CN113466292A - 显示模组的缺陷检测方法及设备 - Google Patents

Abstract

本发明揭示了一种显示模组的缺陷检测方法及设备。所述方法包括以下步骤：获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二热成像图片；通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷的位置信息。所述设备包括：承载装置、检测装置、缺陷定位装置，缺陷定位装置包括定位机构、图像获取机构；定位机构包括第一定位单元和第二定位单元，第一定位单元和第二定位单元均为热成像相机。本发明通过第二定位单元获取第一热成像图片和第二热成像图片，通过对比第一热成像图片和第二热成像图片可精确获取缺陷的位置信息。

Description

显示模组的缺陷检测方法及设备

技术领域

本发明涉及显示模组检测技术领域，特别涉及一种显示模组的缺陷检测方法及设备。

背景技术

触控屏等显示模组作为目前大部分电子设备的重要组成部件，在出厂前需要对未切割的显示模组进行电性缺陷测试，以确认显示模组的每一根电极自身是否开路以及相邻电极间是否短路。通过将多数个显示模组排布于基板上，再将基板置于检测装置上后，利用检测装置的压接导通装置实现显示模组与外部检测设备之间的电性导通，从而对显示模组进行检测。现有的检测方式中，显示模组检测出缺陷后，无法准确定位缺陷的位置，增加了后续针对缺陷位置进行分析和修补的难度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种准确定位缺陷位置信息的显示模组的缺陷检测方法和设备。

为实现上述发明目的之一，本发明一实施方式提供一种显示模组的缺陷检测方法，包括以下步骤：

获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一粗定位热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二粗定位热成像图片，通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间；

获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二热成像图片，其中，所述第一热成像图片和所述第二热成像图片的覆盖范围为缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间的范围；

通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷的位置信息。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述“通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间”具体为：通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片的灰阶，确定第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片灰阶不相等的位置所在的区域，通过获取所述区域的坐标范围确定缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间；

所述“通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置信息”具体为：通过对比第一热成像图片和第二热成像图片的灰阶，确定第一热成像图片和第二热成像图片灰阶不相等的位置，通过获取所述位置的坐标确定缺陷显示模组的缺陷的位置信息。

作为本发明一实施方式的进一步改进，在“获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一粗定位热成像图片和显示模组在通电检测状态下的第二粗定位热成像图片”之前还包括：对多个显示模组通电进行缺陷检测，确定显示模组是否存在缺陷。

作为本发明一实施方式的进一步改进，在所述“对多个显示模组通电进行缺陷检测”之前还包括：获取带有多个显示模组的基板的图像，根据基板上的定位标记建立坐标系；

所述缺陷的位置区间和位置信息基于所述坐标系。

作为本发明一实施方式的进一步改进，在所述“对多个显示模组通电进行缺陷检测”之前，所述方法还包括：

在基板上排列多个显示模组；

将基板放置于承载板，放置基板的过程中先使基板的中间区域与承载板接触，再使基板的边缘与承载板接触；

移动基板使基板的中心与承载板的中心对应；

将基板吸附于承载板；

将基板沿X方向移动至检测压板下方。

作为本发明一实施方式的进一步改进，前述“对多个显示模组通电进行缺陷检测”具体为：通过定位相机获取基板上对位标记的坐标并与基准坐标对比确认基板偏离基准位置的距离；

根据基板偏离基准位置的距离使检测压板移动至与基板对准的坐标，使检测压板向下移动以抵持显示模组的压接区；

获取基板与检测压板的图片以确定基板与检测压板的位置是否相匹配；

通过检测压板向显示模组传递测试信号并获取反馈信号。

作为本发明一实施方式的进一步改进，在所述“通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷的位置信息”之后还包括：基于缺陷的位置信息获取缺陷显示模组在缺陷位置的缺陷图像。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述“获取缺陷显示模组在通电检测状态下的第二粗定位热成像图片和第二热成像图片”具体为：使检测压板保持抵持缺陷显示模组压接区的状态，使热成像相机沿X方向和Y方向移动至缺陷显示模组的上方，通过热成像相机获取缺陷显示模组的第二粗定位热成像图片和第二热成像图片。

为实现上述发明目的之一，本发明一实施方式提供一种显示模组的缺陷检测设备，包括：

承载装置，包括用于承载显示模组的承载机构；

检测装置，包括位于所述承载机构上方的检测机构，所述检测机构包括检测压板和驱动所述检测压板沿Z方向移动的调整组件；

缺陷定位装置，包括定位机构、分离于所述定位机构的图像获取机构、驱动所述定位机构和图像获取机构移动的驱动机构，所述定位机构与所述图像获取机构均位于所述承载机构的上方；

