CN113643658A - 显示面板的调试方法、显示设备及存储介质 - Google Patents

显示面板的调试方法、显示设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本申请适用于显示技术领域，提供了一种显示面板的调试方法、显示设备及存储介质。上述方法可以通过显示预设检测画面检测显示面板是否出现余晖现象，若显示面板出现余晖现象可以定位出现余晖现象的所有区域，并可以确定有概率导致显示面板出现余晖现象的目标扫描线，通过缩短目标扫描线的打开时长，可以减少目标扫描线出现寄生电容的概率，或者可以减少目标扫描线生成的寄生电容中存储的电荷量，还可以增加寄生电容进行电荷释放的时间，从而缓解或消除余晖现象，提升显示效果。

Description

显示面板的调试方法、显示设备及存储介质
技术领域
本申请属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的调试方法、显示设备及存储介质。
背景技术
随着显示技术的快速发展，显示面板在娱乐、教育、安防等各种领域得到广泛应用，用户对显示面板的显示效果要求也逐渐提高。
目前的显示面板在一条扫描线从输出高电平信号切换至输出低电平信号时，上述一条扫描线容易残留有电压并生成寄生电容，导致其他扫描线上连接的关断的发光二极管，有概率在寄生电容的耦合作用下导通并发光，使得显示面板上应保持黑暗的区域出现余晖现象，影响显示效果。
发明内容
有鉴于此，本申请实施例提供了显示面板的调试方法、显示设备及存储介质，以解决现有的发光二极管有概率在寄生电容的耦合作用下导通并发光，使得显示面板上应保持黑暗的区域出现余晖现象，影响显示效果的问题。
本申请实施例的第一方面提供了一种显示面板的调试方法，包括：
根据预设检测画面信号，驱动所述显示面板显示预设检测画面；
检测所述显示面板是否出现余晖现象；
若所述显示面板出现余晖现象，定位所述显示面板中出现余晖现象的所有区域，每个所述区域包括至少一行像素；
确定与每个所述区域对应的至少一条目标扫描线，每条所述目标扫描线用于驱动行序号小于对应区域的所有行像素的最小行序号的一行目标像素；
缩短每条所述目标扫描线的打开时长。
本申请实施例的第二方面提供了一种显示设备，包括显示面板、存储器、处理器、存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序；
所述存储器、所述处理器和所述显示面板依次连接，所述处理器执行所述计算机程序时实现本申请实施例的第一方面提供的显示面板的调试方法的步骤。
本申请实施例的第三方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现本申请实施例第一方面提供的显示面板的调试方法的步骤。
本申请实施例的第一方面提供一种显示面板的调试方法，通过显示预设检测画面检测显示面板是否出现余晖现象，若显示面板出现余晖现象可以定位出现余晖现象的所有区域，并可以确定有概率导致显示面板出现余晖现象的目标扫描线，通过缩短目标扫描线的打开时长，可以减少目标扫描线出现寄生电容的概率，或者可以减少目标扫描线生成的寄生电容中存储的电荷量，还可以增加寄生电容进行电荷释放的时间，从而缓解或消除余晖现象，提升显示效果。
可以理解的是，上述第二方面和第三方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例一提供的显示设备的结构示意图；
图2是本申请实施例一提供的显示面板的结构示意图；
图3是本申请实施例一提供的显示面板出现余晖现象时的结构示意图；
图4是本申请实施例二提供的显示面板的调试方法的流程示意图；
图5是本申请实施例二提供的显示面板出现余晖现象时数据线和扫描线的时序示意图；
图6是本申请实施例二提供的缩短一条目标扫描线的打开时长时数据线和扫描线的时序示意图；
图7是本申请实施例三提供的显示面板的调试方法的流程示意图。
附图标号：
显示设备：1；显示面板：11；存储器12；处理器：13；计算机程序14；驱动电路15；扫描线驱动电路：154；数据线驱动电路：155；扫描线：151、310、320、330；数据线：152、410、420、430；发光元件：153、411、412、413；寄生电容：311。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
