CN113667913A - 提高Hastelloy N合金ΣCSL晶界比例的工艺方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种提高Hastelloy N合金低ΣCSL晶界比例的工艺方法,将Hastelloy N合金冷轧加工30‑70%,然后在1020‑1200℃退火5‑60min,以水淬的方式快速冷却至室温。而后在垂直原冷轧方向进行30‑70%的冷轧加工,在相同的温度退火同样的时间后水淬至室温。然后再对样品进行3‑15%的冷加工变形,在1020‑1200℃退火3‑120min并水淬快速冷却至室温。可得到Σ≤29的低ΣCSL晶界比例高于70%的HastelloyN合金。本工艺不仅不需改变合金成分,而且与现有其他工艺相比,不需要长时间退火,操作容易,具有十分明显的经济效益。
Description
技术领域
本发明涉及一种提高金属材料低ΣCSL晶界比例的晶界工程工艺方法,特别是涉及一种含有大量初生碳化物或者脆、硬夹杂物的低层错能面心立方金属材料的晶界工程工艺方法,应用于金属材料的形变及热处理工艺技术领域。
背景技术
Hastelloy N是一种固溶强化的镍基合金,具有优良的力学性能、高温抗氧化性、耐腐蚀性及耐辐照性,主要用于熔盐反应堆中的结构材料。熔盐堆中核燃料由高温熔盐携带入堆,堆内结构材料与流动的高温熔盐直接接触。而在熔盐堆中生成的裂变产物Te会导致Hastelloy N合金开裂,裂变产物Te通过一般大角晶界扩散进入合金,会导致HastelloyN合金晶间脆化,受力后发生沿晶界开裂现象,大大降低了合金的力学性能。因此,关键结构材料的环境失效问题是制约熔盐堆发展的瓶颈。裂变产物Te会沿着一般大角晶界扩散,而未在孪晶界处观察到Te的扩散,因此提高孪晶界的比例可以有效地降低Te对合金晶间开裂的影响。
Watanabe于1984年提出晶界设计与控制的概念,在上世纪90年代发展成晶界工程(Grain Boundary Engineering,GBE)研究领域。在低层错能面心立方金属材料中,通过适当的形变及热处理工艺,可以促使退火孪晶及多重孪晶过程的充分发展,显著提高提高Σ3,Σ9等Σ3n晶界(n=1,2,3)类型的低ΣCSL晶界比例。重合位置点阵,Coincidence SiteLattice;低ΣCSL晶界是指Σ≤29的CSL晶界,Σ:晶界两侧晶粒点阵重合位置密度的倒数。在低ΣCSL晶界中,特别是Σ3晶界,由于结构有序度高,界面能低,具有优于一般大角晶界的性能。Hastelloy N 合金也是一种低层错能面心立方金属材料,可以通过GBE大幅增加Hastelloy N合金材料的低ΣCSL晶界比例,控制晶界特征分布,提高该种材料的抗Te致晶间脆性开裂性能,也可提高该种材料与晶界相关的其它性能,比如抗晶间腐蚀性能。
然而,Hastelloy N合金的Mo含量高,在冶炼后凝固时很容易形成粗大的Ni3Mo3C型的 M6C初生碳化物,硬度和脆性高于基体,尺寸约有几个微米。这种碳化物的溶解温度超过1300℃,采取常规的固溶热处理方式往往消除不了。在常规的轧制加工过程中这种初生碳化物会呈串状分布,方向与轧制方向平行,会导致串状碳化物附近的基体中产生高应变区。在进行GBE的形变及热处理过程中,串状碳化物通过影响再结晶形核和长大过程从而影响低ΣCSL晶界的形成及演化。因此需要在形变及热处理过程中减小初生碳化物的尺寸,并改变呈串状的分布特征,才能有效提高低ΣCSL晶界比例,成功实施GBE。现有科技文献中已有的GBE工艺技术,无法克服该种材料中初生碳化物呈串状分布对低ΣCSL晶界产生及演化过程带来的影响。
发明内容
