CN113741739A - 触控处理方法、装置与触控系统 - Google Patents

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Abstract

本发明是一种触控处理方法、装置与触控系统。所述触控处理方法包含：利用触控面板进行互电容侦测以取得影像，该影像包含贰维度感测资讯；利用该影像计算对应至外部导电物件的一个以上的近接事件；针对某一个该近接事件，判断该近接事件所对应的近接位置的周遭区域是否正常；以及当该周遭区域为正常时，向主机回报该近接事件。

Description

触控处理方法、装置与触控系统
技术领域
本申请是关于触控侦测，特别是关于互电容感测的触控处理方法。
背景技术
触控萤荧或面板是现代电子系统的常用输出入界面之一，特别是使用互电容式感测原理的触控系统，可以接收多只手指的同时输入。当触控萤荧的尺寸越来越大时，触控萤荧上的触控电极数量随之变多，扫描触控萤荧上有无外部导电物体的速度就会变慢。此外，当触控萤荧的尺寸越来越大时，在触控萤荧出现异物的机会就越来越高。比方说，可能有水滴停留触控萤荧的一小部份，或者是有回纹针之类的金属物体放置在触控萤荧之上。也有可能是不导电的非外部导电物体压在触控萤荧之上，导致触控萤荧的部分稍微被扭曲变形。
当传统的触控处理装置在扫描时，发现扫描得到的局部影像有异常时，可能会放弃后续的互电容式侦测。如此一来，触控功能就全部失效了。另一种作法是完全不侦测影像是否有异常，可能会造成互电容侦测到的近接事件移位，使得装备触控萤荧或面板的主机接收到错误的指令。
在上述的两种情形之下，使用者无法输入任何有意义的触控指令。据此，亟需一种可以在局部出现异常的情况下还能保有其余部分的正常触控功能的触控系统，以便适应更大的触控萤荧或面板。
发明内容
根据本申请的一实施例，提供一种触控处理方法，包含：利用触控面板进行互电容侦测以取得影像，该影像包含贰维度感测资讯；利用该影像计算对应至外部导电物件的一个以上的近接事件；针对某一个该近接事件，判断该近接事件所对应的近接位置的周遭区域是否正常；以及当该周遭区域为正常时，向主机回报该近接事件。
根据本申请的一实施例，提供一种触控处理装置，用于连接触控面板，其中该触控面板包含平行的多条第一电极与平行的多条第二电极，每一条该第一电极与该多条第二电极交会。该触控处理装置包含：驱动电路模块，用于分时通过该多条第一电极的发出驱动信号；感测电路模块，用于分时通过该触控面板的平行的多条第二电极感测该驱动信号；以及处理器模块，连接该驱动电路模块与该感测电路模块，用于执行非挥发性内存内所储存的指令以实现下列步骤：令该驱动电路模块与该感测电路模块进行互电容侦测以取得影像，该影像包含贰维度感测资讯；利用该影像计算对应至外部导电物件的一个以上的近接事件；针对某一个该近接事件，判断该近接事件所对应的近接位置的周遭区域是否正常；以及当该周遭区域为正常时，向主机回报该近接事件。在一实施例中，该周遭区域为矩形，其中该两个感测资讯值选自该矩形四个角落的感测资讯值。
根据本申请的一实施例，提供一种触控系统，包含：如上所述的该触控处理装置、该触控面板与该主机。
综上所述，本申请所提供的触控处理方法、装置与触控系统，可以在触控面板或萤荧的局部出现异常的情况下，还能保有其余部分的正常触控功能。在出现异常的区域附近，也提供了修正的方式尽可能地符合使用者的使用经验，让输入的位置尽量滑顺。据此，使用者可以在出现异常的区域附近进行输入，还能得到预期的输入效果。
附图说明
图1为根据本申请一实施例的触控系统的方框示意图。
图2为根据本发明一实施例的互电容感测方法的流程示意图。
图3为根据本发明一实施例所示的触控萤荧的多点触控示意图。
图4为根据本发明一实施例的周遭区域对应的贰维度感测资讯的示意图。
图5为根据本发明一实施例的依照轨迹修正近接位置的示意图(一)。
图6为根据本发明一实施例的依照轨迹修正近接位置的示意图(二)。
图7为根据本申请一实施例的对该近接事件进行特殊处理方法的流程示意图(一)。
图8为根据本申请一实施例的对该近接事件进行特殊处理方法的流程示意图(二)。
图9为根据本申请一实施例的对该近接事件进行特殊处理方法的流程示意图(三)。
【主要元件符号说明】
100：触控系统 110：触控处理装置
111：连接网络(Interconnection Network)模块 112：驱动电路模块
113：感测电路模块 114：处理器模块
115：界面模块 120：触控萤荧或面板
121、121A～C：第一电极 122、122A～H：第二电极
130：触控笔 135：触控板擦
140：主机 141：输出入界面模块
142：中央处理器模块 143：图形处理器模块
144：内存模块 145：网络界面模块
146：存储器模块 200：互电容感测方法
210～250：步骤 311：第一近接位置
312：第二近接位置 313：第三近接位置
