CN113671350A - 测试装置及电子设备 - Google Patents

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CN113671350A CN202110967983.6A CN202110967983A CN113671350A CN 113671350 A CN113671350 A CN 113671350A CN 202110967983 A CN202110967983 A CN 202110967983A CN 113671350 A CN113671350 A CN 113671350A
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2815Functional tests, e.g. boundary scans, using the normal I/O contacts

Abstract

本公开涉及一种测试装置及电子设备,所述装置包括控制模块、测试模块及至少一个待测显示驱动芯片,控制模块用于输出至少一个测试控制信号,以控制测试模块对至少一个待测显示驱动芯片的解码功能进行测试;测试模块用于当测试控制信号有效的情况下,获取待测显示数据、对应的解压缩参数及预设校验码;发送待测显示数据及对应的解压缩参数到待测显示驱动芯片,得到待测显示驱动芯片输出的目标校验码;将目标校验码与预设校验码进行比较,得到所述待测显示驱动芯片的测试结果。本公开实施例可以对显示驱动芯片的解码功能进行测试,判断显示驱动芯片的解码功能是否正常,测试成本低,测试时间短,具有较高的测试效率。

Description

测试装置及电子设备
技术领域
本公开涉及显示技术领域,尤其涉及一种测试装置及电子设备。
背景技术
相关技术中,在进行显示数据校正时,需要应用处理器AP(ApplicationProcessor)同时输出显示串流压缩(ex:VESA DSC display stream compression)图像及其校验码,以使得数据接收器根据接收到的压缩图像产生校验码,并与接收到的校验码进行比较,以判断最终的图像数据是否正确,然而,当判断图像数据不正确时,相关技术无法确定图像数据错误的原因是在应用处理器,还是在驱动芯片的解码器。
发明内容
根据本公开的一方面,提供了一种测试装置,所述装置包括控制模块、测试模块及至少一个待测显示驱动芯片,其中:
所述控制模块用于输出至少一个测试控制信号,以控制测试模块对至少一个待测显示驱动芯片的解码功能进行测试;
所述待测显示驱动芯片连接于所述控制模块及所述测试模块,用于对接收到的压缩显示数据及解压缩参数进行解压缩得到解压缩显示数据,并根据所述解压缩显示数据得到校验码;
所述测试模块连接于所述控制模块,用于:
当所述测试控制信号有效的情况下,获取待测显示数据、对应的解压缩参数及预设校验码;
发送所述待测显示数据及对应的解压缩参数到所述待测显示驱动芯片,得到所述待测显示驱动芯片输出的目标校验码;
将所述目标校验码与所述预设校验码进行比较,得到所述待测显示驱动芯片的测试结果。
在一种可能的实施方式中,所述测试模块包括测试单元、存储单元、比较单元,其中,
所述测试单元连接于所述存储单元及所述比较单元,用于:从所述存储单元获取所述待测显示数据、对应的解压缩参数及所述预设校验码,并将所述存储单元获取所述待测显示数据、对应的解压缩参数发送到所述待测显示驱动芯片,将所述预设校验码发送到所述比较单元;
所述比较单元用于获取所述待测显示驱动芯片输出的所述目标校验码及所述预设校验码,根据所述目标校验码及所述预设校验码得到测试结果,并将所述测试结果发送到所述控制模块及所述待测显示驱动芯片。
在一种可能的实施方式中,所述存储单元包括第一存储单元、第二存储单元、第三存储单元,所述第一存储单元用于存储所述待测显示数据,所述第二存储单元用于存储对应的解压缩参数,所述第三存储单元用于存储所述预设校验码。
在一种可能的实施方式中,所述控制模块还用于:
当所述目标校验码及所述预设校验码相同时,所述测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能正常;或
当所述目标校验码及所述预设校验码不相同时,所述测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能异常。
在一种可能的实施方式中,所述显示驱动芯片连接于显示面板,所述控制模块还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能正常时,发送经压缩的显示数据到所述待测显示驱动芯片;
所述待测显示驱动芯片还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能正常时,对所述经压缩的显示数据进行解压缩,并根据解压缩得到的显示数据产生驱动信号对显示面板进行显示控制。
在一种可能的实施方式中,所述显示驱动芯片连接于显示面板,
所述控制模块还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能异常时,发送未经压缩的显示数据到所述待测显示驱动芯片;
所述待测显示驱动芯片还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能异常时,根据所述未经压缩的显示数据产生驱动信号对显示面板进行显示控制。
在一种可能的实施方式中,所述控制模块还用于,当所述测试控制信号有效时,停止输出显示数据到所述待测显示驱动芯片。
在一种可能的实施方式中,所述显示面板包括液晶显示面板、有机发光二极管显示面板、量子点发光二极管显示面板、迷你发光二极管显示面板和微发光二极管显示面板的任意一种或多种。
根据本公开的一方面,提供了一种电子设备,所述电子设备包括所述的测试装置。
在一种可能的实施方式中,所述电子设备包括显示器、智能手机或便携设备。