为了解决目前Hastelloy N合金在提高低ΣCSL晶界比例上所面临的现有技术问题,本发明的目的在于克服已有技术存在的不足,提供一种提高Hastelloy N合金ΣCSL晶界比例的工艺方法,将Hastelloy N合金的低ΣCSL晶界比例提高到70%以上,使碳化物分布更为均匀,降低了碳化物对晶界演化的影响,缩短退火热处理时间,提高含有大量初生碳化物或者脆、硬夹杂物的低层错能面心立方金属材料的质量,并节省能耗,降低成本。
为达到上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种提高Hastelloy N合金ΣCSL晶界比例的工艺方法,包括以下步骤:
a.在室温下对Hastelloy N合金进行初次冷轧,控制变形量为30-70%;
b.在Hastelloy N合金完成所述步骤a初次冷轧变形后,对变形后的合金进行初次退火,在1020-1200℃的初次退火温度下保温5-60min,然后水淬将Hastelloy N合金快速冷却至室温;
c.在室温下对经过所述步骤b进行初次退火的合金进行再次冷轧变形,保证与初次冷轧方向垂直,控制变形量为30-70%,进行二次冷轧;
d.在合金完成所述步骤c的二次冷轧变形后,对变形后的合金进行二次退火,在1020-1200℃的退火温度下保温5-60min,然后水淬将合金快速冷却至室温;
e.在室温下,对经过所述步骤d二次退火的合金再次进行冷加工变形,采用冷轧、拉伸或者其它变形方式,控制变形量为3-15%,完成冷加工过程;
f.在合金完成所述步骤e的冷加工变形后,对变形后的合金进行再次进行退火,在1020-1200℃的退火温度下保温3-120min,然后水淬将合金快速冷却至室温,得到Σ≤29的低ΣCSL晶界比例不低于70%的合金。
优选地,反复至少一次进行a-d的步骤实施交叉轧制并进行中间退火,为步骤e和f做准备。
优选地,在所述步骤a中,在室温下对Hastelloy N合金进行初次冷轧,控制变形量为 40-70%。
优选地,在所述步骤b中,在Hastelloy N合金完成初次冷轧变形后,对变形后的合金进行初次退火,在1177-1200℃的初次退火温度下保温30-60min,然后水淬将HastelloyN合金快速冷却至室温。
优选地,在所述步骤c中,在室温下对经过进行初次退火的合金进行再次冷轧变形,保证与初次冷轧方向垂直,控制变形量为50-70%,进行二次冷轧。
优选地,在所述步骤d中,在合金完成二次冷轧变形后,对变形后的合金进行二次退火,在1100-1200℃的退火温度下保温30-60min,然后水淬将合金快速冷却至室温。
优选地,在所述步骤e中,对经过二次退火的合金再次进行冷加工变形,控制变形量为 5-15%,完成冷加工过程。
优选地,在所述步骤f中,在合金完成冷加工变形后,对变形后的合金进行再次进行退火,在1170-1200℃的退火温度下保温20-120min,然后水淬将合金快速冷却至室温,得到低ΣCSL晶界比例不低于70%的合金。
本发明主要针对Hastelloy N合金,确定形变及退火工艺,获得低ΣCSL(按照Palumbo-Aust 标准)晶界比例达到70%以上的材料。而经传统工艺加工的材料,其低ΣCSL晶界比例约为 20%-40%。
本发明GBE工艺方法可以实现在不改变合金成分的前提下大幅提高低ΣCSL晶界比例,降低初生串状碳化物对Hastelloy N合金中低ΣCSL晶界产生及演化的影响,达到提高与晶界相关性能的目的,如抗晶间腐蚀、抗Te致晶间脆性开裂性能等。
在所述步骤a中,所述合金包括但不仅限于Hastelloy N合金,主要为含有大量初生碳化物或者脆、硬夹杂物的低层错能的面心立方金属材料。
本发明与现有技术相比较,具有如下显而易见的突出实质性特点和显著优点:
1.本发明对合金进行30%-70%冷轧加工及1020℃-1200℃的退火,并更换方向轧制及再次退火,目的是为了破坏初生碳化物的串状分布,使碳化物分布更为细小而分散,得到相对细小且均匀分布的晶粒尺寸,去除合金中多余的形变储能;
