CN113390599A - 落球测试治具及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种落球测试治具及方法，用于终端产品的落球测试，其中，终端产品包括底盖、显示屏以及设于底盖上的电子元件，落球测试治具包括基座以及模拟块，基座被配置为用以承载显示屏，以模拟底盖，模拟块设置有多个，多个模拟块对应电子元件在底盖上的排布形状排布于基座上，并位于基座与显示屏之间，以与基座及显示屏组合形成终端产品的形态；其中，基座上设有多个安装位，多个安装位沿第一方向及第二方向均匀排布，安装位供模拟块可拆卸安装，第一方向与第二方向交叉。该落球测试治具能够解决目前单一底盖治具仅能满足单一架构产品的测试需求，且采购治具需要耗费时间，导致不能及时进行开发阶段的验证，从而降低产品开发效率的问题。

Description

落球测试治具及方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及落球测试治具及方法。

背景技术

显示屏的可靠性试验中有一项为落球测试，落球测试具体是将规定重量的球体从不同高度落下，通过球体冲击显示屏的方式，验证显示屏的玻璃面板及背光模组的抗冲击能力。在进行落球测试时，显示屏需要放置在底盖治具上，利用底盖治具模拟终端产品的底盖，同时，底盖治具配有形状与终端产品的电路板、喇叭、电池等的形状相同或相近的模拟块，利用模拟块模拟终端产品的电路板、喇叭、电池等主要结构，通过底盖治具及设于其上的模拟块与显示屏共同模拟终端产品的形态，以便于测试。而在开发阶段的测试过程中，通常需要对不同架构的产品进行测试，但目前单一底盖治具仅能满足单一架构产品的测试需求，且采购治具需要耗费时间，导致不能及时进行开发阶段的验证，从而降低产品开发效率。

发明内容

基于此，有必要针对目前单一底盖治具仅能满足单一架构产品的测试需求，且采购治具需要耗费时间，导致不能及时进行开发阶段的验证，从而降低产品开发效率的问题，提供一种落球测试治具及方法。

一种用于终端产品的落球测试治具，所述终端产品包括底盖、显示屏以及设于所述底盖上的电子元件，所述落球测试治具包括：基座，被配置为用以承载所述显示屏，以模拟所述底盖；以及模拟块，所述模拟块设置有多个，多个所述模拟块对应所述电子元件在所述底盖上的排布形状排布于所述基座上，并位于所述基座与所述显示屏之间，以与所述基座及所述显示屏组合形成所述终端产品的形态；其中，所述基座上设有多个安装位，多个所述安装位沿第一方向及第二方向均匀排布，所述安装位供所述模拟块可拆卸安装；所述第一方向与所述第二方向交叉。

在本发明一实施例中，所述基座和所述模拟块中一者设有安装孔，另一者设有连接轴，所述连接轴与所述安装孔插接。

在本发明一实施例中，所述连接轴与所述安装孔过盈配合。

在本发明一实施例中，所述基座上设有第一磁性件，所述模拟块上设有第二磁性件，所述第一磁性件与所述第二磁性件相互磁吸。

在本发明一实施例中，所述第一磁性件完全覆盖多个所述安装位。

在本发明一实施例中，所述第一磁性件包括多个子磁性件，各所述子磁性件与各所述安装位一一对应设置。

在本发明一实施例中，所述安装孔的形状包括圆形、矩形、三角形、棱形中一者或多者组合，所述连接轴的形状与所述安装孔的形状适配。

在本发明一实施例中，相邻两个所述模拟块之间间隔设置。

在本发明一实施例中，相邻两个所述模拟块之间的间隔D满足条件：D＝0.05mm。

一种落球测试方法，用于对终端产品的显示屏进行测试，所述终端产品包括底盖、显示屏以及设于所述底盖上的电子元件，所述测试方法包括以下步骤：

提供一基座，以模拟所述底盖；其中，所述基座上设有多个沿第一方向及第二方向均匀排布的安装位，所述第一方向与所述第二方向交叉；提供多个模拟块，并根据所述电子元件在所述底盖上的排布形状，对应将多个所述模拟块可拆卸分别安装于多个所述安装位，以模拟所述电子元件；将所述显示屏置于排布有所述模拟块的所述基座上，以与所述基座及所述模拟块组合形成所述终端产品的形态；提供一球体，并使所述球体依次自所述显示屏上方下落至所述显示屏上的各个测试区域。