所述定位机构包括第一定位单元和第二定位单元，所述第一定位单元和所述第二定位单元均为热成像相机，且所述第一定位单元的镜头高度高于所述第二定位单元的镜头高度。

作为本发明一实施方式的进一步改进，还包括基座；

所述基座包括安装平台、两个分别设置在所述安装平台Y方向两侧并沿X方向延伸的基座轨道、Y方向的两端滑动安装于所述基座轨道的第一龙门架和第二龙门架；

所述检测装置安装于所述第一龙门架，所述缺陷定位装置安装于所述第二龙门架。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述驱动机构驱动所述定位机构和图像获取机构沿Z方向和Y方向移动；

所述定位机构与所述图像获取机构沿Y方向排布，所述第一定位单元固定于所述第二定位单元Y方向的一侧；

所述检测装置还包括定位相机和驱动所述定位相机沿Y方向移动的移动机构，多数个沿Y方向排布的所述检测机构连接于所述移动机构并在所述移动机构的驱动下沿Y方向移动，所述定位相机的数量为两个且分布在所述检测机构Y方向的两侧。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述检测装置还包括安装于所述移动机构的信号发生机构，所述调整组件具有与所述信号发生机构相连接的插接部，所述检测压板安装于所述调整组件的底部，并且具有与所述插接器对接的对接部。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述检测压板具有用于压接显示模组的压接区的压接部，所述压接部朝向所述缺陷定位装置突伸出所述调整单元。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述承载装置设置于两个所述基座轨道之间，承载装置还包括固定安装在所述安装平台上并沿X方向延伸的导向轨道，至少两个沿X方向排布的所述承载机构滑动安装于所述导向轨道，所述承载机构的顶部低于所述第一龙门架和第二龙门架。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：本发明的显示模组的缺陷检测方法利用缺陷位置在缺陷检测状态下温度升高的性能，先通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片获取所有缺陷的位置区间，再通过对比每个位置区间范围内的第一热成像图片和第二热成像图片从而精确获取缺陷的位置信息。

本发明的显示模组的缺陷检测设备中，第一定位单元和第二定位单元均可通过拍摄显示模组的热成像图像以确定缺陷位置信息，第一定位单元的镜头较高，使第一定位单元覆盖的面积较大，可获取承载机构上所有显示模组的缺陷大致位置。由于第二定位单元的镜头较低，与显示模组的距离相比第一定位单元更小，使第二定位单元覆盖第一定位单元定位的缺陷大致位置，进一步定位缺陷的准确坐标，以使图像获取机构可以准确地获取缺陷的图像。通过第一定位单元与第二定位单元配合使用，可以精确地定位所有缺陷的位置。

附图说明

图1是本发明一实施方式的显示模组的缺陷检测设备的结构示意图；

图2是本发明一实施方式的基座的结构示意图；

图3是本发明一实施方式的支撑装置的结构示意图；

图4是图3的局部放大图；

图5是本发明一实施方式的承载装置的结构示意图；

图6是本发明一实施方式的承载机构的结构示意图；

图7是本发明一实施方式的承载机构隐藏旋转组件的第一视角结构示意图；

图8是本发明一实施方式的承载机构隐藏旋转组件的第二视角结构示意图；

图9是本发明一实施方式的支撑组件的结构示意图；

图10是本发明一实施方式的检测装置的结构示意图；

图11是本发明一实施方式的检测机构的结构示意图；

图12是本发明一实施方式的检测机构隐藏对位平台的结构示意图；

图13是本发明一实施方式的检测压板的结构示意图；

图14是本发明一实施方式的缺陷定位装置的结构示意图；

图15是本发明一实施方式的定位机构的结构示意图；

图16是本发明一实施方式的显示模组的缺陷检测方法的流程图；

其中，10、基座；11、安装平台；12、基座轨道；13、第一龙门架；14、第二龙门架；

20、支撑装置；21、支撑框架；22、气囊减振单元；23、支撑单元；24、控制单元；25、振幅检测单元；

30、承载装置；31、导向轨道；32、承载机构；321、承载板；3211、负压气孔；3212、通孔；322、支撑组件；3221、支撑杆；3222、静电消除器；323、顶升组件；324、定位夹紧组件；3241、定位杆；3242、第一气缸；3243、第二气缸；325、旋转组件；

40、检测装置；41、移动机构；42、定位相机；43、信号发生机构；44、检测机构；441、检测压板；4411、对接部；4412、压接部；442、对位平台；443、调整单元；4431、装配板；4432、上运动块；4433、下运动块；4434、驱动源；444、配合单元；4441、插接部；

50、缺陷定位装置；51、定位机构；511、第一定位单元；512、第二定位单元；513、坐标相机；52、图像获取机构；53、驱动机构；

60、压板更换装置；61、压板存储仓；62、压板抓取机构。

具体实施方式

以下将结合附图所示的具体实施方式对本发明进行详细描述。但这些实施方式并不限制本发明，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本发明的保护范围内。