2.本发明在室温下进行3%-15%的冷加工变形,保证变形量精准的在范围内,冷加工后进行1020℃-1200℃的退火;
3.本发明通过这样的工艺组合可以明显提高合金中Σ3n晶界(n=1,2,3)比例,从而提高 Hastelloy N合金材料的总体低ΣCSL晶界比例。
附图说明
图1是本发明实施例一工艺处理前(A)后(B)的Hastelloy N合金的低ΣCSL晶界比例图对比。
图2是本发明实施例一工艺处理前(a)后(b)的Hastelloy N合金的低ΣCSL晶界特征分布图对比。
图3是本发明实施例一在不同工艺处理后Hastelloy N合金的金相图。(a)为经过初次冷轧退火的样品金相图;(b)为经过两次交叉轧制退火的样品金相图;(c)为经过本工艺处理后的样品金相图。
图4是本发明实施例二工艺处理后的Hastelloy N合金的低ΣCSL晶界特征分布图。
图5是本发明实施例三工艺处理后的Hastelloy N合金的低ΣCSL晶界特征分布图。
具体实施方式
以下结合具体的实施例子对上述方案做进一步说明,本发明的优选实施例详述如下:
实施例一:
在本实施例中,一种提高Hastelloy N合金ΣCSL晶界比例的工艺方法,包括以下步骤:
a.在室温下对Hastelloy N合金进行初次冷轧,控制变形量为40%;
b.在Hastelloy N合金完成所述步骤a初次冷轧变形后,对变形后的合金进行初次退火,在1177℃的初次退火温度下保温30min,然后水淬将Hastelloy N合金快速冷却至室温;
c.在室温下对经过所述步骤b进行初次退火的合金进行再次冷轧变形,保证与初次冷轧方向垂直,控制变形量为50%,进行二次冷轧;
d.在合金完成所述步骤c的二次冷轧变形后,对变形后的合金进行二次退火,在1100℃的退火温度下保温30min,然后水淬将合金快速冷却至室温;
e.在室温下,对经过所述步骤d二次退火的合金再次进行冷加工变形,采用冷轧、拉伸或者其它变形方式,控制变形量为5%,完成冷加工过程;
f.在合金完成所述步骤e的冷加工变形后,对变形后的合金进行再次进行退火,在1170℃的退火温度下保温20min,然后水淬将合金快速冷却至室温,得到Σ≤29的低ΣCSL晶界比例达到70%以上的合金。
实验测试分析:
采用未经本实施例工艺实施处理的Hastelloy N合金作为样品A,经本实施例工艺处理后的Hastelloy N合金作为样品B。
采用EBSD(Electron Backscattering Diffraction,电子背散射衍射)方法测定样品A和样品B,低ΣCSL晶界都按Palumbo-Aust标准统计。经EBSD方法测定,样品A中的低ΣCSL 晶界比例为49.8%,样品B中的低ΣCSL晶界比例为75.7%,详见图1。图1为样品A和样品 B的低ΣCSL晶界比例图。本实施例针对Hastelloy N合金,确定形变及退火工艺,获得低ΣCSL 晶界比例为75.7%的材料,而未经本实施例工艺处理的材料,其低ΣCSL晶界比例为49.8%。
图2为经本实施例工艺处理前后Hastelloy N合金的晶界特征分布图。从图2(a)中可以看出,未经过本实施例工艺处理的样品,其晶界特征分布受到合金中碳化物影响,在碳化物周围产生较多细小的晶粒,在再结晶过程中影响晶界特征分布的演化过程,难以形成较大的晶粒团簇,进而降低了合金的特殊晶界比例。而经过本实施例工艺处理后的Hastelloy N合金样品,碳化物分布更为均匀,降低了碳化物对晶界演化的影响,大大提高了合金的特殊晶界比例,如图2(b)所示。
图3为经过不同工艺步骤处理后合金样品的金相图。图3(a)为经过本实施例初次冷轧退火后样品的金相图,合金内部有较多的初生碳化物,沿轧向呈串状分布。图3(b)为经过本实施例二次垂直轧制退火后样品的金相图,在二次垂直交叉轧制后,沿轧向分布的串状碳化物在一定程度上分散,较为均匀的分布在合金内部。图3(c)为经过本实施例工艺处理后样品的金相图,样品内部细小弥散的碳化物并未对晶界特征分布迁移、演化产生较大的影响。
