CN113570601A

CN113570601A - 缺陷打标方法和系统

Info

Publication number: CN113570601A
Application number: CN202111123476.0A
Authority: CN
Inventors: 夏鑫淼
Original assignee: Shenzhen Xinshizhi Technology Co ltd
Current assignee: Shenzhen Xinshizhi Technology Co ltd
Priority date: 2021-09-24
Filing date: 2021-09-24
Publication date: 2021-10-29

Abstract

本发明实施例公开了一种缺陷打标方法，基于一缺陷打标系统，所述系统包括设置在待检测产品上方的视野可以覆盖待检测产品的X轴方向的至少一个摄像装置，待检测产品在传输轴的运动下沿Y轴运动，传输轴与编码器连接；所述方法包括：通过至少一个摄像装置采集待检测产品的目标检测图像，根据目标检测图像确定目标缺陷的位置信息；获取编码器读数，根据编码器读数计算运行长度；根据打标装置的位置信息、目标缺陷的位置信息、摄像装置的位置信息以及运行长度，确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内，若是，则控制打标装置在待检测产品上进行缺陷标记。采用本发明，可以提高连续性材料的缺陷打标的精度。

Description

缺陷打标方法和系统

技术领域

本发明涉及工业计算机技术领域，尤其涉及一种缺陷打标方法和系统。

背景技术

在工业场景中，通过摄像装置采集待检测产品的表面以识别是否存在缺陷的相关技术方案已经广泛应用到各行各业中，以用来替代人工检测，可以提高缺陷检测的效率。但是，除了需要缺陷检测之外，还需要在检测到缺陷时进行打标，以标记缺陷。目前市场上已经存在自动打标系统可以针对片装材料的缺陷检测进行自动打标，但是，在相应的技术方案中，待检测产品在打标时处于静止状态，缺陷位置的范围固定。该技术方案无法推广到连续性材料的缺陷检测，这是因为，连续性材料处于运动状态，运动速度有快有慢，而且可能是7*24小时不间断生产，缺陷位置的变动范围很大，目前的技术方案无法准确的标记缺陷位置，存在缺陷位置标记的准确性不足的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提出了一种缺陷打标方法和系统。

在本发明的第一部分，提供了一种缺陷打标方法，所述方法基于一缺陷打标系统，所述缺陷打标系统包括设置在待检测产品上方的至少一个摄像装置，所述至少一个摄像装置的视野可以覆盖待检测产品的X轴方向；待检测产品在传输轴的运动下沿Y轴运动，所述传输轴与编码器连接；

所述方法包括：

通过所述至少一个摄像装置采集待检测产品的目标检测图像，根据所述目标检测图像确定目标缺陷的位置信息；

获取编码器读数，根据编码器读数计算运行长度；

根据打标装置的位置信息、目标缺陷的位置信息、摄像装置的位置信息以及运行长度，确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内，若是，则控制打标装置在待检测产品上进行缺陷标记。

可选的，所述根据所述目标检测图像确定目标缺陷的位置信息的步骤，还包括：

获取目标检测图像中目标缺陷的第一位置信息，所述第一位置信息为目标缺陷在目标检测图像中的局部位置信息；

根据第一位置信息计算目标缺陷的第二位置信息，所述第二位置信息为目标缺陷在待检测产品上的全局位置信息。

可选的，所述获取编码器读数，根据编码器读数计算运行长度的步骤，还包括：

计算编码器两次读数之间的单位运行长度；

根据编码器读数和单位运行长度计算运行长度。

计算编码器两次读数之间的单位运行长度；

根据编码器两次读数的差值、时间，计算平均运行速度；

确定运行长度计算的间隔时长和计算次数；

根据编码器读数、单位运行长度、平均运行速度、运行长度计算的间隔时长和计算次数计算运行长度。

可选的，所述根据打标装置的位置信息、目标缺陷的位置信息、摄像装置的位置信息以及运行长度，确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内，若是，则控制打标装置在待检测产品上进行缺陷标记的步骤，还包括：