实施例一
如图1所示，本申请实施例一提供的显示设备1的结构示意图，显示设备1包括显示面板11、存储器12、处理器13、存储在存储器12中并可在处理器13上运行的计算机程序14；
存储器12、处理器13和显示面板11依次连接，处理器13执行计算机程序14时实现下述图4和图7对应的显示面板的调试方法的步骤。
在应用中，显示设备可包括，但不仅限于，处理器、存储器、存储在存储器中可在处理器上运行的计算机程序以及显示面板。本领域技术人员可以理解，图1仅仅是显示设备的举例，并不构成对显示设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如还可以包括输入输出设备、网络接入设备等。
在应用中，处理器可以是时序控制器（Timer Control Register，TCON）或片上芯片（System on Chip，SOC），也可以是中央处理单元（Central Processing Unit，CPU），该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器（Digital Signal Processor，DSP）、专用集成电路（Application Specific Integrated Circuit，ASIC）、现成可编程门阵列（Field-Programmable Gate Array，FPGA）或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
在应用中，存储器在一些实施例中可以是显示设备的内部存储单元，例如显示设备的硬盘或内存。存储器在另一些实施例中也可以是显示设备的外部存储设备，例如显示设备上配备的插接式硬盘，智能存储卡（Smarm Medna Card，SMC），安全数字（SecureDngnmal，SD）卡，闪存卡（Flash Card）等。进一步地，存储器还可以既包括显示设备的内部存储单元也包括外部存储设备。存储器用于存储操作系统、应用程序、引导装载程序（BoomLoader）、数据以及其他程序等，例如计算机程序的程序代码等。存储器还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
需要说明的是，上述装置/模块之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本申请方法实施例基于同一构思，其具体功能及带来的技术效果，具体可参见方法实施例部分，此处不再赘述。
如图2所示，基于图1所对应的实施例一，显示面板11包括驱动电路15，驱动电路15包括n条扫描线151、m条数据线152及n*m个发光元件153，一个发光元件153的阳极与一条扫描线151连接，一个发光元件153的阴极与一条数据线152连接，每条扫描线151与m个发光元件153的阳极连接，每条数据线152与n个发光元件153的阴极连接。
在一个实施例中，驱动电路15还包括扫描线驱动电路154和数据线驱动电路155，扫描线驱动电路154用于控制每一条扫描线输出高电平信号或低电平信号，数据线驱动电路155用于控制每一条数据线输出驱动信号或停止输出驱动信号，在一个发光元件153的阳极接收高电平信号，阴极接收驱动信号，且发光元件153的阳极和阴极之间的电压差大于发光元件153的预设导通电压时，发光元件153导通并发亮，其中，发光元件153的预设导通电压根据发光元件的选型和物理特性确定。
如图3所示，本申请实施例一提供的显示面板出现上余晖现象时的结构示意图，具体的，显示面板11的驱动电路15的任意一条扫描线（下面以扫描线310为例）从输出高电平信号切换至低电平信号时，扫描线310上容易残留有电压并生成寄生电容311，在寄生电容311中存储的电荷未得到释放前，如果行序号大于扫描线310的扫描线（下面以扫描线320和扫描线330为例）输出高电平信号时，则寄生电容311中存储的电荷可以经过扫描线310连接的任意一个发光元件（下面以发光元件411为例）以及对应的数据线410，泄放至发光元件412和发光元件413（电荷的泄放流向如图3虚线所示），若泄放过程中数据线410未输出驱动信号，则三个发光元件411、412及413原本应保持关断，而泄放过程中三个发光元件411、412及413被误导通并发光，使得显示面板上应保持黑暗的对应区域出现余晖现象，影响显示效果。
