CN1134000A - 用于检测硬币,辅币或其它扁平金属物体真实性的设备 - Google Patents
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Abstract
一种用检测硬币,辅币或其它扁平金属物体真实性的设备,它包括一带有下部和上部侧壁的硬币通路。硬币可沿硬币通路在下部侧壁上以接触的方式运动从而通过第一和第二感应式传感器。这两个传感器是线圈或者是线圈与金属薄片,第一线圈安装在下部侧壁上,第二线圈安装在上部侧壁上。可以独立地以电学方式控制这两个线圈。这两个线圈最好以电学的方式设置在串联谐振电路内。当硬币通过时,可以测定硬币的合金成分与厚度。
Description
本发明涉及到权利要求1所述类型的用于检测硬币、辅币或其它扁平金属物体真实性的设备。
这种设备适合作为如公用电话、自动售货机、电表等的收费器。
从EP304535B1中已知有权利要求1所述类型的用于检测硬币真实性的设备。这种设备带有三个传此独立操作的感应式传感器,以便确定所检测的硬币的厚度、合金成分以及直径、用复式线圈来构成感应式传感器,这些线圈设置在硬币通路的两侧并以并联或串联的方式作电连接,因此,可以部分地补偿因硬币在硬币通路内的颤动或弹跳所引进的离差,所说的颤动及弹跳是指离开硬币通路的底部或者相对硬币通路在位置上的变化。但是,使用复式线圈有这样的缺点;即无法彼此独立地测定硬币的合金成分和厚度。每个感应式传感器均是一并联谐振电路的一部分,在这种电路中,测定硬币所引起的谐振频率的变化以及已改变了的参量。测出的上述参数的变化可用作接收或退回硬币的判定标准。也可以将用于测定硬币合金成分的感应式传感器制成仅安装在硬币通路一侧的简单线圈。
从GB1397083中已知有带感应式传感器的硬币检测器,这种检测器能以3KHZ至1MHZ的频率工作。而所说的感应式传感器则设置在谐振电路和电桥电路内。在硬币出现的情况下,谐振频率用于标识硬币的特征。
从GB2266804和德国实用新型G9013836.8中已知使用了减能器以使硬币在不颤动和弹跳的情况下在传感器附近滚动。这种减能器最好是陶瓷制成的薄片,它们按这样的方式设置在硬币通路内,即插入硬币入口的硬币可以碰到这些薄片。
从DE3007484中已知形成硬币通路的下侧壁面,该壁面相对垂直线按预定的角度倾斜并带有肋条,这些肋条被设计成沿硬币运动方向的导轨。
本发明的目的是提供一种用于检测硬币真实性的设备,在这种设备中,可以彼此独立地测定硬币合金成分及厚度,并且,在这种备中,首先尽可能地排除掉硬币的颤动或弹跳,其次使余下的颤动或弹跳所引起的测量离差尽可能地小。
依照本发明,利用权利要求1、2以及8所述的设备,可以达到上述目的。
以下利用附图参照硬币M详细说明本发明的示例性实施例,所说的硬币以后应被理解为也指辅币或其它扁平金属物体,在附图中:
图1显示了3检测设备的硬币通路;
图2显示了上述硬币通路的断面;
图3、图4显示了所测出的数值图;
图5显示了传感器的信号;以及
图6显示了一电路。
图1显示了用于检测硬币、辅币或其它金属物体的设备,该设备带有一硬币通路1,最好将此硬币通路制成位于主体2内的凹槽,而主体2则由两个塑料件构成。底部3、下部和上部侧壁4及5以及罩盖6限定了硬币通路1。下部侧壁4上设置有以成整体方式模制出的肋条7,这些肋条平行于底部3沿硬币M的运动方向延伸。硬币通路,沿所要检测的硬币M的运动方向倾斜,两侧壁4和5相对垂直线V按一般为10°的锐角倾斜,因此,所要检测的硬币M会沿硬币通路1在底部3上向下滚动或滑动,同时,硬币M的一面会完全平贴在下部侧壁4的肋条7上。侧壁4和5与硬币通路1相背的一侧带有凹槽以便容纳按离轴位移设置的线圈9和10以及有选择地容纳金属薄片11、12。线圈9和薄片12位于下部侧壁4上,所以用虚线来表示。为清楚起见,只在图2中显示了上述凹槽。薄片11和12分别装在与线圈9和10相反的位置上。它们最好是圆形或是矩形的,但也可以有其它预定的几何形状。