上述用于终端产品的落球测试治具，利用基座模拟终端产品的底盖，模拟块模拟终端产品的电子元件，通过在基座上设置多个沿相互交叉的第一方向和第二方向均匀排布的安装位，并根据电子元件在底盖上的排布形状将多个模拟块可拆卸安装于上述安装位，使得模拟块在底盖上的排布可以根据实际需求灵活调整，从而能够根据产品的实际架构灵活调整模拟块的安装位置，达到单一的落球测试治具即能够满足不同架构产品测试需求的效果，不需要消耗大量时间去采购不同的治具，避免耽误开发阶段的验证，进而提高产品开发效率。

附图说明

图1为相关技术中底盖治具的结构示意图；

图2为本发明落球测试治具一实施例的结构示意图；

图3为图2中的落球测试治具与显示屏的装配过程示意图；

图4为图2中的落球测试治具与显示屏的装配状态示意图；

图5为图4中的显示屏的落球测试过程示意图；

图6为本发明落球测试治具一实施例中第二模拟块与基座的装配过程中的状态示意图；

图7为图6中第二模拟块与基座的装配过程另一状态示意图；

图8为本发明落球测试治具一实施例的基座的结构示意图；

图9为与图8中基座匹配的第二模拟块的结构示意图；

图10为沿图8中A-A方向的截面图；

图11为本发明落球测试治具一实施例中第二模拟块的结构示意图；

图12为本发明落球测试治具另一实施例的基座的结构示意图；

图13为与图12中基座匹配的第二模拟块的结构示意图；

图14为本发明落球测试方法一实施例的流程框图；

图15为落球测试治具与其他模块的电性连接关系图。

附图标号说明：

100： 底盖治具 520： 第二磁性件

110： 第一模拟块 600： 球体

200： 显示屏 710： 落球测试治具

300： 基座 720： 通讯单元

310： 安装位 730： 主机

321： 安装孔 740： 监视模块

322： 连接轴 750： 记录单元

400： 第二模拟块 760： 判断模块

510： 第一磁性件

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

在手机、电脑、平板电脑等终端产品的开发阶段，需要对组成这些终端产品的显示屏的结构如玻璃面板、背光模组等的可靠性进行测试。其中，显示屏的可靠性试验中有一项为落球测试。落球测试具体是将规定重量的球体从不同高度落下，通过球体冲击显示屏的方式，验证显示屏的玻璃面板及背光模组的抗冲击能力。

具体地，参阅图1，在进行落球测试时，显示屏需要放置在底盖治具100上，利用底盖治具100模拟终端产品的底盖，同时，底盖治具100配有第一模拟块110，第一模拟块110的形状与终端产品的电路板、喇叭、电池等的形状相同或相近，利用第一模拟块110模拟终端产品的电路板、喇叭、电池等主要结构，通过底盖治具100及设于其上的第一模拟块110与显示屏共同模拟终端产品的形态，以便于测试。

而在终端产品开发阶段的测试过程中，通常需要对不同架构的产品进行测试，但目前单一底盖治具100仅能满足单一架构产品的测试需求，且采购治具需要耗费时间，导致不能及时进行开发阶段的验证，从而降低产品开发效率。基于此，有必要提供一种落球测试治具，以解决该问题。

参阅图2和图3，图2示出了本发明一实施例中的落球测试治具的结构示意图，图3示出了图2中的落球测试治具与显示屏的装配过程示意图，本发明一实施例提供了的落球测试治具，用于终端产品，具体地，用于对终端产品的显示屏200进行测试。其中，终端产品包括底盖、显示屏200以及设于底盖上的电子元件。该落球测试治具包括基座300以及第二模拟块400，基座300被配置为用以承载显示屏200，第二模拟块400设置有多个，利用基座300模拟终端产品的底盖，第二模拟块400模拟终端产品的电子元件，通过在基座300上设置多个沿相互交叉的第一方向和第二方向均匀排布的安装位310，并根据电子元件在底盖上的排布形状将多个第二模拟块400可拆卸安装于上述安装位310，使得第二模拟块400在底盖上的排布可以根据实际需求灵活调整，从而能够根据产品的实际架构灵活调整第二模拟块400的安装位310置，达到单一的落球测试治具即能够满足不同架构产品测试需求的效果，不需要消耗大量时间去采购不同的治具，避免耽误开发阶段的验证，进而提高产品开发效率。其中，第一方向与显示屏的一条边平行，第二方向与显示屏的相邻边平行。

