CN113616089A - 烤箱温度的精度控制方法及烤箱 - Google Patents

Abstract

本发明涉及烤箱温度的精度控制方法及使用该精度控制方法的烤箱。该精度控制方法包括：在烤箱内设置多个彼此间隔的温度采集点；在第一预设时间段内以预设时间间隔采集每个所述温度采集点的运行温度；计算采集到的所有所述运行温度的平均值以确定所述烤箱的平均运行温度；将所述平均运行温度与设定温度进行比较；基于比较结果调整所述烤箱的电热元件的占空比。通过使用上述的精度控制方法，本发明烤箱可以显著提高温度的精度，使烤箱的实际温度与设定温度相匹配，提高用户的使用体验。

Description

烤箱温度的精度控制方法及烤箱

技术领域

本发明涉及厨房家电领域，具体涉及一种烤箱温度的精度控制方法及烤箱。

背景技术

随着人们生活水平的提高，烤箱已经成为目前最常见的厨房家用电器之一。烤箱通常包括箱体、箱门、电热元件、控温与定时装置等部件，其工作原理是利用电热元件将电能转化为热能，再通过热传递的方式加工食物。烤箱可以由外及内地加热食物，使食物均匀受热，保持食物的水分和原有的营养成分，因此受到越来越多用户的青睐。

当用户使用烤箱烘烤食物时，可以根据烤制不同食物的需要，通过布置在烤箱上的温度控制开关(例如旋钮式、触摸屏式等)设置不同的设定温度。一旦设定温度确定后，烤箱会根据预设的运行程序自动控制电热元件的工作状态。为了使烤箱内部温度更加均匀，防止局部温度升高过快，一般会在烤箱内设置继电器以控制电热元件间歇性地开启和关闭(例如开启50s，关闭10s)。为了描述电热元件的实际工作状态，通常采用“占空比”这一参数进行表征。占空比是指在预定时长内电热元件的运行时长占该预定时长的比值。例如，在1min内电热元件的运行时长为30s，则占空比为50％。当电热元件间歇性开启后，烤箱的内部温度会逐渐升高。设置在烤箱内的温度检测装置(例如温度传感器等)会实时检测烤箱的内部温度，并将温度信号传输给烤箱的控制器(例如单片机或微处理器等)。控制器通过预设的判断程序，发出驱动信号来控制继电器的通断，进而控制电热元件的启停，使得烤箱的内部温度稳定在靠近设定温度的范围内。

但是，由于烤箱内部温度分布通常是不均匀的，烤箱内部不同位置之间的温差可能较大(例如相差10℃)。另外，出于成本控制等原因，现有烤箱一般仅设置1-2个温度检测装置，导致通过少量温度检测装置测得的局部温度无法准确表征烤箱内的实际温度。因此，现有技术中的烤箱内的实际温度与检测所得温度之间、实际温度与设定温度之间都可能存在较大差异，烤箱的温度精度较差。

相应地，本领域需要一种新的技术方案来解决上述问题。

发明内容

为了解决现有技术中的上述问题，即为了解决现有技术中烤箱温度的精度较差的技术问题，本发明提供一种烤箱温度的精度控制方法。该精度控制方法包括：

在烤箱内设置多个彼此间隔的温度采集点；

在第一预设时间段内以预设时间间隔采集每个所述温度采集点的运行温度；

计算采集到的所有所述运行温度的平均值以确定所述烤箱的平均运行温度；

将所述平均运行温度与设定温度进行比较；

基于比较结果调整所述烤箱的电热元件的占空比。

在本发明的烤箱温度的精度控制方法中，首先在烤箱内设置多个彼此间隔的温度采集点，在第一预设时间段内以预设时间间隔采集每个温度采集点的运行温度，再计算采集到的所有运行温度的平均值，以确定烤箱的平均运行温度。可以理解的是，通过在烤箱内设置多个彼此间隔的温度采集点，可以更加精准地检测烤箱内部不同位置的温度。另外，在第一预设时间段内以预设时间间隔采集每个温度采集点的运行温度，可以全面地检测烤箱在一个时间段内的温度，而不仅仅是某一特定时刻的温度，能够进一步提高检测的精度。通过计算采集到的所有运行温度的平均值，以确定烤箱的平均运行温度，可以使获得的平均运行温度更加符合实际。接着，将确定的平均运行温度与设定温度进行比较，基于平均运行温度与设定温度的比较结果调整烤箱的电热元件(例如加热管等)的占空比。通过将确定的平均运行温度与设定温度进行比较，可以方便地判断出烤箱的实际温度与设定温度之间的差异。基于平均运行温度与设定温度的比较结果调整烤箱的电热元件的占空比，可以使烤箱电热元件的工作效率更加符合实际需要，使烤箱的实际温度与设定温度相匹配，从而显著提高烤箱温度的精度。