321：周遭区域 322：周遭区域
323：周遭区域 330：水渍
340：区域 510：轨迹
520：预测位置 530：修正位置
610：轨迹 613：近接位置
700：处理方法 710～720：步骤
800：处理方法 810～820：步骤
900：处理方法 910～970：步骤
具体实施方式
请参考图1所示，其为根据本发明一实施例的触控系统100的方框示意图。该触控系统100可以是常见的桌上型、膝上型、平板型个人电脑、工业用控制电脑、智能型手机或其它形式具有触控功能的计算机系统。
该触控系统100可以包含触控处理装置110、连接至该触控处理装置的触控面板或萤荧120、以及连接至该触控处理装置的主机140。该触控系统100可以更包含一个或多个触控笔130与/或触控板擦135。以下在本申请当中，该触控面板或萤荧120可以通称为触控萤荧120，但若是在缺乏显示功能的实施例当中，本领域的普通技术人员能够知道本申请所指的该触控萤荧为触控面板。
该触控萤荧120包含平行于第一轴的多条第一电极121以及平行于第二轴的多条第二电极122。第一电极121可以与多条第二电极122交错，以便形成多个感测点或感测区域。同样地，第二电极122可以与多条第一电极121交错，以便形成多个感测点或感测区域。在某些实施例当中，本申请可以将第一电极121称之为第一触控电极121，也可以将第二电极122称之为第二触控电极122。本申请也统称第一电极121与第二电极122为触控电极。在某些触控萤荧120的实施例当中，该第一电极121与该第二电极122以透明材料所构成。该第一电极121与该第二电极122可以在同一电极层，每一条第一电极121或第二电极122的多个导电片之间是使用跨桥的方式连接。该第一电极121与该第二电极122也可以在不同的上下相叠的电极层。除非特别说明以外，本申请通常可以适用于单一层或多个电极层的实施例当中。该第一轴与该第二轴通常是互相垂直，但本申请并不限定该第一轴必定垂直于该第二轴。在一实施例中，该第一轴可以是水平轴，或是触控萤荧120的更新轴线。
该触控处理装置110可以包含以下的硬件电路模块：连接网络(InterconnectionNetwork)模块111、驱动电路模块112、感测电路模块113、处理器模块114与界面模块115。该触控处理装置110可以实作在单一颗集成电路之内，该集成电路内可以包含一个或多个芯片。也可以使用多颗集成电路与承载该多颗集成电路的互联电路板来实现该触控处理装置110。该触控处理装置110还可以与上述的主机140实作在同一颗集成电路当中，也可以与上述的主机140实作在同一芯片当中。换言之，本申请并不限定该触控处理装置110的实施方式。
该连接网络模块111用于分别连接上述触控萤荧120的多条第一电极121与/或多条第二电极122。该连接网络模块111可以接受该处理器模块114的控制命令，用于连接该驱动电路模块112与任一条或多条触控电极，也用于连接该感测电路模块113与任一条或多条触控电极。该连接网络模块111可以包含一个或多个多工器(MUX)的组合来实施上述的功能。
该驱动电路模块112可以包含时脉产生器、分频器、倍频器、锁相回路、功率放大器、直流-直流电压转换器、整流器与/或滤波器等元器件，用于依据该处理器模块114的控制命令，通过上述的连接网络模块111提供驱动信号给任一条或多条触控电极。可以针对上述的驱动信号进行各式模拟信号或数字信号调变，以便传送某些信息。上述的调变方式包含但不限于调频(FM)、调相(Phase Modulation)、调幅(AM)、双边带调变(DSB)、单边带调变(SSB-AM)、残边带调变(Vestigial Sideband Modulation)、振幅偏移调变(ASK)、相位偏移调变(PSK)、正交振幅调变(QAM)、频率偏移调变(FSK)、连续相位调变(CPM)、分码多重进接(CDMA)、分时多重进接(TDMA)、正交分频多工(OFDM)、脉冲宽度调变(PWM)等技术。该驱动信号可以包含一个或多个方波、弦波或任何调变后的波型。该驱动电路模块112可以包含一条或多条频道，每条频道可以通过该连接网络模块111连接到任一条或多条触控电极。
该感测电路模块113可以包含积分器、取样器、时脉产生器、分频器、倍频器、锁相回路、功率放大器、乘法器、直流-直流电压转换器、整流器与/或滤波器等元器件，用于依据该处理器模块114的控制命令，通过上述的连接网络模块111对任一条或多条触控电极进行感测。当该触控信号通过上述的一条触控电极发出时，另一条触控电极可以感应到该触控信号。而该感测电路模块113可以配合上述的驱动电路模块112所执行的调变方式，针对该另一条触控电极所感应到该驱动信号进行相应的解调变，以便还原该驱动信号所承载的信息。该感测电路模块113可以包含一条或多条频道，每条频道可以通过该连接网络模块111连接到任一条或多条触控电极。在同一时间，每条频道都可以同时进行感测与解调变。