在本发明的各个图示中，为了便于图示，结构或部分的某些尺寸会相对于其它结构或部分扩大，因此，仅用于图示本发明的主题的基本结构。

本发明所述的X方向为水平的第一方向，Y方向为水平的第二方向，且垂直于第一方向，Z方向则垂直于X方向和Y方向。

本发明所述的显示模组，包括具有多个电极的显示模组主体以及压接区，压接区上具有与多个电极一一对应连接的引脚。多数个显示模组排布在基板上。

如图1所示，本发明提供了一种显示模组的缺陷检测设备，包括承载装置30、检测装置40和缺陷定位装置50。

如图5所示，承载装置30包括用于承载显示模组的承载机构32。

如图1、如图10、图11和图12所示，检测装置40包括位于承载机构32上方的检测机构44，检测机构44包括检测压板441和驱动检测压板441沿Z方向移动的调整组件。

如图14和15所示，缺陷定位装置50包括定位机构51、分离于定位机构51的图像获取机构52、驱动定位机构51和图像获取机构52移动的驱动机构53，结合图1，定位机构51与图像获取机构52均位于承载机构32的上方。

定位机构51包括第一定位单元511和第二定位单元512，第一定位单元511和第二定位单元512均为热成像相机，且第一定位单元511的镜头高度高于第二定位单元512的镜头高度。

在检测时，在承载机构32上放置排布有多数个显示模组的基板，检测机构44的检测压板441抵持显示模组的压接区并向显示模组传递电信号，定位机构51定位显示模组主体上缺陷的位置，图像获取机构52拍摄缺陷的图片。

第一定位单元511和第二定位单元512均可通过拍摄显示模组的热成像图片以确定缺陷位置信息，第一定位单元511的镜头较高，使第一定位单元511覆盖的面积较大，可获取承载机构32上所有显示模组的缺陷大致位置。由于第二定位单元512的镜头较低，与显示模组的距离相比第一定位单元511更小，使第二定位单元512覆盖第一定位单元511定位的缺陷大致位置，进一步定位缺陷的准确坐标，以使图像获取机构52可以准确地获取缺陷的图像。通过第一定位单元511与第二定位单元512配合使用，可以精确地定位所有缺陷的位置。

第一定位单元511和第二定位单元512利用缺陷位置在缺陷检测状态下温度升高的性能，通过对比显示模组在缺陷检测状态前的热成像图片和缺陷检测状态中的热成像图片确定灰阶不相等的位置，从而获取缺陷的位置信息。

如图1所示，本实施方式的显示模组的缺陷检测设备还包括基座10、支撑装置20、压板更换装置60。其中，支撑装置20用于支撑基座10，检测压板441装置用于储存检测压板441和更换检测机构44上的检测压板441，基座10则用于承载检测装置40、缺陷定位装置50、压板更换装置60和承载装置30。

如图2所示，在本发明的一实施方式中，基座10包括安装平台11、两个基座轨道12、第一龙门架13和第二龙门架14。

两个基座轨道12分别设置在安装平台11的Y方向的两侧并沿X方向延伸的基座轨道12，第一龙门架13和第二龙门架14的Y方向的两端滑动安装于基座轨道12。检测装置40安装于第一龙门架13，缺陷定位装置50安装于第二龙门架14，因此检测装置40和缺陷定位装置50可以沿着X方向滑动，从而调整检测装置40和缺陷定位装置50在X方向上的位置。

如图3和图4所示，在本发明的一实施方式中，支撑装置20位于基座10下方，支撑装置20包括支撑框架21、设置在基座10与支撑框架21之间的气囊减振单元22和支撑单元23；支撑装置20具有减振支撑状态和刚性支撑状态。

当支撑装置20处于减振支撑状态时，气囊减振单元22的顶部高于支撑单元23的顶部，气囊减振单元22支撑于基座10底部；

当支撑装置20处于刚性支撑状态时，支撑单元23支撑基座10底部。

在支撑装置20处于减振支撑状态的情况下，通过气囊减振单元22对基座10进行减振。检测设备的检测装置40和缺陷定位装置50移动时带给检测设备的振动得以消除，并且检测设备外部振动源产生的振动被阻隔，振动不会传递到检测设备内部。当气囊检测单元的气压较低时，基座10下降至与支撑单元23接触，承载装置30处于刚性支撑状态，在气囊减振单元22气压不足时通过支撑单元23防止气囊减振单元22受到基座10的压迫而损坏。

