CN113406396A - 电容检测电路及电容检测方法 - Google Patents

电容检测电路及电容检测方法 Download PDF

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CN113406396A CN202110658631.2A CN202110658631A CN113406396A CN 113406396 A CN113406396 A CN 113406396A CN 202110658631 A CN202110658631 A CN 202110658631A CN 113406396 A CN113406396 A CN 113406396A
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Abstract

本申请公开了一种电容检测电路及电容检测方法，属于电容检测技术领域。电容检测电路中的计数电路用于在固定时段内对待测电容转换的方波进行计数，记录得到的计数阈值，固定时段与基准寄存器的初始值和控制电路中基准振荡器的频率相关；计数电路还用于清零后再次对待测电容转换的方波进行计数；控制电路中的基准计数器用于在计数电路再次计数的同时对基准振荡器输出的方波进行计数；在计数电路的计数值达到计数阈值时，控制减法器对初始值和基准计数器的计数值进行减法运算，得到的计算结果用于计算待测电容的变化率。本申请无需在电容检测电路中设置除法器，可以在较小规模的芯片上可以实现较高的检测精度。

Description

电容检测电路及电容检测方法
技术领域
本申请实施例涉及电容检测技术领域，特别涉及一种电容检测电路及电容检测方法。
背景技术
目前，电容检测技术有着越来越广泛的应用，给生活带来了很大的便利。例如，电容按键、电容屏、麦克风等产品都是基于电容检测技术实现的。
一种传统电容检测电路如图1所示，该电容检测电路中，输入振荡器的输入端与待测电容相连，输入振荡器的输出端与计数器的输入端相连，计数器的控制端与控制器的一个输出端相连，控制器的输入端与基准振荡器相连，控制器的另一个输出端与寄存器相连，计数器的输出端与寄存器的输入端相连，寄存器的输出端与处理电路相连。这样，输入振荡器可以将待测电容转化为具有一定频率的方波信号，通过计数器来统计一定时间内的方波个数，然后将计数值存入寄存器，通过计数值来表示待测电容的大小。
在进行电容检测时，通常还需要获取待测电容的变化率，这就需要在处理电路中设置除法器，而除法器的缺点是规模较大，若要增加电容检测的精度，就需要大幅增加电容检测电路的规模。
发明内容
本申请实施例提供了一种电容检测电路及电容检测方法，用于解决通过除法器来检测待测电容的变化率时，电容检测电路的规模较大的问题。所述技术方案如下：
一方面，提供了一种电容检测电路，所述电容检测电路包括：计数电路、控制电路、基准寄存器和减法器；
所述计数电路的输入端作为所述电容检测电路的输入端与待测电容相连，所述计数电路的输出端与所述控制电路的输入端相连；
所述控制电路的输出端和所述基准寄存器的输出端分别与所述减法器的输入端相连，所述减法器的输出端作为所述电容检测电路的输出端；
所述计数电路用于在固定时段内对所述待测电容转换的方波进行计数，记录得到的计数阈值，所述固定时段与所述基准寄存器的初始值和所述控制电路中基准振荡器的频率相关；
所述计数电路还用于清零后再次对所述待测电容转换的方波进行计数；所述控制电路中的基准计数器用于在所述计数电路再次计数的同时对所述基准振荡器输出的方波进行计数；
在所述计数电路的计数值达到所述计数阈值时，控制所述减法器对所述初始值和所述基准计数器的计数值进行减法运算，得到的计算结果用于计算所述待测电容的变化率。
在一种可能的实现方式中，所述计数电路包括输入振荡器、输入计数器、输入寄存器和比较器；
所述输入振荡器的输入端作为所述计数电路的输入端与所述待测电容相连，所述输入振荡器的输出端与所述输入计数器的第一输入端相连；所述输入计数器的第二输入端与所述控制电路的第二输出端相连；
所述输入计数器的输出端分别与所述输入寄存器的第一输入端和所述比较器的第一输入端相连；所述输入寄存器的第二输入端与所述控制电路的第三输出端相连；所述输入寄存器的输出端与所述比较器的第二输入端相连；