在一实施例当中，上述的驱动电路模块112与感测电路模块113可以包含模拟前端(AFE,analog front-end)电路。在另一实施例当中，除了模拟前端电路以外，上述的驱动电路模块112与感测电路模块113可以包含数字后端(DBE,digital back-end)电路。当上述的驱动电路模块112与感测电路模块113只包含模拟前端电路时，数字后端电路可以实施于该处理器模块114之内。
该处理器模块114可以包含数字信号处理器，用于分别连接上述的驱动电路模块112与感测电路模块113的模拟前端电路，也可以分别连接上述的驱动电路模块112与感测电路模块113的数字后端电路。该处理器模块114可以包含嵌入式处理器、非挥发性内存与挥发性内存。该非挥发性内存可以储存普通的作业系统或即时(real-time)作业系统，以及在该作业系统下执行的应用程序。前述的作业系统与应用程序包含多个指令与资料，经由该处理器(包含嵌入式处理器与/或数字信号处理器)执行这些指令之后，可以用于控制该触控处理装置110的其他模块，包含该连接网络模块111、该驱动电路模块112、该感测电路模块113与该界面模块115。举例来说，该处理器模块114可以包含业界常用的8051系列处理器、英代尔(Intel)的i960系列处理器、安谋(ARM)的Cortex-M系列处理器等。本申请并不限定该处理器模块114所包含的处理器种类与个数。
上述的多个指令与资料可以用于实施本申请所提到的各个步骤，以及由这些步骤所组成的流程与方法。某些指令可以独立在该处理器模块114内部运作，例如算术逻辑运算(arithmetic and logic operation)。其他指令可以用于控制该触控处理装置110的其他模块，这些指令可以包含该处理器模块114的输出入界面对其他模块进行控制。其他模块也可以通过该处理器模块114的输出入界面提供信息给该处理器模块114所执行的作业系统与/或应用程序。本领域的普通技术人员应当具备有计算机结构与架构(computerorganization and architecture)的通常知识，可以理解到本申请所提到的流程与方法能够借由上述的模块与指令加以实施。
上述的界面模块115可以包含各式串列或并列式的汇流排，例如通用序列汇流排(USB)、集成电路汇流排(I2C)、外设互联标准(PCI)、快捷外设互联标准(PCI-Express)、IEEE 1394等工业标准的输出入界面。该触控处理装置110通过界面模块115连接到该主机140。
该触控系统100可以包含一只或多只触控笔130与/或触控板擦135。上述的触控笔130或触控板擦135可以是会发出电信号的发信器，其可以包含主动发出电信号的主动式发信器，也可以是被动发出电信号的被动式发信器，或者称为反应于外界电信号才发出电信号的反应式发信器。上述的触控笔130或触控板擦135可以包含一个或多个电极，用于同步或非同步地接收来自于触控萤荧120的电信号，或是以同步或非同步的方式向触控萤荧120发出电信号。这些电信号可以采用如上所述的一种或多种调变方式。
上述的触控笔130或触控板擦135可以是导体，用于通过使用者的手或身体来传导驱动信号或接地。上述的触控笔130或触控板擦135可以有线或无线的方式连接于该主机140的输出入界面模块141，或是该输出入界面模块141底下的其他模块。
该触控处理装置110可以借由该触控萤荧120来侦测一个或多个外部导电物体，例如人体的手指、手掌或是被动的触控笔130或触控板擦135，也可以侦测会发出电信号的触控笔130或触控板擦135。该触控处理装置110可以使用互电容(mutual-capacitance)或自电容(self-capacitance)的方式来进行侦测外部导电物体。上述的触控笔130或触控板擦135以及触控处理装置110可以使用上述的信号调变与相应的信号解调变的方式，利用电信号来传递信息。该触控处理装置110可以利用电信号来侦测该触控笔130或触控板擦135靠近或接触该触控萤荧120的一个或多个近接位置、该触控笔130或触控板擦135上的感测器状态(例如压力感测器或按钮)、该触控笔130或触控板擦135的指向、或该触控笔130或触控板擦135相应于该触控萤荧120平面的倾斜角等信息。
该主机140为控制该触控系统110的主要设备，可以包含连接至该界面模块115的输出入界面模块141、中央处理器模块142、图形处理器模块143、连接于该中央处理器模块142的内存模块144、连接于该输出入界面模块141的网络界面模块145与存储器模块146。
该存储器模块146包含非挥发性内存，常见的范例为硬碟、电子抹除式可复写唯读内存(EEPROM)、或快闪内存等。该存储器模块146可以储存普通的作业系统，以及在该作业系统下执行的应用程序。该网络界面模块145可以包含有线连接与/或无线连接的硬件网络连接界面。该网络界面模块145可以遵循常见的工业标准，例如IEEE 802.11无线区域网络标准、IEEE 802.3有线区域网络标准、3G、4G、与/或5G等无线通信网络标准、蓝芽无线通信网络标准等。