进一步的，支撑框架21上安装有控制单元24和振幅检测单元25。检测单元连接于控制单元24，且振幅检测单元25相邻于气囊减振单元22。

控制单元24用于控制气囊减振单元22充放气，振幅检测单元25用于基座10对应于振幅检测单元25位置处的振幅。本发明所述的基座10的振幅，具体含义为基座10某一点在纵向上偏离预设的基准高度的距离。在支撑装置20处于减振支撑状态下，基座10产生晃动时，控制单元24通过向气囊减振单元22充放气，从而调整气囊减振单元22在纵向上的长度，在多个气囊减振单元22共同调整的作用下，使基座10由晃动状态调节为水平状态。

振幅检测单元25检测基座10在与该振幅检测单元25对应位置处的振幅，控制单元24根据振幅检测单元25检测的检测结果控制气囊减振单元22的进气量和放气量，确保基座10在与振幅检测单元25对应的位置可以回到预设的基准高度，实现基座10水平度的自动调整。

优选的，支撑单元23的顶部具有缓冲件。在承载装置30从减振支撑装置20切换至刚性支撑状态时，支撑单元23顶部的缓冲件可以缓冲基座10，防止基座10撞击支撑单元23时基座10底部破裂的情形发生。

如图5所示，在本发明的一实施方式中，承载装置30设置于两个基座轨道12之间，承载装置30还包括固定安装在安装平台11上并沿X方向延伸的导向轨道31，至少两个沿X方向排布的承载机构32滑动安装于导向轨道31。通过使承载机构32沿X方向移动从而调整承载机构32相对检测装置40和缺陷定位装置50的相对位置。本实施方式优选承载机构32的数量为两个，相比单个承载机构32可以提升工作效率

承载机构32的顶部低于第一龙门架13和第二龙门架14，将带有显示模组的基板放置在承载机构32的顶部时，可以使夹持显示模组的机械手从第一龙门架13或第二龙门架14的下方穿过。相比于从基座10的Y方向两侧的进料方式，上述方式可以避免机械手撞击基座轨道12。

如图6、图7、图8和图9所示，承载机构32包括承载板321、支撑组件322、顶升组件323、定位夹紧组件324和旋转组件325。

旋转组件325通过一平板滑动安装于导向轨道31，承载板321、承载板321、支撑组件322、顶升组件323、定位夹紧组件324均安装在旋转组件325的上方，并在旋转组件325的驱动下以旋转组件325在Z方向延伸的中心轴线为转轴旋转。当带有多数个显示模组的基板放置在承载机构32上时，旋转组件325驱动承载机构32的其他部件旋转时，带动显示模组旋转，从而确保显示模组的压接区朝向检测机构44的检测压板441。

承载板321构成承载机构32的顶部，承载板321上设置有多数个负压气孔3211。承载板321用于放置带有多数个显示模组的基板，负压气孔3211连接有负压装置，通过负压吸附固定基板。

顶升组件323驱动支撑组件322沿Z方向相对承载板321运动。支撑组件322包括多数个呈柱状的支撑杆3221和多数个用于消除基板静电的静电消除器3222。承载板321上设置有与支撑杆3221对应且沿Z方向延伸的通孔3212。

支撑组件322具有支撑杆3221位于所述承载板321下方的第一状态、支撑杆3221穿过通孔3212且支撑杆3221的顶端位于所述承载板321上方的第二状态。

当需要放置基板时，支撑组件322处于第二状态，机械手托着基板将基板放置在支撑杆3221的顶端，然后支撑杆3221在顶升组件323的作用下向下运动，基板被置于承载板321上。通过上述放置方式，基板被平整地置于承载板321上。在检测基板上显示模组的过程中，支撑组件322处于第一状态。当检测完成后，顶升组件323驱动支撑组件322向上移动，再次使支撑组件322处于第二状态，基板与承载板321之间具有间隙，然后机械手穿入基板与承载板321之间的间隙并取走基板。

进一步的，多数个支撑杆3221以矩形阵列的方式排布，且位于矩形四个角处的支撑杆3221高于矩形边缘和内部支撑杆3221的高度。本发明所述的矩形阵列，是指具有多数个支撑杆3221的多排支撑杆组合以列的方式排布，从而形成矩形的形状。当支撑杆3221的顶部支撑基板时，基板与四个较高的支撑杆3221对应的区域高于其他区域，在支撑杆3221向下移动以将基板置于承载板321的过程中，基板对应于较低的支撑杆3221的区域先接触承载板321，然后与四个较高的支撑杆3221对应的区域再接触承载板321，基板与承载板321之间的空气被完全排出，确保基板可以平整地贴合承载板321。

顶升组件323驱动支撑组件322升降的方式有多种，本发明的一实施方式以顶升组件323通过电机以及丝杆传动的方式驱动支撑组件322升降为例做具体说明。具体的，顶升组件323包括顶升电机、与顶升电机的输出轴连接的传动元件、与传动元件连接的沿Z方向延伸的传动丝杆，支撑组件322具有套装于传动丝杆的螺母。通过顶升电机驱动，传动件带动传动丝杆转动，通过螺纹传动的方式使螺母上下移动，从而带动支撑组件322向上或向下运动。

