CN112184634B - 平板探测器校正方法、装置、存储介质及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本公开涉及一种平板探测器校正方法、装置、存储介质及电子设备，所述方法包括：获取通过平板探测器采集的检测校正图像；根据所述检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和所述平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数，其中所述第一增益参数用于表征所述平板探测器的电子器件特征对图像的影响，所述第二增益参数用于表征所述平板探测器对应的射线源分布对图像的影响；对第二增益参数进行计算，并根据计算结果是否对所述平板探测器进行增益校正；在确定对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述平板探测器对应的混合增益参数对所述平板探测器进行增益校正。由此，可以提高平板探测器校正的准确度。
Description
技术领域
本公开涉及图像处理，具体地，涉及一种平板探测器校正方法、装置、存储介质及电子设备。
背景技术
随着医疗行业日新月异的发展，针对不同临床需求，各种医疗器械层出不穷，DR(digital radiography，数字X线摄影术)作为一种基于X射线的筛查设备被广泛应用，其中平板探测器为DR设备关键的器件。
平板探测器的性能直接决定成像的质量。现有技术中，通常是直接通过平板探测器采集一定数量的暗场图像和亮场图像，从而通过该暗场图像和亮场图像确定出该平板探测器对应的增益模板，从而基于该增益模板对平板探测器进行增益校正。然而通过上述方式，如果平板探测器校正过程中存在影像链路异常，如平板探测器上存在异物，则会导致增益模板中存在异常的结构信息，则在根据该增益模板对平板探测器进行校正后会导致校正后采集的图像中存在伪影，降低成像的准确度。
发明内容
本公开的目的是提供一种准确、简便地平板探测器校正方法、装置、存储介质及电子设备。
为了实现上述目的，根据本公开的第一方面，提供一种平板探测器校正方法，所述方法包括：
获取通过平板探测器采集的检测校正图像；
根据所述检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和所述平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数，其中所述第一增益参数用于表征所述平板探测器的电子器件特征对图像的影响，所述第二增益参数用于表征所述平板探测器对应的射线源分布对图像的影响；
对所述第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对所述平板探测器进行增益校正；
在确定对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述平板探测器对应的混合增益参数对所述平板探测器进行增益校正。
可选地，所述对所述第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对所述平板探测器进行增益校正，包括：
对所述第二增益参数进行计算，分别确定所述检测校正图像中每一像素在水平方向上对应的水平梯度和在竖直方向上对应的竖直梯度；根据所述检测校正图像对应的每一水平梯度和目标校正图像对应的每一目标水平梯度确定水平差异矩阵，根据所述检测校正图像对应的每一竖直梯度和所述目标校正图像对应的每一目标竖直梯度确定竖直差异矩阵，其中，所述目标校正图像为预先存储的通过所述平板探测器采集的图像校正后的图像；
根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定是否对所述平板探测器进行增益校正。
可选地，所述根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定是否对所述平板探测器进行增益校正，包括：
在所述水平差异矩阵或者所述竖直差异矩阵中存在超过预设阈值的差异值的情况下，确定不能对所述平板探测器进行增益校正。
可选地，所述方法还包括：
在根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定不能对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述水平差异矩阵和预设阈值生成水平检测图像，根据所述竖直差异矩阵和所述预设阈值生成竖直检测图像，其中，所述水平检测图像和所述竖直检测图像为二值图像；
根据所述水平检测图像和所述竖直检测图像确定所述检测校正图像中的异常位置；
输出所述异常位置。
可选地，所述根据所述检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和所述平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数，包括：
将所述混合增益参数与所述第一增益参数的比值确定为所述第二增益参数。
可选地，所述第一增益参数的获得包括：
获取第一亮场图像和第二亮场图像，其中，所述第一亮场图像为所述平板探测器在空场的状态下垂直于球管方向放置时获得的图像，所述第二亮场图像为所述平板探测器在空场的状态下平行于球管方向放置时获得的图像；