在所有情况下,一个线圈9或10以及设置在与侧壁5或4相反位置上的适当薄片11或12构成了一感应式传感器。两线圈9和10带有两个接头,一个与通常的地线接头m相连,另一个与开关13相连,因此,它们能与电路14相连,从而能彼此独立地进行电学操作。所说的检测设备还包括诸如为微处理器的控制及鉴别装置15,该装置用于鉴别电路14的输出信号并控制检测设备。将电路14和微处理器15构成能从线圈9和10所测出的信号中推导出用于测度硬币M的合金及厚度d的离散值。如果这些数值与预定范围内的预定值相一致,检测设备就认为硬币M是真的并且接收该硬币,否则,就将该硬币退回。
图2按线圈10的平面显示了硬币通路1。肋条7按最好a=7.25mm的相互距离设置。肋条朝向硬币通路1的表面形状为圆柱形,其曲率半径R与间距a相差不多即R≌a。R=8mm或略多一点是最佳的。深度约为0.5mm的凹进部16自然地将肋条7分隔开。凹进部16在肋条7之间的最深处附近带有一扁平的区域17,因此,侧壁4在凹槽8附近具有最小的壁面厚度,该壁面厚度的选择仅以主体2的材料的性质以及硬币M所需的机械强度为基础,而与曲率半径R和间距a无关。最佳的是,最小的壁面厚度为0.6mm,因此,安装在下部侧壁4上凹槽8内的线圈9与以理想方式滚过的硬币M的固定距离为1.1mm。肋条7也处于该位置处以防不合要求地粘住甚至卡住湿的硬币。
具有较大圆柱形曲径半径R的肋条7的结构会比先有技术的肋条使下部侧壁4与硬币M之间有更大的接触面积。这就使得未以最佳扁平方式搁置的硬币M对下部侧壁4的冲撞具有相对较高的减振效果,因此,即使硬币有刮痕或凹陷之类的缺陷,硬币M也不会在线圈9和10附近产生颤动及弹跳。用曲率半径R小于间距a例如为a/2的肋条7所能消除硬币M的颤动及弹跳的程度可以很容易地通过试验来加以测定。而且,肋条7的形状不一定要完全为圆柱形。
与肋条7通常的结构相比,硬币M对下部侧壁4冲撞的高减振性还能显著地减小噪声。
本发明的另一个实施例包括一薄板而不是位于下部侧壁4上线圈9和10附近的肋条7,该薄板以大致平行的方式与侧壁4相连。该薄板与所要检测的硬币M相比有较低的质量并且是由诸如金属或陶瓷制成的。在硬币M冲撞到薄板的情况下,如果必要的话,该薄板可用于吸收使硬币M弹跳的能量,因此可以阻止硬币M的弹跳。
依照本发明的再一个实施例,除了在机械上采取保护措施以防止硬币M颤动和/或弹跳以外,还从测量的角度进行改进,这就能进一步减小任何可能的残余颤动或弹跳对测定硬币M合金成分及厚度等重要特征的影响。
由于以上的内容同时适用于线圈9和线圈10,所以,为简化起见,以下用标号S来代替标号9或10。因此,线圈S是指线圈9或10中的一个。线圈S的电学特征在于其电感系数Ls和内部欧姆律电阻Rs。它相当于一感应式传感器。线圈S与薄片11或12之一的上述组合相当于另外一种感应式传感器。在硬币M通过线圈S时,由于线圈S与硬币M之间在物理上的相互感应,Ls和Rs的值会暂时发生变化。内电阻Rs包括静态分量Rs,Dc和动态分量Rs,Ac(ω)),动态分量Rs,Ac(ω)是流经线圈S的电流的角频率ω、硬币M的物理性质,线圈S的几何尺寸以及特别是线圈S与硬币M之间间距的函数。一旦沿硬币通路1滚动的硬币M进入线圈S的测量区,内电阻Rs就会增加。图5显示了内电阻Rs随时间的一般变化。为了避免硬币M的直径对测定硬币厚度d和合金成分的任何影响,将线圈S的直径选定为小于所要检测的最小硬币M的直径,并且按相应的高度将线圈S设置在硬币通路1的侧壁4或5上,因此,所要检测的最小硬币M在通过时会覆盖住线圈S很短一段时间。线圈S的直径诸如为14mm。馈线的阻抗相对较小。用铁氧体磁芯的绕线线圈特别适合做线圈9和10。将线圈9和10用作分别设置在硬币通路1一侧的独立线圈并且使它们作完全的电学分离,可以避免降低与复式线圈有关的敏感度。