定位夹紧组件324包括多数个位于承载板321侧方的定位杆3241以及驱动定位杆3241沿Z方向移动的第一气缸3242和驱动定位杆3241沿X方向或Y方向移动的第二气缸3243。

在放置基板的过程中定位杆3241的顶端低于承载板321的板面以防止定位杆3241抵持基板的底部。在基板放置在承载板321上后，定位杆3241在第一气缸3242的驱动下向上移动直至顶端与基板平齐或超过基板，且保证定位杆3241在上升过程中位于基板的侧方。然后定位杆3241在第二气缸3243的驱动下朝向基板移动以与基板的边缘接触，多个定位杆3241配合以使基板的位置相对承载板321居中，便于后续检测机构44检测缺陷时检测压板441与基板上显示模组的压接区对准。

如图10、图11、图12所示，在本发明的一实施方式中，检测装置40还包括移动机构41、定位相机42、信号发生机构43。

移动机构41连接于第一龙门架13，可沿X方向滑动，从而带动定位相机42和检测机构44沿X方向移动。定位相机42和检测机构44均连接于移动机构41，在移动机构41的驱动下定位相机42和检测机构44沿Y方向移动。移动机构41驱动定位相机42和检测机构44的方式在现有技术中具有多种，例如移动机构41为电动滑轨并通过滑轨上移动的滑块驱动移检测机构44和定位相机42移动。

定位相机42的数量为两个且分布在检测机构44沿Y方向的两侧。定位相机42通过获取基板上对位标记的坐标并与基准坐标对比确认基板偏离基准位置的距离，以便于移动机构41移动检测压板441使检测压板441与显示模组的压接区对应。

信号发生机构43安装在移动机构41上，用于提供检测显示模组的电性缺陷时所需的信号。

检测机构44的数量为多数个，且沿Y方向排布。检测机构44之间的距离可调节，从而适应不同型号的显示模组。

调整组件包括对位平台442、调整单元443、配合单元444。

对位平台442的顶部与移动机构41连接，底部与调整单元443连接。对位平台442包括但不限于采用“UVW对位平台”或者“XXY对位平台”。

调整单元443包括装配板4431、连接于装配板4431并相对装配板4431沿X方向活动的上运动块4432、连接于装配板4431并相对装配板4431沿Z方向活动的下运动块4433、驱动上运动块4432运动的驱动源4434。上运动块4432与下运动块4433之间包括有相互对应配合的配合斜面，上运动块4432与下运动块4433在配合斜面处活动连接。配合单元444连接于下运动块4433。

在驱动源4434的作用下，上运动块4432可相对于装配板4431在X方向上运动，然后在配合斜面的作用下下运动块4433可相对于装配板4431在Z方向上运动，从而使配合单元444、与配合单元444装配的检测压板441沿Z方向运动。上述运动方式，配合单元444的活动更加稳定，且省力，因此更加节能。

配合单元444用于与检测压板441配合以使检测压板441固定于调整组件。调整组件具有设置在配合单元444上并与信号发生机构43相连接的插接部4441。检测压板441安装于调整组件的底部，并且具有与插接部4441对接的对接部4411。

如图13所示，优选的，检测压板441具有用于压接显示模组的压接区的压接部4412，压接部4412朝向缺陷定位装置50突伸出调整单元443。在缺陷定位装置50定位和拍摄缺陷时，缺陷定位装置50与检测装置40的位置接近，使压接部4412突伸出调整单元443可以防止缺陷定位装置50撞击调整单元443。

如图14和图15所示，在本发明的一实施方式中，缺陷定位装置50的驱动机构53连接于第二龙门架14，可沿X方向滑动，从而带动定位机构51和图像获取机构52沿X方向移动。驱动机构53驱动定位机构51和图像获取机构52在Y方向和Z方向上运动。定位机构51与图像获取机构52沿Y方向排布，第一定位单元511固定于第二定位单元412在Y方向的一侧。

驱动机构53驱动定位机构51和图像获取机构52的方式在现有技术中具有多种，例如移动机构41为电动滑轨，通过滑轨上移动的滑块以及滑块上的升降气缸驱动移检测机构44和定位相机42沿移动。

第一定位单元511与第二定位单元512均为热成像相机，图像获取机构52为拍照显微镜，可高精度地拍摄缺陷的图像。进一步的，图像获取机构52具有多个不同倍率的镜头，以适应不同型号的显示模组。

在本发明的一实施方式中，定位机构51还包括设置在第一定位单元511和第二定位单元512之间的坐标相机513，坐标相机513获取所有显示模组及基板的图像，并根据基板上的定位标记建立坐标系，第一定位单元511和第二定位单元512获取的缺陷位置基于前述坐标系。坐标相机513还可以在检测压板441抵持显示模组的压接区时获取检测压板441和显示模组的图像，以便于用户实时观察检测压板441是否正确抵持显示模组的压接区。如果需要调节检测压板441的位置，可参考坐标相机获取的图像。

