TWI567624B - 電容式感測裝置及其上的導電異物的偵測方法 - Google Patents

Description

電容式感測裝置及其上的導電異物的偵測方法

本發明是關於一種電容式感測技術，特別是關於一種電容式感測裝置及其上的導電異物的偵測方法。

為了提升使用上的便利性，越來越多電子裝置使用觸控螢幕（touch screen）作為操作介面，以讓使用者直接在觸控螢幕上點選畫面來進行操作，藉此提供更為便捷且人性化的操作模式。觸控螢幕主要由提供顯示功能之顯示器以及提供觸控功能之感測裝置所組成。

感測裝置依照構造和感測形式的不同可區分為：電阻式感測裝置、電容式感測裝置、音波式感測裝置、光學式（紅外線）感測裝置、電磁式感測裝置。其中，電容式感測裝置不需要應力應變的材料變形、較不受外界環境光線影響，且製程也較簡單，因此近期的觸控螢幕多是採用電容式感測裝置。

當電容式感測裝置上有一導電異物區域時（例如：水或其他導電物質等）時，在導電異物區域中軸向導線之間的等效電路與等效雜散電容亦會隨之改變，因而造成控制量測電路感測到軸向導線上之電流或電荷轉移量之變化，進而導致誤判及誤動作。或者，當觸點在導電異物區域上時，觸點位置之軸向導線應被量測到相對較小之對應電流或電荷轉移量，卻因導電異物區域而被旁接至相鄰軸向導線（而經由相鄰軸向導線接地），以致控制量測電路無法正確感測觸點之位置。

因此，如何有效地避免因導電異物所造成的誤判及誤動作乃為業界不斷致力研發的方向之一。

在一實施例中，一種在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法，其包括：獲得一正訊號、計算於此正訊號所在的發射電極線和/或接收電極線上的複數偵測點的訊號總合、比較訊號總合與既定值、當訊號總合大於既定值時，判定引發正訊號的觸控元件非導電異物、以及當訊號總合不大於既定值時，判定引發正訊號的觸控元件為導電異物。

在一實施例中，一種電容式感測裝置，其包括：複數第一電極線、複數第二電極線以及一感測控制器。此些第一電極線與此些第二電極線交錯，並且此些第一電極線與此些第二電極線界定以一矩陣配置之複數偵測點。感測控制器電性連接此些第一電極線與此些第二電極線。感測控制器執行下列步驟：獲得一正訊號、計算於此正訊號所在的第一電極線和/或第二電極線上的複數偵測點的訊號總合、比較訊號總合與既定值、當訊號總合大於既定值時，判定引發正訊號的觸控元件非導電異物、以及當訊號總合不大於既定值時，判定引發正訊號的觸控元件為導電異物。

綜上，根據本發明之電容式感測裝置及其上的導電異物的偵測方法，其得以判斷觸碰元件是否為導電異物，進而排除因導電異物所造成的誤動作。進一步，根據本發明之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法及電容式感測裝置，其得以優化偵測步驟，以加速偵測與運算效率。

首先，根據本發明任一實施例的在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法可適於一觸控設備。觸控設備可以是但不限於觸控螢幕、電子畫板、手寫板等觸控裝置或具有觸控裝置之電子裝置。電子裝置可以是但不限於智慧型手機（smart phone）、導航機（PND）、數位相框（PDF）、電子書（e-book）、筆記型電腦（notebook）、或平版電腦（Tablet or Pad）等。為了清楚說明，以下之實施方式雖以觸控螢幕為例進行說明，但並非用以限定本發明的範籌。舉例來說，在下述實施方式中所描述的「觸碰事件」，若以觸控面板為例，觸碰事件可以是用手指或觸控筆等觸控元件來發生；若以電子畫板為例，則觸碰事件可以是用電子畫板對應的觸碰元件（如，觸碰畫筆）來發生；若以手寫板為例，則觸碰事件可以是用手寫板對應的觸碰元件（如，手寫筆或手指）來發生。

第1圖為應用本發明任一實施例之電容式感測裝置的觸控設備的示意圖。第2圖為第1圖中訊號感測器之一實施例的示意圖。在下述的說明中，觸控設備係以電子裝置為例進行說明，但本發明並不以此為限。