在上述的烤箱温度的精度控制方法的优选技术方案中，所述精度控制方法还包括：

根据采集到的所有所述运行温度确定所述烤箱的最高运行温度和最低运行温度；

将所述最高运行温度与所述最低运行温度的差值与设定温度差值进行比较；

基于所述差值与所述设定温度差值的比较结果，调整所述烤箱的风扇的转速。根据采集到的所有运行温度可以方便地确定烤箱的最高运行温度和最低运行温度。通过将最高运行温度与最低运行温度的差值与设定温度差值进行比较，可以直观地判断烤箱内部温度的均匀性。基于差值与设定温度差值的比较结果，调整烤箱的风扇的转速，可以提高烤箱内部温度的均匀性。

在上述的烤箱温度的精度控制方法的优选技术方案中，所述基于差值与所述设定温度差值的比较结果调整所述烤箱的风扇的转速的步骤包括：

获取所述风扇在所述第一预设时间段内的运行转速；

当所述差值小于等于所述设定温度差值时，保持所述运行转速不变。当差值小于等于设定温度差值时，说明烤箱内部温度的均匀性较好，因此控制风扇保持当前的运行转速即可。

在上述的烤箱温度的精度控制方法的优选技术方案中，当所述差值大于所述设定温度差值时，将所述运行转速增加预设转速值。当差值大于设定温度差值时，说明烤箱内部温度存在较大差异，因此将运行转速增加预设转速值，以提高烤箱内部气流的流速，进而增强温度分布的均匀性。

在上述的烤箱温度的精度控制方法的优选技术方案中，在烤箱内设置多个彼此间隔的温度采集点的步骤包括：

按照三行三列的方式均匀地布置九个所述温度采集点；并且

在每个温度采集点设置一个温度采集装置。按照三行三列的方式均匀地布置九个温度采集点，并且在每个温度采集点上设置一个温度采集装置，可以方便且精准地获取烤箱内部的实际温度。

在上述的烤箱温度的精度控制方法的优选技术方案中，所述基于比较结果调整所述烤箱的电热元件的占空比的步骤包括：

获取所述电热元件的占空比；

当所述平均运行温度大于等于所述设定温度与第一预设偏差的差值且小于等于所述设定温度与所述第一预设偏差的和值时，保持所述占空比不变。当平均运行温度大于等于设定温度与第一预设偏差的差值且小于等于设定温度与第一预设偏差的和值时，说明此时烤箱的实际温度与设定温度之间偏差比较小，符合精度要求，因此保持电热元件的占空比即可。

在上述的烤箱温度的精度控制方法的优选技术方案中，当所述平均运行温度小于所述设定温度与所述第一预设偏差的差值时，将所述占空比增加第一预设占空比值。当平均运行温度小于设定温度与第一预设偏差的差值时，说明电热元件以原有占空比运行后烤箱的实际温度过低，电热元件的占空比不能满足实际需要，因此在原有占空比的基础上增加第一预设占空比值，从而提高烤箱内部的实际温度使其满足精度控制要求。

在上述的烤箱温度的精度控制方法的优选技术方案中，当所述平均运行温度大于所述设定温度与所述第一预设偏差的和值时，将所述占空比减小第二预设占空比值。当平均运行温度大于设定温度与第一预设偏差的和值时，说明电热元件以原有占空比运行后烤箱的实际温度过高，因此在原有占空比的基础上减小第二预设占空比值，从而降低烤箱内部的实际温度使其满足精度控制要求。