所述比较器的第三输入端与所述控制电路的第四输出端相连；所述比较器的输出端作为所述计数电路的输出端。
在一种可能的实现方式中，所述控制电路包括基准振荡器、基准计数器和控制器；
所述控制器的第一输入端作为所述控制电路的输入端与所述比较器的输出端相连，所述控制器的第一输出端作为所述控制电路的第一输出端与所述减法器的第一输入端相连，所述控制器的第二输出端作为所述控制电路的第二输出端与所述输入计数器的第二输入端相连，所述控制器的第三输出端作为所述控制电路的第三输出端与所述输入寄存器的第二输入端相连，所述控制器的第四输出端作为所述控制电路的第四输出端与所述比较器的第三输入端相连，所述控制器的第五输出端与所述基准计数器的第一输入端相连；
所述基准振荡器的输出端分别与所述控制器的第二输入端和所述基准计数器的第二输入端相连；
所述基准计数器的输出端与所述减法器的第二输入端相连；
所述控制器的第三输入端与所述减法器的输出端相连。
在一种可能的实现方式中，所述控制器用于对所述输入计数器和所述基准计数器进行清零；
所述输入计数器用于对所述输入振荡器输出的方波进行计数，且所述基准计数器用于对所述基准振荡器输出的方波进行计数；
当所述减法器确定所述基准计数器的计数值达到所述初始值时，通过所述控制器控制所述输入计数器将计数值作为计数阈值写入所述输入寄存器，并对所述输入计数器和所述基准计数器进行清零；
所述输入计数器用于对所述输入振荡器输出的方波进行计数，且所述基准计数器用于对所述基准振荡器输出的方波进行计数；当所述比较器确定所述输入计数器的计数值达到所述计数阈值时，通过所述控制器控制所述减法器对所述初始值和所述基准计数器的计数值进行减法运算，得到所述计算结果。
另一方面，提供了一种电容检测方法，用于如上所述的电容检测电路中，所述方法包括：
所述计数电路在固定时段内对所述待测电容转换的方波进行计数，记录得到的计数阈值，所述固定时段与所述基准寄存器的初始值和所述基准振荡器的频率相关；
所述计数电路在清零后再次对所述待测电容转换的方波进行计数，所述基准计数器在所述计数电路再次计数的同时对所述基准振荡器输出的方波进行计数；
在所述计数电路的计数值达到所述计数阈值时，控制所述减法器对所述初始值和所述基准计数器的计数值进行减法运算，得到的计算结果用于计算所述待测电容的变化率。
在一种可能的实现方式中，当所述计数电路包括输入振荡器、输入计数器和比较器，且所述控制电路包括基准振荡器、基准计数器和控制器时，
所述计数电路在固定时段内对所述待测电容转换的方波进行计数，记录得到的计数阈值，包括：在所述控制器对所述输入计数器和所述基准计数器进行清零后，所述输入计数器对所述输入振荡器输出的方波进行计数，且所述基准计数器对所述基准振荡器输出的方波进行计数；当所述减法器确定所述基准计数器的计数值达到所述初始值时，通过所述控制器控制所述输入计数器将计数值作为计数阈值写入所述输入寄存器，并对所述输入计数器和所述基准计数器进行清零；
所述在所述计数电路的计数值达到所述计数阈值时，控制所述减法器对所述初始值和所述基准计数器的计数值进行减法运算，得到的计算结果用于计算所述待测电容的变化率，包括：当所述比较器确定所述输入计数器的计数值达到所述计数阈值时，通过所述控制器控制所述减法器对所述初始值和所述基准计数器的计数值进行减法运算，得到所述计算结果。
在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：
将所述计算结果除以所述初始值与常数的乘积，得到所述待测电容的变化率，所述常数等于所述输入振荡器的频率除以所述待测电容的电容值。
在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：
当所述计算结果连续大于或等于预定阈值的次数满足次数阈值时，保持所述基准计数器为所述初始值，对所述基准计数器和所述输入计数器进行清零。
在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：
当所述计算结果小于预定阈值，或者，当所述计算结果连续大于或等于预定阈值的次数不满足次数阈值时，保持所述输入寄存器为所述计数阈值，并对所述基准计数器和所述输入计数器进行清零。
本申请实施例提供的技术方案的有益效果至少包括：
