CN113437990A - 芯片检测仪 - Google Patents
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 92
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 64
- 230000006854 communication Effects 0.000 claims abstract description 35
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 35
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 claims description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 9
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 5
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 4
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 7
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000007175 bidirectional communication Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B1/00—Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
- H04B1/38—Transceivers, i.e. devices in which transmitter and receiver form a structural unit and in which at least one part is used for functions of transmitting and receiving
- H04B1/40—Circuits
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2884—Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B1/00—Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
- H04B1/38—Transceivers, i.e. devices in which transmitter and receiver form a structural unit and in which at least one part is used for functions of transmitting and receiving
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- H04B1/401—Circuits for selecting or indicating operating mode
Abstract
本发明公开一种芯片检测仪，所述芯片检测仪包括系统供电电路、主控电路、数据信号转换电路和触控显示电路；其中，所述系统供电电路，分别与所述主控电路、所述数据信号转换电路和所述触控显示电路电连接，用于对提供工作电压；所述主控电路，通过串行通信接口与所述数据信号转换电路电连接，用于控制所述数据信号转换电路收发芯片检测数据；所述数据信号转换电路，与芯片检测接口通信连接，用于根据串行通信协议获取所述芯片检测接口传输的芯片检测数据；所述触控显示电路，与所述主控电路电连接，用于根据所述主控电路发送的显示控制信号进行数据显示。本发明技术方案用于降低芯片检测成本，并提高芯片检测效率。
Description
技术领域
本发明涉及半导体芯片检测技术领域，特别涉及一种芯片检测仪。
背景技术
芯片检测仪是一款检测芯片的工具，通过键盘输入被检测芯片的型号，例如被检测芯片为74LS04，输入04即可，然后按下确定键，系统便可检测出该芯片的工作参数。
传统的芯片检测仪的测试探针固定在仪器上，一台机器只能对应一个接口、一款芯片，每种芯片检测均具有专属的检测仪机器，造成了检测仪机器的数量就很多，导致芯片检测成本高和芯片检测效率低。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种芯片检测仪，旨在通过数据信号转换电路使得芯片检测仪与不同的芯片检测接口进行通信，降低芯片检测成本，并提高芯片检测效率。