确定打标装置的位置信息与摄像装置的位置信息的差值作为第一距离值；

根据运行长度、目标缺陷的位置信息，确定第二距离值，所述第二距离值表示目标缺陷与摄像装置之间的距离；

判断第一距离值和第二距离值是否满足：第一距离值与第二距离值之间的差值小于预设值，若是，则判定目标缺陷到达打标装置的预设范围内。

可选的，所述确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内的步骤，还包括：

确定打标装置的打标控制时长，所述打标控制时长表示控制打标装置完成一次打标所需要耗费的市场；

判断如下公式是否成立：

第一距离值-第二距离值-打标控制时长×平均运行速度<0

若成立，则判定目标缺陷到达打标装置的预设范围内。

可选的，所述方法还包括：

在对待检测产品进行分卷时，确定前一卷的第一运行长度、后一卷的第二运行长度；

确定打标装置的位置信息与分卷位置信息之间的差值作为第三距离值；

如果所述目标缺陷位于前一卷上，根据目标缺陷的位置信息、第一运行长度，计算第四距离值；

根据公式

第三距离值-第四距离值-打标控制时长×平均运行速度<0

是否成立来确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内。

可选的，所述方法还包括：

如果目标缺陷位于后一卷上，根据第二运行长度和目标缺陷的位置信息确定所述第四距离值，根据公式

第三距离值-第四距离值-打标控制时长×平均运行速度<0

是否成立来确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内。

在本发明的第二部分，提供了一种缺陷打标系统，包括：

设置在待检测产品上方的视野可以覆盖待检测产品的X轴方向的至少一个摄像装置、用于带动待检测产品沿Y轴运动的传输轴、与传输轴连接的编码器、设置于待检测产品的运动方向上的打标装置；

所述缺陷打标系统还包括控制装置，用于执行如下步骤：

获取编码器读数，根据编码器读数计算运行长度；

可选的，所述控制装置还用于执行：

采用本发明实施例，具有如下有益效果：

采用了上述缺陷打标方法以及系统之后，在待检测产品上方设置至少一个摄像装置，所述至少一个摄像装置的视野可以覆盖待检测产品的X轴方向；待检测产品在传输轴的运动下沿Y轴运动，所述传输轴与编码器连接；具体缺陷检测和缺陷打标过程中，通过所述至少一个摄像装置采集待检测产品的目标检测图像，根据所述目标检测图像确定目标缺陷的位置信息；获取编码器读数，根据编码器读数计算运行长度；根据打标装置的位置信息、目标缺陷的位置信息、摄像装置的位置信息以及运行长度，确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内，若是，则控制打标装置在待检测产品上进行缺陷标记。也就是说，在上述缺陷打标方法中，可以根据待检测产品的运动情况来确定目标缺陷是否运动到打标装置的打标范围内来控制打标装置进行打标，从而可以提高打标装置进行缺陷标记的精准度；并且，本发明实施例提供的缺陷打标方法可以应用于连续性的、运动的材料的缺陷标记，进一步提高缺陷打标方案的适用范围。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

其中：

图1为一个实施例中一种缺陷打标系统的组成示意图；

图2为一个实施例中一种缺陷打标方法的流程示意图；

图3为一个实施例中两个摄像装置采集的图像的重合区域示意图；

图4为一个实施例中目标缺陷的在两个摄像装置采集的图像的重合区域中的位置示意图；

图5为一个实施例中目标缺陷的位置示意图；

图6为一个实施例中距离值计算示意图；

图7为一个实施例中缺陷打标系统中分卷示意图；

图8为一个实施例中运行上述缺陷打标方法的计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本实施例中，提供了一种缺陷打标系统以及基于该缺陷打标系统实现的缺陷打标方法，可以在检测到待检测产品存在缺陷的情况下，通过打标装置在待检测产品的缺陷对应的位置进行标记。例如，可以是在产品生产线上设置一缺陷检测及打标的工序，进行缺陷的检测以及缺陷的标记，以避免存在缺陷的产品进入下一个工序。

需要说明的是，本实施例提供的缺陷打标方法及系统可以对静止的材料进行缺陷检测和缺陷标记，也可以对连续性材料进行缺陷检测和缺陷标记。

具体的，请参见图1，图1给出了缺陷打标系统的一个示意图。

检测平台上放置有待检测产品，待检测产品在传输轴的运动下沿Y轴进行运动，其中，传输轴与编码器连接，并与对传输轴的运动进行计数。在检测平台的上方设置有至少一个摄像装置，该摄像装置用于采集传输到摄像装置下方的待检测产品的图像，图像用于缺陷检测，；其中，至少一个摄像装置的视野可以覆盖待检测产品的X轴方向，以保证待检测产品可以完全被检测覆盖到。

在本实施例中，用X-Y坐标系来描述缺陷的位置，在待检测产品为连续性材料缺陷检测的场景中，缺陷的X位置处于一个固定范围内，待检测产品在Y轴上进行传输，因此，缺陷的Y位置则随着待检测产品的运动逐渐递增。

