CN113406481A - 一种集成电路输入端测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种集成电路输入端测试装置,其结构包括基座、固位把、探针、承载台、对扣、弹簧,基座上连接有探针和弹簧,弹簧一端连接有对扣,对扣连接有固位把,固位把上设置有承载台,承载台包括助力组件、垫片、囊括节、护板,助力组件通过垫片与囊括节间接配合,垫片连接在固位把上,且两侧连接有护板,在助力组件上设置有挡把和复位结构,利用挡把和复位结构与抓手相配合,当探针末端被输入端卡紧锁压住时,将会与挡把相互牵扯,使之绷紧,抽动其底部的复位结构,为之提供循环复位的动能,保证探针能更好搭接进下一个输入端。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路测试领域,特别的,是一种集成电路输入端测试装置。
背景技术
集成电路中包括多个引脚,例如,输入引脚、输出引脚、双向引脚、和三态引脚等。在实际应用过程中,为了确保集成电路中各个引脚的正确性,需要对各个引脚进行测试;现有的集成电路输入端测试装置在与输入端搭接的探针与输入端发生相对运动时,探针末端将会被输入端卡紧锁压住,使得探针末端出现向下异常移动的情形,以致于探针位置之间相互交错无法并列排布,造成输入端难以顺畅地无缝搭接进下一个探针进行接触测试,会影响探针与输入端的接触效果。
发明内容
针对上述问题,本发明提供一种集成电路输入端测试装置,其结构包括基座、固位把、探针、承载台、对扣、弹簧,所述基座上连接有探针和弹簧,所述弹簧一端连接有对扣,所述对扣连接有固位把,所述固位把上设置有承载台,所述承载台包括助力组件、垫片、囊括节、护板,所述助力组件通过垫片与囊括节间接配合,所述垫片连接在固位把上,且两侧连接有护板。
作为本发明的进一步改进,所述助力组件包括竖框、挡把、复位结构、卡盘、抓手,所述竖框连接在垫片和卡盘上,所述卡盘上连接有抓手,且其内部设置有挡把和复位结构。
作为本发明的进一步改进,所述抓手通过挡把活动卡合在囊括节上,使得抓手与挡把之间产生一定的挤压互斥力,便于抓手紧贴在囊括节底部。
作为本发明的进一步改进,所述挡把包括磨合层、通腔、斜板、托筋,所述托筋连接在磨合层上,且其上方连接有抓手,所述磨合层连接在斜板上,所述斜板之间开设有通腔,所述通腔与复位结构间接配合。
作为本发明的进一步改进,所述通腔与复位结构间接配合,在其内部的气体输出后,不易出现反流现象,高效内部产生负压,推动下一进程的发生。
作为本发明的进一步改进,所述复位结构包括抵座、滑道、活塞、推盘、外旋钮,所述抵座连接在推盘上,所述推盘连接在卡盘上,且连接在有滑道,所述滑道与活塞过渡配合在斜板上,所述活塞两侧均设置有外旋钮。
作为本发明的进一步改进,所述外旋钮包括叠片、疏通道、弹板、控制叶、收合夹,所述叠片连接在控制叶一侧,所述控制叶另一侧通过收合夹活动卡合在抵座上,且两侧连接有弹板,所述弹板上连接有疏通道。
作为本发明的进一步改进,所述收合夹包括攀杆、铰链、定位件、撑卡,所述攀杆两端均连接在定位件上,所述定位件上连接有铰链,所述铰链间接配合在控制叶和撑卡之间。
有益效果
与现有技术相比,本发明的有益效果:
1、本发明在助力组件上设置有挡把和复位结构,利用挡把和复位结构与抓手相配合,当探针末端被输入端卡紧锁压住时,将会与挡把相互牵扯,使之绷紧,抽动其底部的复位结构,为之提供循环复位的动能,保证探针能更好搭接进下一个输入端。
2、本发明由于磨合层为百叶结构,在通腔产生负压时,将会使得该百叶结构被吸附转动朝向斜板,增加气流流通空间,有利于扩大负压自身的力度。
3、本发明通过控制叶能够快速控制叠片沿着滑道向下摆动,使得叠片顺利向下摆动,保证滑道内的活塞能处于强效制动的状态,有效保证了挡把有往复循环变形的能力。
附图说明
图1为本发明一种集成电路输入端测试装置的结构示意图。
图2为本发明承载台的剖面结构示意图。
图3为本发明助力组件的正视结构示意图。
图4为本发明挡把的平面结构示意图。
图5为本发明复位结构的平面结构示意图。
图6为本发明外旋钮的平面结构示意图。
图7为本发明收合夹的平面结构示意图。
图中:基座-1、固位把-2、探针-3、承载台-4、对扣-5、弹簧-6、助力组件-41、垫片-42、囊括节-43、护板-44、竖框-411、挡把-412、复位结构-413、卡盘-414、抓手-415、磨合层-121、通腔-122、斜板-123、托筋-124、抵座-131、滑道-132、活塞-133、推盘-134、外旋钮-135、叠片-5a1、疏通道-5a2、弹板-5a3、控制叶-5a4、收合夹-5a5、攀杆-a51、铰链-a52、定位件-a53、撑卡-a54。