本申请中可以根据计算结果直接计算待测电容的变化率，而无需在电容检测电路中设置除法器，可以减小电容检测电路的规模。另外，在增加电容检测的精度时，无需大幅增加电容检测电路的规模，即在较小规模的芯片上可以实现较高的检测精度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术中的一种电容检测电路的示意图；
图2为本申请提出的一种电容检测电路的示意图；
图3为本申请提出的一种电容检测电路的波形图的示意图；
图4为本申请提出一种电容检测方法的流程图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。
请参考图2，其示出了本申请一个实施例提供的电容检测电路的结构示意图。该电容检测电路，可以包括：计数电路、控制电路、基准寄存器200和减法器210。
计数电路的输入端作为电容检测电路的输入端与待测电容220相连，计数电路的输出端与控制电路的输入端相连；控制电路的输出端和基准寄存器200的输出端分别与减法器210的输入端相连，减法器210的输出端作为电容检测电路的输出端。其中，计数电路和控制电路的具体结构和连接关系详见下文中的描述，此处不作赘述。
具体的，计数电路用于在固定时段内对待测电容220转换的方波进行计数，记录得到的计数阈值，该固定时段与基准寄存器200的初始值和控制电路中基准振荡器230的频率相关；计数电路还用于清零后再次对待测电容220转换的方波进行计数；控制电路中的基准计数器240用于在计数电路再次计数的同时对基准振荡器230输出的方波进行计数；在计数电路的计数值达到计数阈值时，控制减法器210对初始值和基准计数器240的计数值进行减法运算，得到的计算结果用于计算待测电容220的变化率，
下面对计数电路的结构进行介绍。
本实施例中的计数电路包括输入振荡器250、输入计数器260、输入寄存器270和比较器280。其中，输入振荡器250的输入端作为计数电路的输入端与待测电容220相连，输入振荡器250的输出端与输入计数器260的第一输入端相连；输入计数器260的第二输入端与控制电路的第二输出端相连；输入计数器260的输出端分别与输入寄存器270的第一输入端和比较器280的第一输入端相连；输入寄存器270的第二输入端与控制电路的第三输出端相连；输入寄存器270的输出端与比较器280的第二输入端相连；比较器280的第三输入端与控制电路的第四输出端相连；比较器280的输出端作为计数电路的输出端。
输入振荡器250连接待测电容220，用于产生与待测电容220有关的频率可变的方波。待测电容220的电容值用CX表示，输入振荡器250的频率为fin，当待测电容220变化时，始终有公式
fin＝K/CX (1)
成立，其中，K是常数，取值由具体电路确定。
输入计数器260连接输入振荡器250，用于对输入振荡器250的输出的方波进行计数，本实施例中假设输入计数器260的计数值记为A0。
输入计数器260连接输入寄存器270，当控制电路发出指令时，输入计数器260将此时的计数值A0的数值存入输入寄存器270。此时，输入寄存器270所存储的数值为A1，用于后续的逻辑比较运算。可知，A1的数值实际是前一计数周期(也即固定时段内)对输入振荡器250的计数值，A0是当前计数周期内对输入振荡器250的计数值。对于固定时段t0，有
A1＝t0*fin0 (2)
比较器280连接输入计数器260和输入寄存器270，用于对比输入计数器260和输入寄存器270的数值大小，并将比较结果输出至控制电路。
下面对控制电路的结构进行介绍。
本实施例中的控制电路包括基准振荡器230、基准计数器240和控制器290；控制器290的第一输入端作为控制电路的输入端与比较器280的输出端相连，控制器290的第一输出端作为控制电路的第一输出端与减法器210的第一输入端相连，控制器290的第二输出端作为控制电路的第二输出端与输入计数器260的第二输入端相连，控制器的第三输出端作为控制电路的第三输出端与输入寄存器270的第二输入端相连，控制器的第四输出端作为控制电路的第四输出端与比较器280的第三输入端相连，控制器的第五输出端与基准计数器240的第一输入端相连；基准振荡器230的输出端分别与控制器的第二输入端和基准计数器240的第二输入端相连；基准计数器240的输出端与减法器210的第二输入端相连；控制器290的第三输入端与减法器210的输出端相连。