从所述第一亮场图像中提取目标列像素矩阵，从所述第二亮场图像中提取目标行像素矩阵；
根据所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵确定所述平板探测器对应的所述第一增益参数。
可选地，所述根据所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵确定所述平板探测器对应的所述第一增益参数，包括：
将所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵的比值确定为方向差异矩阵；
基于所述方向差异矩阵对所述第二亮场图像进行滤波，获得滤波图像；
将所述第二亮场图像与所述滤波图像的比值确定为所述第一增益参数。
根据本公开的第二方面，提供一种平板探测器校正装置，所述装置包括：
获取模块，用于获取通过平板探测器采集的检测校正图像；
第一确定模块，用于根据所述检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和所述平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数，其中所述第一增益参数用于表征所述平板探测器的电子器件特征对图像的影响，所述第二增益参数用于表征所述平板探测器对应的射线源分布对图像的影响；
第二确定模块，用于对所述第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对所述平板探测器进行增益校正；
校正模块，用于在确定对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述平板探测器对应的混合增益参数对所述平板探测器进行增益校正。
可选地，所述第二确定模块包括：
第一确定子模块，用于对所述第二增益参数进行计算，分别确定所述检测校正图像中每一像素在水平方向上对应的水平梯度和在竖直方向上对应的竖直梯度；
第二确定子模块，用于根据所述检测校正图像对应的每一水平梯度和目标校正图像对应的每一目标水平梯度确定水平差异矩阵，根据所述检测校正图像对应的每一竖直梯度和所述目标校正图像对应的每一目标竖直梯度确定竖直差异矩阵，其中，所述目标校正图像为预先存储的通过所述平板探测器采集的图像校正后的图像；
第三确定子模块，用于根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定是否对所述平板探测器进行增益校正。
可选地，所述第三确定子模块包括：
在所述水平差异矩阵或者所述竖直差异矩阵中存在超过预设阈值的差异值的情况下，确定不能对所述平板探测器进行增益校正。
可选地，所述装置还包括：
生成模块，用于在根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定不能对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述水平差异矩阵和预设阈值生成水平检测图像，根据所述竖直差异矩阵和所述预设阈值生成竖直检测图像，其中，所述水平检测图像和所述竖直检测图像为二值图像；
第三确定模块，用于根据所述水平检测图像和所述竖直检测图像确定所述检测校正图像中的异常位置；
输出模块，用于输出所述异常位置。
可选地，所述第一确定模块包括：
将所述混合增益参数与所述第一增益参数的比值确定为所述第二增益参数。
可选地，所述第一增益参数通过第四确定模块获得，所述第四确定模块包括：
获取子模块，用于获取第一亮场图像和第二亮场图像，其中，所述第一亮场图像为所述平板探测器在空场的状态下垂直于球管方向放置时获得的图像，所述第二亮场图像为所述平板探测器在空场的状态下平行于球管方向放置时获得的图像；
提取子模块，用于从所述第一亮场图像中提取目标列像素矩阵，从所述第二亮场图像中提取目标行像素矩阵；
第四确定子模块，用于根据所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵确定所述平板探测器对应的所述第一增益参数。
可选地，所述第四确定子模块包括：
第五确定子模块，用于将所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵的比值确定为方向差异矩阵；
滤波子模块，用于基于所述方向差异矩阵对所述第二亮场图像进行滤波，获得滤波图像；
第六确定子模块，用于将所述第二亮场图像与所述滤波图像的比值确定为所述第一增益参数。
根据本公开的第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述第一方面任一所述方法的步骤。
根据本公开的第四方面，提供一种电子设备，包括：
存储器，其上存储有计算机程序；
处理器，用于执行所述存储器中的所述计算机程序，以实现上述第一方面任一项所述方法的步骤。