为实现上述目的，本发明提出的所述芯片检测仪包括系统供电电路、主控电路、数据信号转换电路和触控显示电路；其中，所述系统供电电路，分别与所述主控电路、所述数据信号转换电路和所述触控显示电路电连接，用于提供工作电压；所述主控电路，通过串行通信接口与所述数据信号转换电路电连接，用于控制所述数据信号转换电路收发芯片检测数据；所述数据信号转换电路，与芯片检测接口通信连接，用于根据串行通信协议获取所述芯片检测接口传输的芯片检测数据；所述触控显示电路，与所述主控电路电连接，用于根据所述主控电路发送的显示控制信号进行数据显示。
在本发明的一实施例中，所述数据信号转换电路包括信号收发电路和信号转换控制电路；其中，所述信号收发电路，与所述信号转换控制电路电连接，用于收发信号和转换信号；所述信号转换控制电路，通过串行通信接口与所述主控电路电连接，用于控制所述信号收发电路的自动收发数据信号转换。
在本发明的一实施例中，所述信号收发电路包括RS485接口芯片、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻，所述RS485接口芯片包括第一数据收发引脚、第二数据收发引脚、接收器输出引脚、发送器输入引脚、发送器输出使能引脚和接收器输出使能引脚，其中，所述第一数据收发引脚与所述第一电阻的一端电连接，所述第二数据收发引脚与所述第二电阻的一端电连接，所述接收器输出引脚通过所述第三电阻与所述工作电压电连接，所述发送器输入引脚通过所述第四电阻与所述工作电压电连接；所述信号转换控制电路包括施密特触发反相器，施密特触发反相器包括信号输入引脚和信号输出引脚，其中，所述信号输入引脚与所述发送器输入引脚电连接，所述信号输出引脚分别与所述发送器输出使能引脚和所述接收器输出使能引脚电连接。
在本发明的一实施例中，所述系统供电电路还包括USB充电电路和系统稳压电路；其中，所述USB充电电路，与所述系统稳压电路串联连接；所述系统稳压电路包括降压控制芯片、一个电感、多个电容、多个电阻、一个肖特基二极管和一个场效应管，所述降压控制芯片分别与所述电感、所述多个电容、所述多个电阻、所述肖特基二极管和所述场效应管电连接。
在本发明的一实施例中，所述触控显示电路包括LCD液晶显示屏和触控屏电路；其中，所述LCD液晶显示屏，与所述触控屏电路电连接；所述触控屏电路，与所述主控电路电连接，用于通过串行外设接口对触摸芯片进行数据读取操作，并通过静态存储器控制器对所述LCD液晶显示屏进行写入数据操作。
在本发明的一实施例中，所述芯片检测仪还包括USB接口电路，所述USB接口电路包括升压电路和USB控制电路；其中，所述升压电路，与所述USB控制电路电连接，用于将4.2V升压至5V；所述USB控制电路，用于接收所述主控电路中USB供电引脚传输的电平控制信号，并根据所述电平控制信号控制对闪盘的供电或断电。
在本发明的一实施例中，所述芯片检测仪还包括串口-USB信号转换电路，所述串口-USB信号转换电路与所述主控电路电连接，用于通过USB总线转接芯片对RS232电平信号进行电平转换，以使得所述主控电路与上位机进行通信。
在本发明的一实施例中，所述芯片检测仪还包括按键开关电路，所述按键开关电路与所述主控电路的电源输出引脚电连接，用于控制所述主控电路的开启或关闭。
在本发明的一实施例中，所述芯片检测仪还包括网口模块电路、ESP32模块接入电路、外置EEPROM电路、外扩存储电路、TF内存卡电路和蜂鸣器电路；其中，所述网口模块电路、所述ESP32模块接入电路、所述外置EEPROM电路、所述外扩存储电路、所述TF内存卡电路和所述蜂鸣器电路分别与所述主控电路电连接。
在本发明的一实施例中，所述主控电路还包括主控芯片、复位电路、调试电路和LED显示电路；其中，所述主控芯片，分别与所述复位电路、所述调试电路和所述LED显示电路电连接。
本发明提出的芯片检测仪包括系统供电电路、主控电路、数据信号转换电路和触控显示电路；其中，所述系统供电电路，分别与所述主控电路、所述数据信号转换电路和所述触控显示电路电连接，用于提供工作电压；所述主控电路，通过串行通信接口与所述数据信号转换电路电连接，用于控制所述数据信号转换电路收发芯片检测数据；所述数据信号转换电路，与芯片检测接口通信连接，用于根据串行通信协议获取所述芯片检测接口传输的芯片检测数据；所述触控显示电路，与所述主控电路电连接，用于根据所述主控电路发送的显示控制信号进行数据显示。本方案通过数据信号转换电路使得芯片检测仪与不同的芯片检测接口进行灵活适配与检测通信，可以检测不同的芯片，从而减少芯片检测仪的机器存放数量，降低了芯片检测成本，并提高了芯片检测效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明中芯片检测仪的一实施例的结构示意图；
图2为本发明中芯片检测仪的另一实施例的结构示意图；
图3为本发明中数据信号转换电路的一实施例的结构示意图；