基准振荡器230连接基准计数器240。基准振荡器230用于产生固定频率的方波，且基准振荡器230的频率为f0。基准计数器240用于对基准振荡器230输出的方波进行计数。基准寄存器200用于存储基准振荡器230的计数结果。
在计数时长为t0的计数区间内，基准计数器240的计数结果为R，则有
R＝t0*f0 (3)
而在新的计数周期t1里，输入计数器260的计数值A0有
A0＝t1*fin (4)
基准振荡器230连接控制器290，作为控制器290的时钟源。此时，输入计数器260和基准计数器240在控制器290的控制下同时计数。在新的计数周期t1内，基准计数器240的计数值B有
B＝t1*f0 (5)
由公式(4)和(5)得到
B＝(A0/fin)*f0 (6)
比较器280连接控制器290。当输入计数器260开始计数后，输入计数器260的计数值不断增加，当输入计数器260和输入寄存器270的两个数值大小关系状态切换时，即当计数值A0>A1时，比较器280的输出会产生变化：输入计数器260和基准计数器240进行清零操作，同时控制器290产生控制信号。
控制器290控制减法器210工作，输出计算结果
D＝B-R＝(A0/fin)*f0-t0*f0 (7)
下面对电容检测电路的工作原理进行介绍。
初次上电时，将基准寄存器200的初始值设为R，控制器290用于对输入计数器260和基准计数器240进行清零；输入计数器260用于对输入振荡器250输出的方波进行计数，且基准计数器240用于对基准振荡器230输出的方波进行计数；当减法器210确定基准计数器240的计数值达到初始值R时，通过控制器290控制输入计数器240将计数值A0作为计数阈值A1写入输入寄存器270，并对输入计数器260和基准计数器240进行清零；输入计数器260用于对输入振荡器250输出的方波进行计数，且基准计数器240用于对基准振荡器230输出的方波进行计数；当比较器280确定输入计数器260的计数值A0达到计数阈值A1时，即比较器280的输出C状态翻转，翻转信号触发控制器290输出控制信号，该控制信号驱动减法器210对初始值R和基准计数器240的计数值B进行减法运算，得到计算结果D。
由于控制器290触发减法操作是在A0>A1的时刻进行上文，所以，可近似认为A0和A1相等。即
A0＝A1 (8)
则由公式(7)和(8)可以得到
D＝B-R＝(A1/fin)*f0-(A1/fin0)*f0 (9)
由公式(2)和(9)可以得到
D＝B-R
＝t0*fin0*(f0/fin)-t0*(fin0/fin0)*f0＝t0*f0*(fin0-fin)/fin (10)
由于前一计数周期的输入振荡器250频率为fin0，当前计数周期的输入振荡器250频率为fin，则相对应的，前一计数周期的待测电容220的容值为CX0，当前计数周期的待测电容220容值为CX。将公式(1)的电容分别替换为CX和CX0，并带入公式(10)，可得
D＝t0*f0*K*(1/CX0-1/CX)/(1/CX)
＝t0*f0*K*(CX0-CX)/CX0
＝t0*f0*K*(ΔCX/CX0) (11)
公式(11)中的ΔCX表示两次计数周期的待测电容220的变化率。可见，本实施例中可以由减法器210输出的计算结果D表示待测电容220的变化率，从而达到检测待测电容的目的。
请参考图3，其示出了本实施方式中，待测电容220先变大后变小且保持一段时间的波形图。
本申请中可以通过减法器210检测电容变化率，这样，减法器210中采用10bit的运算单元就可以实现千分之一的电容变化率的检测精度，如果减法器210中采用20bit的运算单元，则可以检测到百万分之一的电容变化率。
综上所述，本实施例提供的电容检测电路，可以根据计算结果直接计算待测电容的变化率，而无需在电容检测电路中设置除法器，可以减小电容检测电路的规模。另外，在增加电容检测的精度时，无需大幅增加电容检测电路的规模，即在较小规模的芯片上可以实现较高的检测精度。
请参考图4，其示出了本申请一个实施例提供的电容检测方法的流程图，该电容检测方法可以应用于图2所示的电容检测电路中。该电容检测方法可以包括：
步骤401，计数电路在固定时段内对待测电容转换的方波进行计数，记录得到的计数阈值，固定时段与基准寄存器的初始值和基准振荡器的频率相关。