本实施例工艺方法不仅不需改变材料的成分,而且与现有的同类工艺相比,不需长时间退火操作容易,具有十分明显的经济效益。
实施例二:
本实施例与实施例一基本相同,特别之处在于:
一种提高Hastelloy N合金ΣCSL晶界比例的工艺方法,包括以下步骤:
a.在室温下对Hastelloy N合金进行初次冷轧,控制变形量为70%;
b.在Hastelloy N合金完成所述步骤a初次冷轧变形后,对变形后的合金进行初次退火,在1200℃的初次退火温度下保温5min,然后水淬将Hastelloy N合金快速冷却至室温;
c.在室温下对经过所述步骤b进行初次退火的合金进行再次冷轧变形,保证与初次冷轧方向垂直,控制变形量为70%,进行二次冷轧;
d.在合金完成所述步骤c的二次冷轧变形后,对变形后的合金进行二次退火,在1200℃的退火温度下保温5min,然后水淬将合金快速冷却至室温;
e.在室温下,对经过所述步骤d二次退火的合金再次进行冷加工变形,采用冷轧、拉伸或者其它变形方式,控制变形量为15%,完成冷加工过程;
f.在合金完成所述步骤e的冷加工变形后,对变形后的合金进行再次进行退火,在1200℃的退火温度下保温3min,然后水淬将合金快速冷却至室温,得到Σ≤29的低ΣCSL晶界比例达到70%以上的合金。
实验测试分析:
采用经本实施例工艺实施处理的Hastelloy N合金作为样品C,本实施例采用EBSD(Electron Backscattering Diffraction,电子背散射衍射)方法测定样品,低ΣCSL晶界都按 Palumbo-Aust标准统计。经EBSD方法测定,样品中的低ΣCSL晶界比例为76.9%,如图4 所示。本实施例针对Hastelloy N合金,确定形变及退火工艺,获得Σ≤29的低ΣCSL晶界比例达到70%以上的合金材料,明显高于未经本实施例工艺处理的材料的低ΣCSL晶界比例,本实施例工艺方法不仅不需改变材料的成分,而且与现有的同类工艺相比,不需长时间退火操作容易,具有十分明显的经济效益。
实施例三:
本实施例与前述实施例基本相同,特别之处在于:
一种提高Hastelloy N合金ΣCSL晶界比例的工艺方法,包括以下步骤:
a.在室温下对Hastelloy N合金进行初次冷轧,控制变形量为30%;
b.在Hastelloy N合金完成所述步骤a初次冷轧变形后,对变形后的合金进行初次退火,在1020℃的初次退火温度下保温60min,然后水淬将Hastelloy N合金快速冷却至室温;
c.在室温下对经过所述步骤b进行初次退火的合金进行再次冷轧变形,保证与初次冷轧方向垂直,控制变形量为30%,进行二次冷轧;
d.在合金完成所述步骤c的二次冷轧变形后,对变形后的合金进行二次退火,在1020℃的退火温度下保温60min,然后水淬将合金快速冷却至室温;
e.在室温下,对经过所述步骤d二次退火的合金再次进行冷加工变形,采用冷轧、拉伸或者其它变形方式,控制变形量为3%,完成冷加工过程;
f.在合金完成所述步骤e的冷加工变形后,对变形后的合金进行再次进行退火,在1020℃的退火温度下保温120min,然后水淬将合金快速冷却至室温,得到Σ≤29的低ΣCSL晶界比例达到70%以上的合金。
实验测试分析:
采用经本实施例工艺实施处理的Hastelloy N合金作为样品D,本实施例采用EBSD(Electron Backscattering Diffraction,电子背散射衍射)方法测定样品,低ΣCSL晶界都按 Palumbo-Aust标准统计。经EBSD方法测定,样品中的低ΣCSL晶界比例为70.6%,如图5 所示。本实施例针对Hastelloy N合金,确定形变及退火工艺,获得Σ≤29的低ΣCSL晶界比例达到70%以上的合金材料,明显高于未经本实施例工艺处理的材料的低ΣCSL晶界比例,本实施例工艺方法不仅不需改变材料的成分,而且与现有的同类工艺相比,不需长时间退火操作容易,具有十分明显的经济效益。
