的进一步校正，以提高图像的均匀性，消除足跟效应对图像的影响。
进一步地，基于预设校正因子对补偿图像进行校正处理的步骤包括通过如下方式确定校正图像上像素单元m的像素值：
P(m)＝P(m)_0/(F1(i)*F2(j))---(3)
其中，P(m)为校正图像上像素单元m的像素值，P(m)_0为补偿图像上的该像素单元的像素值。容易理解的是，各像素单元m的含义应作广义理解，既可以是指各个独立像素点，也可以是指由选定范围内的若干像素点形成的小区域。其中，m取自介于0和M之间的整数，即M≥m≥0。M为补偿图像(或校正图像)的像素单元总数，可以是补偿图像(或校正图像)的像素点总数，也可以是补偿图像(或校正图像)上小区域的总数。举例来说，当m＝0时，表示第0个像素单元或在图像上被标记为第0个位置的像素单元。根据不同的应用场景，本领域的技术人员可以调整对图像上各像素单元的编号方式，如改变编号的起点或以单双号等其他方式进行编号而不以顺序编号为限等。
利用公式(3)校正补偿图像，得到校正图像。具体地，基于第一预设校正因子F1(i)和第二预设校正因子F2(j)，对补偿图像上的各像素单元的像素值进行校正得到校正图像上各像素单元的像素值。公式(3)中的参数m、i、j表示不同图像(如校正图像、第一参考图和第二参考图)上的像素单元，以这三个参数指示的不同图像上的像素单元存在对应关系，也可以理解为m＝i＝j。
容易理解的是，如果调整上述实施方式中F1(i)和F2(j)的定义，校正图像上各像素单元m的像素值P(m)的计算公式也会相应调整，如调整F1(i)和F2(j)计算公式(1)和(2)中分子分母的位置，P(m)计算公式(3)中的除法关系也会相应调整为乘法关系。在本发明已经教导在对图像进行步骤S120所述的漂移补偿处理和步骤S130所述的校正处理并以举例方式给出具体校正因子的计算方式的基础上，本领域的技术人员可以根据实际应用需要灵活变换上述公式，本发明在此方面不受限制。
在变化实施方式中，预设校正因子通过如下方式确定：
F(k)＝P(k)/P_average---(4)
其中，F(k)为预设校正因子，P(k)为X射线医疗设备在空载情况下以当前电压获取的一第三参考图中像素单元k的像素值，P_average为第三参考图的平均像素值。容易理解的是，各像素单元k的含义应作广义理解，既可以是指各个独立像素点，也可以是指由选定范围内的若干像素点形成的小区域。其中，k取自介于0和K之间的整数，即K≥k≥0。K为第三参考图的像素单元总数，可以是第三参考图的像素点总数，也可以是第三参考图上小区域的总数。举例来说，当k＝0时，表示第0个像素单元或在图像上被标记为第0个位置的像素单元。根据不同的应用场景，本领域的技术人员可以调整对图像上各像素单元的编号方式，如改变编号的起点或以单双号等其他方式进行编号而不以顺序编号为限等。
第三参考图是以当前电压获取的，即与生成待测对象的X射线图像的电压相同的电压，如上述举例说明的60KV。
进一步地，基于预设校正因子对补偿图像进行校正处理的步骤包括通过如下方式确定校正图像上像素单元n的像素值：
P(n)＝P(n)_0/F(k)---(5)
其中，P(n)为校正图像上像素单元n的像素值，P(n)_0为补偿图像上的该像素单元的像素值。容易理解的是，各像素单元n的含义应作广义理解，既可以是指各个独立像素点，也可以是指由选定范围内的若干像素点形成的小区域。其中，n取自介于0和N之间的整数，即N≥n≥0。N为补偿图像(或校正图像)的像素单元总数，可以是补偿图像(或校正图像)的像素点总数，也可以是补偿图像(或校正图像)上小区域的总数。举例来说，当n＝0时，表示第0个像素单元或在图像上被标记为第0个位置的像素单元。根据不同的应用场景，本领域的技术人员可以调整对图像上各像素单元的编号方式，如改变编号的起点或以单双号等其他方式进行编号而不以顺序编号为限等。
在实施方式中，预设校正因子可以设置为预存信息，如存储为校正因子图。利用校正因子F(k)对图像进行校正可以提高图像的均匀性，改善图像质量。
利用公式(5)校正补偿图像，得到校正图像。具体地，基于预设校正因子F(k)，对补偿图像上的各像素单元的像素值进行校正得到校正图像上各像素单元的像素值。公式(5)中的参数n、k表示不同图像(如校正图像和第三参考图)上的像素单元，以这两个参数指示的不同图像上的像素单元存在对应关系，也可以理解为n＝k。
类似地，如果调整上述实施方式中F(k)的定义，校正图像上各像素单元n的像素值P(n)的计算公式也会相应调整，如调整F(k)计算公式(4)中分子分母的位置，P(n)计算公式(5)中的除法关系也会相应调整为乘法关系。本领域的技术人员可以根据实际应用需要灵活变换上述公式，本发明在此方面不受限制。