电路14控制着串联谐振电路内的线圈S并在输出端提供一与线圈S内电阻Rs成比例的模拟信号。当硬币M经过线圈S的测量区时,微处理器15通过一模拟/数字转换器而以一系列存储起来的数值f1的形式获得上述输出信号随时间的变化。随后,微处理器15进行如下所述的详细分析,分析的结果是两个值,例如是如下所述的值k1和值k2,这两个值用于决定是接收硬币M还是退回硬币M。
线圈9位于下部侧壁4上,而硬币M则沿该侧壁以相接触的方式移动,因此,线圈9与硬币M的最近表面之间的距离是固定的,例如是1.1mm。硬币M可由一种合金制成,也可以由多种合金的混合体制成。如果流经线圈9的电流的频率ω是选定的参数,则在有硬币M出现的情况下所测出的线圈9的内电阻R9仅仅是硬币M材料的近似函数。图3显示了作为由各种合金L1、L2和L3所制成的硬币M厚度函数的内电阻R9,在测试期间,硬币M位于线圈9前方的对称位置。从图中可以看出,内电阻R9实际上与厚度d无关。所以,利用线圈9能以简单的方式测出硬币M的重要的第一特征变量,该变量几乎仅为硬币合金或合金成分的函数。
线圈10与硬币M之间的距离是硬币厚度d的函数。就线圈10而言,内电阻R10不仅是硬币M材料的函数,而且是硬币厚度d的函数。如图4所示,厚度d的关系曲线在有意义的范围内对所示的所有合金L\-1、L2及L3来说都近似为线性的。如果硬币M的合金是已知的则可以准确地测出硬币M的厚度d。
与使用设置在硬币通路1两侧并且以并联或串联方式作电连接的所谓复式线圈相比,利用仅分别设置在侧壁4和5上带有或不带有薄片11和12的两个独立线圈9和10,可以相互完全独立地测定硬币M的上述两个参数,这两个参数以硬币的合金或合金成分及厚度为基础而表明了硬币M的特征。
图5显示了对于同种类型三个硬币来说电路14输出信号随时间的变化情况。硬币在时刻t1进入第一线圈9的测量区,并约在时刻t2离开该区域。在时刻t3硬币进入第二线圈10的测量区,并在时刻t4离开该区域。线圈9的输出信号有两个值为U1和U2的最大值M1和M2,线圈10的输出信号有两个值为V1和V2的最大值m1和m2。连续的曲线表示在没颤动或弹跳情况下滚下硬币通路1(图1)并在此过程中平贴在肋条7上的硬币M的输出信号。在这种情况下,所测出的值U1和U2是相等的,值V1和V2也是相等的,即U1=U2,V1=V2。点划线表示在第一线圈9的测量区内颤动或弹跳的硬币M的输出信号,值U1和U2是不同的。虚线表示在第二线圈10的测量区内颤动或弹跳的硬币M的输出信号,值V1和V2是不同的。试验表明,值U1或U2和V1或V2中的至少一个是相对稳定的,也就是说,它有较低的离差,而位于相应最大值之间的最小值则有较大的离差。就第一线圈9而言,上述两最大值中较大的值等于线圈9与硬币M之间的最小距离,这是因为,线圈9的减振效果是最好的。就图5所示的实例而言,对两种曲线来说,该值是值为U2的最大值M2、它也是两个最大值中最为稳定的。所以对微处理器15加以偏程以使得它能测出第一线圈9中输出信号的最大值并将该值存储为值k1。第二线圈10的减振越差,线圈10与硬币M之间的距离就越大。所以,对微处理器15加以编程以使它能测出第二线圈10中最大值m1和m2的值V1和V2并将值V1和V2中最小的一个存储为k2即k2=min(V1、V2)。在图5所示的实例中,最小值m2对应于这种情况。
微处理器15以周知的方式对输出信号进行上述分析。为了能消除噪音并减小测出值k1和k2的离差,最好将序列f1转换为序列f2,序列f2的各个数值涵盖了所测出的均值,例如涵盖了序列f1的十个连续值。通过数值比较可以测出第一线圈9输出信号的最大值,通过计算序列f2的一阶和二阶导数可以测出最大值m1和m2。
为了在最大可能的限度内排除诸如温度、湿度等其它物理因素对测定结果的影响,对微处理器15来说,最好形成相对值P1=r1/k1和P2=r2/k2,变量r1和r2表示参考电阻,这些参考电阻在没有硬币M存在的情况下等于线圈9的内电阻R9和线圈10的内电阻R10。在硬币M通过之前或之后最好立即测定参考电阻r1和r2。