在上述的烤箱温度的精度控制方法的优选技术方案中，在采集每个所述温度采集点的运行温度之前，控制所述烤箱以所述设定温度运行第二预设时间段。通过在采集每个温度采集点的运行温度之前控制烤箱以设定温度运行第二预设时间段，可以使烤箱开机后稳定运行一段时间再采集烤箱内部每个温度采集点的运行温度，从而去除升温阶段运行温度的干扰，使得采集到的运行温度的数据更加精准。

为了解决现有技术中的上述问题，即为了解决现有技术中烤箱温度的精度较差的技术问题，本发明还提供一种烤箱。该烤箱使用上面任一项所述的烤箱温度的精度控制方法。通过使用上面任一项所述的烤箱温度的精度控制方法，本发明烤箱能够使其实际温度满足设定温度要求，显著提高温度精度，增强用户的使用体验。

附图说明

下面结合附图来描述本发明的优选实施方式，附图中：

图1是本发明烤箱的实施例的第一结构示意图；

图2是本发明烤箱的实施例的第二结构示意图；

图3是本发明烤箱的实施例的第三结构示意图；

图4本发明烤箱温度的精度控制方法的流程图；

图5是本发明烤箱温度的精度控制方法的实施例的流程图；

图6是本发明烤箱温度的精度控制方法中布置温度采集点的实施例的示意图。

附图标记列表：

1、烤箱；11、箱体；111、顶壁；112、底壁；113、左壁；114、右壁；115、箱门；116、后部；12、烤架组件；121、左支撑架；122、右支撑架；123、烤架；124、烤盘；13、加热组件；131、上加热管；132、下加热管；133、蒸发盘；14、电机支架；141、轴孔；15、电机轴；16、内胆背板；17、风机罩。

具体实施方式

下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理，并非旨在限制本发明的保护范围。

为了解决现有技术中烤箱温度的精度较差的技术问题，本发明提供一种烤箱温度的精度控制方法。该精度控制方法包括：

在烤箱内设置多个彼此间隔的温度采集点(步骤S1)；

在第一预设时间段内以预设时间间隔采集每个温度采集点的运行温度(步骤S2)；

计算采集到的所有运行温度的平均值以确定烤箱的平均运行温度(步骤S3)；

将平均运行温度与设定温度进行比较(步骤S4)；

基于比较结果调整烤箱的电热元件的占空比(步骤S5)。

图1是本发明烤箱的实施例的第一结构示意图；图2是本发明烤箱的实施例的第二结构示意图；图3是本发明烤箱的实施例的第三结构示意图。如图1所示，在一种或多种实施例中，本发明烤箱1为蒸烤箱。替代地，本发明烤箱1也可为电烤箱或者其它合适的烤箱。如图1-图3所示，该烤箱1包括但不限于箱体11、烤架组件12、加热组件13、电机支架14、和风机罩17等部件。

如图1和图2所示，在一种或多种实施例中，箱体11包括依次相接的顶壁111、左壁113、底壁112、和右壁114，以限定出大致方形或矩形的且可容纳待加工食物的腔体。参见图1，箱体11的前部形成有可与箱体11形成枢转连接的箱门115。参见图3，在箱体11的后部116上设置有电机支架14、内胆背板16、风扇(图中未示出)和风机罩17等部件，以便通过驱动风扇转动来调节箱体11内部温度的均匀性。

如图2所示，在一种或多种实施例中，烤架组件12包括左支撑架121、右支撑架122、烤架123、和烤盘124。在一种或多种实施例中，烤架组件12采用不锈钢材质制成，以增强其刚性和强度，延长使用寿命，同时还可便于清洁。替代地，烤架组件12可由其它合适的材料制成。多个左支撑架121彼此间隔地布置在箱体11左壁113的内侧。左支撑架121的数量可以根据实际需要配置成10个，或者比10个多或少的其它合适的数量。每个左支撑架121配置成大致沿水平方向延伸。相应地，多个右支撑架122彼此间隔地布置在箱体11右壁114的内侧。右支撑架122的数量也可根据实际需要调整，只要能够与左支撑架121相配即可。每个右支撑架122也配置成大致沿水平方向延伸，使得烤架123和烤盘124可以水平地放置在相应的左支撑架121和右支撑架122之间并由其提供支撑。烤架123和烤盘124可以根据加工不同食物的需要由用户自行选择。