本公开实施例的测试模块在接收到控制模块发出的测试控制信号的情况下,获取待测显示数据、对应的解压缩参数及预设校验码,发送所述待测显示数据及对应的解压缩参数到所述待测显示驱动芯片,使得所述待测显示驱动芯片对接收到的待测显示数据及对应的解压缩参数进行解压缩得到解压缩显示数据,并根据所述解压缩显示数据得到目标校验码,将所述目标校验码与所述预设校验码进行比较,得到所述待测显示驱动芯片的测试结果,从而对显示驱动芯片的解码功能进行测试,判断显示驱动芯片的解码功能是否正常,当接收的显示数据存在错误时,可以区分是控制模块的编码器出现问题,或是显示驱动芯片的解码器出现问题,并且测试成本低,测试时间短,具有较高的测试效率。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,而非限制本公开。根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明,本公开的其它特征及方面将变得清楚。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,这些附图示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于说明本公开的技术方案。
图1示出了根据本公开一实施例的测试装置的框图。
图2示出了根据本公开一实施例的测试装置的框图。
图3示出了根据本公开一实施例的一种电子设备的框图。
具体实施方式
以下将参考附图详细说明本公开的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面,但是除非特别指出,不必按比例绘制附图。
在本公开的描述中,需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本公开和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本公开的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本公开中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。
在这里专用的词“示例性”意为“用作例子、实施例或说明性”。这里作为“示例性”所说明的任何实施例不必解释为优于或好于其它实施例。
本文中术语“和/或”,仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中术语“至少一种”表示多种中的任意一种或多种中的至少两种的任意组合,例如,包括A、B、C中的至少一种,可以表示包括从A、B和C构成的集合中选择的任意一个或多个元素。
另外,为了更好地说明本公开,在下文的具体实施方式中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解,没有某些具体细节,本公开同样可以实施。在一些实例中,对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件和电路未作详细描述,以便于凸显本公开的主旨。
请参阅图1,图1示出了根据本公开一实施例的测试装置的框图。
如图1所示,所述装置包括控制模块10、测试模块20及至少一个待测显示驱动芯片30,其中:
所述控制模块10用于输出至少一个测试控制信号,以控制测试模块20对至少一个待测显示驱动芯片30的解码功能进行测试;
所述待测显示驱动芯片30连接于所述控制模块10及所述测试模块20,用于对接收到的压缩显示数据及解压缩参数进行解压缩得到解压缩显示数据,并根据所述解压缩显示数据得到校验码;
所述测试模块20连接于所述控制模块10,用于:
当所述测试控制信号有效的情况下,获取待测显示数据、对应的解压缩参数及预设校验码;
发送所述待测显示数据及对应的解压缩参数到所述待测显示驱动芯片30,得到所述待测显示驱动芯片30输出的目标校验码;
将所述目标校验码与所述预设校验码进行比较,得到所述待测显示驱动芯片30的测试结果。
本公开实施例的测试模块在接收到控制模块发出的测试控制信号的情况下,获取待测显示数据、对应的解压缩参数及预设校验码,发送所述待测显示数据及对应的解压缩参数到所述待测显示驱动芯片,使得所述待测显示驱动芯片对接收到的待测显示数据及对应的解压缩参数进行解压缩得到解压缩显示数据,并根据所述解压缩显示数据得到目标校验码,将所述目标校验码与所述预设校验码进行比较,得到所述待测显示驱动芯片的测试结果,从而对显示驱动芯片的解码功能进行测试,判断显示驱动芯片的解码功能是否正常,当接收的显示数据存在错误时,可以区分是控制模块的编码器出现问题,或是显示驱动芯片的解码器出现问题,并且测试成本低,测试时间短,具有较高的测试效率。
本公开实施例的测试模块可以设置在显示驱动芯片中,以使得显示驱动芯片可以进行自我检测,以自行判断解码功能是否正常,从而在确定接收到的显示数据有误时区分是控制模块(如应用处理器AP)的编码功能出现问题,还是自身的解码功能出现问题。
本公开实施例对显示驱动芯片30的具体类型不做限定,本领域技术人员可以根据驱动的显示面板的类型适应性选择,在一个示例中,显示面板可以包括液晶显示面板、有机发光二极管显示面板、量子点发光二极管显示面板、迷你发光二极管显示面板和微发光二极管显示面板等的任意一种或多种。
在一个示例中,控制模块10可以包括处理组件,处理组件包括但不限于单独的处理器,或者分立元器件,或者处理器与分立元器件的组合。所述处理器可以包括电子设备中具有执行指令功能的控制器,所述处理器可以按任何适当的方式实现,例如,被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现。在所述处理器内部,可以通过逻辑门、开关、专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit,ASIC)、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器等硬件电路执行所述可执行指令。