需要说明的是，图3所示的余晖现象的场景示意图仅是示例性的，根据数据线和扫描线的工作情况，误导通的发光元件可以位于任意一条扫描线上或任意一条数据线上。
在应用中，显示面板可以是基于LED（Light-Emitting Diode，发光二极管）技术的发光二极管显示面板、基于OLED（Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管）技术的有机电激光显示面板、或基于QLED（Quantum Dot Light Emitting Diodes，量子点发光二极管）技术的量子点发光二极管显示面板或曲面显示面板等，发光元件的类型根据显示面板的类型确定，例如，在显示面板为发光二极管显示面板时，发光元件为发光二极管或发光二极管芯片；在显示面板为有机电激光显示面板时，发光元件为有机发光二极管或有机发光二极管芯片；在显示面板为量子点发光二极管显示面板时，发光元件为量子点发光二极管或量子点发光二极管芯片。
在应用中，基于LED、OLED或QLED技术的显示面板，每一个发光元件可以作为显示面板的一个像素（Pixel），并根据点亮时的颜色不同，每一个发光元件可以是红色像素、绿色像素或蓝色像素，以构成RGB色彩模式（Red-Green-Blue Color Mode）。
实施例二
本申请实施例二基于实施例一中的显示面板及其驱动电路的结构实现的显示面板的调试方法，可以通过显示预设检测画面检测显示面板是否出现余晖现象，若显示面板出现余晖现象可以定位出现余晖现象的所有区域，并可以确定有概率导致显示面板出现余晖现象的目标扫描线，通过缩短目标扫描线的打开时长，可以减少目标扫描线出现寄生电容的概率，或者可以减少目标扫描线生成的寄生电容中存储的电荷量，还可以增加寄生电容进行电荷释放的时间，从而缓解或消除余晖现象，提升显示效果。
如图4所示，本申请实施例二提供的显示面板的调试方法，应用于显示面板的驱动电路，包括如下步骤S401至步骤S405：
步骤S401、根据预设检测画面信号，驱动显示面板显示预设检测画面。
在应用中，本申请实施例提供的显示面板的调试方法用于在显示面板出厂前对一台或多台待测显示设备进行调试，待测显示设备的存储器可以预存储有预设检测画面，预设检测画面可以是基于一份微软视频格式（例如wmv、asf或asx）、Real Player格式（例如rm或rmvb）、MPEG格式（例如mp4）、Apple格式（例如mov或m4v）等不同格式的视频文件，预设检测画面在显示面板显示时需要满足使显示面板的每一个像素点亮一次，以提高检测显示面板是否具有余晖现象的准确性。
在应用中，预设检测画面还可以用于控制每一行像素逐行点亮，具体的，在任意一行像素点亮并熄灭时，下一行像素在预设间隔时间后点亮，以此循环，从而可以检测每一条扫描线从输出高电平信号切换至输出低电平信号时，是否容易残留有电压并生成寄生电容。其中，每一行像素的点亮时长和预设间隔时间可以根据实际测试需要进行设置。
在一个实施例中，步骤S401之前包括：
建立显示面板的显示区域与每一条扫描线之间的映射关系。
在应用中，显示面板的显示区域由n条扫描线连接的n*m个发光元件构成，可以将显示面板的显示区域按照n条扫描线连接的n行像素的排布划分为n个区域，每个区域包括对应的一条扫描线及上述对应的一条扫描线连接的m个像素，从而建立显示面板的显示区域与每一条扫描线之间的映射关系。在得到映射关系后，可以基于显示面板的显示内容的所在区域，确定用于显示上述显示面板的显示内容的扫描线的行序号。需要说明的是，显示面板的显示区域可以根据实际需要进行划分，本申请实施例对每个显示面板的显示区域包括的扫描线条数不作任何限制。
步骤S402、检测显示面板是否出现余晖现象。
在应用中，可以通过摄像设备捕捉显示面板显示的每一帧预设检测画面，并观察每一帧预设检测画面是否出现余晖现象；也可以通过处理器检测与每一帧预设检测画面对应的发光元件实际状态，并与发光元件预测状态进行比较，若发光元件实际状态和发光元件预测状态不一致，则判断显示面板出现余晖现象，若发光元件实际状态和发光元件预测状态一致，则判断显示面板未出现余晖现象。