參照第1圖，觸控設備包含電容式感測裝置、顯示器20、及處理單元30。電容式感測裝置包含一感測控制器12以及一訊號感測器14。感測控制器12連接至訊號感測器14，並且訊號感測器14位在顯示器20的顯示面上。處理單元30電性連接至感測控制器12與顯示器20。訊號感測器14包括交錯配置的多個電極線（例如：第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn以及第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym）。其中，n及m為正整數。再者，n可等於m，亦可不等於m。第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn以及第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym電性連接至感測控制器12。

從頂視視角來看，第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn與第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym相互交錯，並且界定以一矩陣配置之複數偵測點P(1,1)~P(n,m)，如第2圖所示。換言之，第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn與第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym是構成一個平面座標系統。以此實施而為例，第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn與第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym係構成一個直角座標系統（笛卡爾座標系統，Cartesian Coordinate System），但本發明並不以此為限，亦可以是極座標系統、非直角座標系統、或是其他平面座標系統。在一些實施例中，交疊後之第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn與第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym的頂視圖呈菱形蜂巢狀、網格狀或柵狀。

在一些實施例中，第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn以及第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym可以位於不同平面。換言之，訊號感測器14包括二感測層（以下分別稱之為第一感測層142與第二感測層144）。第一感測層142包括平行列置的第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn，以及第二感測層144包括平行列置的第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym。第二感測層144疊置於第一感測層142上，並且第一感測層142位於顯示器20的顯示面上。第一感測層142與第二感測層144之間可以但不限於夾置有絕緣層（圖中未示）。

在另一些實施例中，第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn與第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym可以位於同一平面，也就是僅位於單一感測層上。

在一些實施例中，第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn為發射電極線，並且第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym為接收電極線。在另一些實施例中，第一電極線X1、X2~Xn-1、Xn為接收電極線，並且第二電極線Y1、Y2~Ym-1、Ym為發射電極線。

在一些實施例中，感測層的多條電極線能以圖案化形成。

在一些實施例中，感測層可以採用透明或半透明的設計，因此當顯示器20顯示資訊時，使用者能穿透所有感測層而看到顯示器20所顯示的內容。換句話說，顯示器20發出的光線可以穿過所有感測層而到達使用者的眼睛。在一些實施例中，感測層可為圖案化導電薄膜，例如：但不限於氧化銦（ITO）錫薄膜。

在另一些實施例中，感測層可以不採用透明半透明的設計，例如：電子畫板或手寫板等不具顯示器20的觸控裝置的感測層。

在一些實施例中，處理單元30可以是內部的處理器，或者是設置在外部主機中的處理器。

當使用者觸碰電容式感測裝置時，電容式感測裝置偵測觸碰事件（觸碰動作），並且由處理單元30做進一步處理。此進一步處理的內容視觸碰事件的觸控位置對應顯示器20顯示位置之應用程式而定，例如：但不限於處理單元30響應觸碰事件而啟動某一應用程式、或在觸碰事件發生的位置顯示筆觸等等。

顯示器20用來顯示資訊的區域一般稱作主動區（Active Area，AA區）26，而訊號感測器14對應主動區26的區域可稱為感測區16。此感測區16係指能夠偵測使用者是否有觸碰事件發生。偵測點P(1,1)~P(n,m)則形成在此感測區16中。

於此，感測控制器12可以採用自電容（self-capacitance）觸控技術或互電容（mutual capacitance）觸控技術感測使用者之觸碰動作。感測控制器12除了正常觸控動作的偵測外，另會進行導電異物（例如：水）的偵測，以排除導電異物所造成的誤動作。

第3圖為根據本發明第一實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法的流程圖。第4圖為根據本發明第二實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法的流程圖。第5圖為在本發明任一實施例之電容式感測裝置中之觸碰事件的一實施例的示意圖。

感測控制器12進行導電線的掃描。當有觸控元件在訊號感測器14上時，觸控元件在所在位置的偵測點P(i,j)處產生正訊號S+，如第5圖所示。其中，i與j均為正整數。再者，i可等於j，亦可不等於j。在一些實施例中，感測控制器12掃描每一偵測點P的訊號並且將掃描到的訊號與對應的判斷閥值相比較。當感測控制器12偵測到偵測點P(i,j)的訊號大於其所對應的判斷閥值（即，此偵測點P(i,j)的訊號已達到被判定為手指訊號之強度）時，感測控制器12判定此偵測點P(i,j) 發生觸碰事件並產生此偵測點P(i,j) 的位置資訊。換言之，每一位置資訊代表發生觸碰事件之一個偵測點的位置。並且，感測控制器12會彙集發生觸碰事件之緊鄰的複數個偵測點（以下稱之為一觸碰點）的位置資訊並判定為一觸碰點的觸控位置。為了清楚描述，大於其判斷閥值的偵測點的訊號以下稱之為正訊號S+。換言之，一個觸控位置代表一個手指觸碰，並且一個手指觸碰會造成複數個正訊號的發生。