参阅图4和图5，图4示出了图2中的落球测试治具与显示屏的装配状态示意图，图5示出了图4中的显示屏的落球测试过程示意图，在一具体实施例中，当多个第二模拟块400根据电子元件在底盖上的排布形状安装于各安装位310后，即落球测试治具安装好后，将显示屏200安装于落球测试治具上，使显示屏200与落球测试治具共同形成终端产品的形态，然后通过将规定重量的球体600从不同高度落下，即可测试显示屏200的抗冲击能力。

参阅图6和图7，图6和图7分别示出了本发明落球测试治具一实施例中第二模拟块与基座的装配过程中的不同状态示意图，在一些实施例中，基座300上设有安装孔321，第二模拟块400上设有连接轴322，连接轴322与安装孔321插接。采用插接的方式将第二模拟块400安装在基座300上，拆装便捷，能够灵活地调整第二模拟块400在基座300上的位置，从而满足不同架构的测试需求。其中，连接轴322与第二模拟块400一体成型，使得第二模拟块400的结构简单，有利于简化落球测试治具的组装步骤，从而提高落球测试的效率；或者，连接轴322与第二模拟块400由相互独立的两个部件组装而成，如此，便于落球测试治具的各个部件的收纳整理。

在一些实施例中，基座300上设有连接轴322，第二模拟块400上设有安装孔321，连接轴322与安装孔321插接。采用插接的方式将第二模拟块400安装在基座300上，拆装方便，能够灵活地调整第二模拟块400在基座300上的位置，从而满足不同架构的测试需求。其中，连接轴322与基座300一体成型，使得基座300结构简单，有利于简化落球测试治具的组装步骤，从而提高落球测试的效率；或者，连接轴322与基座300由相互独立的两个部件组装而成，如此，便于落球测试治具的各个部件的收纳整理。

在上述实施例中，当安装孔321设置在基座300上时，安装孔321的实现形式包括在基座300的表面设置盲孔或通孔作为安装孔321，以及，在基座300的表面设置凸台，在凸台上设置盲孔或通孔作为安装孔321。其中，直接在基座300的表面设置盲孔或者通孔作为安装孔321的形式结构简单，成本较低；先在基座300的表面设置凸台，再在凸台上设置盲孔或者通孔作为安装孔321的形式则能够降低安装孔321的设置对基座300的损伤，避免安装孔321的设置导致基座300的结构强度太低而容易损坏，从而延长落球测试治具的使用寿命，降低开发成本。当安装孔321设置在第二模拟块400上时，安装孔321的实现形式包括在第二模拟块400的表面设置盲孔或通孔作为安装孔321，以及，在第二模拟块400的表面设置凸台，在凸台上设置盲孔或通孔作为安装孔321。其中，直接在第二模拟块400的表面设置盲孔或者通孔作为安装孔321的形式结构简单，成本较低；先在第二模拟块400的表面设置凸台，再在凸台上设置盲孔或者通孔作为安装孔321的形式则能够降低安装孔321的设置对第二模拟块400的损伤，避免安装孔321的设置导致第二模拟块400的结构强度太低而容易损坏，从而延长落球测试治具的使用寿命，降低开发成本。

参阅图8和图9，图8示出了本发明落球测试治具一实施例的基座的结构示意图，图9示出了与图8中基座匹配的第二模拟块的结构示意图，在一些实施例中，连接轴322与安装孔321过盈配合。通过设置连接轴322与安装孔321过盈配合，在保障第二模拟块400与基座300能够实现可拆卸装配以灵活地布置第二模拟块400在基座300上的排布情况的前提下，使得第二模拟块400与基座300之间的装配更稳定，从而更有利于落球测试过程顺利进行。

参阅图10和图11，图10示出了沿图8中A-A方向的截面图，图11示出了本发明落球测试治具一实施例中第二模拟块的结构示意图，在一些实施例中，在通过连接轴322与安装孔321插接的方式实现第二模拟块400与基座300之间的可拆卸安装的基础上，为使第二模拟块400与基座300之间连接更牢固，在连接轴322与安装孔321之间设置锁定组件，以在连接轴322插入安装孔321时，将第二模拟块400与基座300锁定，从而提升测试过程中的治具稳定性。例如，在一具体实施例中，锁定组件包括第一磁性件510和第二磁性件520，基座300上设置第一磁性件510，第二模拟块400上设置第二磁性件520，第一磁性件510与第二磁性件520相互磁吸，通过第一磁性件510和第二磁性件520相互磁吸实现第二模拟块400与基座300之间的锁定，在连接轴322与安装孔321插接的过程即实现了锁定，操作简单方便。在另一具体实施例中，连接轴322的末端设置外螺纹，安装孔321内设置内螺纹，连接轴322与安装孔321之间通过螺纹锁定，连接稳定，操作便捷。在上述实施例中，第一磁性件510和第二磁性件520包括磁铁。