在如图1所示的应用场景中，传动轴沿Y轴负方向以匀速运输待检测产品，同时带动编码器的滚轮运动，在待检测产品的上方（即被检测面）设置有一个或者多个摄像装置进行图像采集，摄像装置的视野在X轴方向上完整覆盖了待检测产品的被检测面。

在待检测产品的运动方向上，设置有打标装置，再根据摄像装置检测到的图像被检测到有缺陷存在时，控制打标装置在待检测产品上进行标识；需要说明的是，打标装置设置在待检测产品的运动方向上摄像装置的前方，用于在运动过程中，若检测到缺陷，则将待检测产品传输到打标装置所在的位置时控制打标装置进行缺陷的标识。

下面对缺陷打标方法进行详细的阐述。请参见图2，图2给出了上述缺陷打标方法的流程示意图；其中，缺陷打标方法包括如图2所示的步骤S101-S103：

步骤S101：通过所述至少一个摄像装置采集待检测产品的目标检测图像，根据所述目标检测图像确定目标缺陷的位置信息。

在一个具体的实施例中，待检测产品可以是锂离子电池极片等片状材料，在极片的生产过程中设置有缺陷检测和缺陷打标的工序，在该工序中，极片等片状材料在该工序中进行传输，并在传输过程中进行缺陷检测和缺陷打标。也就是所，本实施例提出的缺陷检测方法适用于连续性传输的片状材料。

在待检测产品在检测平台上传输的过程中，通过摄像装置来采集待检测产品的图像作为目标检测图像。其中，摄像装置的数量为至少一个，可以覆盖与待检测产品的传输方向的垂直方向上的所有宽度/长度。在通过摄像装置采集到目标检测图像之后，即可对目标检测图像进行图像识别，以确定其中是否存在缺陷（目标缺陷）以及目标缺陷所在的位置信息。

需要说明的是，在本实施例中，目标缺陷的位置信息可以是局部位置信息，也可以是全局位置信息。具体的，获取目标检测图像中目标缺陷的第一位置信息，所述第一位置信息为目标缺陷在目标检测图像中的局部位置信息；然后根据第一位置信息与第二位置关系之间的关系，基于第一位置信息计算目标缺陷的第二位置信息，所述第二位置信息为目标缺陷在待检测产品上的全局位置信息。

在一个具体的实施例中，

设摄像装置的数量为M（M≥1），摄像装置的编号为

，摄像装置采集图像的宽为

，高为

，单位为像素；摄像装置像素当量（即一个像素的物理尺寸）宽为

，高为

，单位为mm；使用单摄像装置时无重合区域，使用多摄像装置时，

与

之间的重合区域宽度为

，单位为mm。

例如，请参见图3所示，左右两个摄像装置拍摄的图像中包含了如图所示的重合区域，这样子可以保证待检测产品在X轴方向中可以完全被拍摄到，保证后续缺陷检测的完整性。在图4和图5所示的应用场景中，摄像装置

和摄像装置

采集的图像中，存在宽度为

的重合区域。

在一个具体的实施例中，假设某个缺陷处于摄像装置

的图像帧内，图像帧序号为

，缺陷中心在图像帧内的XY位置分别为

，图像帧左上角为原点，坐标单位为像素，缺陷在待检测产品中的全局位置为

（单位mm）、

（单位mm）。其中，缺陷在待检测产品中的全局位置为、可以通过如下计算公式计算得到：

也就是说，在步骤S102中，通过缺陷识别以及缺陷位置的计算，可以得到检测到的目标缺陷在待检测产品中的全局位置。

步骤S102：获取编码器读数，根据编码器读数计算运行长度。

编码器与传输轴连接，编码器的读数与传输轴相关；也就是说，在待检测产品在传输轴的控制下向前运动的情况下，编码器的读数会随之进行改变。然后，根据编码器的读数来计算待检测产品对应的运行长度，该运行长度用于判断目标缺陷是否到达打标装置所在的位置，从而确定是否需要控制打标装置进行缺陷的标记。精确的运行长度是准确判断打标时机的必备条件，并且通过高频率的计算来保证高精度的打标动作。

在一个具体的实施例中，首先需要计算编码器的两次读数之间的单位运行长度，其中，编码器的两次读数指的是编码器的读数从上一个读数跳变到下一个读数，单位运行长度指的是在编码