如图3所示，在一种或多种实施例中，加热组件13包括上加热管131。上加热管131布置成从内胆背板16的上部延伸进箱体11内并定位在靠近箱体11的顶壁111的下方。上加热管131可以采用不锈钢、钛合金或者其它合适的材质加工而成。在一种或多种实施例中，上加热管131采用W形的盘管形状，以增加表面积，提高换热效率。替代地，上加热管131可采用蛇形管或其它合适的形式。如图2所示，在一种或多种实施例中，加热组件13还包括下加热管132和蒸发盘133。下加热管132布置成从内胆背板16的下部延伸到箱体11的底壁112的下方。下加热管132可以采用不锈钢、钛合金或者其它合适的材质加工而成。在一种或多种实施例中，下加热管132也采用W形的盘管形状，以增加表面积，提高换热效率。替代地，下加热管132可采用蛇形管或其它合适的形式。蒸发盘133布置在箱体11的底壁112上。在蒸发盘133上设置有可与储水盒(图中未示出)连接的进水口，使得在下加热管132的作用下蒸发盘133内的液体(例如自来水)可被加热成蒸汽，从而加热待加工食物。在一种或多种实施例中，加热组件13还包括背部加热管(图中未示出)。背部加热管布置在内胆背板16内。在一种或多种实施例中，背部加热管为三层螺旋形的加热管。替代地，背部加热管也可配置成两层、四层或者其它层数的加热管。

如图3所示，在一种或多种实施例中，内胆背板16布置在箱体11的后部116上，以便与箱体11配合形成封闭的腔体。内胆背板16可采用不锈钢、热镀锌、搪瓷等合适的材质加工而成。在内胆背板16的背部固定有大致沿水平方向延伸的电机支架14。在电机支架14上设置有电机轴孔141。电机轴孔141配置成可接纳电机的电机轴15。在一种或多种实施例中，在电机支架14和内胆背板16之间还设置有隔热材料(图中未示出)，以防止内胆背板16上的高温影响电机的正常运行。电机支架14的设置，不仅可以方便地装配电机，而且能够增加配重，使电机更加平稳地转动。电机包括但不限于步进电机、伺服电机、无刷电机等。

下面结合上述的烤箱的实施例详细介绍本发明烤箱温度的精度控制方法。需要指出的是，本发明烤箱温度的精度控制方法也适用于其它合适的烤箱。

图4本发明烤箱温度的精度控制方法的流程图。如图4所示，在本发明烤箱温度的精度控制方法开始后，首先执行步骤S1，即在烤箱内设置多个彼此间隔的温度采集点。接着，执行步骤S2，在第一预设时间段内以预设时间间隔采集每个温度采集点的运行温度。然后，计算采集到的所有运行温度的平均值以确定烤箱的平均运行温度(步骤S3)。烤箱的平均运行温度确定后，精度控制方法前进到步骤S4，将平均运行温度与设定温度进行比较。最后，基于比较结果调整烤箱的电热元件的占空比(步骤S5)。

图5是本发明烤箱温度的精度控制方法的实施例的流程图；图6是本发明烤箱温度的精度控制方法中布置温度采集点的实施例的示意图。如图5所示，在一种或多种实施例中，在本发明烤箱温度的精度控制方法开始后，首先执行步骤S11，即在烤箱内按照三行三列的方式均匀地布置九个温度采集点。参见图6，在一种或多种实施例中，在烤箱的一个烤架上按照图6所示的方式布置九个温度采集点。其中，A₁、A₂、A₃位于第一行，B₁、B₂、B₃位于第二行，C₁、C₂、C₃位于第三行。基于图6所示的方位，A₁、A₂、A₃与烤架的上边缘均间隔第一预定距离d₁；C₁、C₂、C₃与烤架的下边缘也分别间隔第一预定距离d₁；A₁、B₁、C₁与烤架的左边缘均间隔第二预定距离d₂；A₃、B₃、C₃与烤架的右边缘也间隔第二预定距离d₂；并且A₂、B₂、C₂均位于烤架的竖直中线上。在一种或多种实施例中，第一预定距离d₁为3cm(厘米)，第二预定距离d₂也为3cm。替代地，第一预定距离d₁可设置成比3cm大或小的其它合适的尺寸。进一步地，第二预定距离d₂也可设置成比3cm大或小的其它合适的尺寸。更进一步地，温度采集点的数量也可设置成比9个多或少的其它合适的数量，例如6个或12个温度采集点。另外，温度采集点也可设置在烤盘或者其它合适的附件上，并且根据实际需要还可在烤箱的多个烤架(或者烤盘等其它合适的附件)上设置温度采集点。