在一些实施例中，第一磁性件510完全覆盖多个安装位310，也就是说，通过一整块磁性件覆盖多个安装位310所在的范围，当需要将第二模拟块400与基座300进行装配时，将第二模拟块400安装于对应的安装位310，第一磁性件510在该安装位310所对应的位置即可将第二模拟块400进一步固定。第一磁性件510完全覆盖多个安装位310的方式使得基座300上的结构较为简单。

在一些实施例中，第一磁性件510包括多个子磁性件，各子磁性件与各安装位310一一对应设置。通过设置多个子磁性件，利用各个子磁性件分别于各个安装位310一一对应，能够起到定位的作用，使得第二模拟块400在基座300上的装配位置更精确，从而更好地模拟终端产品的电子元件分布情况，提升落球测试结果的准确度。并且，由于多个子磁性件与各个安装位310一一对应设置，使得第一磁性件510的耗材最小化，减少落球测试治具的材料消耗，从而降低开发成本。例如，在一具体实施例中，连接轴322的横截面为方形，第一磁性件510以及第二磁性件520的横截面也为方形，且第一磁性件510和第二磁性件520的横截面尺寸与连接轴322的横截面尺寸相等，一方面，能够实现第二模拟块400在基座300上的精确定位，另一方面，能够最大程度地减少磁性材料的消耗，减少开发成本。

参阅图12和图13，图12示出了本发明落球测试治具另一实施例的基座的结构示意图，图13示出了与图12中基座匹配的第二模拟块的结构示意图。在一些实施例中，安装孔321的形状包括圆形、矩形、三角形、棱形中一者或多者组合。例如，在一具体实施例中，安装孔321的形状为圆形，连接轴322的形状与之适配，连接轴322插接于安装孔321中，通过过盈配合以及磁吸实现固定。在另一具体实施例中，安装孔321的形状为矩形，连接轴322的形状与之适配，连接轴322插接于安装孔321中，通过过盈配合实现固定，且矩形的设置限制了连接轴322在安装孔321内的转动，从而进一步使得第二模拟块400与基座300之间装配稳定。在又一具体实施例中，安装孔321的形状为圆形与三角形组合形成的不规则形状，连接轴322的形状与之适配，连接轴322插接于安装孔321中，通过过盈配合实现固定，且不规则形状的设置限制了连接轴322在安装孔321内的转动，从而进一步使得第二模拟块400与基座300之间装配稳定。

在上述实施例中，相邻两个第二模拟块400之间间隔设置。通过将相邻两个第二模拟块400之间间隔设置，便于第二模拟块400与基座300之间的装配，避免相邻第二模拟块400之间出现干涉，例如，避免某一个第二模拟块400的安装位310置出现偏差时导致相邻的第二模拟块400无法安装，并且，当某一个第二模拟块400的安装位310置出现偏差时，其余第二模拟块400的安装位310置不会因此而接连出现偏差，从而避免累积安装偏差过大而影响落球测试结果。

在一具体实施例中，相邻两个第二模拟块400之间的间隔D满足条件：D＝0.05mm。既保障了相邻两个第二模拟块400之间存在一定的间隔，又不会使间隔过大而影响落球测试结果。

基于目前单一底盖治具仅能满足单一架构产品的测试需求，且采购治具需要耗费时间，导致不能及时进行开发阶段的验证，从而降低产品开发效率的问题，参阅图14，本发明还提供一种用于对终端产品的显示屏进行测试的落球测试方法，其中，终端产品包括底盖、显示屏以及设于底盖上的电子元件，测试方法包括以下步骤：