參照第3及4圖，感測控制器12獲得偵測點P(i,j)的正訊號S+（步驟S41）並儲存此偵測點P(i,j)所屬之觸碰點的位置資訊於儲存單元（其可內建於感測控制器12中或設置於感測控制器12的外部，圖中未示）中。當感測控制器12接收到偵測點P(i,j)的正訊號S+時，感測控制器12計算正訊號S+所在的第一電極線Xi上的所有偵測點P(i,1)~P(i,m)的一訊號總合（步驟S43）。於此，流程圖中雖以計算第一電極線Xi上的所有偵測點P(i,1)~P(i,m) 的訊號總合為例，但感測控制器12亦可是計算正訊號S+所在的第一電極線Xi與第二電極線Yj上的所有偵測點P(i,1)~P(i,m)、P(1,j)~P(n,j)的訊號總合（圖式未示）或是計算正訊號S+所在的第二電極線Yj上的所有偵測點、P(1,j)~P(n,j)的訊號總合（圖式未示）。

感測控制器12比較計算得的訊號總合與一既定值（步驟S45）。在一些實施例中，既定值可為零到二倍手指訊號（即，判斷閥值的二倍）。

當計算得的訊號總合大於既定值時，感測控制器12判定引發正訊號S+的觸控元件非導電異物（步驟S47）。並且，當判定引發正訊號S+的觸控元件非導電異物時，感測控制器12保留此正訊號S+的位置資訊（步驟S51），即，以正訊號S+的偵測點P(i,j)的位置資訊進行位置資訊的彙集（彙集正訊號團）及觸控位置的判定。

在一些實施例中，參照第3圖，當判定引發正訊號S+的觸控元件為導電異物時，感測控制器12忽略正訊號S+的偵測點P(i,j)所屬之觸碰點的位置資訊（步驟S53）。換言之，當判定引發正訊號S+的觸控元件非導電異物時，感測控制器12將儲存單元中正訊號S+的偵測點P(i,j)的位置資訊捨棄。

在另一些實施例中，參照第4圖，當判定引發正訊號S+的觸控元件為導電異物時，感測控制器12除了忽略對應的位置資訊外，還根據正訊號S+更新正訊號S+的偵測點P(i,j)所對應的判斷閥值（步驟S55），以一開始即排除此偵測點P(i,j)的訊號，即，不會偵測到此偵測點P(i,j)有發生觸碰事件。在一些實施例中，感測控制器12不會在每次判定其觸控元件為導電異物時都執行步驟S55。換言之，感測控制器12會記錄同一偵測點P(i,j)的正訊號S+連續判定其觸控元件為導電異物的連續次數，並於連續次數達預定次數時再執行步驟S55。

第6圖為根據本發明第三及第四實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法的局部流程圖。

在一些實施例中，參照第6圖，於執行訊號總合的計算步驟（步驟S43）之前，感測控制器12會先確認正訊號S+的發生位置是否為未知的位置資訊（步驟S42），例如：確認儲存單元中是否有偵測點P(i,j)的位置資訊。當正訊號S+的發生位置確認為未知的位置資訊（例如：儲存單元中無偵測點P(i,j)的位置資訊）時，感測控制器12才會執行訊號總合的計算步驟（即，接續執行步驟S43和其後續步驟），如第3及4圖所示。當正訊號S+的發生位置確認為已知的位置資訊（例如：儲存單元中有偵測點P(i,j)的位置資訊）時，感測控制器12則不執行訊號總合的計算步驟（即，不接續執行步驟S43和其後續步驟），而是根據正訊號S+執行一追蹤點程序（步驟S61）。換言之，感測控制器12會追蹤正訊號S+的偵測點P(i,j)所屬之觸碰點的移動軌跡（步驟S61）。

第7圖為根據本發明第五及第六實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法的局部流程圖。

在另一些實施例中，參照第7圖，於執行訊號總合的計算步驟（步驟S43）之前，感測控制器12會先確認正訊號S+的發生位置是否為未知的位置資訊（步驟S42）。

當正訊號S+的發生位置確認為已知的位置資訊時，感測控制器12則不執行訊號總合的計算步驟（即，不接續執行步驟S43和其後續步驟），而是根據正訊號S+執行偵測點P(i,j)所屬之觸碰點的一追蹤點程序（步驟S61）。