上面结合附图对本发明实施例进行了说明,但本发明不限于上述实施例,还可以根据本发明的发明创造的目的做出多种变化,凡依据本发明技术方案的精神实质和原理下做的改变、修饰、替代、组合或简化,均应为等效的置换方式,只要符合本发明的发明目的,只要不背离本发明的技术原理和发明构思,都属于本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种提高Hastelloy N合金ΣCSL晶界比例的工艺方法,其特征在于,包括以下步骤:
a.在室温下对Hastelloy N合金进行初次冷轧,控制变形量为30-70%;
b.在Hastelloy N合金完成所述步骤a初次冷轧变形后,对变形后的合金进行初次退火,在1020-1200℃的初次退火温度下保温5-60min,然后水淬将Hastelloy N合金快速冷却至室温;
c.在室温下对经过所述步骤b进行初次退火的合金进行再次冷轧变形,保证与初次冷轧方向垂直,控制变形量为30-70%,进行二次冷轧;
d.在合金完成所述步骤c的二次冷轧变形后,对变形后的合金进行二次退火,在1020-1200℃的退火温度下保温5-60min,然后水淬将合金快速冷却至室温;
e.在室温下,对经过所述步骤d二次退火的合金再次进行冷加工变形,采用冷轧、拉伸或者其它变形方式,控制变形量为3-15%,完成冷加工过程;
f.在合金完成所述步骤e的冷加工变形后,对变形后的合金进行再次进行退火,在1020-1200℃的退火温度下保温3-120min,然后水淬将合金快速冷却至室温,得到Σ≤29的低ΣCSL晶界比例不低于70%的合金。
2.根据权利要求1所述提高合金低ΣCSL晶界比例的GBE工艺方法,其特征在于:反复至少一次进行a-d的步骤实施交叉轧制并进行中间退火,为步骤e和f做准备。
3.根据权利要求1或2所述提高合金的低ΣCSL晶界比例的GBE工艺方法,其特征在于:在所述步骤a中,在室温下对Hastelloy N合金进行初次冷轧,控制变形量为40-70%。
4.根据权利要求1或2所述提高合金的低ΣCSL晶界比例的GBE工艺方法,其特征在于:在所述步骤b中,在Hastelloy N合金完成初次冷轧变形后,对变形后的合金进行初次退火,在1177-1200℃的初次退火温度下保温30-60min,然后水淬将Hastelloy N合金快速冷却至室温。
5.根据权利要求1或2所述提高合金的低ΣCSL晶界比例的GBE工艺方法,其特征在于:在所述步骤c中,在室温下对经过进行初次退火的合金进行再次冷轧变形,保证与初次冷轧方向垂直,控制变形量为50-70%,进行二次冷轧。
6.根据权利要求1或2所述提高合金的低ΣCSL晶界比例的GBE工艺方法,其特征在于:在所述步骤d中,在合金完成二次冷轧变形后,对变形后的合金进行二次退火,在1100-1200℃的退火温度下保温30-60min,然后水淬将合金快速冷却至室温。
7.根据权利要求1或2所述提高合金的低ΣCSL晶界比例的GBE工艺方法,其特征在于:在所述步骤e中,对经过二次退火的合金再次进行冷加工变形,控制变形量为5-15%,完成冷加工过程。
8.根据权利要求1或2所述提高合金的低ΣCSL晶界比例的GBE工艺方法,其特征在于:在所述步骤f中,在合金完成冷加工变形后,对变形后的合金进行再次进行退火,在1170-1200℃的退火温度下保温20-120min,然后水淬将合金快速冷却至室温,得到低ΣCSL晶界比例不低于70%的合金。
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