步骤S1、提供一基座，以模拟底盖；其中，基座上设有多个沿第一方向及第二方向均匀排布的安装位，第一方向与第二方向交叉；

步骤S2、提供多个模拟块，并根据电子元件在底盖上的排布形状，对应将多个模拟块可拆卸分别安装于多个安装位，以模拟电子元件；

步骤S3、将显示屏置于排布有模拟块的基座上，以与基座及模拟块组合形成终端产品的形态；

步骤S4、提供一球体，并使球体依次自显示屏上方下落至显示屏上的各个测试区域。

请参考图14及图15，图15中，揭露了落球测试治具710与其他模块的电性连接关系图，落球测试治具710电性连接一通讯单元720，通讯单元720包括主机730、监视模块740、记录单元750以及判断模块760，其中，各模块的电性连接关系如下：使用连接线与连接器或者是通过其他可行的无线连接方式(如：蓝芽、近场通讯组件或其他可行的网络连接方案)将主机730与落球测试治具710连接，主机730连接监视模块740，监视模块740包含一取像设备，用于监视落球测试治具710遭受球体600(参阅图5)碰撞时的状态；记录单元750，连接于监视模块740，用于记录落球测试治具710的测试结果；判断模块760，连接于记录单元750，用于判断落球测试治具的结果。于上述任一实施例中，安装孔321靠近基座300(参阅图6)的一端可以配置一个或多个感测单元(图未绘示)，任一感测单元用于感测上述任一第二模拟块400的连接轴322与安装孔321的对位或装配状态，倘若有变化时，感测单元可以判断发生变化的第二模拟块400的位置，并通过监视模块740及记录单元750将其记录下来，在一个可行的实施例中，判断单元760可以根据上述的落球测试治具710的实际状态判断、分析及深度学习落球测试治具710的测试结果。

上述落球测试方法利用基座模拟终端产品的底盖，并利用多个模拟块模拟终端产品的电子元件，通过在基座上设置多个沿相互交叉的第一方向和第二方向均匀排布的安装位，并根据电子元件在底盖上的排布形状将多个模拟块可拆卸安装于上述安装位，使得模拟块在底盖上的排布可以根据实际需求灵活调整，从而能够根据产品的实际架构灵活调整模拟块的安装位置，达到单一的落球测试治具即能够满足不同架构产品测试需求的效果，不需要消耗大量时间去采购不同的治具，避免耽误开发阶段的验证，进而提高产品开发效率。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种用于终端产品的落球测试治具，其特征在于，所述终端产品包括底盖、显示屏以及设于所述底盖上的电子元件，所述落球测试治具包括：

基座，被配置为用以承载所述显示屏，以模拟所述底盖；以及

模拟块，所述模拟块设置有多个，多个所述模拟块对应所述电子元件在所述底盖上的排布形状排布于所述基座上，并位于所述基座与所述显示屏之间，以与所述基座及所述显示屏组合形成所述终端产品的形态；

其中，所述基座上设有多个安装位，多个所述安装位沿第一方向及第二方向均匀排布，所述安装位供所述模拟块可拆卸安装；

所述第一方向与所述第二方向交叉。

2.根据权利要求1所述的落球测试治具，其特征在于，所述基座和所述模拟块中一者设有安装孔，另一者设有连接轴，所述连接轴与所述安装孔插接。

3.根据权利要求2所述的落球测试治具，其特征在于，所述连接轴与所述安装孔过盈配合。

4.根据权利要求2所述的落球测试治具，其特征在于，所述基座上设有第一磁性件，所述模拟块上设有第二磁性件，所述第一磁性件与所述第二磁性件相互磁吸。

5.根据权利要求4所述的落球测试治具，其特征在于，所述第一磁性件完全覆盖多个所述安装位。

6.根据权利要求4所述的落球测试治具，其特征在于，所述第一磁性件包括多个子磁性件，各所述子磁性件与各所述安装位一一对应设置。

7.根据权利要求2所述的落球测试治具，其特征在于，所述安装孔的形状包括圆形、矩形、三角形、棱形中一者或多者组合，所述连接轴的形状与所述安装孔的形状适配。

8.根据权利要求1至7任一项所述的落球测试治具，其特征在于，相邻两个所述模拟块之间间隔设置。

9.根据权利要求8所述的落球测试治具，其特征在于，相邻两个所述模拟块之间的间隔D满足条件：

D＝0.05mm。

10.一种落球测试方法，用于对终端产品的显示屏进行测试，其特征在于，所述终端产品包括底盖、显示屏以及设于所述底盖上的电子元件，所述测试方法包括以下步骤：

提供一基座，以模拟所述底盖；其中，所述基座上设有多个沿第一方向及第二方向均匀排布的安装位，所述第一方向与所述第二方向交叉；

提供多个模拟块，并根据所述电子元件在所述底盖上的排布形状，对应将多个所述模拟块可拆卸分别安装于多个所述安装位，以模拟所述电子元件；

将所述显示屏置于排布有所述模拟块的所述基座上，以与所述基座及所述模拟块组合形成所述终端产品的形态；

提供一球体，并使所述球体依次自所述显示屏上方下落至所述显示屏上的各个测试区域。

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