當正訊號S+的發生位置確認為未知的位置資訊（例如：儲存單元中無偵測點P(i,j)的位置資訊）時，感測控制器12根據正訊號S+的發生位置（即，偵測點P(i,j)）建立一檢測視窗WD（步驟S63），如第8圖所示。於此，檢測視窗WD的尺寸可為a*b，即，涵蓋a*b個偵測點並且其中包含了偵測點P(i,j)。其中，a與b均為正數。再者，a可等於b，亦可不等於b。在一些實施例中，偵測點P(i,j)為檢測視窗WD的中心點。換言之，感測控制器12以偵測點P(i,j)為中心展開a*b之檢測視窗WD。

然後，感測控制器12偵測檢測視窗WD中是否存在負訊號S-（步驟S65）。當感測控制器12偵測到檢測視窗WD中存在負訊號S-時，感測控制器12才會執行訊號總合的計算步驟（即，接續執行步驟S43和其後續步驟），如第3及4圖所示。當感測控制器12偵測到檢測視窗WD中不存在負訊號S-時，感測控制器12則判定引發正訊號S+的觸控元件非導電異物（步驟S47）。

在一些實施例中，參照第9圖，於執行訊號總合的檢測成序（步驟S41）之前，感測控制器12會偵測訊號感測器14上所有偵測點P(1,1)~P(n,m)以找出先找出訊號感測器14上發生的所有觸碰點（步驟S71），即，在偵測到正訊號S+時先進行正訊號團（blob）的彙集並根據正訊號團（blob）判定觸碰點。

於找出所有觸碰點後，感測控制器12會計算此次偵測所獲得到的觸碰點的總數（以下稱為當前總數）（步驟S73）並將當前總數與前次偵測所獲得到的觸碰點的總數（以下稱為先前總數）比較（步驟S75）。

當當前總數不大於先前總數時，感測控制器12則進行各觸碰點的追蹤點程序（步驟S61），即，追蹤各觸碰點的移動軌跡。

反之，當當前總數大於先前總數時，感測控制器12則針對各個正訊號S+進行訊號總合的檢測程序，即，接續執行步驟S41及其後續步驟（如第3及4圖所示）。

在一些實施例中，當當前總數大於先前總數時，感測控制器12亦可透過檢測視窗來進行訊號總合的檢測程序。參照第10圖，於獲得偵測點P(i,j)的正訊號S+（步驟S41）後，感測控制器12先根據正訊號S+的發生位置（即，偵測點P(i,j)）建立一檢測視窗WD（步驟S63），並偵測檢測視窗WD中是否存在負訊號S-（步驟S65）。當感測控制器12偵測到檢測視窗WD中存在負訊號S-時，感測控制器12才接續執行訊號總合的計算步驟（即，接續執行步驟S43和其後續步驟）。當感測控制器12偵測到檢測視窗WD中不存在負訊號S-時，感測控制器12則判定引發正訊號S+的觸控元件非導電異物（步驟S47）。

於此，感測控制器12會完成所有正訊號S+的訊號總合的檢測程序之後，根據剩餘的位置資訊（剩下的正訊號團）判定剩餘的觸碰點，並將剩餘的觸碰點的總數儲存在儲存單元中以做為下一次偵測時所使用的先前總數。

應當可理解的是，各步驟的執行順序並不限於前述描述順序，可依據步驟的執行內容適當地調配執行順序。

在一些實施例中，前述之儲存單元可由一個或多個記憶體元件實現。各記憶體元件可為唯讀記憶體、隨機存取記憶體、非永久性記憶體、永久性記憶體、靜態記憶體、動態記憶體、快閃記憶體和/或任何存儲數位資訊的設備。

在一些實施例中，根據本發明之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法可由一電腦程式產品實現，以致於當電腦（即，任意觸控設備）載入程式並執行後可完成根據本發明任一實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法。在一些實施例中，電腦程式產品可為一可讀取記錄媒體，而上述程式則儲存在可讀取記錄媒體中供電腦載入。在一些實施例中，上述程式本身即可為電腦程式產品，並且經由有線或無線的方式傳輸至電腦中。

綜上，根據本發明之電容式感測裝置及其上的導電異物的偵測方法，其得以判斷觸碰元件是否為導電異物，進而排除因導電異物所造成的誤動作。進一步，根據本發明之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法及電容式感測裝置，其得以優化偵測步驟，以加速偵測與運算效率。