具体实施方式
基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1
如图1-图3所示,本发明提供一种集成电路输入端测试装置,其结构包括基座1、固位把2、探针3、承载台4、对扣5、弹簧6,所述基座1上固定连接有探针3和弹簧6,所述弹簧6一端焊接连接有对扣5,所述对扣5中部嵌接连接有固位把2,所述固位把2上设置有承载台4,所述承载台4包括助力组件41、垫片42、囊括节43、护板44,所述助力组件41通过垫片42与囊括节43间接配合,所述垫片42插嵌连接在固位把2上,且两侧套接连接有护板44,所述助力组件41包括竖框411、挡把412、复位结构413、卡盘414、抓手415,所述竖框411插嵌连接在垫片42和卡盘414上,所述卡盘414外圆周上铰接连接有抓手415,且其内部设置有挡把412和复位结构413,所述抓手415为弧形结构,通过挡把412活动卡合在囊括节43底部,使得抓手415与挡把412之间产生一定的挤压互斥力,便于抓手415紧贴在囊括节43底部,在助力组件41上设置有挡把412和复位结构413,利用挡把412和复位结构413与抓手415相配合,当探针3末端被输入端卡紧锁压住时,将会与挡把412相互牵扯,使之绷紧,抽动其底部的复位结构413,为之提供循环复位的动能,保证探针3能更好搭接进下一个输入端。
实施例2
如图4-图7所示,在实施例1的基础上,本发明结合以下结构部件的相互配合,所述挡把412包括磨合层121、通腔122、斜板123、托筋124,所述托筋124两端嵌接连接在磨合层121上,且其上方套接连接有抓手415,所述磨合层121为百叶结构,焊接连接在斜板123上,所述斜板123之间开设有通腔122,所述通腔122与复位结构413间接配合,所述通腔122的横截面呈上大下小结构,与复位结构413间接配合,在其内部的气体输出后,不易出现反流现象,高效内部产生负压,推动下一进程的发生,所述复位结构413包括抵座131、滑道132、活塞133、推盘134、外旋钮135,所述抵座131倾斜扣接连接在推盘134外圆周,所述推盘134套接连接在卡盘414上,且内部固定连接在有滑道132,所述滑道132与活塞133过渡配合在斜板123底部,所述活塞133两侧均设置有外旋钮135,所述外旋钮135包括叠片5a1、疏通道5a2、弹板5a3、控制叶5a4、收合夹5a5,所述叠片5a1铰接连接在控制叶5a4一侧,所述控制叶5a4另一侧通过收合夹5a5活动卡合在抵座131上,且两侧倾斜机械连接有弹板5a3,所述弹板5a3上焊接连接有疏通道5a2,所述收合夹5a5包括攀杆a51、铰链a52、定位件a53、撑卡a54,所述攀杆a51两端均插嵌连接在定位件a53底部,所述定位件a53外部固定连接有铰链a52,所述铰链a52间接配合在控制叶5a4和撑卡a54之间,由于磨合层121为百叶结构,在通腔122产生负压时,将会使得该百叶结构被吸附转动朝向斜板123,增加气流流通空间,有利于扩大负压自身的力度,通过控制叶5a4能够快速控制叠片5a1沿着滑道132向下摆动,使得叠片5a1顺利向下摆动,保证滑道132内的活塞133能处于强效制动的状态,有效保证了挡把412有往复循环变形的能力。
下面对上述技术方案中的一种集成电路输入端测试装置的工作原理作如下说明:
本发明在使用过程中,当与输入端搭接的探针3与输入端发生相对运动时,为避免探针3末端出现向下异常移动的情形,使得探针3位置之间相互交错无法并列排布,因此,在囊括节43之间设置有助力组件41,探针3末端会扣押在托筋124上,使得托筋124同步向下拉伸,会在通腔122前内产生反向的气流冲击,使得通腔122内形成负压,并带动抓手415撬动竖框411朝卡盘414外圆周缩小,使得卡盘414向垫片42内部滑动,稳定固定在其内部,也保证了磨合层121不在受托筋124的限制,其百叶结构会随着托筋124的移动而有打开的趋势,被利用来水平移动挤压之间的斜板123,将会带动斜板123倾斜,使得斜板123在卡住通腔122的开口端,同时,使得通腔122内部的气流流通通道变小,增大之间的气压,使得磨合层121朝着滑道132方向完全打开,该气压会推动推盘134朝探针3下压位置进行反向运动,进而,疏通道5a2受气压影响,将会在引导气流向滑道132涌动,由于弹板5a3倾斜设置在滑道132上,具有一定的悬空高度,使得弹板5a3会受气压挤压,将会不间断的抖动,最终,从控制叶5a4两侧翻转出去,那一瞬间,将会使得控制叶5a4上的撑卡a54沿着攀杆a51在抵座131上进行有效呈拱形绷直,保证两侧的定位件a53能利用铰链a52,与控制叶5a4表面发生摩擦,来限制控制叶5a4的扩张范围,保证弹板5a3弹出后,在滑道132上支撑住,具有一定的倾斜高度差,且能推动末端的叠片5a1翻转至活塞133两侧,来按压活塞133,使之能二次调节复位结构413内部的气压,能大于外部托筋124被牵扯产生的牵引力,将其托筋124吸附牵引归位回通腔122开口,保证输入端能够顺畅地无缝搭接进下一个探针3进行接触测试。