该中央处理器模块142可以直接或间接地连接到上述的输出入界面模块141、图形处理器模块143、内存模块144、网络界面模块145与存储器模块146。该中央处理器模块142可以包含一个或多个处理器或处理器核心。常见的处理器可以包含英代尔、超微、威盛电子的x86与x64指令集的处理器，或是苹果、高通、联发科的安谋ARM指令集的处理器，也可以包含其他形式的复杂电脑指令集(CISC)或精简电脑指令集(RISC)的处理器。前述的作业系统与应用程序包含相应于上述指令集的多个指令与资料，经由该中央处理器模块142执行这些指令之后，可以用于控制该触控系统100的其他模块。
可选的图形处理器模块143通常是用于处理与图形输出相关的计算部分。该图形处理器模块143可以连接到上述的触控萤荧120，用于控制触控萤荧120的输出。在某些应用当中，该主机140可以不需要图形处理器模块143的专门处理，可以直接令该中央处理器模块142执行图形输出相关的计算部分。
该主机140还可以包含其他图1未示出的组件或元器件，例如音效输出入界面、键盘输入界面、滑鼠输入界面、轨迹球输入界面与/或其他硬件模块。本领域的普通技术人员应当具备有计算机结构与架构的通常知识，可以理解到本申请所提到的触控系统100仅为示意般的说明，其余与本申请所提供的发明技术特征相关的部分，需要参照说明书与申请专利范围。
请参考图2所示，其为根据本发明一实施例的互电容感测方法200的流程示意图。该互电容感测方法可以适用于图1所示的触控处理装置110当中，特别是以处理器模块114来执行根据该方法所编成的多个指令，用于实现该互电容感测的触控处理方法。
步骤210：进行互电容感测，取得一个以上的近接事件。在一实施例中，触控处理装置130的处理器模块114可以依照时序，每一次令驱动电路112通过该连接网络111将驱动信号发到一条第一电极121，并且令感测电路113通过该连接网络111感测每一条第二电极122所感应的驱动信号。每一次得到的结果为壹维度感测资讯，包含每一条第二电极122的感测信号或两条第二电极122感测信号之间的差值或差值的差值等。再根据所驱动的第一电极121的位置，将多个壹维度感测资讯拼凑成贰维度感测资讯，亦即影像。根据该影像，可以获得一个或多个外部导电物件相对于该触控萤荧120的一个以上近接事件。本领域的普通技术人员可以理解到步骤210具有多种实施例，也可以参考申请人在其他已公开的在先申请案所揭露的步骤210的各种实施例。
请参考图3所示，其为根据本发明一实施例所示的触控萤荧120的多点触控示意图。在实施了步骤210之后，取得了三个近接事件，分别发生于触控萤荧120上的第一近接位置311、第二近接位置312与第三近接位置313。
步骤220：判断某一个近接事件的近接位置周遭区域是否正常？在图3的实施例当中，相对于三个近接位置，触控处理装置130分别设定了三个周遭区域321、322、323。换言之，在第一次执行步骤220时，会判断第一近接事件的第一近接位置311的周遭区域321是否正常。在第二次执行步骤220时，会判断第二近接事件的第二近接位置312的周遭区域322是否正常。依此类推。
本申请并不限定该周遭区域的大小与形状。在一优选的实施例当中，该周遭区域的形状是轴对称的，例如矩形或圆形。在一优选的实施例当中，该周遭区域包含该近接位置。在一优选的实施例当中，该近接位置处于该周遭区域的中心或中心的某一范围之内。
在图3当中的触控萤荧120之上，有一滩水渍330滞留其上。除此之外，有一个杯子压在触控萤荧120之上，造成区域340的结构变形。在执行图2的触控处理方法200之前，触控处理装置130可以执行一次基准值的扫瞄，以得到一个基准影像。当取得该基准影像时，触控萤荧120上并未有水渍330和区域340。
在第一次执行步骤220时，触控处理装置130可以将影像和基准影像的周遭区域321进行比较，当该区域的两个影像值并没有相差太多时，可以认为该周遭区域321是正常的。所以流程可以进入到步骤230。
在第二次执行步骤220时，触控处理装置130可以将影像和基准影像的周遭区域323进行比较，发现有异常状况，也就是区域340被非外部导电物件所压迫。触控处理装置130即认为该周遭区域322并非正常，流程改进入到步骤240。
在第三次执行步骤220时，触控处理装置130可以将影像和基准影像的周遭区域323进行比较，发现有异常状况，也就是水渍330滞留在周遭区域323之内。触控处理装置130即认为该周遭区域323并非正常，流程改进入到步骤240。
在一优选实施例当中，可以将该周遭区域对应的该影像的边角感测资讯值加总为第一值，再将该周遭区域对应的该基准影像的边角感测资讯值加总为第二值，当第一值与第二值的绝对差值落在某一范围内时，可以认为该周遭区域是正常的。在本实施例中，边角感测值可以包含该周遭区域的角落感测值，或者包含该周遭区域的边缘感测值，还可以包含角落感测值与边缘感测值。