图4为本发明中连接端口的一实施例的结构示意图；
图5为本发明中系统稳压电路的一实施例的结构示意图；
图6为本发明中按键开关电路的一实施例的结构示意图。
附图标号说明：
| 标号 | 名称 | 标号 | 名称 |
| 10000 | 芯片检测仪 | 1300 | TF内存卡电路 |
| 100 | 系统供电电路 | 1400 | 蜂鸣器电路 |
| 200 | 主控电路 | 110 | USB充电电路 |
| 300 | 数据信号转换电路 | 120 | 系统稳压电路 |
| 400 | 触控显示电路 | 210 | 主控芯片 |
| 500 | 芯片检测接口 | 220 | 复位电路 |
| 600 | USB接口电路 | 230 | 调试电路 |
| 700 | 串口-USB信号转换电路 | 240 | LED显示电路 |
| 800 | 按键开关电路 | 310 | 信号收发电路 |
| 900 | 网口模块电路 | 320 | 信号转换控制电路 |
| 1000 | ESP32模块接入电路 | 330 | 连接端口 |
| 1100 | 外置EEPROM电路 | 410 | LCD液晶显示屏 |
| 1200 | 外扩存储电路 | 420 | 触控屏电路 |
| 610 | 升压电路 | 620 | USB控制电路 |
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
请参阅图1，本发明提出一种该芯片检测仪10000包括系统供电电路100、主控电路200、数据信号转换电路300和触控显示电路400；其中，该系统供电电路100，分别与该主控电路200、该数据信号转换电路300和该触控显示电路400电连接，用于提供工作电压；该主控电路200，通过串行通信接口与该数据信号转换电路300电连接，用于控制该数据信号转换电路300收发芯片检测数据；该数据信号转换电路300，与芯片检测接口500通信连接，用于根据串行通信协议获取该芯片检测接口500传输的芯片检测数据；该触控显示电路400，与该主控电路200电连接，用于根据该主控电路200发送的显示控制信号进行数据显示。
该系统供电电路100用于指示经过变压和整流的稳压电路，并通过通用串行总线(universal serial bus，USB)接口对主控电路200、数据信号转换电路300和触控显示电路400提供工作电压。进一步地，系统供电电路100包括输入端和输出端(图示未标出)，该系统供电电路100的输入端与外部供电电源电连接(图示未标出)，系统供电电路100的输出端与主控电路的供电引脚(图示未标出)电连接，用于将输入的交流电压或直流电压转换为直流电压。该系统供电电路100可以升压，也可以降压，具体此处不做限定。例如，系统供电电路100将外部供电电源输入的直流电压4.2V或者交流电压220V电压转换为3.3V的直流电压，具体此处不做限定。
该主控电路200，分别与数据信号转换电路300和触控显示电路400电连接，并接收系统供电电路100提供的工作电压。也就是，主控电路200既可以控制数据信号转换电路300的信号输入和触控显示电路400的信号输入，得到芯片检测数据和显示数据，也可以接收并处理数据信号转换电路300的信号输出和触控显示电路400的信号输出，芯片检测数据用于指示目标检测芯片的工作参数数据。进一步地，该主控电路200与该芯片检测接口500可以无线通信，也可以通过接口转换线与芯片检测接口500连接，实现芯片检测接口500无线传输的芯片检测数据进行数据处理，以判断目标检测芯片是正常芯片还是异常芯片。
该数据信号转换电路300通过串行通信协议与芯片检测接口500通信连接，也就是，该数据信号转换电路300可以通过串行总线(例如，RS422或RS485)的通信方式，能够与芯片检测接口500实现一主多从的通信方式。该数据信号转换电路300能够进行多点、双向通信，具有稳定、可靠等特性。该数据信号转换电路300加快了收发信号切换的速度，从而加强通信的稳定性以及减少器件对通信的影响。进一步地，该数据信号转换电路300可以包括信号转换控制芯片(图示未标出)和RS-485收发器(图示未标出)，信号转换控制芯片用于接收主控电路(也就是，包含单片机MCU的控制电路)传输的控制信号，并根据控制信号输出数字频率制式信号；该RS485收发器的控制端与信号转换控制芯片的输出端电连接，并且该RS485收发器用于提供连接目标检测芯片500的通讯信号接口；
该触控显示电路400，与该主控电路200电连接，用于根据该主控电路200发送的显示控制信号进行数据显示。例如，显示目标检测芯片的型号、目标检测芯片的名称、目标检测芯片的逻辑表达式以及目标检测芯片是否能够正常工作。也就是，该触控显示电路400通过数据信号转换电路300接收芯片检测接口500传输的芯片检测数据并进行显示；触控显示电路400还用于接收触控指令、并将触控指令通过数据信号转换电路300传输至芯片检测接口500，实现可视化操控芯片检测接口500，以使得芯片检测接口500对目标检测芯片进行芯片检测处理。