如图5所示，精度控制方法前进到步骤S12，在每个温度采集点上设置一个温度采集装置。在一种或多种实施例中，温度采集装置为热电偶。热电偶的设置可以方便且精确地测量烤箱内各温度采集点温度。替代地，温度采集装置也可设置成热电阻或者其它合适的元器件。在一种或多种实施例中，每个温度采集装置布置成与烤架的上表面间隔预定高度，以防止烤架温度影响温度采集装置的测量精度。预定高度的范围为2cm-5cm。需要指出的是，每个温度采集装置可以设置成与烤架的上表面间隔相同的预定高度(例如均为3cm)，预定高度也可以根据实际需要布置成不同的高度。在一种或多种实施例中，每个温度采集装置通过铝箔胶带固定在烤架上，使得温度采集装置既能牢固地固定在烤架上，又不会影响温度采集装置的测量精度。替代地，温度采集装置也可通过其它合适的方式固定在烤架上。

如图5所示，在一种或多种实施中，步骤S12完成后，精度控制方法执行步骤S13，即控制烤箱以设定温度运行第二预设时间段。设定温度可以根据实际需要进行调整，例如为180℃(摄氏度)、200℃、或者其它合适的温度。在一种或多种实施例中，第二预设时间段为30min(分钟)。替代地，第二预设时间段也可设置成比30min长或短的其它合适的时间。控制烤箱先以设定温度运行第二预设时间段，可以让烤箱从开机运行阶段进入稳定运行阶段，从而使烤箱内部温度稳定在一定的温度范围内，防止将开机运行阶段烤箱内部较低的、不稳定的温度也采集下来，影响温度采集的精度。接着，执行步骤S2，即在第一预设时间段内以预设时间间隔采集每个温度采集点的运行温度。在一种或多种实施例中，第一预设时间段为30min，并且预设时间间隔为5s(秒)。替代地，第一预设时间段也可设置成30min长或短的其它合适的时间。进一步地，预设时间间隔也可设置成比5s长或短的其它合适的时间。通过在第一预设时间段内，每间隔预设时间段就采集一次每个温度采集点的运行温度，可以获得烤箱内不同位置、不同时间段的温度值。

如图5所示，步骤S2完成后，计算采集到的所有运行温度的平均值以确定烤箱的平均运行温度(步骤S3)。通过将采集到的所有运行温度进行平均，可以使确定的平均运行温度更加符合实际温度，使获得的数据更加精准。接着，获取当前烤箱的电热元件的占空比(步骤S31)。在一种或多种实施例中，电热元件的占空比通过读取烤箱的单片机或微处理器信息直接获取。然后，在步骤S41中，判断平均运行温度是否大于等于设定温度与第一预设偏差的差值且小于等于设定温度与第一预设偏差的和值。在一种或多种实施例中，第一预设偏差为1℃。替代地，第一预设偏差也可设置成比1℃高或低的其它合适的温度。当判断结果为是时，说明平均运行温度与设定温度的差异较小，满足精度要求，因此执行步骤S51，保持当前的占空比，并且控制方法到此结束。当判断结果为否时，则执行步骤S42，继续判断平均运行温度是否大于设定温度与第一预设偏差的和值。如果判断结果为是，则说明此时平均运行温度远高于设定温度，因此控制将占空比减小第二预设占空比值(步骤S52)。在一种或多种实施例中，第二预设占空比值为3％。替代地，第二预设占空比值也可设置成比3％大或小的其它合适的数值。如果判断结果为否，则说明此时平均运行温度远低于设定温度，因此控制将占空比增加第一预设占空比值(步骤S53)。在一种或多种实施例中，第一预设占空比值为4％。替代地，第一预设占空比值也可设置成比4％大或小的其它合适的数值。当步骤S52或者步骤S53完成后，控制方法结束。上述精度控制方法可通过重复执行步骤S13来重新开始，即从控制烤箱以设定温度运行第二预设时间段重新开始。