正如所周知的那样,每一个硬币M均具有以不同方式加以凸饰的两个表面,在一般的英国用法中,这两个表面被设计成“正面”和“反面”。硬币M不对称的凸饰会使得所测出的硬币M的特征变量k1和k2取决于硬币M的哪一侧贴在侧壁4上。因此,就特定类型硬币而言,所出现的变量k1和k2中的离差也会增加。但是,变量k1离差的范围会足够小,从而能准确地测出硬币M的合金。另一方面,这种情况还会妨碍对硬币厚度d的测定,结果使得对硬币M的合法性的鉴定和/或对硬币面值的测定变得更加困难,这是因为,用同种合金制成的不同面值的硬币通常在厚度上没有区别。通过使用以下将予以说明的另一种测定法,可以减小这种情况对测定硬币厚度的影响。就没有凸饰的硬币M而言,来自线圈9和10的测定结果会产生诸如值k1和值k2。如果硬币M带有非对称的凸饰并且正面朝向线圈9,则该测定结果会产生略有变化的值k1+δr1和k\-2-δr2。变量k1的增加会使变量k2减小,这是因为,线圈9与硬币M之间距离的减少会使得硬币M与线圈10之间距离产生必然的增加。作为硬币M与相应线圈之间距离函数的变量k1和k2是线性的,所以,在使用相同线圈9和10并使用相同的频率ω去激励线圈9和10的情况下,δr1=δr2=δr成立。就同一种硬币M而言,如果反面朝向线圈10,则测定结果会相反产生k1-δr和k2+δ2。所以,和H2=k1+k2或和I2=P1+P2最好用作硬币M厚度的测定值并用作接收或退回硬币M的判定标准。和H2及I2与硬币M如何朝向侧壁4无关,这是因为,值-δr与+δr可以相互抵消。
图3显示出测定值k1因不同的合金而明显地不同。因此,可以相对容易地测出硬币M的合金,也就是说,可以把容隙极限设定得较宽,而所说的容隙极限可以根据所测出的合金来确定是接收还是退回硬币M。将用于变量k2、P2、H2或I2的容隙极限设置得越小,则越能可靠地根据硬币的厚度d来区分硬币M。按新方式构成的肋条7以及所述的详尽信号分析可以防止硬币在感应式传感器附近的颤动或弹跳,这就可以设定很小的用于变量k2、P2、H2或I2的容隙值。
图6显示了一最佳电路14,它带有一串联谐振电路RLC,此电路用于独立地获得线圈S的欧姆律电阻Rs和电感系数Ls的变化。基本的知识是,就谐振而言,由线圈S和电容性器件C构成的谐振电路RLC相当于一纯粹的欧姆律电阻Zs,它等于线圈S的电阻Rs。与这一点相比,就谐振而言,其中线圈S与电容性器件C相并联的并联谐振电路具有电阻的性质,所说的电阻为: 它是线圈S的电阻Rs与电感系数Ls之比的函数(j是虚数单位)。串联谐振电路RLC的谐振频率ωo(Ls)由下式给出:
电路14带有:一微分放大器18,此放大器带有倒相输入19和非倒相输入20;电阻21;两级放大器电路22;以及振幅检测器23。串联谐振电路RLC包括线圈S和电容性器件C,这两个器件相串联,并且,电路RLC的一端与地线M相连,另一端与微分放大器18的倒相输入19相连。微分放大器18的输出通过电阻21反馈给倒相输入19并通过放大器电路22反馈给非倒相输入20。
放大器电路22的目的是:首先,在开启电路14时使串联谐振电路RLC振荡,其次,利用振幅稳定的电压U3(t)去激励串联谐振电路RLC。利用串联的两个反演器24和25以及一连在下游的分压器26可以实现上述目的。电容27和28分别与反演器24和25输入的上游相连,反演器24和25的输出分别通过电阻29和30反馈给反演器的输入。电容27和28用于使直流电DC去耦。电阻29和30决定着反演器24和25的直流工作点。一旦开启电路14,放大器电路22就会象线性交流放大器那样起作用,因此,由于微分放大器18的输出电压U1(t)会正反馈给输入20,所以,串联谐振电路RLC开始振荡。将对输入信号U1(t)的放大倍数定得相当高,从而使第二反演器25总是处于饱和状态,因此,方波电压U2(t)会在反演器25的输出端出现,上述方波电压的两个电压对应于正负电压,可以按周知的方式相对地线m以双极的方式将上述两种电压供给整个的电路14。通过与地线m相连的欧姆律分压器26,可以减小电压U2(t)的强度。因此,方波电压U3(t)会出现在放大器电路22的输出端,从而也出现在微分放大器18的输入端20,上述方波电压与电压U1(t)同相,但振幅与电压U1(t)的振幅无关。分压器26带有两个电阻31和32,电阻31约等于线圈S的电阻Rs。电阻32的大小能使电压U3(t)的强度为几十至一百毫伏。振幅检测器23用于测定电压U1(t)的振幅并以适当的形式将该振幅传递给微处理器15。