举例来说，当该周遭区域为矩形时，可以将该周遭区域对应的该影像的四个角落感测值加总为该第一值，再将再将该周遭区域对应的该基准影像的四个角落感测资讯值加总为第二值，当第一值与第二值的绝对差值落在某一范围内时，可以认为该周遭区域是正常的。
在一优选实施例当中，可以将该周遭区域对应的该影像与该基准影像对应的边角感测值进行相减。再将这些边角感测值的差值全部加总成一个和值。当该和值落在某一范围内时，可以认为该周遭区域是正常的。
换言之，上述的作法即检验该影像在该近接位置附近的感测资讯值，是否与该基准影像的对应感测资讯值相近。当相近时，可以判断该周遭区域是正常的。
除了使用基准影像的感测资讯值来进行比较以外，也可以单独使用该影像的感测值来进行比较。请参考图4所示，其为根据本发明一实施例的周遭区域321对应的贰维度感测资讯的示意图。在图4当中，由于第一近接位置311是利用各个感测资讯值与电极的实际位置所计算出来的，因此第一近接位置311不一定会落在第一电极121或第二电极122之上。
周遭区域321包含了6x6个感测资讯。在步骤220当中，可以用几种方式计算该影像的周遭区域321是否正常。在一优选实施例当中，当左上角UL与右下角DR的绝对差值落在某一范围内时，可以认为该周遭区域是正常的。在一优选实施例当中，当右上角UR与左下角DL的绝对差值落在某一范围内时，可以认为该周遭区域是正常的。
在一优选实施例当中，计算左上角UL与右上角UR的第一差值，再计算左下角DL与右下角DR的第二差值，当第一差值与第二差值的绝对差值落在某一范围内时，可以认为该周遭区域是正常的。
在一优选实施例当中，计算左上角UL与左下角DL的第一差值，再计算右上角UR与右下角DR的第二差值，当第一差值与第二差值的绝对差值落在某一范围内时，可以认为该周遭区域是正常的。
本领域普通技术人员可以理解到，可以使用上述方法的其中之一或是多个，来判断该周遭区域是否正常。当其中一种方法显示不正长时，可以认为该周遭区域不正常。
步骤230：回报该近接事件。由于该近接事件的周遭区域是正常的，因此将该近接事件的资讯回报到主机140。
步骤240：对该近接事件进行特殊处理。在本申请当中，可以有几种特殊处理。第一种处理步骤就是不保留该近接事件，步骤260并不会将该近接事件回报到主机140。如果触控处理装置130无法依照其他的方法来处理该近接事件，将会舍弃该近接事件，不将其回报到主机140。
第二种处理方法是根据轨迹调整该近接事件的近接位置。举例来说，当第三近接位置313在水渍330当中时，其第三近接位置313会因为水渍330的影响而偏离手指的位置。但触控处理装置130可以根据该第三近接事件先前的轨迹，也就是先前一个以上的近接位置，以及第三近接位置313，来计算出修正后的第三近接位置，再将修正后的近接事件回报到主机140。
请参考图5所示，其为根据本发明一实施例的依照轨迹修正近接位置的示意图(一)。在图5当中，触控处理装置130已经根据先前的近接位置，也就是图上未标示符号的黑点来决定轨迹510。当根据该轨迹510来推算，下一个近接事件出现的地方应该在预测位置520。然而，可能受到水渍或其他因素影响，让触控处理装置130侦测到第三近接位置313。在一优选实施例中，可以根据预测位置520与侦测到的近接位置313来决定修正位置530，使得修正位置530与轨迹510的偏移量在可接受的范围。在此实施例中，可以将修正位置530回报到主机140。
在另一实施例当中，可以不需要立刻将修正位置530回报到主机140。由于手指头具有一定宽度，当两个近接位置的距离尚未超过手指宽度或宽度的一部份时，触控处理装置130可以延迟回报该修正位置530，也就是第三种特殊处理方法。
请参考图6所示，其为根据本发明一实施例的依照轨迹修正近接位置的示意图(二)。图6发生在图5之后，触控处理装置130在执行新的一轮触控处理方法200之后，得到了一个新的近接位置613，而且判断新的近接位置613的周遭区域是正常的。根据旧轨迹510与近接位置613，可以得到新的轨迹610。此时，触控处理装置130可以确认原本的预测位置520是正确的位置，先前的近接位置613受到影响而偏离了轨迹610。因此，触控处理装置130可以依序回报预测位置520与新的近接位置613到主机140，舍弃掉先前的近接位置613与修正位置530。
请回到图2，步骤250：判断是否尚有近接事件未处理。如果还有未经步骤220判断的近接事件，则流程回到步骤220。否则，流程可以回到步骤210，进行下一轮的侦测。
第四种特殊处理方法是根据特定的修正规则来修正近接位置。由于触控萤荧120的面积越来越大，制作出的第一电极121与第二电极122未必相当理想，但还在容忍的范围之内。当某一条电极的宽度较细时，由于电阻电容效应的关系，所感应的驱动信号强度与相位就有所变化。或者是受到外力影响，使得第一电极121与第二电极122之间的距离有些许变化，例如图3的杯子压力导致的结构变化。因此，当触控萤荧120制作完毕或是间隔一段时间之后，可以根据基准影像来标示出需要修正位置的区域，以及根据基准影像的偏差值来制定修正的规则。