本发明技术方案，芯片检测仪10000包括系统供电电路100、主控电路200、数据信号转换电路300和触控显示电路400；其中，系统供电电路100的输出端分别与主控电路200的供电端电连接，用于对主控电路200、数据信号转换电路300和触控显示电路400提供工作电压；主控电路200，通过串行通信接口与数据信号转换电路300电连接，用于控制数据信号转换电路300收发检测数据，并控制触控显示电路400显示检测数据；数据信号转换电路300，与芯片检测接口500电连接，用于根据串行通信协议获取芯片检测接口500传输的检测数据；触控显示电路400的输入端与主控电路200的输出端电连接，用于根据主控电路200发送的显示控制信号进行数据显示。本方案通过数据信号转换电路300使得芯片检测仪10000与不同的芯片检测接口500进行灵活适配与检测通信，可以检测不同的芯片，从而减少芯片检测仪10000的机器存放数量，降低了芯片检测成本，并提高了芯片检测效率。
在本发明的一实施例中，请参阅图1至图2，该数据信号转换电路300包括信号收发电路310和信号转换控制电路320；其中，该信号收发电路310，与该信号转换控制电路320电连接，用于收发信号和转换信号；该信号转换控制电路320，通过串行通信接口与该主控电路200电连接，用于控制该信号收发电路310的自动收发数据信号转换。
在本发明的一实施例中，请一并参阅图3，该信号收发电路310包括RS485接口芯片U1(也就是RS-485收发器)、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3和第四电阻R4，该R485接口芯片U1包括第一数据收发引脚A、第二数据收发引脚B、接收器输出引脚RO(也就是R)、发送器输入引脚DI(也就是D)、发送器输出使能引脚RE和接收器输出使能引脚DE，其中，该第一数据收发引脚A与该第一电阻R1的一端电连接，该第二数据收发引脚B与该第二电阻R2的一端电连接，该接收器输出引脚RO通过该第三电阻R3与该工作电压VCC(3.3V)电连接，该发送器输入引脚DI通过该第四电阻R4与该工作电压VCC(3.3V)电连接；该信号转换控制电路320包括施密特触发反相器U2(也就是，信号转换控制芯片)，施密特触发反相器U2包括信号输入引脚A和信号输出引脚Y，其中，该信号输入引脚A与该发送器输入引脚DI电连接，该信号输出引脚Y分别与该发送器输出使能引脚RE和该接收器输出使能引脚DE电连接。串行通信接口的发接收引脚USART_RX与接收器输出引脚RO电连接，串行通信接口的发送引脚USART_TX分别与发送器输入引脚DI和第一数据收发引脚A电连接。
进一步地，RS-485接口芯片U1还包括接地引脚和电源引脚，接地引脚与地电连接，电源引脚与3.3V的工作电压电连接。发送器输出使能引脚RE和接收器输出使能引脚DE共同相连且与信号转换控制电路320的该信号输入引脚Y相连，第三电阻R3和第四电阻R4均为上拉电阻。例如，型号为SN65HVD75(也可以为SN65176B，具体此处不做限定)的RS-485接口芯片U1将串口信号(USART_RX和USART_TX)与485信号进行相互转换。但是由于这个芯片在接收485信号后，需要控制对应引脚电平后，才能将485信号转换成串口信号。型号为SN74AUP1G14的施密特触发反相器U2通过连接至RS-485接口芯片U1的发送器输出使能引脚RE和接收器输出使能引脚DE，并根据发送器输出使能引脚RE和接收器输出使能引脚DE上的高低电平实现RS485的自动收发数据信号转换。该数据信号转换电路简单，成本较低。数据信号转换电路以这两个芯片(也就是，RS-485接口芯片U1和施密特触发反相器U2)为核心，可以使串口波特率不受到更多的限制，可以在更高速的波特率下通信时，也能保持很好稳定性。USART_RX和USART_TX用于指示与主控电路的串行通信接口电连接。
需要说明的是，将发送器输出使能引脚RE和接收器输出使能引脚DE相连接后，当该信号转换控制电路320的信号输入引脚A接收低电平信号时，信号输出引脚Y输出高电平信号，该信号收发电路310的接收器输出使能引脚DE接收高电平信号，R485接口芯片U1进入发送模式，第一数据收发引脚A和第二数据收发引脚B传输低电平信号；该信号转换控制电路320的信号输入引脚A接收高电平信号时，信号输出引脚Y输出低电平信号，该信号收发电路310的接收器输出使能引脚DE接收低电平信号，R485接口芯片U1进入接收模式，第一数据收发引脚A和第二数据收发引脚B传输高电平信号。
在本发明的一实施例中，请一并参阅图4，该第一电阻R1的另一端和该第二电阻R2的另一端分别输出485_A信号和485_B信号。该第一电阻R1的另一端和该第二电阻R2的另一端组合为连接端口330，连接端口330通过接口转换线与芯片检测接口500连接。