在上述技术方案中，获取通过平板探测器采集的检测校正图像，根据所述检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和所述平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数，对所述第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对所述平板探测器进行增益校正，并在确定对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述平板探测器对应的混合增益参数对所述平板探测器进行增益校正。由此，通过上述技术方案，可以在对平板探测器进行增益校正之前，确定该平板探测器的状态是否可以进行增益校正，从而可以避免直接对该平板探测器进行增益校正所带来的伪影影响，提高平板探测器校正的准确度。并且在确定是否对平板探测器进行增益校正时，可以直接根据用于表征平板探测器对应的射线源分布对图像的影响的第二增益参数进行判断，通过将第一增益参数和第二增益参数分离，在降低数据处理量的同时，进一步保证判定结果的准确性，为保证平板探测器的准确校正提供数据支持。
本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
图1是根据本公开的一种实施方式提供的平板探测器校正方法的流程图；
图2是根据本公开的一种实施方式提供的获得的检测校正图像的示意图；
图3是根据本公开的一种实施方式提供的第一增益参数的获得的流程图；
图4A是根据本公开的一种实施方式提供的获取平板探测器在空场的状态下垂直于球管方向放置时获得的图像的示意图；
图4B是根据本公开的一种实施方式提供的获取平板探测器在空场的状态下平行于球管方向放置时获得的图像的示意图；
图5A是根据本公开的一种实施方式提供的包含该第一亮场图像的中心点像素的列像素矩阵的示意图；
图5B是根据本公开的一种实施方式提供的包含该第二亮场图像的中心点像素的行像素矩阵的示意图；
图6是根据本公开的一种实施方式提供的滤波图像的示意图；
图7是根据本公开的一种实施方式提供的对第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对平板探测器进行增益校正的示例性实现方式的流程图；
图8是根据本公开的一种实施方式提供的平板探测器校正装置的框图；
图9是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图；
图10是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图。
具体实施方式
以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。
图1所示，为根据本公开的一种实施方式提供的平板探测器校正方法的流程图，如图1所示，所述方法包括：
在步骤11中，获取通过平板探测器采集的检测校正图像，即通过该平板探测器采集一张亮场图像，以基于该图像确定是否可以对平板探测器进行校正。
在步骤12中，根据检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和平板探测器对应的第一增益参数确定平板探测器对应的第二增益参数，其中所述第一增益参数用于表征所述平板探测器的电子器件特征对图像的影响，所述第二增益参数用于表征所述平板探测器对应的射线源分布对图像的影响。
本公开中，申请人研究发现，在通过平板探测器采集图像时，主要是平板探测器的电子器件制造的物理结构，即平板探测器的电子器件特征会对图像有所影响，以及平板探测器对应的射线源分布不均匀的因素使得平板探测器中对每一像素单元的响应不一致，而对采集的图像的质量带来直接的影响。本公开中，平板探测器对应的混合增益参数则既包括由电子器件特征产生的增益，也包括射线源分布产生的增益。如图2所示，为获得的检测校正图像的示意图，其中，图2中A处所示的条纹状变化是电子器件特征对图像的影响，由B点向外以圆形扩散的变化是射线源分布对图像的影响，其中，A、B的位置仅为示例性说明。
其中，该混合增益参数、第一增益参数和第二增益参数可以为矩阵，矩阵中的每一元素对应的图像中的一个像素点。示例地，可以预先通过该平板探测器采集暗场图像，并将该暗场图像作为偏置校正图像offset，则在获得检测校正图像后，可以通过该检测校正图像和该偏置校正图像确定该检测校正图像对应的混合增益参数。如可以将检测校正图像和该偏置校正图像的差值确定为该混合增益参数。
在步骤13中，对第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对平板探测器进行增益校正。
其中，由上文所述可知，针对于一平板探测器而言，其对应的电子器件特征是固定的，即该第一增益参数为固定的，在确定出的平板探测器对应的混合增益参数变化时，则是由于射线源分布不均所导致的，即第二增益参数所导致的。因此，在本公开中通过对该第二增益参数进行计算，根据计算结果过确定该平板探测器是否有异物，从而确定是否可以对该平板探测器进行增益校正，以避免平板探测器上有异物时直接对该平板探测器进行增益校正带来的伪影的影响。
在步骤14中，在确定对平板探测器进行增益校正的情况下，根据平板探测器对应的混合增益参数对平板探测器进行增益校正。
在确定对平板探测器进行增益校正的情况下，即表示该平板探测器对应的混合增益参数中并未包含其他特征影响，这时根据平板探测器对应的混合增益参数对平板探测器进行增益校正，则可以将该混合增益参数中平板探测器的电子器件特征，以及平板探测器对应的射线源分布不均匀等因素产生的影响进行消除，以保证通过该平板探测器采集的图像的清晰度和准确度。