在一个示例中,控制模块10可以包括应用处理器AP及时序控制器,应用处理器AP可以包括编码器以将显示数据那个压缩编码,并将经压缩的显示数据或未经压缩的显示数据通过时序控制器发送到显示驱动芯片。
请参阅图2,图2示出了根据本公开一实施例的测试装置的框图。
在一种可能的实施方式中,如图2所示,所述测试模块20包括测试单元210、存储单元220、比较单元230,其中,
所述测试单元210连接于所述存储单元220及所述比较单元230,用于:从所述存储单元220获取所述待测显示数据、对应的解压缩参数及所述预设校验码,并将所述存储单元220获取所述待测显示数据、对应的解压缩参数发送到所述待测显示驱动芯片30,将所述预设校验码发送到所述比较单元230;
所述比较单元230用于获取所述待测显示驱动芯片30输出的所述目标校验码及所述预设校验码,根据所述目标校验码及所述预设校验码得到测试结果,并将所述测试结果发送到所述控制模块10及所述待测显示驱动芯片30。
在一个示例中,目标校验码可以是至少一帧解压缩后的图像数据进行至少一运算校验码。
在一个示例中,存储单元可以包括计算机可读存储介质,计算机可读存储介质可以是可以保持和存储由指令执行设备使用的指令的有形设备。计算机可读存储介质例如可以是――但不限于――电存储设备、磁存储设备、光存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述的任意合适的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、静态随机存取存储器(SRAM)、可编程只读存储器(PROM)、便携式压缩盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能盘(DVD)、记忆棒、软盘、机械编码设备、例如其上存储有指令的打孔卡或凹槽内凸起结构、以及上述的任意合适的组合。这里所使用的计算机可读存储介质不被解释为瞬时信号本身,诸如无线电波或者其他自由传播的电磁波、通过波导或其他传输媒介传播的电磁波(例如,通过光纤电缆的光脉冲)、或者通过电线传输的电信号。
本公开实施例的待测显示数据,可以是一帧被压缩的图像的显示数据,也可以是多帧被压缩的图像的显示数据,对应的,解压缩参数可以是一帧被压缩的图像的显示数据对应的解压缩参数,也可以是多帧被压缩的图像的显示数据对应的多个解压缩参数,其中,多个解压缩参数可以是VESA(Video Electronics Standards Association,视频电子标准协会)DSC(Display Stream Compression,显示流压缩)标准的图像参数集设定(PictureParameter Set:PPS)。
本公开实施例的校验码可以是奇偶校验(Parity Check)的校验码、BCC异或校验法(block check character,块校验码)的校验码、LRC纵向冗余校验(LongitudinalRedundancy Check)的校验码、CRC(Cyclic Redundancy Check,循环冗余校验)循环冗余校验的校验码、MD5、SHA、MAC等摘要算法的校验码或其他类型的校验方式的校验码,对此本公开实施例不做限定。
本公开实施例对利用解压缩得到的显示数据得到校验码的具体实现方式不做限定,本领域技术人员可以参考相关技术实现。
在一个示例中,存储在存储单元中的预设校验码可以是待测显示数据的理想校验码或称为标准校验码。
在一种可能的实施方式中,如图2所示,所述存储单元220可以包括第一存储单元2210、第二存储单元2220、第三存储单元2230,所述第一存储单元2210用于存储所述待测显示数据,所述第二存储单元2220用于存储对应的解压缩参数,所述第三存储单元2230用于存储所述预设校验码,其中,第一存储单元2210存储的待测显示数据包括至少一帧经压缩图像的显示数据。
在一种可能的实施方式中,所述控制模块10还可以用于:
当所述目标校验码及所述预设校验码相同时,所述测试结果为所述待测显示驱动芯片30的解码功能正常;或
当所述目标校验码及所述预设校验码不相同时,所述测试结果为所述待测显示驱动芯片30的解码功能异常。
在一种可能的实施方式中,所述显示驱动芯片连接于显示面板40,所述控制模块10还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片30的解码功能正常时,发送经压缩的显示数据到所述待测显示驱动芯片30;
所述待测显示驱动芯片30还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片30的解码功能正常时,对所述经压缩的显示数据进行解压缩,并根据解压缩得到的显示数据产生驱动信号对显示面板进行显示控制。
在一个示例中,当待测显示驱动芯片30的解码功能正常时,控制模块10可以发送压缩编码后的显示数据到待测显示驱动芯片30,在这种情况下,待测显示驱动芯片30的解码器可以对接收到的经压缩的显示数据进行解码解压缩,得到解压缩后的显示数据,并根据解压缩后的显示数据产生驱动电压对显示面板进行控制。
在一种可能的实施方式中,如图2所示,所述显示驱动芯片连接于显示面板40,
所述控制模块10还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片30的解码功能异常时,发送未经压缩的显示数据到所述待测显示驱动芯片30;
所述待测显示驱动芯片30还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片30的解码功能异常时,根据所述未经压缩的显示数据产生驱动信号对显示面板进行显示控制。
在一个示例中,当待测显示驱动芯片30的解码功能异常时,为了实现对显示面板的正确驱动,控制模块10不应再发送压缩编码后的显示数据到待测显示驱动芯片30,控制模块10此时发送没有压缩编码的显示数据到待测显示驱动芯片30,在这种情况下,待测显示驱动芯片30直接根据接收到的显示数据产生驱动电压对显示面板进行控制。