如上以举例说明的方式，给出了计算预设校正因子的不同方式。本领域的技术人员可以将校正的过程分为两步实现，也可以在一步图像处理中实现，本发明不以此为限。实践中，可以灵活应用本发明所教导的提高X射线图像均匀性的技术方案，例如，在设置第一预设校正因子F1(i)和第二预设校正因子F2(j)的实施方式中，将校正过程分为利用两个校正因子分别进行校正，可以将利用第一预设校正因子F1(i)进行校正的过程作为默认处理流程，将利用第二预设校正因子F2(j)进行校正的过程作为可选处理方案。在默认处理流程中，基于第一预设校正因子F1(i)进行校正获得的图像如果已经满足医学要求，则不需要选择附加进行基于第二预设校正因子F2(j)的校正过程。若根据待测对象情况，需要进一步提高图像质量，则可以附加适用基于第二预设校正因子F2(j)的校正过程。
本发明还提供一种提高X射线图像均匀性的装置，如下结合附图进行示意性描述，与前面介绍的提高X射线图像均匀性的方法类似的内容，仅作简要描述或省略相关描述。
参见图4，图4为根据本发明一实施方式的提高X射线图像均匀性的装置的示意性框图。如图4所示，提高X射线图像均匀性的装置400用于一X射线医疗设备(图4未示)，装置400包括一成像单元410、一补偿单元420以及一校正单元430。其中，成像单元410用于以一当前电压获取一待测对象的一X射线图像，补偿单元420用于对X射线图像进行漂移补偿处理，得到补偿图像，校正单元430用于基于预设校正因子，对补偿图像进行校正处理得到校正图像。
在实施方式中，预设校正因子包括一第一预设校正因子F1(i)和一第二预设校正因子F2(j)，
F1(i)＝P1(i)/P1_average---(6)
F2(j)＝P2(j)/P2_average---(7)
上述公式中的各参数含义与前述实施方式相同，在此不进行赘述。
进一步地，校正单元430进一步用于通过如下方式确定校正图像上像素单元m的像素值：
P(m)＝P(m)_0/(F1(i)*F2(j))---(8)
上述公式中的各参数含义与前述实施方式相同，在此不进行赘述。
在变化实施方式中，预设校正因子通过如下方式确定：
F(k)＝P(k)/P_average---(9)
上述公式中的各参数含义与前述实施方式相同，在此不进行赘述。
进一步地，校正单元430进一步被用于如下方式确定校正图像上像素单元n的像素值：
P(n)＝P(n)_0/F(k)---(10)
上述公式中的各参数含义与前述实施方式相同，在此不进行赘述。
此外，本发明还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有程序指令，所述程序指令能够被运行来实现如上所述的任一方法，同时前述方法可以被应用于本发明所公开的任一X射线医疗设备。具体地，可以提供配有存储介质的系统或者装置，在该存储介质上存储着实现上述实施方式中任一实施方式的功能的软件程序代码，且使该系统或者装置的计算机(或CPU或MPU)读出并执行存储在存储介质中的程序代码。
在这种情况下，从存储介质读取的程序代码本身可实现上述实施方式中任何一项实施方式的功能，因此程序代码和存储程序代码的存储介质构成了本发明的一部分。
用于提供程序代码的存储介质实施例包括软盘、硬盘、磁光盘、光盘(如CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD-ROM、DVD-RAM、DVD-RW、DVD+RW)、磁带、非易失性存储卡和ROM。可选地，可以由通信网络从服务器计算机上下载程序代码。
此外，应该清楚的是，不仅可以通过执行计算机所读出的程序代码，而且可以通过基于程序代码的指令使计算机上操作的操作系统等来完成部分或者全部的实际操作，从而实现上述实施方式中任意一项实施方式的功能。
此外，可以理解的是，将由存储介质读出的程序代码写到插入计算机内的扩展板中所设置的存储器中或者写到与计算机相连接的扩展单元中设置的存储器中，随后基于程序代码的指令使安装在扩展板或者扩展单元上的CPU等来执行部分和全部实际操作，从而实现上述实施方式中任一实施方式的功能。
本发明还提供一种X射线医疗设备，包括如上所述的计算机存储介质或者如上所述的提高X射线图像均匀性的装置。
本发明涉及提高X射线图像均匀性的方法和装置以及计算机存储介质。根据一实施方式，提高X射线图像均匀性的方法用于一X射线医疗设备，所述方法包括：以一当前电压获取一待测对象的一X射线图像；对所述X射线图像进行漂移补偿处理，得到补偿图像；以及基于预设校正因子，对所述补偿图像进行校正处理得到校正图像。本发明能够在不改变X射线医疗设备硬件设计的情况下，提高X射线图像的均匀性。