在上述技术方案中，获取通过平板探测器采集的检测校正图像，根据所述检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和所述平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数，对所述第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对所述平板探测器进行增益校正，并在确定对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述平板探测器对应的混合增益参数对所述平板探测器进行增益校正。由此，通过上述技术方案，可以在对平板探测器进行增益校正之前，确定该平板探测器的状态是否可以进行增益校正，从而可以避免直接对该平板探测器进行增益校正所带来的伪影影响，提高平板探测器校正的准确度。并且在确定是否对平板探测器进行增益校正时，可以直接根据用于表征平板探测器对应的射线源分布对图像的影响的第二增益参数进行判断，通过将第一增益参数和第二增益参数分离，在降低数据处理量的同时，进一步保证判定结果的准确性，为保证平板探测器的准确校正提供数据支持。
为了使本领域技术人员更加理解本发明实施例提供的技术方案，下面对上述步骤进行详细的说明。
可选地，在步骤12中，根据检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数的示例性实现方式如下，该步骤可以包括：
将所述混合增益参数与所述第一增益参数的比值确定为所述第二增益参数，由此可以将混合增益参数中的第一增益参数和第二增益参数分离，进而直接、准确地确定出该第二增益参数，为后续对平板探测器进行增益校正提供准确地数据支持。
可选地，如图3所示，所述第一增益参数的获得可以包括：
在步骤31中，获取第一亮场图像和第二亮场图像，其中，所述第一亮场图像为所述平板探测器在空场的状态下垂直于球管方向放置时获得的图像，所述第二亮场图像为所述平板探测器在空场的状态下平行于球管方向放置时获得的图像。
其中，射线源存在阳极效应，即对在一个方向上射线分布不均的影响严重，对与该方向垂直的方向上射线分布不均的影响甚微，即针对同一射线源，平板探测器的电子器件在不同方向放置时的像素单元的响应不同。基于此，本公开中可以通过分别获取平板探测器在空场的状态下垂直于球管方向放置时获得的图像(如图4A所示)和平板探测器在空场的状态下水平于球管方向放置时获得的图像(如图4B所示)，从而可以基于该两种方向的图像基于射线源的阳极效应确定出该平板探测器的电子器件对应的响应差异。其中，图4A和图4B中的C处为射线源处。
在步骤32中，从第一亮场图像中提取目标列像素矩阵，从第二亮场图像中提取目标行像素矩阵。
其中，该目标列像素矩阵可以为该第一亮场图像中的任一列像素矩阵，示例地，目标列像素矩阵为包含该第一亮场图像的中心点像素的列像素矩阵，如图5A所示；该目标行像素矩阵可以为该第二亮场图像中的任一行像素矩阵，示例地，目标行像素矩阵为包含该第二亮场图像的中心点像素的行像素矩阵，如图5B所示。其中，如图5A所示的目标列像素矩阵中包含射线源分布不均的影响，如图5B所述的目标行像素矩阵中包含射线源分布不均的影响和平板探测器的电子器件中各像素单元响应的差异的影响。
可选地，为了进一步提高第一增益参数的准确性，可以基于偏置校正图像offset对第一亮场图像和第二亮场图像进行校正，从而在步骤32中可以从校正后的第一亮场图像中提取目标列像素矩阵，从校正后的第二亮场图像中提取目标行像素矩阵。
在步骤33中，根据目标列像素矩阵和目标行像素矩阵确定平板探测器对应的第一增益参数。
示例地，根据目标列像素矩阵和目标行像素矩阵确定平板探测器对应的第一增益参数，可以包括：
将所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵的比值确定为方向差异矩阵，即该平板探测器的电子器件中各像素单元响应的差异。
基于所述方向差异矩阵对所述第二亮场图像进行滤波，获得滤波图像。
其中，在第二亮场图像成像时，既会受到射线源分布不均的影响，又会受到平板探测器的电子器件像素单元响应的差异的影响。由此，在确定出方向差异矩阵后，基于该方向差异矩阵对第二亮场图像进行滤波后获得的滤波图像中则只包含受到的射线源分布不均的影响，如图6所示，为滤波图像的示意图。其中在对第二亮场图像进行滤波时可以采用现有的滤波技术进行滤波，本公开对此不进行限定。
之后，将所述第二亮场图像与所述滤波图像的比值确定为所述第一增益参数，从而可以直接且准确地确定出用于表征平板探测器的电子器件特征的影响的第一增益参数。
由此，通过上述技术方案，基于对平板探测器成像原理的分析，通过不同方向对应的图像确定用于表征所述平板探测器的电子器件特征对图像的影响的第一增益参数，一方面可以保证确定出的第一增益参数的可靠性和准确性，另一方面可以简化确定第一增益参数的流程，实现第一增益参数的分离，为后续基于第一增益参数和第二增益参数进行分别处理提供可能性，进一步贴合用户的使用需求。
可选地，由上述可知，该平板探测器对应的第一增益参数为固定的，因此在首次确定出该第一增益参数之后，可以直接将该第一增益参数进行存储，以便于后续过程中可以直接对该第一增益参数进行使用，从而可以简化平板探测器的校正流程，并且可以有效校正过程中的降低数据处理量。