如图1所示，在本发明的一实施方式中，压板更换装置60包括压板存储仓61和压板抓取机构62。压板存储仓61用于存放多数个检测压板，压板抓取机构62则设置在压板存储仓61和检测装置40之间，包括抓取部和驱动抓取部沿X方向、Y方向和Z方向移动的抓取部驱动单元。

如图16所示，本发明提供了一种显示模组的缺陷检测方法，包括以下步骤：

S70：对多个显示模组通电进行缺陷检测。

使检测压板441在调整组件的作用下压接显示模组的压接区，通过信号发生机构43提供电信号，通过检测信号反馈从而对显示模组进行缺陷检测。本发明所述的缺陷检测的类型为给显示模组通电后进行触控性能检测。

S80：确定显示模组是否存在缺陷。

本发明所述的缺陷为显示模组的电极自身开路以及相邻电极短路，通过检测信号的反馈确定是否存在缺陷。

若存在缺陷，则执行如下步骤：

S91：获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一粗定位热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二粗定位热成像图片，通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间。

显示模组存在缺陷的情况下，显示模组主体上存在缺陷的位置温度会升高，因此第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片会存在差异，通过对比差异的位置可获取缺陷的大致的区域。在显示模组存在缺陷的情况下，再次使检测压板441压接显示模组的压接区，通过信号发生机构43提供电信号，使显示模组再次处于缺陷检测状态下，并拍摄第二粗定位热成像图片，通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片不相同的区域，即可获得缺陷的位置区间。本发明所述的位置区间，具体含义是缺陷坐标值的范围。本发明所述的缺陷显示模组，为具有缺陷的显示模组。

S92：获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二热成像图片，其中，所述第一热成像图片和所述第二热成像图片的覆盖范围为缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间的范围。

在显示模组存在缺陷的情况下，再次使检测压板441压接显示模组的压接区，通过信号发生机构43提供电信号，使显示模组再次处于缺陷检测状态下，并拍摄第二热成像图片。第一热成像图片和第二热成像图片的覆盖范围相比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片较小，以便于后续更精确地获取缺陷的位置。

S93为：通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷的位置信息。

若显示模组存在缺陷，显示模组主体上存在缺陷的位置温度会升高，因此第一热成像图片和第二热成像图片会存在差异，通过对比差异的位置可以精确获取缺陷的位置信息。

在本发明的一实施方式中，所述方法在S70前还包括：

S10、在基板上排列多个显示模组。

通过在基板上排列多个显示模组，在缺陷检测时可以同时检测多个显示模组，从而提升工作效率。

S20、将基板放置于承载板321，放置基板的过程中先使基板的中间区域与承载板321接触，再使基板的边缘与承载板321接触。

通过支撑组件将基板放置在承载板上，并且基板的中间区域先与承载板321接触，基板中间与承载板321之间的空气被挤压排出后，再使基板的边缘与承载板321接触，防止基板与承载板321之间存在空气导致基板不平整。

S30、移动基板使基板的中心与承载板321的中心对应。

通过使基板的中心与承载板321的中心对应，从而实现基板的定位。

S40、将基板吸附于承载板321。

通过使负压气孔3211产生负压，从而将基板固定在承载板321上，防止在缺陷检测过程中基板移动。

S50、将基板沿X方向移动至检测压板441下方。

将基板放置在承载机构32的承载板321上，然后将带有多个显示模组的基板沿X方向移动至检测压板441下方，以方便后续进行缺陷检测，通过一次检测多个显示模组减少了更换显示模组的次数，提升了工作效率。

S60：获取带有多个显示模组的基板的图像，根据基板上的定位标记建立坐标系。具体的，上述用于建立坐标系的图像由坐标相机513获取。

所述缺陷的位置区间和位置信息基于所述坐标系。并且，上述坐标系可应用于后续检查除电性缺陷之外的其他缺陷。

在本发明的一实施方式中，S70具体为：在将基板沿X方向移动至检测压板441下方之后，通过定位相机42获取基板上对位标记的坐标并与基准坐标对比确认基板偏离基准位置的距离，根据基板偏离基准位置的距离使检测压板441移动至与基板对准的坐标，使检测压板441向下移动以抵持显示模组的压接区；获取基板与检测压板441的图片以确定基板与检测压板的位置是否相匹配；通过检测压板441向显示模组传递测试信号并获取反馈信号。

通过定位相机42标定基板的偏移距离，再使检测压板441在移动机构41的作用下移动一定的距离，以使检测压板441的压接部4412与显示模组的压接区准确对应。在检测压板441的压接部4412抵持显示模组的压接区后，通过向显示模组传递测试信号并获取反馈信号，以检测显示模组是否具有电性的缺陷。