12‧‧‧感測控制器
14‧‧‧訊號感測器
142‧‧‧第一感測層
144‧‧‧第二感測層
16‧‧‧感測區
20‧‧‧顯示器
26‧‧‧主動區
30‧‧‧處理單元
X1‧‧‧第一電極線
X2‧‧‧第一電極線
Xi‧‧‧第一電極線
Xn-1‧‧‧第一電極線
Xn‧‧‧第一電極線
Y1‧‧‧第二電極線
Y2‧‧‧第二電極線
Yj‧‧‧第二電極線
Ym-1‧‧‧第二電極線
Ym‧‧‧第二電極線
P(1,1)‧‧‧偵測點
P(i,1)‧‧‧偵測點
P(n,1)‧‧‧偵測點
P(1,j)‧‧‧偵測點
P(i,j)‧‧‧偵測點
P(n,j)‧‧‧偵測點
P(1,m)‧‧‧偵測點
P(i,m)‧‧‧偵測點
P(n,m)‧‧‧偵測點
S+‧‧‧正訊號
S-‧‧‧負訊號
WD‧‧‧檢測視窗
S41‧‧‧獲得一正訊號
S42‧‧‧確認正訊號的發生位置是否為未知的位置資訊?
S43‧‧‧計算於正訊號所在的第一電極線上的偵測點的一訊號總合
S45‧‧‧比較訊號總合與既定值
S47‧‧‧判定引發正訊號的觸控元件非導電異物
S49‧‧‧判定引發正訊號的觸控元件導電異物
S51‧‧‧保留正訊號的偵測點的位置資訊
S53‧‧‧忽略正訊號的偵測點的位置資訊
S55‧‧‧根據正訊號更新正訊號的偵測點所對應的判斷閥值
S61‧‧‧根據正訊號的偵測點所屬之觸碰點的追蹤點程序
S63‧‧‧根據正訊號的發生位置建立一檢測視窗
S65‧‧‧檢測視窗中是否存在負訊號?
S71‧‧‧偵測所有偵測點以找出觸碰點
S73‧‧‧計算此次偵測所獲得到的觸碰點的當前總數
S75‧‧‧比較當前總數與前次偵測所獲得到的觸碰點的先前總數

[第1圖]為應用本發明任一實施例之電容式感測裝置的觸控設備的示意圖。 [第2圖]為第1圖中訊號感測器之一實施例的示意圖。 [第3圖]為根據本發明第一實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法的流程圖。 [第4圖]為根據本發明第二實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法的流程圖。 [第5圖]為在本發明任一實施例之電容式感測裝置中之觸碰事件的一實施例的示意圖。 [第6圖]為根據本發明第三及第四實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法的局部流程圖。 [第7圖]為根據本發明第五及第六實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法的局部流程圖。 [第8圖]為在本發明任一實施例之電容式感測裝置中之觸碰事件的另一實施例的示意圖。 [第9圖]為根據本發明第七及第八實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法的局部流程圖。 [第10圖]為根據本發明第九及十實施例之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法的局部流程圖。

S41‧‧‧獲得一正訊號

S43‧‧‧計算於正訊號所在的第一電極線上的偵測點的一訊號總合

S45‧‧‧比較訊號總合與既定值

S47‧‧‧判定引發正訊號的觸控元件非導電異物

S49‧‧‧判定引發正訊號的觸控元件導電異物

S51‧‧‧保留正訊號的偵測點的位置資訊

S53‧‧‧忽略正訊號的偵測點的位置資訊

Claims (14)