具体的，初次上电时，将基准寄存器的初始值设为R，在控制器对输入计数器和基准计数器进行清零后，输入计数器对输入振荡器输出的方波进行计数，同时基准计数器对基准振荡器输出的方波进行计数；当减法器确定基准计数器的计数值B达到初始值R时，通过控制器控制输入计数器将计数值A0作为计数阈值A1写入输入寄存器，并对输入计数器和基准计数器进行清零。
步骤402，计数电路在清零后再次对待测电容转换的方波进行计数，基准计数器在计数电路再次计数的同时对基准振荡器输出的方波进行计数。
步骤403，在计数电路的计数值达到计数阈值时，控制减法器对初始值和基准计数器的计数值进行减法运算，得到的计算结果用于计算待测电容的变化率。
具体的，当比较器确定输入计数器的计数值A0达到计数阈值A1时，通过控制器控制减法器对初始值R和基准计数器的计数值B进行减法运算，得到计算结果D。
本实施例中，可以根据计算结果D直接计算出待测电容的变化率。具体的，可以将计算结果除以初始值与常数的乘积，得到待测电容的变化率，常数等于输入振荡器的频率除以待测电容的电容值，详见上文中的公式(11)。
本实施例中，还可以对多个周期得到的计算结果进行分析，当计算结果连续大于或等于预定阈值的次数满足次数阈值时，保持基准计数器为初始值，对基准计数器和输入计数器进行清零。当计算结果小于预定阈值，或者，当计算结果连续大于或等于预定阈值的次数不满足次数阈值时，保持输入寄存器为计数阈值，并对基准计数器和输入计数器进行清零。
其中，预定阈值可以是预先设置的。以二进制数为例，则预定阈值可以是第三位为1的数值，此时可以将二进制计算结果D中的第三位与1进行比较，若计算结果D中的第三位为1，则确定计算结果D大于或等于预定阈值；若计算结果D中的第三位为0，则确定计算结果D小于预定阈值。
综上所述，本实施例提供的电容检测方法，可以根据计算结果直接计算待测电容的变化率，而无需在电容检测电路中设置除法器，可以减小电容检测电路的规模。另外，在增加电容检测的精度时，无需大幅增加电容检测电路的规模，即在较小规模的芯片上可以实现较高的检测精度。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
以上所述并不用以限制本申请实施例，凡在本申请实施例的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请实施例的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种电容检测电路，其特征在于，所述电容检测电路包括：计数电路、控制电路、基准寄存器和减法器；
所述计数电路的输入端作为所述电容检测电路的输入端与待测电容相连，所述计数电路的输出端与所述控制电路的输入端相连；
所述控制电路的输出端和所述基准寄存器的输出端分别与所述减法器的输入端相连，所述减法器的输出端作为所述电容检测电路的输出端；
所述计数电路用于在固定时段内对所述待测电容转换的方波进行计数，记录得到的计数阈值，所述固定时段与所述基准寄存器的初始值和所述控制电路中基准振荡器的频率相关；
所述计数电路还用于清零后再次对所述待测电容转换的方波进行计数；所述控制电路中的基准计数器用于在所述计数电路再次计数的同时对所述基准振荡器输出的方波进行计数；
在所述计数电路的计数值达到所述计数阈值时，控制所述减法器对所述初始值和所述基准计数器的计数值进行减法运算，得到的计算结果用于计算所述待测电容的变化率。
2.根据权利要求1所述的电容检测电路，其特征在于，所述计数电路包括输入振荡器、输入计数器、输入寄存器和比较器；
所述输入振荡器的输入端作为所述计数电路的输入端与所述待测电容相连，所述输入振荡器的输出端与所述输入计数器的第一输入端相连；所述输入计数器的第二输入端与所述控制电路的第二输出端相连；
所述输入计数器的输出端分别与所述输入寄存器的第一输入端和所述比较器的第一输入端相连；所述输入寄存器的第二输入端与所述控制电路的第三输出端相连；所述输入寄存器的输出端与所述比较器的第二输入端相连；
所述比较器的第三输入端与所述控制电路的第四输出端相连；所述比较器的输出端作为所述计数电路的输出端。
3.根据权利要求2所述的电容检测电路，其特征在于，所述控制电路包括基准振荡器、基准计数器和控制器；