具体的，所述“通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间”具体为：通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片的灰阶，确定第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片灰阶不相等的位置所在的区域，通过获取所述区域的坐标范围确定缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间。

在缺陷的位置上，第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片的灰阶会不相等，通过对比灰阶不同的位置可以精确获取缺陷所在的位置区间。

所述“获取缺陷显示模组在通电检测状态下的第二粗定位热成像图片”包括：使检测压板441保持抵持缺陷显示模组压接区的状态，使热成像相机沿X方向和Y方向移动至缺陷显示模组的上方，通过热成像相机获取缺陷显示模组的第二粗定位热成像图片。此处的热成像相机为第一定位单元511。

具体的，所述“通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷的位置信息”具体为：通过对比第一热成像图片和第二热成像图片的灰阶，确定第一热成像图片和第二热成像图片灰阶不相等的位置，通过获取所述位置的坐标确定缺陷显示模组的缺陷的位置信息。

在缺陷的位置上，第一热成像图片和第二热成像图片的灰阶会不相等，通过对比灰阶不同的位置可以精确获取缺陷的位置信息。

所述“获取缺陷显示模组在通电检测状态下的第二热成像图片”包括：使检测压板441保持抵持缺陷显示模组压接区的状态，使热成像相机沿X方向和Y方向移动至缺陷显示模组的上方，通过热成像相机获取缺陷显示模组的第二热成像图片。此处的热成像相机为第二定位单元512。

先通过第一定位单元511粗定位获取缺陷显示模组的缺陷所在的大致位置，即缺陷的位置区间，避免遗漏缺陷。再通过第二定位单元512进一步定位缺陷的准确坐标，使缺陷的位置信息更加准确。

在本发明的一实施方式中，所述方法在步骤S93之后还包括：

S94：基于缺陷的位置信息获取缺陷显示模组在缺陷位置的缺陷图像。图像由高精度的图像获取机构52拍摄并存储，便于后续工作人员对缺陷进行分析。

在步骤S94完成后，执行步骤S95：将基板相对承载板321向上移动，控制机械手插入基板与承载板321之间并取走基板。

在本发明的一实施方式中，执行步骤S80后，若不存在缺陷，则执行步骤S95。

进一步的，所述“将基板相对承载板321向上移动”具体为：控制支撑杆3221向上移动并穿过承载板321，从而抬升承载板321上的基板，使基板相对承载板321向上移动。

在基板被取走后，保持支撑杆3221处于升起状态，将新的带有显示模组的基板放置在支撑杆3221上，控制支撑杆3221落下从而将新的基板放置在承载板321上，然后进行新一轮的缺陷检测。

综上所述，本发明一实施方式提供了一种显示模组的缺陷检测方法，将多个显示模组排布在基板上，然后将基板放置在承载机构32的承载板321上并通过定位夹紧组件324使基板的位置居中，为了提升工作效率，基板的数量为至少两个，承载机构32的数量与基板的数量相适应。

接着，通过负压将基板固定在承载板321上，承载机构32移动以将基板带动至检测压板441下方。然后对多个显示模组通电进行缺陷检测以判断显示模组是否存在缺陷，缺陷检测的类型为给显示模组通电后进行的触控性能检测。

如果检测结果为所有显示模组均不具有缺陷，将基板取走后放入新的基板并重复上述步骤。

如果检测结果为部分显示模组具有缺陷，则先通过第一定位单元511获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间，再通过第二定位单元512获取缺陷的精确坐标，然后通过图像获取机构52获取缺陷显示模组在缺陷位置的缺陷图像并存储，最后将基板取走后放入新的基板并重复上述步骤。

上文所列出的一系列的详细说明仅仅是针对本发明的可行性实施方式的具体说明，它们并非用以限制本发明的保护范围，凡未脱离本发明技艺精神所作的等效实施方式或变更均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (14)

1.一种显示模组的缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一粗定位热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二粗定位热成像图片，通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间；

获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二热成像图片，其中，所述第一热成像图片和所述第二热成像图片的覆盖范围为缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间的范围；

通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷的位置信息。

2.根据权利要求1所述的显示模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述“通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间”具体为：通过对比第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片的灰阶，确定第一粗定位热成像图片和第二粗定位热成像图片灰阶不相等的位置所在的区域，通过获取所述区域的坐标范围确定缺陷显示模组的缺陷所在的位置区间；

所述“通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷所在的位置信息”具体为：通过对比第一热成像图片和第二热成像图片的灰阶，确定第一热成像图片和第二热成像图片灰阶不相等的位置，通过获取所述位置的坐标确定缺陷显示模组的缺陷的位置信息。