可选地，在步骤13中，对第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对平板探测器进行增益校正的示例性实现方式如下，如图7所示，该步骤可以包括：
在步骤71中，根据第二增益参数分别确定检测校正图像中每一像素在水平方向上对应的水平梯度和在竖直方向上对应的竖直梯度；根据检测校正图像对应的每一水平梯度和目标校正图像对应的每一目标水平梯度确定水平差异矩阵，根据检测校正图像对应的每一竖直梯度和目标校正图像对应的每一目标竖直梯度确定竖直差异矩阵，其中，所述目标校正图像为预先存储的通过所述平板探测器采集的图像校正后的图像。
示例地，可以对该第二增益参数在水平方向上求导得出该水平梯度，并对该第二增益参数在竖直方向上求导得出该竖直梯度。示例地，可以在保证平板探测器上没有异物的情况下，通过该平板探测器采集一图像，并对该图像进行校正从而获得该目标校正图像，之后则可以计算出该目标校正图像对应的混合增益参数，并基于该混合增益参数和平板探测器对应的第一增益参数，确定该目标校正图像对应的第二增益参数。其中，确定目标校正图像对应的混合增益参数和第二增益参数的方式与上文所述确定检测校正图像对应的混合增益参数和第二增益参数的方式相同，在此不再赘述。作为示例，在确定目标校正图像的第二增益系数时，也可以将该目标校正图像与所述滤波图像的比值确定为该第二增益参数，从而可以保证该第二增益参数的准确性。其中，该目标校正图像的第二增益参数在更换射线源球管或者高压等器件之后，需要重新确定并存储，以获得与更新后的元件相匹配的第二增益参数。
之后，通过确定出的目标校正图像对应的第二增益参数，分别在水平方向和竖直方向上求导，从而可以获得该目标校正图像对应的目标水平梯度和目标竖直梯度。其中，可以将该目标水平梯度和该目标竖直梯度进行存储，以便于后续使用。
作为示例，可以根据检测校正图像对应的每一水平梯度和目标校正图像对应的每一目标水平梯度确定水平差异矩阵，示例地，可以将检测校正图像中对应的水平梯度与该目标校正图像中对应像素点的目标水平梯度的比值确定该为像素点对应的水平差异，从而可以基于每一像素点对应的水平差异确定该水平差异矩阵。相应地，可以将检测校正图像中对应的竖直梯度与该目标校正图像中对应像素点的目标竖直梯度的比值确定该为像素点对应的竖直差异，从而可以基于每一像素点对应的竖直差异确定该竖直差异矩阵。由此，可以分别基于水平差异矩阵和竖直差异矩阵表示出该校正检测图像和目标校正图像的之间梯度差异。
在步骤72中，根据水平差异矩阵和竖直差异矩阵确定是否对平板探测器进行增益校正。
可选地，根据水平差异矩阵和竖直差异矩阵确定是否对平板探测器进行增益校正，可以包括：
在所述水平差异矩阵或者所述竖直差异矩阵中存在超过预设阈值的差异值的情况下，确定不能对所述平板探测器进行增益校正。
其中，所述预设阈值可以根据实际使用场景进行设置，本公开对此不进行限定。示例地，水平差异矩阵中的某一差异值超过预设阈值，则表示该检测校正图像中该像素点的水平梯度和目标校正图像中该像素点的目标水平梯度的差异较大，则可以表示该像素点上存在异物的可能性较大，这种情况下确定该像素点处存在异物，即不能对平板探测器进行增益校正。
由此，通过上述技术方案，可以通过第二增益参数确定出检测校正图像在水平方向和竖直方向上的梯度，并通过与目标校正图像对应的梯度进行比较，从而可以确定出该检测校正图像和目标校正图像的图像差异，以便准确确定出该检测校正图像中是否存在异物，从而确定是否对该平板探测器进行校正，以为平板探测器的准确校正提供支持，进一步保证基于该平板探测器采集图像的准确性，便于用户使用，提升用户使用体验。
在一种可能的实施例中，在确定不能对平板探测器进行增益校正的情况下，可以直接给用户输出提示，以提示用户对该平板探测器进行查看，以及时去除异物。
在另一种可能的实施例中，所述方法还可以包括：
在根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定不能对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述水平差异矩阵和预设阈值生成水平检测图像，根据所述竖直差异矩阵和所述预设阈值生成竖直检测图像，其中，所述水平检测图像和所述竖直检测图像为二值图像。
示例地，可以通过如下方式确定水平检测图像：
遍历该水平差异矩阵中的每一元素值，在该元素值超过预设阈值的情况下，将该元素值记为1，在该元素值未超过预设阈值的情况下，将该元素值记为0，从而获得该水平检测图像。其中，竖直检测图像的确定方式与水平检测图像的确定方式相似，在此不再赘述。
根据所述水平检测图像和所述竖直检测图像确定所述检测校正图像中的异常位置；输出所述异常位置。
示例地，可以直接将水平检测图像中元素值为1的像素点对应的位置确定为该异常位置并输出。由此，在上述技术方案中，在确定不能对平板探测器进行增益校正的情况下，输出该异常位置对用户进行提示，既可以对用户及时对用户提示平板探测器的状态，避免在平板探测器带有异物的情况下进行平板校正所导致的伪影问题，以提醒用户对异物进行去除，又可以对平板探测器上的异常位置进行准确提示，以便于用户可以直接确定该平板探测器中的异物位置，便于用户进行异常排查，降低用户的操作流程，进一步提升用户使用体验。
本公开的第二方面，提供一种平板探测器校正装置，如图8所示，所述装置10包括：