在本发明的一实施例中，该系统供电电路100还包括USB充电电路110和系统稳压电路120；其中，该USB充电电路110，与该系统稳压电路120串联连接；请一并参阅图5，该系统稳压电路120包括降压控制芯片U3、一个电感L1、多个电容(C1、C2和C3)、多个电阻(R5、R6和R7)、一个肖特基二极管D1和一个场效应管Qs，该降压控制芯片分别U3与该电感L1、该多个电容(C1、C2和C3)、该多个电阻(R5、R6和R7)、该肖特基二极管D1和该场效应管Qs电连接。
可以理解的是，USB充电电路110和系统稳压电路串联。USB充电电路110包括输入电源、锂离子电池充电器、两个发光二极管、多个电阻和电容，输入电源、锂离子电池充电器(例如，型号为bq24091)、两个发光二极管、多个电阻和电容之间通过串联或者并联的方式连接。芯片检测仪10000可以使用锂电池直接进行供电，也可以使用5V/1A的电源进行供电或者对锂电池经常充电，具体此处不做限定。USB充电电路110的bq24091芯片为电压转换芯片，用于将外部输入的5V电压转换为4.2V，以便于对锂电池充电或者对系统提供第一级的电源。
进一步地，系统稳压电路120中降压控制芯片U1的型号可以TPS64202，也可以为其他芯片型号，具体此处不做限定。场效应管Qs的型号可以为S15475DC，也可以其他型号，具体此处不做限定。将外部输入电压(4.2V)直接串联连接到TPS64202芯片的输入VIN引脚上。通过TPS64202芯片的反馈FB引脚检测电压电流的变化，从而控制TPS64202芯片的转换SW引脚的开关。降压控制芯片U3、一个电感、多个电容、多个电阻、一个肖特基二极管和一个场效应管S15475DC之间通过串联或者并联的方式连接。而SW引脚接入SI5475DC的栅极，作为控制开关，从而调控电源的开关。当输出电流超过限制，SI5475DC则关闭并保持最小关闭时长，之后SI5475DC会再次打开。当电压达到输出电压时，SI5475DC关闭直到电压下降至标准值以下。SI5475DC可以通过导通或关断，控制系统电源的稳定性及安全性。系统稳压电路即是将第一级的电源进行滤波稳压至VCC(也就是，3.3V)，对整个芯片检测仪10000进行供电。系统供电电路可以使用电源直接供电，或者可以使用锂电池供电。同时USB供电同时也为锂电池进行充电。系统稳压电路能够保证芯片检测仪10000工作在3.3V的工作电压之内。
在本发明的一实施例中，请参阅图2，该触控显示电路400包括LCD液晶显示屏410和触控屏电路420；其中，该LCD液晶显示屏410，与该触控屏电路420电连接；该触控屏电路420，与该主控电路200电连接，用于通过串行外设接口对触摸芯片(例如，XPT2046)进行数据读取操作，并通过静态存储器控制器FSMC对该LCD液晶显示屏410进行写入数据操作。可以理解的是，主控电路200通过串行外设接口SPI对触摸芯片XPT2046进行读取操作，从而实现触摸位置的反馈。该触控显示电路400可以实现了人机交互的作用，为芯片检测仪10000检测操作带来的极大的便利性和使用性。同时通过触摸芯片实现触摸屏的触摸功能，进一步完善了芯片检测仪的简易操作性能。
在本发明的一实施例中，请参阅图2，该芯片检测仪10000还包括USB接口电路600，该USB接口电路600包括升压电路610和USB控制电路620；其中，该升压电路610，与该USB控制电路620电连接，用于将4.2V升压至5V；该USB控制电路620，用于接收该主控电路200中USB供电引脚传输的电平控制信号，并根据该电平控制信号控制对闪盘的供电或断电。该USB接口电路600基于USB_PWR引脚实现三极管控制电源的通断，这样使用的USB的电源是可控的，即可保护了该芯片检测仪10000电源的稳定性及USB的安全性。
在本发明的一实施例中，请参阅图2，该芯片检测仪10000还包括串口-USB信号转换电路700，该串口-USB信号转换电路700与该主控电路200电连接，用于通过USB总线转接芯片对RS232电平信号进行电平转换，以使得该主控电路200与上位机进行通信。
进一步地，芯片检测仪10000使用Type_C接口与5V/1A充电器进行连接，实现对锂电池进行充电或者为系统提供电源。当Type_C与上位机(也就是，电脑)进行连接时，通过串口通信方式进行数据通信。该串口-USB信号转换电路700还包括信号转换芯片(图示未标出)，信号转换芯片可以为CH340G，也可以为其他型号的芯片，具体此处不做限定。CH340G主要是将RS232的电平信号转换为USB的电平信号，以使得主控电路200与上位机等进行通信。串口-USB信号转换电路700通过CH340G芯片实现RS232的电平转换，可以使得上位机使用USB转串口与芯片检测仪10000进行通信，例如：可以通过串口-USB信号转换电路700交互芯片检测仪10000运行的信息，或者可以通过特殊命令控制芯片检测仪10000。