换言之，在一实施例中，当图2的步骤220可以更包含判断该近接位置是否落入需要修正位置的区域。当该近接位置落入到需要修正位置的区域时，步骤220的判断结果也会让流程进入到步骤240进行特殊处理。而第四种特殊处理方法，就是根据上述的修正的规则，对近接位置进行修正后得到修正位置，再将修正位置回报到主机140。
请参考图7所示，其为根据本申请一实施例的对该近接事件进行特殊处理方法的流程示意图(一)。该处理方法700可以是图2所示的步骤240的一实施例。该处理方法700可以适用于图1所示的触控处理装置110当中，特别是以处理器模块114来执行根据该方法所编成的多个指令，用于实现该互电容感测的触控处理方法。
步骤710：根据该近接位置与修正规则计算修正位置。如触控面板具有上述的制造误差或结构变化，可以根据修正规则来修正该近接位置。
步骤720：向该主机回报该修正位置。
请参考图8所示，其为根据本申请一实施例的对该近接事件进行特殊处理方法的流程示意图(二)。该处理方法800可以是图2所示的步骤240的一实施例，可以参考图5实施例的说明。该处理方法800可以适用于图1所示的触控处理装置110当中，特别是以处理器模块114来执行根据该方法所编成的多个指令，用于实现该互电容感测的触控处理方法。
步骤810：根据该近接位置相关的轨迹来计算预测位置。可以根据该轨迹的多个历史位置，以线性外插或二次曲线外插的方式来计算该预测位置。
步骤820：根据该预测位置与该近接位置计算修正位置。在一实施例中，该修正位置可以位于该预测位置与该近接位置的连线当中的任一点。
请参考图9所示，其为根据本申请一实施例的对该近接事件进行特殊处理方法的流程示意图(三)。该处理方法900可以是图2所示的步骤240的一实施例，可以参考图6实施例的说明。该处理方法900可以适用于图1所示的触控处理装置110当中，特别是以处理器模块114来执行根据该方法所编成的多个指令，用于实现该互电容感测的触控处理方法。
步骤910：保留该近接位置，不回报到该主机。
步骤920：再进行互电容侦测，以取得第二影像。
步骤930：利用该第二影像计算对应至该近接位置的第二近接位置。在一实施例中，当该近接位置与该第二近接位置的距离在一定范围内，就可以视为两者是对应的。
步骤940：判断该第二近接位置是否位于该近接事件相关的轨迹的延伸轨迹上。在一实施例中，当该第二近接位置与该延伸轨迹的最短距离在一定范围内，就可以判断该第二近接位置位于该延伸轨迹上。当结果为真时，流程进到步骤950。当结果为否时，流程进到步骤970。
步骤950：利用该延伸轨迹计算相应于该近接位置的预测位置。在步骤810时，是利用外插的方式来计算预测位置。在本步骤的一实施例当中，可以使用步骤810来计算该预测位置。在本步骤的一实施例当中，由于有了第二近接位置，因此可以利用该延伸轨迹进行内插法，来计算该预测位置。
步骤960：向该主机回报该预测位置与该第二近接位置。
步骤970：向该主机回报该近接位置与该第二近接位置。
在图9的实施例中，触控处理装置130延迟报告近接位置，仰赖后续的近接位置来决定前一个近接位置。这可以让轨迹变得更加滑顺，接近人类的使用经验，而不会因为手指划过水渍或其他因素造成意外的位置漂移。
根据本申请的一实施例，提供一种触控处理方法，包含：利用触控面板进行互电容侦测以取得影像，该影像包含贰维度感测资讯；利用该影像计算对应至外部导电物件的一个以上的近接事件；针对某一个该近接事件，判断该近接事件所对应的近接位置的周遭区域是否正常；以及当该周遭区域为正常时，向主机回报该近接事件。
在一实施例中，为了利用该影像在该近接位置附近的平整度来判断是否正常，该判断步骤更包含：计算该影像的该周遭区域的范围内的至少两个感测资讯值的绝对差值；以及当该绝对差值小于门槛值时，判断该周遭区域为正常。在一实施例中，为了方便计算起见，该周遭区域为矩形，其中该两个感测资讯值选自该矩形四个角落的感测资讯值。
在一实施例中，为了利用该影像与基准影像在该近接位置附近的差异来判断是否正常，该判断步骤更包含：计算该周遭区域所对应的该影像与基准影像的多个感测资讯值的多个绝对差值；以及当该多个绝对差值之和小于门槛值时，判断该周遭区域为正常。在一实施例中，为了方便计算起见，该周遭区域为矩形，其中该多个感测资讯值选自下列其中之一或其任意组合：该矩形的角落感测资讯值；以及该矩形的边缘感测资讯值。
在一实施例中，为了适应触控面板制造时的瑕疵或结构扭曲，该触控处理方法更包含：当该周遭区域为不正常时，根据该近接位置与修正规则计算修正位置；以及向该主机回报该修正位置。