获取模块100，用于获取通过平板探测器采集的检测校正图像；
第一确定模块200，用于根据所述检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和所述平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数，其中所述第一增益参数用于表征所述平板探测器的电子器件特征对图像的影响，所述第二增益参数用于表征所述平板探测器对应的射线源分布对图像的影响；
第二确定模块300，用于对所述第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对所述平板探测器进行增益校正；
校正模块400，用于在确定对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述平板探测器对应的混合增益参数对所述平板探测器进行增益校正。
可选地，所述第二确定模块包括：
第一确定子模块，用于对所述第二增益参数进行计算，分别确定所述检测校正图像中每一像素在水平方向上对应的水平梯度和在竖直方向上对应的竖直梯度；
第二确定子模块，用于根据所述检测校正图像对应的每一水平梯度和目标校正图像对应的每一目标水平梯度确定水平差异矩阵，根据所述检测校正图像对应的每一竖直梯度和所述目标校正图像对应的每一目标竖直梯度确定竖直差异矩阵，其中，所述目标校正图像为预先存储的通过所述平板探测器采集的图像校正后的图像；
第三确定子模块，用于根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定是否对所述平板探测器进行增益校正。
可选地，所述第三确定子模块包括：
在所述水平差异矩阵或者所述竖直差异矩阵中存在超过预设阈值的差异值的情况下，确定不能对所述平板探测器进行增益校正。
可选地，所述装置还包括：
生成模块，用于在根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定不能对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述水平差异矩阵和预设阈值生成水平检测图像，根据所述竖直差异矩阵和所述预设阈值生成竖直检测图像，其中，所述水平检测图像和所述竖直检测图像为二值图像；
第三确定模块，用于根据所述水平检测图像和所述竖直检测图像确定所述检测校正图像中的异常位置；
输出模块，用于输出所述异常位置。
可选地，所述第一确定模块包括：
将所述混合增益参数与所述第一增益参数的比值确定为所述第二增益参数。
可选地，所述第一增益参数通过第四确定模块获得，所述第四确定模块包括：
获取子模块，用于获取第一亮场图像和第二亮场图像，其中，所述第一亮场图像为所述平板探测器在空场的状态下垂直于球管方向放置时获得的图像，所述第二亮场图像为所述平板探测器在空场的状态下平行于球管方向放置时获得的图像；
提取子模块，用于从所述第一亮场图像中提取目标列像素矩阵，从所述第二亮场图像中提取目标行像素矩阵；
第四确定子模块，用于根据所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵确定所述平板探测器对应的所述第一增益参数。
可选地，所述第四确定子模块包括：
第五确定子模块，用于将所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵的比值确定为方向差异矩阵；
滤波子模块，用于基于所述方向差异矩阵对所述第二亮场图像进行滤波，获得滤波图像；
第六确定子模块，用于将所述第二亮场图像与所述滤波图像的比值确定为所述第一增益参数。
关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
图9是根据一示例性实施例示出的一种电子设备700的框图。如图9所示，该电子设备700可以包括：处理器701，存储器702。该电子设备700还可以包括多媒体组件703，输入/输出(I/O)接口704，以及通信组件705中的一者或多者。
其中，处理器701用于控制该电子设备700的整体操作，以完成上述的平板探测器校正方法中的全部或部分步骤。存储器702用于存储各种类型的数据以支持在该电子设备700的操作，这些数据例如可以包括用于在该电子设备700上操作的任何应用程序或方法的指令，以及应用程序相关的数据，例如联系人数据、收发的消息、图片、音频、视频等等。该存储器702可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，例如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，简称SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，简称EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，简称EPROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，简称PROM)，只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。多媒体组件703可以包括屏幕和音频组件。