1. 一種在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法，包括：獲得一正訊號；計算於該正訊號所在的一發射電極線和一接收電極線其中的至少一者上的複數偵測點的一訊號總合；比較該訊號總合與一既定值；當該訊號總合大於該既定值時，判定引發該正訊號的一觸控元件非一導電異物；以及當該訊號總合不大於該既定值時，判定引發該正訊號的該觸控元件為該導電異物。
2. 如請求項1所述之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法，更包括：於該訊號總合的該計算步驟之前，確認該正訊號的發生位置是否為未知的位置資訊；當該正訊號的該發生位置確認為未知的該位置資訊時，才執行該訊號總合的該計算步驟；以及當該正訊號的該發生位置確認為已知的該位置資訊時，不執行該訊號總合的該計算步驟而根據該正訊號執行一追蹤點程序。
3. 如請求項1所述之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法，更包括： 找出所有觸碰點並計算該所有觸碰點的一當前總數，其中每一該觸碰點由相鄰之複數偵測點所組成；比較該當前總數與一先前總數；當該當前總數不大於該先前總數時，直接進行各該觸碰點的一追蹤點程序；以及當該當前總數大於該先前總數時，才針對該所有觸碰點中的各該偵測點執行該正訊號的該獲得步驟。
4. 如請求項2或3所述之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法，其中當該正訊號的該發生位置確認為未知的該位置資訊或該當前總數大於該先前總數時，更包括：根據該正訊號的該發生位置建立一檢測視窗；偵測該檢測視窗中是否存在至少一負訊號；當該檢測視窗中存在該至少一負訊號時，才執行該訊號總合的該計算步驟；以及當該檢測視窗中不存在該至少一負訊號時，判定引發該正訊號的該觸控元件非該導電異物。
5. 如請求項1至3中之任一項所述之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法，更包括：當判定引發該正訊號的該觸控元件非該導電異物時，保留該正訊號的一位置資訊；以及當判定引發該正訊號的該觸控元件為該導電異物時，忽略該正訊號的該位置資訊。
6. 如請求項1至3中之任一項所述之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法，其中當判定引發該正訊號的該觸控元件為該導電異物時，更包括：根據該正訊號更新該正訊號的該偵測點所對應的一判斷閥值。
7. 如請求項1至3中之任一項所述之在電容式感測裝置上的導電異物的偵測方法，其中該既定值為零到二倍的手指訊號。
8. 一種電容式感測裝置，包括：複數第一電極線；複數第二電極線，該些第一電極線與該些第二電極線交錯，並且該些第一電極線與該些第二電極線界定以一矩陣配置之複數偵測點；以及一感測控制器，電性連接該些第一電極線與該些第二電極線，該感測控制器執行：獲得一正訊號；計算於該些第一電極線和該些第二電極線中之該正訊號所在的至少一電極線上的該些偵測點的一訊號總合；比較該訊號總合與一既定值；當該訊號總合大於該既定值時，判定引發該正訊號的一觸控元件非一導電異物；以及當該訊號總合不大於該既定值時，判定引發該正訊號的該觸控元件為該導電異物。
9. 如請求項8所述之電容式感測裝置，其中該感測控制器於執行該訊號總合的該計算步驟之前，更執行： 確認該正訊號的發生位置是否為未知的位置資訊；當該正訊號的該發生位置確認為未知的該位置資訊時，才執行該訊號總合的該計算步驟；以及當該正訊號的該發生位置確認為已知的該位置資訊時，不執行該訊號總合的該計算步驟而根據該正訊號進行一追蹤點程序。
10. 如請求項8所述之電容式感測裝置，其中該感測控制器更執行：偵測該複數偵測點以找出所有觸碰點，其中每一該觸碰點由該複數偵測點其中相鄰之複數偵測點所組成；計算該所有觸碰點的一當前總數比較該當前總數與一先前總數；當該當前總數不大於該先前總數時，直接進行各該觸碰點的一追蹤點程序；以及當該當前總數大於該先前總數時，才針對該所有觸碰點中的各該偵測點執行該正訊號的該獲得步驟。
11. 如請求項9或10所述之電容式感測裝置，其中當該正訊號的該發生位置確認為未知的該位置資訊或該當前總數是否大於該先前總數時，於執行該訊號總合的該計算步驟之前，該感測控制器更執行：根據該正訊號的該發生位置建立一檢測視窗；偵測該檢測視窗中是否存在至少一負訊號； 當該檢測視窗中存在該至少一負訊號時，才執行該訊號總合的該計算步驟；以及當該檢測視窗中不存在該至少一負訊號時，判定引發該正訊號的該觸控元件非該導電異物。
12. 如請求項8至10中之任一項所述之電容式感測裝置，其中該感測控制器更執行：當判定引發該正訊號的該觸控元件非該導電異物時，保留該正訊號的一位置資訊；以及當判定引發該正訊號的該觸控元件為該導電異物時，忽略該正訊號的該位置資訊。
13. 如請求項8至10中之任一項所述之電容式感測裝置，其中該感測控制器當判定引發該正訊號的該觸控元件為該導電異物時，更執行：根據該正訊號更新該正訊號的該偵測點所對應的一判斷閥值。
14. 如請求項8至10中之任一項所述之電容式感測裝置，其中該既定值為零到二倍的手指訊號。