假定编码器的直径为d（单位mm），单位脉冲为P（滚轮旋转一圈时编码器输出的脉冲数），两次读数间隔时间（第一间隔时长）最小为

。从而可以计算单个脉冲与运行长度的换算因子，这个因子相当于运行长度计算的最小刻度f，也即编码器的两次读数之间的单位运行长度：

然后可以根据编码器的读数以及单位运行长度f来计算运行长度。

在一个具体的实施例中，运行长度等于编码器读数与单位运行长度之间的乘积，即

，其中，L为运行长度，C为编码器的读数。

在另一个实施例中，还需要考虑编码器两次读数之间，待检测产品也还处于运动状态，也需要考虑该段时间下的运行长度。

具体的，在本实施例中每隔时间

计算一次运行长度，其中，

为两次计算的间隔时长（第二间隔时长），假设计算次数为K，当

时，可以按照如上的计算公式

来计算运行长度。其中%为取余操作。

如果

，则需要进行进一步的计算。

首先计算平均运行速度。具体可以根据编码器两次读数的差值、时间，计算平均运行速度。

在另一个实施例中，判断是否到达读数第二间隔时长

，到达第二间隔时长时读取一次编码器的脉冲数。设第r次（r≥ 1）编码器的脉冲读数为

，时间点为

，并记录每次的编码器的读数和时间点。设最大记录数为m，当r=m时，计算平均运行速度，取各读数区间的平均速度s，并且当r>m时丢弃最早的记录，平均运行速度的计算公式如下：

。

然后根据编码器读数、单位运行长度、平均运行速度、运行长度计算的间隔时长和计算次数计算运行长度。具体的，可以根据如下计算公式计算运行长度L：

。

步骤S103：根据打标装置的位置信息、目标缺陷的位置信息、摄像装置的位置信息以及运行长度，确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内，若是，则控制打标装置在待检测产品上进行缺陷标记。

在确定是否需要打标时，需要判断目标缺陷是否在运动过程中到达打标装置的预设范围内，若到达，则控制打标装置进行缺陷标记。

如图6所示，需要首先确定打标装置和摄像装置的第一距离值为

，以及确定检测到的目标缺陷和摄像装置之间的第二距离值

。

具体计算中，根据打标装置的位置信息与摄像装置的位置信息的差值来确定第一距离值

；根据运行长度L、目标缺陷的位置信息（D _y），确定第二距离值l ₂，第二距离值l ₂表示目标缺陷与摄像装置之间的距离值大小。其中，第二距离值l ₂的计算可以是通过

实现的。

为了判断目标缺陷到达打标装置的预设范围，需要根据第一距离值为

和第二距离值l ₂进行判断，例如，判断第一距离值与第二距离值之间的差值小于预设值是否成立，也就是说，当第一距离值与第二距离值之间的差值小于预设值值，说明目标缺陷已经到达打标装置的范围内，可以控制进行缺陷标记。

在另一个具体的实施例中，判断公式

是否成立来判断目标缺陷是否已经到达打标装置的范围内，其中，t为打标装置的打标控制时长，表示控制打标装置完成一次打标所需要耗费的时长。其中，增加

的项是为了考虑打标装置的控制时间，以提高打标装置进行缺陷标记的准确性。

也就是说，在一个具体的实施例中，需要确定打标装置的打标控制时长，然后判断如下公式

是否成立，若成立，则判定目标缺陷到达打标装置的预设范围内。

需要说明的是，在本实施例中，通过打标装置在目标缺陷的实际位置或对应的待检测产品的边缘位置进行缺陷标记。并且，缺陷标记可以容许一定的误差范围，例如，在目标缺陷的1cm范围内进行标记（当然，可以是其他范围大小）。

在本实施例中，为了提高打标精度，还可以进一步的从编码器精度、打标装置响应速度、计算运行长度的时间间隔（第二间隔时长）等各个方面进行精度的提升。

具体的，当其他因素固定时，编码器的单位脉冲为P越大，根据单个脉冲与运行长度的换算因子（单位运行长度）的计算公式

，编码器的精度越高，系统的打标精度也就越高。

或者，由于在打标装置响应过程中，待检测产品仍然在运动，所以在除了运动的这段范围内，即使有多个缺陷，也只打标一次。当打标装置响应速度越快，待检测产品运动的越少。当其他因素固定时，设平均运行速度为s，打标装置响应时间为t ₁（打标装置的打标控制时长），当t ₁t越小时，待检测产品运动范围越小，打标精度也就越高。

或者，设平均运行速度s，计算时间间隔为t ₂（第一间隔时长），则运行长度的递增步进值为s×t ₂，为当第一间隔时长越短时，步进值越小，长度计算越精细，打标精度也就越高。