其中屏幕例如可以是触摸屏，音频组件用于输出和/或输入音频信号。例如，音频组件可以包括一个麦克风，麦克风用于接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器702或通过通信组件705发送。音频组件还包括至少一个扬声器，用于输出音频信号。I/O接口704为处理器701和其他接口模块之间提供接口，上述其他接口模块可以是键盘，鼠标，按钮等。这些按钮可以是虚拟按钮或者实体按钮。通信组件705用于该电子设备700与其他设备之间进行有线或无线通信。无线通信，例如Wi-Fi，蓝牙，近场通信(Near FieldCommunication，简称NFC)，2G、3G、4G、NB-IOT、eMTC、或其他5G等等，或它们中的一种或几种的组合，在此不做限定。因此相应的该通信组件705可以包括：Wi-Fi模块，蓝牙模块，NFC模块等等。
在一示例性实施例中，电子设备700可以被一个或多个应用专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，简称ASIC)、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，简称DSP)、数字信号处理设备(Digital Signal Processing Device，简称DSPD)、可编程逻辑器件(Programmable Logic Device，简称PLD)、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，简称FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述的平板探测器校正方法。
在另一示例性实施例中，还提供了一种包括程序指令的计算机可读存储介质，该程序指令被处理器执行时实现上述的平板探测器校正方法的步骤。例如，该计算机可读存储介质可以为上述包括程序指令的存储器702，上述程序指令可由电子设备700的处理器701执行以完成上述的平板探测器校正方法。
图10是根据一示例性实施例示出的一种电子设备1900的框图。例如，电子设备1900可以被提供为一服务器。参照图10，电子设备1900包括处理器1922，其数量可以为一个或多个，以及存储器1932，用于存储可由处理器1922执行的计算机程序。存储器1932中存储的计算机程序可以包括一个或一个以上的每一个对应于一组指令的模块。此外，处理器1922可以被配置为执行该计算机程序，以执行上述的平板探测器校正方法。
另外，电子设备1900还可以包括电源组件1926和通信组件1950，该电源组件1926可以被配置为执行电子设备1900的电源管理，该通信组件1950可以被配置为实现电子设备1900的通信，例如，有线或无线通信。此外，该电子设备1900还可以包括输入/输出(I/O)接口1958。电子设备1900可以操作基于存储在存储器1932的操作系统，例如WindowsServerTM，Mac OS XTM，UnixTM，LinuxTM等等。
在另一示例性实施例中，还提供了一种包括程序指令的计算机可读存储介质，该程序指令被处理器执行时实现上述的平板探测器校正方法的步骤。例如，该计算机可读存储介质可以为上述包括程序指令的存储器1932，上述程序指令可由电子设备1900的处理器1922执行以完成上述的平板探测器校正方法。
在另一示例性实施例中，还提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品包含能够由可编程的装置执行的计算机程序，该计算机程序具有当由该可编程的装置执行时用于执行上述的平板探测器校正方法的代码部分。
以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式，但是，本公开并不限于上述实施方式中的具体细节，在本公开的技术构思范围内，可以对本公开的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本公开的保护范围。
另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。
此外，本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本公开的思想，其同样应当视为本公开所公开的内容。
Claims (8)
1.一种平板探测器校正方法，其特征在于，所述方法包括：
获取通过平板探测器采集的检测校正图像；
根据所述检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和所述平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数，其中所述第一增益参数用于表征所述平板探测器的电子器件特征对图像的影响，所述第二增益参数用于表征所述平板探测器对应的射线源分布对图像的影响，其中，所述混合增益参数包括由电子器件特征产生的增益和射线源分布产生的增益；
对所述第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对所述平板探测器进行增益校正；
在确定对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述平板探测器对应的混合增益参数对所述平板探测器进行增益校正；