所述控制器的第一输入端作为所述控制电路的输入端与所述比较器的输出端相连，所述控制器的第一输出端作为所述控制电路的第一输出端与所述减法器的第一输入端相连，所述控制器的第二输出端作为所述控制电路的第二输出端与所述输入计数器的第二输入端相连，所述控制器的第三输出端作为所述控制电路的第三输出端与所述输入寄存器的第二输入端相连，所述控制器的第四输出端作为所述控制电路的第四输出端与所述比较器的第三输入端相连，所述控制器的第五输出端与所述基准计数器的第一输入端相连；
所述基准振荡器的输出端分别与所述控制器的第二输入端和所述基准计数器的第二输入端相连；
所述基准计数器的输出端与所述减法器的第二输入端相连；
所述控制器的第三输入端与所述减法器的输出端相连。
4.根据权利要求3所述的电容检测电路，其特征在于，
所述控制器用于对所述输入计数器和所述基准计数器进行清零；
所述输入计数器用于对所述输入振荡器输出的方波进行计数，且所述基准计数器用于对所述基准振荡器输出的方波进行计数；
当所述减法器确定所述基准计数器的计数值达到所述初始值时，通过所述控制器控制所述输入计数器将计数值作为计数阈值写入所述输入寄存器，并对所述输入计数器和所述基准计数器进行清零；
所述输入计数器用于对所述输入振荡器输出的方波进行计数，且所述基准计数器用于对所述基准振荡器输出的方波进行计数；当所述比较器确定所述输入计数器的计数值达到所述计数阈值时，通过所述控制器控制所述减法器对所述初始值和所述基准计数器的计数值进行减法运算，得到所述计算结果。
5.一种电容检测方法，其特征在于，用于如权利要求1至4中任一项所述的电容检测电路中，所述方法包括：
所述计数电路在固定时段内对所述待测电容转换的方波进行计数，记录得到的计数阈值，所述固定时段与所述基准寄存器的初始值和所述基准振荡器的频率相关；
所述计数电路在清零后再次对所述待测电容转换的方波进行计数，所述基准计数器在所述计数电路再次计数的同时对所述基准振荡器输出的方波进行计数；
在所述计数电路的计数值达到所述计数阈值时，控制所述减法器对所述初始值和所述基准计数器的计数值进行减法运算，得到的计算结果用于计算所述待测电容的变化率。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述计数电路包括输入振荡器、输入计数器、输入寄存器和比较器，且所述控制电路包括基准振荡器、基准计数器和控制器时，
所述计数电路在固定时段内对所述待测电容转换的方波进行计数，记录得到的计数阈值，包括：在所述控制器对所述输入计数器和所述基准计数器进行清零后，所述输入计数器对所述输入振荡器输出的方波进行计数，且所述基准计数器对所述基准振荡器输出的方波进行计数；当所述减法器确定所述基准计数器的计数值达到所述初始值时，通过所述控制器控制所述输入计数器将计数值作为计数阈值写入所述输入寄存器，并对所述输入计数器和所述基准计数器进行清零；
所述在所述计数电路的计数值达到所述计数阈值时，控制所述减法器对所述初始值和所述基准计数器的计数值进行减法运算，得到的计算结果用于计算所述待测电容的变化率，包括：当所述比较器确定所述输入计数器的计数值达到所述计数阈值时，通过所述控制器控制所述减法器对所述初始值和所述基准计数器的计数值进行减法运算，得到所述计算结果。
7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
将所述计算结果除以所述初始值与常数的乘积，得到所述待测电容的变化率，所述常数等于所述输入振荡器的频率除以所述待测电容的电容值。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当所述计算结果连续大于或等于预定阈值的次数满足次数阈值时，保持所述基准计数器为所述初始值，对所述基准计数器和所述输入计数器进行清零。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当所述计算结果小于预定阈值，或者，当所述计算结果连续大于或等于预定阈值的次数不满足次数阈值时，保持所述输入寄存器为所述计数阈值，并对所述基准计数器和所述输入计数器进行清零。
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