具体的，发光元件的状态可以包括导通和关断，发光元件预测状态可以通过检测数据线和扫描线的工作情况确定，具体的，在第i条数据线输出驱动信号，且第u条扫描线输出高电平信号时，可以得到第i列第u行的发光元件的预测状态为导通，否则得到第i列第u行的发光元件的预测状态为关断，其中，i∈[1,2,…,m]，u∈[1,2,…,n]；发光元件实际状态可以通过检测每一个发光元件的阳极和阴极之间的电压差确定，在发光元件的阳极和阴极之间的电压差大于预设导通电压时，则发光元件实际状态为导通，在发光元件的阳极和阴极之间的电压差小于预设导通电压时，则发光元件实际状态为关断。
在一个实施例中，步骤S402包括：
通过影像测量仪（Image Measuring Instrument）检测显示面板是否出现余晖现象。
在应用中，影像测量仪可以包括摄像设备和图像分析模块，在显示面板显示预设检测画面时，影像测量仪可以通过摄像设备捕捉显示面板显示的每一帧的预设检测画面，并通过图像分析模块对每一帧的预设检测画面进行分析，检测显示面板是否出现余晖现象，通过影像测量仪检测显示面板是否出现余晖现象，可以大幅提高检测的准确性。
其中，图像分析模块具体可以采用基于卷积神经网络（Convolutional NeuralNetworks,CNN）、区域建议网络（Region Proposal Network，RPN）或目标检测算法（Deformable Parts Models，DPM）等搭建的图像分析算法（Image Analysis Algorithm）对每一帧的预设检测画面进行分析。
步骤S403、若显示面板出现余晖现象，定位显示面板中出现余晖现象的所有区域，每个区域包括至少一行像素。
在应用中，若显示面板在显示预设检测画面时出现余晖现象，可以基于显示面板的显示区域，定位并通过存储器记录出现余晖现象的所有区域。由于预设检测画面通过一个或多个像素显示，容易得到每个区域包括至少一行像素中的至少一个像素。
步骤S404、确定与每个区域对应的至少一条目标扫描线，目标扫描线用于驱动行序号小于对应区域的所有行像素的最小行序号的一行目标像素。
在应用中，可以通过每个区域在显示面板的显示区域中的位置，确定与每个区域对应的至少一条目标扫描线。具体的，可以根据一个区域在显示面板的显示区域中的位置，确定上述一个区域包括的至少一行像素在显示面板的显示区域中的位置，从而可以确定与上述至少一行像素连接的至少一条扫描线在显示面板的显示区域中的位置，进而可以确定至少一条目标扫描线的行序号，其中，目标扫描线的行序号小于上述至少一行扫描线的最小行序号，即目标扫描线用于驱动行序号小于对应区域的所有行像素的最小行序号的一行目标像素。
在一个实施例中，步骤S404包括：
根据每个区域和映射关系，确定与每个区域对应的至少一条目标扫描线。
在应用中，将每个区域代入映射关系，可以快速得到与每个区域对应的至少一条目标扫描线。例如，假设n大于5，显示面板划分后的每个显示区域包括1条扫描线，每个显示区域包括的扫描线行序号互不相同，在显示面板中出现余晖现象的区域包括第1个、第3个及第5个区域时，将第1个、第3个及第5个区域代入映射关系，容易得到目标扫描线包括第1条、第3条及第5条扫描线。
步骤S405、缩短每条目标扫描线的打开时长。
在应用中，目标扫描线的状态可以包括打开和关闭，在目标扫描线输出高电平信号时的状态为打开，输出低电平信号时的状态为关闭。通过缩短每条目标扫描线的打开时长，可以减少目标扫描线出现寄生电容的概率，或者可以减少目标扫描线生成的寄生电容中存储的电荷值，还可以增加寄生电容进行电荷释放的时间，从而缓解或消除余晖现象。其中，电荷释放是指寄生电容将存储的电荷释放至空气或释放至接地端；电荷泄放是指寄生电容将存储的电荷释放至驱动电路的电子元件或数据线中，有概率导致显示面板出现余晖现象。
需要说明的是，在缩短每条目标扫描线的打开时长后，任意一条目标扫描线的打开时长需要大于或等于上述任意一条目标扫描线连接的m个发光元件的最长显示时间，以保证目标扫描线连接的m个发光元件可以正常显示。其中，任意一条目标扫描线连接的m个发光元件的最长显示时间根据m条数据线输出的驱动信号的时长确定，m个发光元件的最长显示时间可以等于m条数据线输出的驱动信号的最长时长。