其中，所述对所述第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对所述平板探测器进行增益校正，包括：
对所述第二增益参数进行计算，分别确定所述检测校正图像中每一像素在水平方向上对应的水平梯度和在竖直方向上对应的竖直梯度；根据所述检测校正图像对应的每一水平梯度和目标校正图像对应的每一目标水平梯度确定水平差异矩阵，根据所述检测校正图像对应的每一竖直梯度和所述目标校正图像对应的每一目标竖直梯度确定竖直差异矩阵，其中，所述目标校正图像为预先存储的通过所述平板探测器采集的图像校正后的图像；
根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定是否对所述平板探测器进行增益校正；
其中，所述根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定是否对所述平板探测器进行增益校正，包括：
在所述水平差异矩阵或者所述竖直差异矩阵中存在超过预设阈值的差异值的情况下，确定不能对所述平板探测器进行增益校正。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定不能对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述水平差异矩阵和预设阈值生成水平检测图像，根据所述竖直差异矩阵和所述预设阈值生成竖直检测图像，其中，所述水平检测图像和所述竖直检测图像为二值图像；
根据所述水平检测图像和所述竖直检测图像确定所述检测校正图像中的异常位置；
输出所述异常位置。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和所述平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数，包括：
将所述混合增益参数与所述第一增益参数的比值确定为所述第二增益参数。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一增益参数的获得包括：
获取第一亮场图像和第二亮场图像，其中，所述第一亮场图像为所述平板探测器在空场的状态下垂直于球管方向放置时获得的图像，所述第二亮场图像为所述平板探测器在空场的状态下平行于球管方向放置时获得的图像；
从所述第一亮场图像中提取目标列像素矩阵，从所述第二亮场图像中提取目标行像素矩阵；
根据所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵确定所述平板探测器对应的所述第一增益参数。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵确定所述平板探测器对应的所述第一增益参数，包括：
将所述目标列像素矩阵和所述目标行像素矩阵的比值确定为方向差异矩阵；
基于所述方向差异矩阵对所述第二亮场图像进行滤波，获得滤波图像；
将所述第二亮场图像与所述滤波图像的比值确定为所述第一增益参数。
6.一种平板探测器校正装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取通过平板探测器采集的检测校正图像；
第一确定模块，用于根据所述检测校正图像确定出的平板探测器对应的混合增益参数和所述平板探测器对应的第一增益参数确定所述平板探测器对应的第二增益参数，其中所述第一增益参数用于表征所述平板探测器的电子器件特征对图像的影响，所述第二增益参数用于表征所述平板探测器对应的射线源分布对图像的影响，所述混合增益参数包括由电子器件特征产生的增益和射线源分布产生的增益；
第二确定模块，用于对所述第二增益参数进行计算，并根据计算结果确定是否对所述平板探测器进行增益校正；
校正模块，用于在确定对所述平板探测器进行增益校正的情况下，根据所述平板探测器对应的混合增益参数对所述平板探测器进行增益校正；
其中，所述第二确定模块包括：
第一确定子模块，用于对所述第二增益参数进行计算，分别确定所述检测校正图像中每一像素在水平方向上对应的水平梯度和在竖直方向上对应的竖直梯度；
第二确定子模块，用于根据所述检测校正图像对应的每一水平梯度和目标校正图像对应的每一目标水平梯度确定水平差异矩阵，根据所述检测校正图像对应的每一竖直梯度和所述目标校正图像对应的每一目标竖直梯度确定竖直差异矩阵，其中，所述目标校正图像为预先存储的通过所述平板探测器采集的图像校正后的图像；
第三确定子模块，用于根据所述水平差异矩阵和所述竖直差异矩阵确定是否对所述平板探测器进行增益校正；以及所述第三确定子模块还用于：
在所述水平差异矩阵或者所述竖直差异矩阵中存在超过预设阈值的差异值的情况下，确定不能对所述平板探测器进行增益校正。
7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一项所述方法的步骤。
8.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器，其上存储有计算机程序；
处理器，用于执行所述存储器中的所述计算机程序，以实现权利要求1-5中任一项所述方法的步骤。
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