在另一个实施例中，在某些应用场景中，需要自动地对连续性材料分卷，例如光伏玻璃生产线、锂电隔膜生产线等。分卷后，新卷中的缺陷位置需要从0开始计算，此时，在分卷线（分卷位置）和打标线（打标装置的位置）之间还有旧卷的尾料，这段尾料中可能还存在未标记的缺陷，因此需要针对分卷情况下目标缺陷的位置（在新卷上，还是在旧卷上）。

具体的，在对待检测产品进行分卷时，如图7所示，需要分别计算前述类似于第一距离值和第二距离值的相应的参数。

具体计算过程如下：

确定前一卷的第一运行长度L ₁、后一卷的第二运行长度L ₂。其中，根据运行长度L与分卷线的位置可以确定第一运行长度L ₁、第二运行长度L ₂。

确定打标装置的位置信息与分卷位置信息（分卷线）之间的差值作为第三距离值l ₃。

根据目标缺陷的位置，进一步进行计算：

如果所述目标缺陷位于前一卷上，根据目标缺陷的位置信息、第一运行长度，计算第四距离值l ₄；即根据公式

计算第四距离值l ₄；

如果目标缺陷位于后一卷上，根据第二运行长度和目标缺陷的位置信息确定第四距离值l ₄；其中，在此种情况下，第四距离值的计算与前述不分卷情况下的第二距离值的计算方式相同，即：

在第三距离值和第四距离值计算得到之后，即可进一步的判断目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内。

具体的，根据公式

是否成立来确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内。

图8示出了一个实施例中实现上述缺陷打标方法的计算机设备的内部结构图。该计算机设备具体可以是终端，也可以是服务器。如图8所示，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该计算机设备的非易失性存储介质存储有操作系统，还可存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器实现上述方法。该内存储器中也可储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行上述方法。本领域技术人员可以理解，图8中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink) DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。请输入具体实施内容部分。

Claims

1.一种缺陷打标方法，其特征在于，所述方法基于一缺陷打标系统，所述缺陷打标系统包括设置在待检测产品上方的至少一个摄像装置，所述至少一个摄像装置的视野可以覆盖待检测产品的X轴方向；待检测产品在传输轴的运动下沿Y轴运动，所述传输轴与编码器连接；

所述方法包括：

获取编码器读数，根据编码器读数计算运行长度；

2.根据权利要求1所述的缺陷打标方法，其特征在于，所述根据所述目标检测图像确定目标缺陷的位置信息的步骤，还包括：

3.根据权利要求1所述的缺陷打标方法，其特征在于，所述获取编码器读数，根据编码器读数计算运行长度的步骤，还包括：

计算编码器两次读数之间的单位运行长度；

根据编码器读数和单位运行长度计算运行长度。

4.根据权利要求1所述的缺陷打标方法，其特征在于，所述获取编码器读数，根据编码器读数计算运行长度的步骤，还包括：

计算编码器两次读数之间的单位运行长度；

根据编码器两次读数的差值、时间，计算平均运行速度；

确定运行长度计算的间隔时长和计算次数；

5.根据权利要求3或4所述的缺陷打标方法，其特征在于，所述根据打标装置的位置信息、目标缺陷的位置信息、摄像装置的位置信息以及运行长度，确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内，若是，则控制打标装置在待检测产品上进行缺陷标记的步骤，还包括：

判断第一距离值和第二距离值是否满足第一距离值与第二距离值之间的差值小于预设值，若是，则判定目标缺陷到达打标装置的预设范围内。

6.根据权利要求5所述的缺陷打标方法，其特征在于，所述确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内的步骤，还包括：

判断如下公式是否成立：

第一距离值-第二距离值-打标控制时长×平均运行速度<0

若成立，则判定目标缺陷到达打标装置的预设范围内。

7.根据权利要求6所述的缺陷打标方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据公式

第三距离值-第四距离值-打标控制时长×平均运行速度<0

是否成立来确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内。

8.根据权利要求7所述的缺陷打标方法，其特征在于，所述方法还包括：

第三距离值-第四距离值-打标控制时长×平均运行速度<0

是否成立来确定目标缺陷是否到达打标装置的预设范围内。

9.一种缺陷打标系统，所述缺陷打标系统包括：

所述缺陷打标系统还包括控制装置，用于执行如下步骤：

获取编码器读数，根据编码器读数计算运行长度；

10.根据权利要求9所述的缺陷打标系统，其特征在于，所述控制装置还用于执行：