在硬币M经过线圈S时,谐振频率ωo(Ls)随电感系数Ls的改变而作适当的改变。电路14按上述方式操作,因此,串联谐振电路RLC会以频率ω振荡,而频率ω则总是等于谐振频率ωo(Ls)。在硬币M经过线圈S时,线圈S的电阻Rs也会改变。由于串联谐振电路RLC在谐振时具有欧姆律电阻Zs=Rs并且用于激励串联谐振电路RLC的电压U3(t)是恒定振幅的周期性电压,所以,流经串联谐振电路RLC的电流和微分放大器18输出端的电压U1(t)的振幅恰好是用于线圈S之电阻Rs的测量值。如前所述,可以用微处理器15来测定信号U1(t)。
可以用简单的方式例如用一未显示的计数器来测定出现在第二反演器25之输出端的矩形电压U2(t)的频率ω,在硬币M覆盖住线圈S时,微处理器15可根据电压U1(t)的振幅随时间的变化而启动上述计数器以使之进行计数。在线圈9或线圈10中按这种方式测出的频率ω1和ω2等于硬币M通过时的谐振频率并且提供了第三和第四特征变量k3和k4,这两个变量可用作接收或退回硬币M的另一种判定标准。
利用上述设备可以按足以能区分多种硬币M的精确度来测出变量k1和k2,从而测出硬币M的合金成分与厚度d。为了消除用较小厚度d的硬币M1或用金属薄片来假冒由特定合金制成的且有较大厚度d的硬币M2即例如将一非金属片插在硬币M1和线圈9之间来故意增加硬币M1或金属薄片与线圈9之间距离这样的欺骗手段的可能性,确认线圈9的谐振频率ωo(Ls)在硬币M通过时是比没有硬币时大还是小就够了。因此,谐振频率ωo(Ls)变化的符号可以最佳地用作接收或退回硬币M的又一个判定标准。而不必在有硬币M出现的情况下精确地测定谐振频率ωo(Ls)。
串联谐振电路RLC中的线圈9或10的结构具有这样的优点,即:利用具有简单结构并且能在有硬币M的情况下测定串联谐振电路RLC减振情况的电路,可以测出标识硬币合金成分的变量以及标识硬币厚度d的变量。因此,串联谐振电路RLC相当于一特别适用于测量线圈S内电阻变化的装置。所以,如果电感系数Ls和电阻Rs的变化可以相互补偿,则在利用并联谐振电路时也可以检测不产生信号变化或户生不充分的信号变化的硬币。
选定线圈S的电感系数Ls以及电容性器件C的值以使调谐电路RLC的谐振频率ωo(Ls)处于50至200KHZ的范围内,该谐振频率的一般值为90KHZ。在上述频率范围内,线圈S所产生的磁场对硬币M的贯穿深度是足够大的,因此,就硬币M的材料而言,可以有选择地充分测出其成分。
激励谐振电路RLC的电压U3(t)例如因用作电路14电源的工作电压的波动而产生的强度波动不会对变量P1和P2产生影响,这是因为,这两个变量是两个完全连续的电阻测定值的比例。
反变演器24和25可以诸如是周知的4007型反演器。在电路14的一个特定实施例中,至有有一个反演器24或25可用带有辅助输入的NAND(与非)或NOR(或非)组件来代替,所说的辅助输入与微处理器15的输出相连。利用微处理器15输出端的逻辑电势可以按简单的方式开关电路14。因此,只有在对硬币M进行检测时可按需暂时开启电路14。用NAND或NOR组件来代替反演器24和25具有这样的优点,即:电路14在关闭时只需非常小的电能。
图6只显示了电路14的一个实例,该电路适于通过串联谐振电路RLC来检测线圈S之电阻Rs的变化。在本技术文件中,可以获得激励串联谐振电路RLC的电路的多种其它实例。
Claims (9)