在一种可能的实施方式中,所述控制模块10还用于,当所述测试控制信号有效时,停止输出显示数据到所述待测显示驱动芯片30。
根据本公开的一方面,提供了一种电子设备,所述电子设备包括所述的测试装置。
在一种可能的实施方式中,所述电子设备包括显示器、智能手机或便携设备。
在一种可能的实施方式中,所述显示器包括液晶显示面板、有机发光二极管显示面板、量子点发光二极管显示面板、迷你发光二极管显示面板和微发光二极管显示面板的任意一种或多种。
应该说明的,本公开实施例的测试模块也可以设置在显示驱动芯片中,以在对显示面板进行显示驱动时执行测试操作,确定解码器是否正常工作。
基于本公开实施例的显示驱动芯片的自我验证功能,技术人员将可在不须搭配应用处理器及冗长的测试样版(pattern)的情况下轻松测得显示驱动芯片的译码功能(解压功能)的良率,从而大幅缩短测试时间及成本。
本公开实施例的测试装置可以应用在电子设备中,电子设备可以被提供为终端、服务器或其它形态的设备。
请参阅图3,图3示出了根据本公开一实施例的一种电子设备的框图。
例如,电子设备800可以是移动电话,计算机,数字广播终端,消息收发设备,游戏控制台,平板设备,医疗设备,健身设备,个人数字助理等终端。
参照图3,电子设备800可以包括以下一个或多个组件:处理组件802,存储器804,电源组件806,多媒体组件808,音频组件810,输入/输出(I/O)的接口812,传感器组件814,以及通信组件816。
处理组件802通常控制电子设备800的整体操作,诸如与显示,电话呼叫,数据通信,相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件802可以包括一个或多个处理器820来执行指令,以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外,处理组件802可以包括一个或多个模块,便于处理组件802和其他组件之间的交互。例如,处理组件802可以包括多媒体模块,以方便多媒体组件808和处理组件802之间的交互。
存储器804被配置为存储各种类型的数据以支持在电子设备800的操作。这些数据的示例包括用于在电子设备800上操作的任何应用程序或方法的指令,联系人数据,电话簿数据,消息,图片,视频等。存储器804可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(SRAM),电可擦除可编程只读存储器(EEPROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM),可编程只读存储器(PROM),只读存储器(ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。
电源组件806为电子设备800的各种组件提供电力。电源组件806可以包括电源管理系统,一个或多个电源,及其他与为电子设备800生成、管理和分配电力相关联的组件。
多媒体组件808包括在所述电子设备800和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中,屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板,屏幕可以被实现为触摸屏,以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界,而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中,多媒体组件808包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当电子设备800处于操作模式,如拍摄模式或视频模式时,前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。
音频组件810被配置为输出和/或输入音频信号。例如,音频组件810包括一个麦克风(MIC),当电子设备800处于操作模式,如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时,麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器804或经由通信组件816发送。在一些实施例中,音频组件810还包括一个扬声器,用于输出音频信号。
I/O接口812为处理组件802和外围接口模块之间提供接口,上述外围接口模块可以是键盘,点击轮,按钮等。这些按钮可包括但不限于:主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。
传感器组件814包括一个或多个传感器,用于为电子设备800提供各个方面的状态评估。例如,传感器组件814可以检测到电子设备800的打开/关闭状态,组件的相对定位,例如所述组件为电子设备800的显示器和小键盘,传感器组件814还可以检测电子设备800或电子设备800一个组件的位置改变,用户与电子设备800接触的存在或不存在,电子设备800方位或加速/减速和电子设备800的温度变化。传感器组件814可以包括接近传感器,被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件814还可以包括光传感器,如互补金属氧化物半导体(CMOS)或电荷耦合装置(CCD)图像传感器,用于在成像应用中使用。在一些实施例中,该传感器组件814还可以包括加速度传感器,陀螺仪传感器,磁传感器,压力传感器或温度传感器。