以上所述仅为本发明的实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (12)
1.一种提高X射线图像均匀性的方法，用于一X射线医疗设备，所述方法包括：
以一当前电压获取一待测对象的一X射线图像；
对所述X射线图像进行漂移补偿处理，得到补偿图像；以及
基于预设校正因子，对所述补偿图像进行校正处理得到校正图像。
2.如权利要求1所述的提高X射线图像均匀性的方法，其中，所述预设校正因子包括一第一预设校正因子F1(i)和一第二预设校正因子F2(j)；
F1(i)＝P1(i)/P1_average，F2(j)＝P2(j)/P2_average
其中，P1(i)为所述X射线医疗设备在空载情况下以一特定预设电压获取的一第一参考图中像素单元i的像素值，P1_average为所述第一参考图的平均像素值；
其中，P2(j)为所述X射线医疗设备在空载情况下以所述当前电压获取的一第二参考图中像素单元j的像素值，P2_average为所述第二参考图的平均像素值。
3.如权利要求2所述的提高X射线图像均匀性的方法，其中，基于预设校正因子对所述补偿图像进行校正处理的步骤包括通过如下方式确定所述校正图像上像素单元m的像素值：
P(m)＝P(m)_0/(F1(i)*F2(j))
其中，P(m)为所述校正图像上像素单元m的像素值，P(m)_0为所述补偿图像上的该像素单元的像素值。
4.如权利要求1所述的提高X射线图像均匀性的方法，其中，所述预设校正因子通过如下方式确定：
F(k)＝P(k)/P_average
其中，F(k)为所述预设校正因子，P(k)为所述X射线医疗设备在空载情况下以所述当前电压获取的一第三参考图中像素单元k的像素值，P_average为所述第三参考图的平均像素值。
5.如权利要求4所述的提高X射线图像均匀性的方法，其中，基于预设校正因子对所述补偿图像进行校正处理的步骤包括通过如下方式确定所述校正图像上像素单元n的像素值：
P(n)＝P(n)_0/F(k)
其中，P(n)为所述校正图像上像素单元n的像素值，P(n)_0为所述补偿图像上的该像素单元的像素值。
6.一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有程序指令，所述程序指令能够被运行来实现如权利要求1-5中任一项所述的方法。
7.一种提高X射线图像均匀性的装置，用于一X射线医疗设备，所述装置包括：
一成像单元，用于以一当前电压获取一待测对象的一X射线图像；
一补偿单元，用于对所述X射线图像进行漂移补偿处理，得到补偿图像；以及
一校正单元，用于基于预设校正因子，对所述补偿图像进行校正处理得到校正图像。
8.如权利要求7所述的提高X射线图像均匀性的装置，其中，所述预设校正因子包括一第一预设校正因子F1(i)和一第二预设校正因子F2(j)；
F1(i)＝P1(i)/P1_average，F2(j)＝P2(j)/P2_average
其中，P1(i)为所述X射线医疗设备在空载情况下以一特定预设电压获取的一第一参考图中像素单元i的像素值，P1_average为所述第一参考图的平均像素值；
其中，P2(j)为所述X射线医疗设备在空载情况下以所述当前电压获取的一第二参考图中像素单元j的像素值，P2_average为所述第二参考图的平均像素值。
9.如权利要求8所述的提高X射线图像均匀性的装置，其中，所述校正单元进一步用于通过如下方式确定所述校正图像上像素单元m的像素值：
P(m)＝P(m)_0/(F1(i)*F2(j))
其中，P(m)为所述校正图像上像素单元m的像素值，P(m)_0为所述补偿图像上的该像素单元的像素值。
10.如权利要求7所述的提高X射线图像均匀性的装置，其中，所述预设校正因子通过如下方式确定：
F(k)＝P(k)/P_average
其中，F(k)为所述预设校正因子，P(k)为所述X射线医疗设备在空载情况下以所述当前电压获取的一第三参考图中像素单元k的像素值，P_average为所述第三参考图的平均像素值。
11.如权利要求10所述的提高X射线图像均匀性的装置，其中，所述校正单元进一步用于通过如下方式确定所述校正图像上像素单元n的像素值：
P(n)＝P(n)_0/F(k)
其中，P(n)为所述校正图像上像素单元n的像素值，P(n)_0为所述补偿图像上的该像素单元的像素值。
12.一种X射线医疗设备，包括如权利要求6所述的计算机存储介质或者如权利要求7-11所述的提高X射线图像均匀性的装置。
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