1.一种用于检测硬币(M),辅币或其它扁平金属物体真实性的设备,它带有:一硬币通路(1),此通路具有一下部侧壁(4)和一上部侧壁(5),硬币通路(1)相对垂直线(V)按预定角度倾斜,并且,硬币(M)在理想情况沿下部侧壁(4)以相接触的方式运动;两个感应式传感器,这两个传感器沿硬币通路(1)设置;一电路(14)以及一控制与鉴别装置(15);所述设备的特征在于:第一感应式传感器是一安装在下部侧壁(4)上的线圈(9);第二感应式传感器是安装在上部侧壁(5)上的线圈(10);设置有装置(13、14)以便独立地以电学方式控制线圈(9、10);配备有电路(14)以便在硬币(M)通过时测定线圈(9、10)的欧姆律电阻R9(t)和R10(t)随时间的变化;控制与鉴别装置(15)将第一线圈(9)的电阻R9(t)的最大值确定为值K1;控制与鉴别装置(15)测定第二线圈(10)的电阻R10(t)的局部最大值(m1、m2)并把该局部最大值(m1、m2)的两个值(V1、V2)中较大的一个确定为值K2;值K1和K2或值K1和H2=K1+K2用于确定接收或退回硬币(M)。
2.一种用于检测硬币(M),辅币或其它扁平金属物体真实性的设备,它带有:一硬币通路(1),此通路具有一下部侧壁(4)和一上部侧壁(5),硬币通路(1)相对垂直线(V)按预定角度倾斜,并且,硬币(M)在理想情况下沿下部侧壁(4)以相接触的方式运动;两个感应式传感器,这两个传感器沿硬币通路(1)设置;一电路(14)以及一控制与鉴别装置(15),所述设备的特征在于:第一感应式传感器是安装在下部侧壁(4)上的线圈(9);第二感应式传感器是安装在上部侧壁(5)上的线圈(10);设置有装置(13、14)以便独立地以电学方式控制线圈(9、10);配备有电路(14)以便在硬币(M)通过时测定线圈(9、10)的欧姆律电阻R9(t)和R10(t)随时间的变化;控制与鉴别装置(15)将第一线圈(9)的电阻R9(t)的最大值确定为K1;控制与鉴别装置(15)测定第二线圈(10)的电阻R10(t)的局部最大值(m1、m2)并把该局部最大值(m1、m2)的两个值(V1、V2)较大的一个确定为K2;控制与分析元件(15)在硬币(M)通过之前或之后立即测定第一线圈(9)的内电阻r1和第二线圈(10)的内电阻r2;以及值P1=r1/k1和p2=r2/k2或值p1和I2=P1+p2用于确定接收或退回硬币(M)。
3.如权利要求1至2所述的设备,其特征在于,将线圈(9、10)设置成能测定串联谐振电路(RLC)内的电阻。
4.如权利要求3所述的设备,其特征在于,电路(14)包括一微分放大器(18)和一放大器电路(22),微分放大器(18)的输出通过电阻(21)反馈给倒相输入(19)并通过放大器电路(22)反馈给非倒相输入(20),并且,放大器电路(22)在电路(14)开启时先使串联谐振电路(RLC)振荡,然后利用振幅稳定的电压(U3(t))去激励串联谐振电路(RLC)。
5.如权利要求4所述的设备,其特征在于,放大器电路(22)带有两个串联的反演器(24、25)或者NAND或NOR组件。
6.如权利要求3至5所述的设备,其特征在于,提供有用于在硬币M通过时测定第一线圈(9)之谐振频率(ω0(Ls))变化符号的装置,并且,该符号可用作接收或退回硬币(M)的另一种判定标准。
7.如权利要求1至6中之一所述的设备,其特征在,金属薄片(11、12)分别安装在与线圈(9、10)相对的侧壁(5、4)上。
8.一种用于检测硬币(M),辅币或其它扁平金属物体真实性的设备,它带有一硬币通路(1),此通路具有一下部侧壁(4)和一上部侧壁(5),下部侧壁(4)上设置有沿硬币运动方向的肋条(7),硬币通路(1)相对垂直线(V)按预定的角度倾斜,并且,硬币(M)在理想的情况下沿下部侧壁(4)的肋条(7)以相接触的方式运动,所述设备的特征在于,肋条(7)的曲率半径(R)至少等于相邻肋条(7)的间距(a)的一半。
9.如权利要求8所述的设备,其特征在于,肋条(7)的曲率半径(R)近似地等于相邻肋条(7)的间距(a)。
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