通信组件816被配置为便于电子设备800和其他设备之间有线或无线方式的通信。电子设备800可以接入基于通信标准的无线网络,如无线网络(WiFi),第二代移动通信技术(2G)或第三代移动通信技术(3G),或它们的组合。在一个示例性实施例中,通信组件816经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中,所述通信组件816还包括近场通信(NFC)模块,以促进短程通信。例如,在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术,红外数据协会(IrDA)技术,超宽带(UWB)技术,蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。
在示例性实施例中,电子设备800可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现,用于执行上述方法。
在示例性实施例中,还提供了一种非易失性计算机可读存储介质,例如包括计算机程序指令的存储器804,上述计算机程序指令可由电子设备800的处理器820执行以完成上述方法。
以上已经描述了本公开的各实施例,上述说明是示例性的,并非穷尽性的,并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下,对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择,旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术的改进,或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。

Claims (10)

1.一种测试装置,其特征在于,所述装置包括控制模块、测试模块及至少一个待测显示驱动芯片,其中:
所述控制模块用于输出至少一个测试控制信号,以控制测试模块对至少一个待测显示驱动芯片的解码功能进行测试;
所述待测显示驱动芯片连接于所述控制模块及所述测试模块,用于对接收到的压缩显示数据及解压缩参数进行解压缩得到解压缩显示数据,并根据所述解压缩显示数据得到校验码;
所述测试模块连接于所述控制模块,用于:
当所述测试控制信号有效的情况下,获取待测显示数据、对应的解压缩参数及预设校验码;
发送所述待测显示数据及对应的解压缩参数到所述待测显示驱动芯片,得到所述待测显示驱动芯片输出的目标校验码;
将所述目标校验码与所述预设校验码进行比较,得到所述待测显示驱动芯片的测试结果。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测试模块包括测试单元、存储单元、比较单元,其中,
所述测试单元连接于所述存储单元及所述比较单元,用于:从所述存储单元获取所述待测显示数据、对应的解压缩参数及所述预设校验码,并将所述存储单元获取所述待测显示数据、对应的解压缩参数发送到所述待测显示驱动芯片,将所述预设校验码发送到所述比较单元;
所述比较单元用于获取所述待测显示驱动芯片输出的所述目标校验码及所述预设校验码,根据所述目标校验码及所述预设校验码得到测试结果,并将所述测试结果发送到所述控制模块及所述待测显示驱动芯片。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述存储单元包括第一存储单元、第二存储单元、第三存储单元,所述第一存储单元用于存储所述待测显示数据,所述第二存储单元用于存储对应的解压缩参数,所述第三存储单元用于存储所述预设校验码。
4.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述控制模块还用于:
当所述目标校验码及所述预设校验码相同时,所述测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能正常;或
当所述目标校验码及所述预设校验码不相同时,所述测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能异常。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述显示驱动芯片连接于显示面板,
所述控制模块还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能正常时,发送经压缩的显示数据到所述待测显示驱动芯片;
所述待测显示驱动芯片还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能正常时,对所述经压缩的显示数据进行解压缩,并根据解压缩得到的显示数据产生驱动信号对显示面板进行显示控制。
6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述显示驱动芯片连接于显示面板,
所述控制模块还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能异常时,发送未经压缩的显示数据到所述待测显示驱动芯片;
所述待测显示驱动芯片还用于:
当测试结果为所述待测显示驱动芯片的解码功能异常时,根据所述未经压缩的显示数据产生驱动信号对显示面板进行显示控制。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述控制模块还用于,当所述测试控制信号有效时,停止输出显示数据到所述待测显示驱动芯片。
8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述显示面板包括液晶显示面板、有机发光二极管显示面板、量子点发光二极管显示面板、迷你发光二极管显示面板和微发光二极管显示面板的任意一种或多种。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括如权利要求1~18任一项所述的测试装置。
10.根据权利要求9所述的电子设备,其特征在于,所述电子设备包括显示器、智能手机或便携设备。
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