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“侧向”、“长度”、“宽度”、“高度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“侧”等指示的方位或位置关系为基于附图中所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构 造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
Claims (8)
1.一种集成电路输入端测试装置,其特征在于:其结构包括基座(1)、固位把(2)、探针(3)、承载台(4)、对扣(5)、弹簧(6),所述基座(1)上连接有探针(3)和弹簧(6),所述弹簧(6)一端连接有对扣(5),所述对扣(5)连接有固位把(2),所述固位把(2)上设置有承载台(4),所述承载台(4)包括助力组件(41)、垫片(42)、囊括节(43)、护板(44),所述助力组件(41)通过垫片(42)与囊括节(43)间接配合,所述垫片(42)连接在固位把(2)上,且两侧连接有护板(44)。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路输入端测试装置,其特征在于:所述助力组件(41)包括竖框(411)、挡把(412)、复位结构(413)、卡盘(414)、抓手(415),所述竖框(411)连接在垫片(42)和卡盘(414)上,所述卡盘(414)上连接有抓手(415),且其内部设置有挡把(412)和复位结构(413)。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路输入端测试装置,其特征在于:所述抓手(415)通过挡把(412)活动卡合在囊括节(43)上。
4.根据权利要求2所述的一种集成电路输入端测试装置,其特征在于:所述挡把(412)包括磨合层(121)、通腔(122)、斜板(123)、托筋(124),所述托筋(124)连接在磨合层(121)上,且其上方连接有抓手(415),所述磨合层(121)连接在斜板(123)上,所述斜板(123)之间开设有通腔(122),所述通腔(122)与复位结构(413)间接配合。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路输入端测试装置,其特征在于:所述通腔(122)与复位结构(413)间接配合。
6.根据权利要求2所述的一种集成电路输入端测试装置,其特征在于:所述复位结构(413)包括抵座(131)、滑道(132)、活塞(133)、推盘(134)、外旋钮(135),所述抵座(131)连接在推盘(134)上,所述推盘(134)连接在卡盘(414)上,且连接在有滑道(132),所述滑道(132)与活塞(133)过渡配合在斜板(123)上,所述活塞(133)两侧均设置有外旋钮(135)。
7.根据权利要求6所述的一种集成电路输入端测试装置,其特征在于:所述外旋钮(135)包括叠片(5a1)、疏通道(5a2)、弹板(5a3)、控制叶(5a4)、收合夹(5a5),所述叠片(5a1)连接在控制叶(5a4)一侧,所述控制叶(5a4)另一侧通过收合夹(5a5)活动卡合在抵座(131)上,且两侧连接有弹板(5a3),所述弹板(5a3)上连接有疏通道(5a2)。
8.根据权利要求7所述的一种集成电路输入端测试装置,其特征在于:所述收合夹(5a5)包括攀杆(a51)、铰链(a52)、定位件(a53)、撑卡(a54),所述攀杆(a51)两端均连接在定位件(a53)上,所述定位件(a53)上连接有铰链(a52),所述铰链(a52)间接配合在控制叶(5a4)和撑卡(a54)之间。
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