在本发明的一实施例中，请参阅图2，该芯片检测仪10000还包括按键开关电路800，该按键开关电路800与该主控电路200的电源输出引脚电连接，用于控制该主控电路200的开启或关闭。
请一并参阅图6，按键开关电路800主要包括按键开关SW、场效应管MOS、三极管Q1、多个电阻(R8、R9、R10和R11)和两个二极管(D2和D3)，系统电源VCC(3.3V)直接供给或者电阻分压后接入到场效应管MOS，当按键开关SW轻触按键按下后，场效应管MOS(例如，AO3145)导通。VCC3.3V电压给主控电路200上电。主控电路200上电后则控制PW_OUT引脚为高电平，三极管(例如，型号为S8050)导通，从而场效应管MOS持续导通(此时轻触按键可以放开)。当按键开关SW再次按下时，PW_OFF引脚检测到低电平，主控电路200控制PW_OUT引脚为低电平，场效应管MOS关断，从而实现关机。该按键开关电路800使用少量的原器件，实现了芯片检测仪10000的一键开关机。同时在软件程序上可以为在按键开关带来不同的功能的扩展，在芯片检测仪10000上电进入工作模式后，按键开关SW即可通过软件程序实现不同的功能，例如进入ROOT等。
在本发明的一实施例中，请参阅图2，该芯片检测仪10000还包括网口模块电路900、ESP32模块接入电路1000、外置EEPROM电路1100、外扩存储电路1200、TF内存卡电路1300和蜂鸣器电路1400；其中，该网口模块电路900、该ESP32模块接入电路1000、该外置EEPROM电路1100、该外扩存储电路1200、该TF内存卡电路1300和该蜂鸣器电路1400分别与该主控电路200电连接。
其中，ESP32模块接入电路1000使用串口方式对ESP32模块进行通信，从而实现无线WIFI方式或者蓝牙方式的连接通信。外扩存储电路1200包括外置SRAM扩存芯片电路(图示未标识)和和SPI flash扩存芯片电路(图示未标识)，外置EEPROM电路1100和SPI flash扩存芯片电路使用集成电路总线IIC或串行外设接口SPI通信方式对芯片内存的读写操作，外置SRAM扩存芯片电路使用FSMC的通信方式，对芯片内部的存储进行读写操作，从而扩展了MCU的缓存。TF内存卡电路使用安全数字输入输出SDIO的通信方式对TF卡(一种快闪存储器卡)进行访问，以使得芯片检测仪10000配合文件系统实现对TF卡的文件操作。蜂鸣器电路1400接收主控电路输入的控制蜂鸣器引脚的电平信号，对内置的三极管进行通断操作，从而实现对有源蜂鸣器的鸣叫控制操作，进而实现预警操作。
在本发明的一实施例中，请参阅图2，需要说明的是，该主控电路还包括主控芯片210、复位电路220、调试电路230和LED显示电路240；其中，该主控芯片210，分别与该复位电路220、该调试电路230和该LED显示电路240电连接。
主控芯片210可以采用型号为STM32F407ZEF6的MCU，也可以采用其他型号的MCU，具体此处不做限定。复位电路220用于将主控芯片210恢复至初始动作状态；调试电路230用于向主控芯片210烧录软件程序数据或者调试软件程序数据；LED显示电路用于显示主控芯片210的工作状态。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种芯片检测仪，其特征在于，所述芯片检测仪包括系统供电电路、主控电路、数据信号转换电路和触控显示电路；其中，
所述系统供电电路，分别与所述主控电路、所述数据信号转换电路和所述触控显示电路电连接，用于提供工作电压；
所述主控电路，通过串行通信接口与所述数据信号转换电路电连接，用于控制所述数据信号转换电路收发芯片检测数据；
所述数据信号转换电路，与芯片检测接口通信连接，用于根据串行通信协议获取所述芯片检测接口传输的芯片检测数据；
所述触控显示电路，与所述主控电路电连接，用于根据所述主控电路发送的显示控制信号进行数据显示。
2.根据权利要求1所述的芯片检测仪，其特征在于，所述数据信号转换电路包括信号收发电路和信号转换控制电路；其中，
所述信号收发电路，与所述信号转换控制电路电连接，用于收发信号和转换信号；
所述信号转换控制电路，通过串行通信接口与所述主控电路电连接，用于控制所述信号收发电路的自动收发数据信号转换。
3.根据权利要求2所述的芯片检测仪，其特征在于，所述信号收发电路包括RS485接口芯片、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻，所述RS485接口芯片包括第一数据收发引脚、第二数据收发引脚、接收器输出引脚、发送器输入引脚、发送器输出使能引脚和接收器输出使能引脚，其中，所述第一数据收发引脚与所述第一电阻的一端电连接，所述第二数据收发引脚与所述第二电阻的一端电连接，所述接收器输出引脚通过所述第三电阻与所述工作电压电连接，所述发送器输入引脚通过所述第四电阻与所述工作电压电连接；