在一实施例中，为了根据轨迹来修正近接位置，以便使得触控命令更加符合使用者的体验，触控处理方法更包含：当该周遭区域为不正常时，根据该近接位置相关的轨迹计算预测位置；根据该预测位置与该近接位置计算修正位置；以及向该主机回报该修正位置。
在一实施例中，为了根据轨迹来修正近接位置，以便使得触控命令更加符合使用者的体验，触控处理方法更包含：当该周遭区域为不正常时，保留该近接位置不回报到该主机；再利用该触控面板进行互电容侦测以取得第二影像；利用该第二影像计算对应至该近接位置的第二近接位置；判断该第二近接位置是否位于该近接事件相关的轨迹的延伸轨迹上；当该第二近接位置位于该延伸轨迹上时，利用该延伸轨迹计算相应于该近接位置的预测位置，其中该预测位置位于该延伸轨迹上；以及向该主机回报该预测位置与该第二近接位置。在一实施例中，为了忠实反映轨迹突然转弯的情况，触控处理方法更包含：当该第二近接位置并不位于该延伸轨迹上时，向该主机回报该近接位置与该第二近接位置。
根据本申请的一实施例，提供一种触控处理装置，用于连接触控面板，其中该触控面板包含平行的多条第一电极与平行的多条第二电极，每一条该第一电极与该多条第二电极交会。该触控处理装置包含：驱动电路模块，用于分时通过该多条第一电极的发出驱动信号；感测电路模块，用于分时通过该触控面板的平行的多条第二电极感测该驱动信号；以及处理器模块，连接该驱动电路模块与该感测电路模块，用于执行非挥发性内存内所储存的指令以实现下列步骤：令该驱动电路模块与该感测电路模块进行互电容侦测以取得影像，该影像包含贰维度感测资讯；利用该影像计算对应至外部导电物件的一个以上的近接事件；针对某一个该近接事件，判断该近接事件所对应的近接位置的周遭区域是否正常；以及当该周遭区域为正常时，向主机回报该近接事件。在一实施例中，该周遭区域为矩形，其中该两个感测资讯值选自该矩形四个角落的感测资讯值。
在一实施例中，为了利用该影像在该近接位置附近的平整度来判断是否正常，该判断步骤更包含：计算该周遭区域所对应的该影像与基准影像的多个感测资讯值的多个绝对差值；以及当该多个绝对差值之和小于门槛值时，判断该周遭区域为正常。在一实施例中，为了方便计算起见，该周遭区域为矩形，其中该多个感测资讯值选自下列其中之一或其任意组合：该矩形的角落感测资讯值；以及该矩形的边缘感测资讯值。
在一实施例中，为了利用该影像与基准影像在该近接位置附近的差异来判断是否正常，该判断步骤更包含：计算该周遭区域所对应的该影像与基准影像的多个感测资讯值的多个绝对差值；以及当该多个绝对差值之和小于门槛值时，判断该周遭区域为正常。在一实施例中，该周遭区域为矩形，其中该多个感测资讯值选自下列其中之一或其任意组合：该矩形的角落感测资讯值；以及该矩形的边缘感测资讯值。
在一实施例中，为了适应触控面板制造时的瑕疵或结构扭曲，该处理器模块更用于：当该周遭区域为不正常时，根据该近接位置与修正规则计算修正位置；以及向该主机回报该修正位置。
在一实施例中，为了根据轨迹来修正近接位置，以便使得触控命令更加符合使用者的体验，该处理器模块更用于：当该周遭区域为不正常时，根据该近接位置相关的轨迹计算预测位置；根据该预测位置与该近接位置计算修正位置；以及向该主机回报该修正位置。
在一实施例中，为了根据轨迹来修正近接位置，以便使得触控命令更加符合使用者的体验，该处理器模块更用于：当该周遭区域为不正常时，保留该近接位置不回报到该主机；再利用该触控面板进行互电容侦测以取得第二影像；利用该第二影像计算对应至该近接位置的第二近接位置；判断该第二近接位置是否位于该近接事件相关的轨迹的延伸轨迹上；当该第二近接位置位于该延伸轨迹上时，利用该延伸轨迹计算相应于该近接位置的预测位置，其中该预测位置位于该延伸轨迹上；以及向该主机回报该预测位置与该第二近接位置。在一实施例中，为了忠实反映轨迹突然转弯的情况，该处理器模块更用于：当该第二近接位置并不位于该延伸轨迹上时，向该主机回报该近接位置与该第二近接位置。
根据本申请的一实施例，提供一种触控系统，包含：如上所述的该触控处理装置、该触控面板与该主机。
综上所述，本申请所提供的触控处理方法、装置与触控系统，可以在触控面板或萤荧的局部出现异常的情况下，还能保有其余部分的正常触控功能。在出现异常的区域附近，也提供了修正的方式尽可能地符合使用者的使用经验，让输入的位置尽量滑顺。据此，使用者可以在出现异常的区域附近进行输入，还能得到预期的输入效果。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明做任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (19)

1.一种触控处理方法，其特征在于，包含：
利用触控面板进行互电容侦测以取得影像，该影像包含贰维度感测资讯；
利用该影像计算对应至外部导电物件的一个以上的近接事件；
针对某一个该近接事件，判断该近接事件所对应的近接位置的周遭区域是否正常；以及
当该周遭区域为正常时，向主机回报该近接事件。