基于实施例一的图3所示的结构示意图，图5示例性的示出了显示面板出现余晖现象时数据线和扫描线的时序示意图，具体的，扫描线310在T1时间段打开，扫描线320在T3时间段打开，在扫描线310关闭后和扫描线320打开前具有预设时间间隔T2，扫描线310在T1时间段输出高电平信号时生成寄生电容，并在T1时间段内持续为寄生电容进行充电，若寄生电容在预设时间间隔T2内未完成电荷释放，则在进入T3时间段数据线320打开时，寄生电容中存储的电荷可以通过扫描线310连接的任意一个发光元件以及发光元件对应的数据线进行泄放，导致显示面板出现余晖现象。
基于实施例一的图3所示的结构示意图，图6示例性的示出了缩短一条目标扫描线（以扫描线310为例）的打开时长时数据线和扫描线的时序示意图，具体的，将扫描线310在T1时间段打开调整为在t01时间段打开，在t12时间段关闭，从而缩短扫描线310的打开时间，并使扫描线310在t01时间段生成的寄生电容可以在t12时间段及T2时间段进行电荷释放，增加扫描线310上的寄生电容进行电荷释放的时间，从而缓解或消除余晖现象。其中，假设m条数据线的输出的驱动信号的最长时长为t01，则在缩短扫描线310的打开时长时，扫描线310的打开时长需要大于或等于t01，以保证扫描线310连接的m个发光元件可以正常显示；T1=t01+t12。
在一个实施例中，步骤S405包括：
将每条目标扫描线的打开时长缩短至对应的预设时长。
在应用中，可以为每条扫描线设置对应的预设时长，并建立预设时长对应表，当任意一条或任意多条扫描线被确定为目标扫描线时，可以通过检索预设时长对应表获取每条目标扫描线对应的预设时长，从而根据预设时长对快速完成缩短每条目标扫描线的打开时长，提高调试效率。其中，预设时长可以是对应的目标扫描线连接的m个发光元件的最长显示时间；预设时长也可以根据实际调试需要进行设置，本申请实施例对预设时长的具体时间长度不作任何限制。
本申请实施例二提供的显示面板的调试方法，在显示面板出厂前可以通过显示预设检测画面检测显示面板是否出现余晖现象，若显示面板出现余晖现象可以定位出现余晖现象的所有区域，并可以确定有概率导致显示面板出现余晖现象的目标扫描线，通过缩短目标扫描线的打开时长，可以减少目标扫描线出现寄生电容的概率，或者可以减少目标扫描线生成的寄生电容中存储的电荷量，还可以增加寄生电容进行电荷释放的时间，从而缓解或消除余晖现象，提升显示效果。
实施例三
如图7所示，本申请提供的实施例三，基于图4所对应的实施例二，包括如下步骤S701至步骤S707：
步骤S701、根据预设检测画面信号，驱动显示面板显示预设检测画面；
步骤S702、检测显示面板是否出现余晖现象；
步骤S703、若显示面板未出现余晖现象，停止调试显示面板；
步骤S704、若显示面板出现余晖现象，定位显示面板中出现余晖现象的所有区域，每个区域包括至少一行像素；
步骤S705、确定与每个区域对应的至少一条目标扫描线，每条目标扫描线用于驱动行序号小于对应区域的所有行像素的最小行序号的一行目标像素；
步骤S706、逐行缩短与每个区域对应的多条目标扫描线的打开时长；
步骤S707、在缩短任意一条目标扫描线的打开时长之后，返回执行检测显示面板是否出现余晖现象的步骤，进入步骤S702。
在应用中，实施例三和上述实施例二的区别在于，步骤S402（S702）之后还包括步骤S703，步骤S405包括步骤S706，步骤S706之后还包括步骤S707。下面对步骤S703、步骤S706及步骤S707进行说明。
在应用中，关于步骤S703，若显示面板显示的每一帧预设检测画面都未出现余晖现象，则判定显示面板正常工作，停止调试显示面板，退出循环。
在应用中，关于步骤S706和步骤S707，可以逐行缩短与每个区域对应的多条目标扫描线的打开时长，并在缩短任意一条目标扫描线的打开时长之后，返回执行检测显示面板是否出现余晖现象的步骤，可以对每一条目标扫描线是否导致余晖现象进行检测，从而可以准确确定导致余晖现象的目标扫描线的行序号，并可以根据实际需要对该目标扫描线进行针对性调试，提高调试的针对性和准确性。
在一个实施例中，步骤S706包括：