所述信号转换控制电路包括施密特触发反相器，施密特触发反相器包括信号输入引脚和信号输出引脚，其中，所述信号输入引脚与所述发送器输入引脚电连接，所述信号输出引脚分别与所述发送器输出使能引脚和所述接收器输出使能引脚电连接。
4.根据权利要求1所述的芯片检测仪，其特征在于，所述系统供电电路还包括USB充电电路和系统稳压电路；其中，
所述USB充电电路，与所述系统稳压电路串联连接；
所述系统稳压电路包括降压控制芯片、一个电感、多个电容、多个电阻、一个肖特基二极管和一个场效应管，所述降压控制芯片分别与所述电感、所述多个电容、所述多个电阻、所述肖特基二极管和所述场效应管电连接。
5.根据权利要求1所述的芯片检测仪，其特征在于，所述触控显示电路包括LCD液晶显示屏和触控屏电路；其中，
所述LCD液晶显示屏，与所述触控屏电路电连接；
所述触控屏电路，与所述主控电路电连接，用于通过串行外设接口对触摸芯片进行数据读取操作，并通过静态存储器控制器对所述LCD液晶显示屏进行写入数据操作。
6.根据权利要求1所述的芯片检测仪，其特征在于，所述芯片检测仪还包括USB接口电路，所述USB接口电路包括升压电路和USB控制电路；其中，
所述升压电路，与所述USB控制电路电连接，用于将4.2V升压至5V；
所述USB控制电路，用于接收所述主控电路中USB供电引脚传输的电平控制信号，并根据所述电平控制信号控制对闪盘的供电或断电。
7.根据权利要求1所述的芯片检测仪，其特征在于，所述芯片检测仪还包括串口-USB信号转换电路，所述串口-USB信号转换电路与所述主控电路电连接，用于通过USB总线转接芯片对RS232电平信号进行电平转换，以使得所述主控电路与上位机进行通信。
8.根据权利要求1所述的芯片检测仪，其特征在于，所述芯片检测仪还包括按键开关电路，所述按键开关电路与所述主控电路的电源输出引脚电连接，用于控制所述主控电路的开启或关闭。
9.根据权利要求1-8中任意一项所述的芯片检测仪，其特征在于，所述芯片检测仪还包括网口模块电路、ESP32模块接入电路、外置EEPROM电路、外扩存储电路、TF内存卡电路和蜂鸣器电路；其中，
所述网口模块电路、所述ESP32模块接入电路、所述外置EEPROM电路、所述外扩存储电路、所述TF内存卡电路和所述蜂鸣器电路分别与所述主控电路电连接。
10.根据权利要求1-8中任意一项所述的芯片检测仪，其特征在于，所述主控电路还包括主控芯片、复位电路、调试电路和LED显示电路；其中，
所述主控芯片，分别与所述复位电路、所述调试电路和所述LED显示电路电连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110679237.7A CN113437990B (zh) | 2021-06-18 | 2021-06-18 | 芯片检测仪 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110679237.7A CN113437990B (zh) | 2021-06-18 | 2021-06-18 | 芯片检测仪 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN113437990A true CN113437990A (zh) | 2021-09-24 |
| CN113437990B CN113437990B (zh) | 2022-07-01 |
Family
ID=77756631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202110679237.7A Active CN113437990B (zh) | 2021-06-18 | 2021-06-18 | 芯片检测仪 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN113437990B (zh) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2021-06-18 CN CN202110679237.7A patent/CN113437990B/zh active Active
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| CN113437990B (zh) | 2022-07-01 |
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
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