3.根据权利要求1所述的显示模组的缺陷检测方法，其特征在于，在“获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一粗定位热成像图片和显示模组在通电检测状态下的第二粗定位热成像图片”之前还包括：对多个显示模组通电进行缺陷检测，确定显示模组是否存在缺陷。

4.根据权利要求3所述的显示模组的缺陷检测方法，其特征在于，在所述“对多个显示模组通电进行缺陷检测”之前还包括：获取带有多个显示模组的基板的图像，根据基板上的定位标记建立坐标系；

所述缺陷的位置区间和位置信息基于所述坐标系。

5.根据权利要求3所述的显示模组的缺陷检测方法，其特征在于，在所述“对多个显示模组通电进行缺陷检测”之前，所述方法还包括：

在基板上排列多个显示模组；

将基板放置于承载板，放置基板的过程中先使基板的中间区域与承载板接触，再使基板的边缘与承载板接触；

移动基板使基板的中心与承载板的中心对应；

将基板吸附于承载板；

将基板沿X方向移动至检测压板下方。

6.根据权利要求5所述的显示模组的缺陷检测方法，其特征在于，前述“对多个显示模组通电进行缺陷检测”具体为：通过定位相机获取基板上对位标记的坐标并与基准坐标对比确认基板偏离基准位置的距离；

根据基板偏离基准位置的距离使检测压板移动至与基板对准的坐标，使检测压板向下移动以抵持显示模组的压接区；

获取基板与检测压板的图片以确定基板与检测压板的位置是否相匹配；

通过检测压板向显示模组传递测试信号并获取反馈信号。

7.根据权利要求1所述的显示模组的缺陷检测方法，其特征在于，在所述“通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷的位置信息”之后还包括：基于缺陷的位置信息获取缺陷显示模组在缺陷位置的缺陷图像。

8.根据权利要求1所述的显示模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述“获取缺陷显示模组在通电检测状态下的第二粗定位热成像图片和第二热成像图片”具体为：使检测压板保持抵持缺陷显示模组压接区的状态，使热成像相机沿X方向和Y方向移动至缺陷显示模组的上方，通过热成像相机获取缺陷显示模组的第二粗定位热成像图片和第二热成像图片。

9.一种显示模组的缺陷检测设备，其特征在于，包括：

承载装置，包括用于承载显示模组的承载机构；

检测装置，包括位于所述承载机构上方的检测机构，所述检测机构包括检测压板和驱动所述检测压板沿Z方向移动的调整组件；

缺陷定位装置，包括定位机构、分离于所述定位机构的图像获取机构、驱动所述定位机构和图像获取机构移动的驱动机构，所述定位机构与所述图像获取机构均位于所述承载机构的上方；

所述定位机构包括第一定位单元和第二定位单元，所述第一定位单元和所述第二定位单元均为热成像相机，且所述第一定位单元的镜头高度高于所述第二定位单元的镜头高度。

10.根据权利要求9所述的显示模组的缺陷检测设备，其特征在于，还包括基座；

所述基座包括安装平台、两个分别设置在所述安装平台Y方向两侧并沿X方向延伸的基座轨道、Y方向的两端滑动安装于所述基座轨道的第一龙门架和第二龙门架；

所述检测装置安装于所述第一龙门架，所述缺陷定位装置安装于所述第二龙门架。

11.根据权利要求10所述的显示模组的缺陷检测设备，其特征在于，所述驱动机构驱动所述定位机构和图像获取机构沿Z方向和Y方向移动；

所述定位机构与所述图像获取机构沿Y方向排布，所述第一定位单元固定于所述第二定位单元Y方向的一侧；

所述检测装置还包括定位相机和驱动所述定位相机沿Y方向移动的移动机构，多数个沿Y方向排布的所述检测机构连接于所述移动机构并在所述移动机构的驱动下沿Y方向移动，所述定位相机的数量为两个且分布在所述检测机构Y方向的两侧。

12.根据权利要求11所述的显示模组的缺陷检测设备，其特征在于，所述检测装置还包括安装于所述移动机构的信号发生机构，所述调整组件具有与所述信号发生机构相连接的插接部，所述检测压板安装于所述调整组件的底部，并且具有与所述插接器对接的对接部。

13.根据权利要求11所述的显示模组的缺陷检测设备，其特征在于，所述检测压板具有用于压接显示模组的压接区的压接部，所述压接部朝向所述缺陷定位装置突伸出所述调整单元。

14.根据权利要求10所述的显示模组的缺陷检测设备，其特征在于，所述承载装置设置于两个所述基座轨道之间，所述承载装置还包括固定安装在所述安装平台上并沿X方向延伸的导向轨道，至少两个沿X方向排布的所述承载机构滑动安装于所述导向轨道，所述承载机构的顶部低于所述第一龙门架和第二龙门架。

Images