2.根据权利要求1所述的触控处理方法，其特征在于，该判断步骤更包含：
计算该影像的该周遭区域的范围内的至少两个感测资讯值的绝对差值；以及
当该绝对差值小于门槛值时，判断该周遭区域为正常。
3.根据权利要求2所述的触控处理方法，其特征在于，该周遭区域为矩形，其中该两个感测资讯值选自该矩形四个角落的感测资讯值。
4.根据权利要求1所述的触控处理方法，其特征在于，该判断步骤更包含：
计算该周遭区域所对应的该影像与基准影像的多个感测资讯值的多个绝对差值；以及
当该多个绝对差值之和小于门槛值时，判断该周遭区域为正常。
5.根据权利要求4所述的触控处理方法，其特征在于，该周遭区域为矩形，其中该多个感测资讯值选自下列其中之一或其任意组合：
该矩形的角落感测资讯值；以及
该矩形的边缘感测资讯值。
6.根据权利要求1所述的触控处理方法，其特征在于，更包含：
当该周遭区域为不正常时，根据该近接位置与修正规则计算修正位置；以及
向该主机回报该修正位置。
7.根据权利要求1所述的触控处理方法，其特征在于，更包含：
当该周遭区域为不正常时，根据该近接位置相关的轨迹计算预测位置；
根据该预测位置与该近接位置计算修正位置；以及
向该主机回报该修正位置。
8.根据权利要求1所述的触控处理方法，其特征在于，更包含：
当该周遭区域为不正常时，保留该近接位置不回报到该主机；
再利用该触控面板进行互电容侦测以取得第二影像；
利用该第二影像计算对应至该近接位置的第二近接位置；
判断该第二近接位置是否位于该近接事件相关的轨迹的延伸轨迹上；
当该第二近接位置位于该延伸轨迹上时，利用该延伸轨迹计算相应于该近接位置的预测位置，其中该预测位置位于该延伸轨迹上；以及
向该主机回报该预测位置与该第二近接位置。
9.根据权利要求8所述的触控处理方法，其特征在于，更包含：
当该第二近接位置并不位于该延伸轨迹上时，向该主机回报该近接位置与该第二近接位置。
10.一种触控处理装置，用于连接触控面板，其特征在于，该触控面板包含平行的多条第一电极与平行的多条第二电极，每一条该第一电极与该多条第二电极交会，该触控处理装置包含：
驱动电路模块，用于分时通过该多条第一电极的发出驱动信号；
感测电路模块，用于分时通过该触控面板的平行的多条第二电极感测该驱动信号；以及
处理器模块，连接该驱动电路模块与该感测电路模块，用于执行非挥发性内存内所储存的指令以实现下列步骤：
令该驱动电路模块与该感测电路模块进行互电容侦测以取得影像，该影像包含贰维度感测资讯；
利用该影像计算对应至外部导电物件的一个以上的近接事件；
针对某一个该近接事件，判断该近接事件所对应的近接位置的周遭区域是否正常；以及
当该周遭区域为正常时，向主机回报该近接事件。
11.根据权利要求10所述的触控处理装置，其特征在于，该判断步骤更包含：
计算该影像的该周遭区域的范围内的至少两个感测资讯值的绝对差值；以及
当该绝对差值小于门槛值时，判断该周遭区域为正常。
12.根据权利要求11所述的触控处理装置，其特征在于，该周遭区域为矩形，其中该两个感测资讯值选自该矩形四个角落的感测资讯值。
13.根据权利要求10所述的触控处理装置，其特征在于，该判断步骤更包含：
计算该周遭区域所对应的该影像与基准影像的多个感测资讯值的多个绝对差值；以及
当该多个绝对差值之和小于门槛值时，判断该周遭区域为正常。
14.根据权利要求13所述的触控处理装置，其特征在于，该周遭区域为矩形，其中该多个感测资讯值选自下列其中之一或其任意组合：
该矩形的角落感测资讯值；以及
该矩形的边缘感测资讯值。
15.根据权利要求10所述的触控处理装置，其特征在于，该处理器模块更用于：
当该周遭区域为不正常时，根据该近接位置与修正规则计算修正位置；以及
向该主机回报该修正位置。
16.根据权利要求10所述的触控处理装置，其特征在于，该处理器模块更用于：
当该周遭区域为不正常时，根据该近接位置相关的轨迹计算预测位置；
根据该预测位置与该近接位置计算修正位置；以及
向该主机回报该修正位置。
17.根据权利要求10所述的触控处理装置，其特征在于，该处理器模块更用于：
当该周遭区域为不正常时，保留该近接位置不回报到该主机；
再利用该触控面板进行互电容侦测以取得第二影像；
利用该第二影像计算对应至该近接位置的第二近接位置；
判断该第二近接位置是否位于该近接事件相关的轨迹的延伸轨迹上；
当该第二近接位置位于该延伸轨迹上时，利用该延伸轨迹计算相应于该近接位置的预测位置，其中该预测位置位于该延伸轨迹上；以及
向该主机回报该预测位置与该第二近接位置。
18.根据权利要求17所述的触控处理装置，其特征在于，该处理器模块更用于：
当该第二近接位置并不位于该延伸轨迹上时，向该主机回报该近接位置与该第二近接位置。
19.一种触控系统，其特征在于，包含：如权利要求10-18其中之一的该触控处理装置、该触控面板与该主机。
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