根据行序号的倒序逐行缩短与每个区域对应的多条目标扫描线的打开时长。
在应用中，寄生电容存储的电荷在泄放时，每流经一个发光元件有概率误导通并使其点亮，则越接近出现余晖现象的区域的目标扫描线，导致余晖现象的概率越大，需要说明的是，目标扫描线的行序号越大，目标扫描线距离出现余晖现象的区域越近，因此根据行序号的倒序逐行缩短与每个区域对应的多条目标扫描线的打开时长，可以提高发现导致余晖现象的目标扫描线的概率，从而提高调试效率。
本申请实施例三提供的显示面板的调试方法，通过在缩短任意一条目标扫描线的打开时长之后，检测显示面板是否出现余晖现象，可以准确定位导致余晖现象的目标扫描线，从而提高调试的准确性。
应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现可实现上述各个显示面板的调试方法实施例中的步骤。
所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质至少可以包括：能够将计算机程序代码携带到拍照终端设备的任何实体或装置、记录介质、计算机存储器、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random AccessMemory）、电载波信号、电信信号以及软件分发介质。例如U盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的模块及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种显示面板的调试方法，其特征在于，所述方法包括：
根据预设检测画面信号，驱动所述显示面板显示预设检测画面；
检测所述显示面板是否出现余晖现象；
若所述显示面板出现余晖现象，定位所述显示面板中出现余晖现象的所有区域，每个所述区域包括至少一行像素；
确定与每个所述区域对应的至少一条目标扫描线，每条所述目标扫描线用于驱动行序号小于对应区域的所有行像素的最小行序号的一行目标像素；
缩短每条所述目标扫描线的打开时长。
2.如权利要求1所述的调试方法，其特征在于，所述检测所述显示面板是否出现余晖现象，包括：
通过影像测量仪检测所述显示面板是否出现余晖现象。
3.如权利要求1所述的调试方法，其特征在于，所述根据预设检测画面信号，驱动所述显示面板显示预设检测画面之前，包括：
建立所述显示面板的显示区域与每一条扫描线之间的映射关系。
4.如权利要求3所述的调试方法，其特征在于，所述确定与每个所述区域对应的至少一条目标扫描线，包括：
根据每个所述区域和所述映射关系，确定与每个所述区域对应的至少一条目标扫描线。
5.如权利要求1所述的调试方法，其特征在于，所述每条所述目标扫描线的打开时长，包括：
逐行缩短与每个所述区域对应的多条目标扫描线的打开时长。
6.如权利要求5所述的调试方法，其特征在于，所述方法还包括：
在缩短任意一条所述目标扫描线的打开时长之后，返回执行检测所述显示面板是否出现余晖现象的步骤；
若所述显示面板未出现余晖现象，停止调试所述显示面板。
7.如权利要求1至6任一项所述的调试方法，其特征在于，所述缩短每条所述目标扫描线的打开时长，包括：
将每条所述目标扫描线的打开时长缩短至对应的预设时长。
8.一种显示设备，其特征在于，所述显示设备包括显示面板、存储器、处理器、存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序；
所述存储器、所述处理器和所述显示面板依次连接，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的显示面板的调试方法的步骤。
9.如权利要求8所述的显示设备，其特征在于，所述显示面板包括驱动电路，所述驱动电路包括n条扫描线、m条数据线及n*m个发光元件，一个发光元件的阳极与一条扫描线连接，所述一个发光元件的阴极与一条数据线连接，每条扫描线与m个发光元件的阳极连接，每条数据线与n个发光元件的阴极连接。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述显示面板的调试方法的步骤。
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