如图5所示，在一种或多种实施例中，当步骤S2完成后本发明烤箱温度的精度控制方法还执行步骤S6，即根据采集到的所有运行温度确定烤箱的最高运行温度和最低运行温度。具体地，最高运行温度为采集到的所有运行温度中的最高温度值，最低运行温度为采集到的所有运行温度中的最低温度值。接着，执行步骤S61，获取当前烤箱的风扇的运行转速。在一种或多种实施例中，风扇的运行转速通过读取烤箱的单片机信息直接获取。然后，判断最高运行温度与最低运行温度的差值是否小于等于设定温度差值(步骤S7)。在一种或多种实施例中，设定温度差值为6℃。替代地，设定温度差值也可设置成比6℃高或低的其它合适的温度。当判断结果为是时，说明此时烤箱的最高运行温度和最低运行温度之间的相差较小，烤箱内部温度的均匀性较好，因此执行步骤S81，即保持当前的运行转速即可，并且控制方法到此结束。当判断结果为否时，说明此时烤箱的最高运行温度和最低运行温度之间相差较大，烤箱内部温度的均匀性较差，因此执行步骤S82，即将运行转速增加预设转速值。在一种或多种实施例中，预设转速值为20rpm(转每分钟)。替代地，预设转速值也可设置成比20rpm大或小的其它合适的数值。当步骤S82完成后，控制方法结束。上述精度控制方法可通过重复执行步骤S13来重新开始，即从控制烤箱以设定温度运行第二预设时间段重新开始。

至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征作出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种烤箱温度的精度控制方法，其特征在于，所述精度控制方法包括：

在烤箱内设置多个彼此间隔的温度采集点；

在第一预设时间段内以预设时间间隔采集每个所述温度采集点的运行温度；

计算采集到的所有所述运行温度的平均值以确定所述烤箱的平均运行温度；

将所述平均运行温度与设定温度进行比较；

基于比较结果调整所述烤箱的电热元件的占空比。

2.根据权利要求1所述的烤箱温度的精度控制方法，其特征在于，所述精度控制方法还包括：

根据采集到的所有所述运行温度确定所述烤箱的最高运行温度和最低运行温度；

将所述最高运行温度与所述最低运行温度的差值与设定温度差值进行比较；

基于所述差值与所述设定温度差值的比较结果，调整所述烤箱的风扇的转速。

3.根据权利要求2所述的烤箱温度的精度控制方法，其特征在于，所述基于差值与所述设定温度差值的比较结果调整所述烤箱的风扇的转速的步骤包括：

获取所述风扇在所述第一预设时间段内的运行转速；

当所述差值小于等于所述设定温度差值时，保持所述运行转速不变。

4.根据权利要求3所述的烤箱温度的精度控制方法，其特征在于，当所述差值大于所述设定温度差值时，将所述运行转速增加预设转速值。

5.根据权利要求1所述的烤箱温度的精度控制方法，其特征在于，在烤箱内设置多个彼此间隔的温度采集点的步骤包括：

按照三行三列的方式均匀地布置九个所述温度采集点；并且

在每个温度采集点设置一个温度采集装置。

6.根据权利要求1-5任一项所述的烤箱温度的精度控制方法，其特征在于，所述基于比较结果调整所述烤箱的电热元件的占空比的步骤包括：

获取所述电热元件的占空比；

当所述平均运行温度大于等于所述设定温度与第一预设偏差的差值且小于等于所述设定温度与所述第一预设偏差的和值时，保持所述占空比不变。

7.根据权利要求6所述的烤箱温度的精度控制方法，其特征在于，当所述平均运行温度小于所述设定温度与所述第一预设偏差的差值时，将所述占空比增加第一预设占空比值。

8.根据权利要求6所述的烤箱温度的精度控制方法，其特征在于，当所述平均运行温度大于所述设定温度与所述第一预设偏差的和值时，将所述占空比减小第二预设占空比值。

9.根据权利要求1所述的烤箱温度的精度控制方法，其特征在于，在采集每个所述温度采集点的运行温度之前，控制所述烤箱以所述设定温度运行第二预设时间段。

10.一种烤箱，其特征在于，所述烤箱使用根据权利要求1-9任一项所述的烤箱温度的精度控制方法。

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