CN113359022A - 一种筛选光mos继电器的测量方法、电路及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种筛选光MOS继电器的测量方法、电路及装置，第一恒流源提供了光MOS继电器输入信号，此时光MOS继电器导通；第二恒流源给光MOS继电器输出端提供负载电流，在第一恒流源和第二恒流源加电流的同时，两个高输入阻抗的采集电路模块的输入端采集待测光MOS继电器第三管脚PIN3和第四管脚PIN4之间的电压，电压经过运算电路模块运算后给到比较电路模块，比较电路模块把运算后的电压和基准源进行对比，对比结果直接通过结果显示电路模块中的LED灯显示，实现光MOS继电器的筛选，既能准确可靠筛选出满足要求的光MOS继电器，也具备了使用方便、安全和低成本的优点。
Description
技术领域
本发明涉及电路测量技术领域，特别是涉及一种筛选光MOS继电器的测量方法、电路及装置。
背景技术
光MOS继电器是一种无触点电子开关，它利用场效应管（MOSFET）的开关特性，可达到无触点、无火花地接通和断开电路的目的。在其输入端加上直流或脉冲信号，输出端就能通过光敏二极管接收光线，并控制输出场效应管（MOSFET）导通或截止，从而实现小功率输入无触点地控制大功率负载的开关功能。相对于电磁继电器，光耦MOS继电器由于没有触点引起的磨损，使用寿命长而被广泛应用于通讯机械、工业器械、医疗器械、测量仪器、家电、安全系统、办公自动化和监测系统等诸多领域。
经过大量调研和实验发现，部分光MOS继电器的导通电阻很小（如33毫欧），普通手段难以准确测量；同时批量生产不可避免会有离散型（30-70毫欧）。实际使用中由于电路设计要求，需要挑选满足要求的光MOS继电器通常会使用ATE设备进行挑选，但ATE设备体积庞大，而且非常贵昂贵，同时需要编程控制，要求测试人员熟悉C/C++编程语言。
发明内容
针对上述现有技术存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种筛选光MOS继电器的测量方法、电路及装置，既能准确可靠筛选出满足要求的光MOS继电器，也具备了使用方便、安全和低成本的优点。
为实现上述目的，本发明第一实施例提供了一种筛选光MOS继电器的测量方法，包括：两个恒流源分别与待测MOS继电器的输入端和输出端连接；具有采集功能的电路分别采集所述待测光MOS继电器的输出端电压；具有运算功能的电路将采集的两个电压输入进行运算；具有比较功能的电路将运算后的电压和基准源的电压进行对比；具有显示功能的电路将对比后的输出的电压进行显示达到筛选目的。
优选地，在所述两个恒流源分别与待测MOS继电器的输入端和输出端连接，包括：第一恒流源与待测光MOS继电器输入端的两个管脚连接，第二恒流源与待测光MOS继电器输出端的两个管脚连接；
其中，所述第一恒流源给待测光MOS继电器提供输入信号为直流或脉冲电流中任一种；所述第二恒流源给待测光MOS继电器输出端提供负载电流，且所述第二恒流源的恒流范围大于5A。
基于相同的技术构思，本发明还提供一种筛选光MOS继电器的测量电路，包括：电源模块、两个电源模块分别与待测MOS继电器的输入端和输出端连接；采集电路模块、用于采集所述待测光MOS继电器的输出端的电压；运算电路模块、用于将采集的电压输入至运算电路模块进行运算；比较电路模块、用于将运算后的电压输入至比较电路模块和基准源进行对比；结果显示电路模块、用于将对比后的电压输入至结果显示电路模块进行显示达到筛选目的。
优选地，所述电源模块包括第一恒流源和第二恒流源，所述第一恒流源与待测光MOS继电器输入端的两个管脚连接，第二恒流源与待测光MOS继电器输出端的两个管脚连接。
优选地，所述采集电路模块包括至少两个采集电路单元，两个所述采集电路单元分别与待测光MOS继电器输出端的两个管脚连接；其中，两个采集电路单元包括第四集成运放和第五集成运放，第四集成运放的同相输入端与待测光MOS继电器输出端的第四管脚连接，第五集成运放的同相输入端与待测光MOS继电器输出端的第三管脚连接，第四集成运放反相输入端与其自身的输出端连接，第五集成运放反相输入端与其自身的输出端连接。
优选地，所述运算电路模块包括第六集成运放、反馈模块和阻抗匹配电路模块，第四集成运放的输出端和第五集成运放的输出端分别通过阻抗匹配电路模块与第六集成运放连接，反馈模块设置于第六集成运放反相输入端和输出端之间并实现连接。
优选地，阻抗匹配电路模块包括第十四电阻、第十五电阻、第十六电阻，反馈模块包括第十七电阻，第四集成运放的输出端与第十四电阻的第一端连接，第十四电阻的第二端与第六集成运放的反相输入端和第十七电阻的第一端连接，第五集成运放的输出端与第十五电阻的第一端连接，第十五电阻的第二端与第六集成运放的同相输入端和第十六电阻的第一端连接，第十六电阻的第二端连接地，第十七电阻的第二端与第六集成运放的输出端实现连接。
优选地，所述比较电路模块包括第七集成运放和基准源，第七集成运放的同相输入端与第六集成运放的输出端连接，第七集成运放的反相输入端与基准源连接。
优选地，所述结果显示电路模块包括第十八电阻、限流电阻、第一发光二极管和第三三极管，第十八电阻的第一端与第七集成运放的输出端连接，第十八电阻的第二端与第三三极管的基极连接，限流电阻的第一端连接电源，限流电阻的第二端与第一发光二极管的正极端连接，第一发光二极管的负极端与第三三极管的集电极连接，第三三极管的发射极连接地。
基于相同的技术构思，本发明还提供一种筛选光MOS继电器的测量装置，该装置包括单片机、启动开关、第一恒流源、第二恒流源、待测光MOS继电器、运算比较电路和结果显示电路模块，所述启动开关与所述单片机连接，所述单片机的输出端分别与所述第一恒流源和所述第二恒流源连接，第一恒流源与待测光MOS继电器的输入端连接，第二恒流源与待测光MOS继电器的输出端连接，所述待测光MOS继电器的输出端分别与所述运算比较电路的输入端连接，所述运算比较电路的输出端与所述单片机的输入端连接，所述结果显示电路模块输入端与所述单片机的输出端连接。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
第一恒流源提供了光MOS继电器输入信号，此时光MOS继电器导通；第二恒流源给光MOS继电器提供脉冲电流，在第一恒流源和第二恒流源加电流的同时，两个高输入阻抗的采集电路模块的输入端采集待测光MOS继电器第三管脚PIN3和第四管脚PIN4之间的电压，电压经过运算电路模块运算后给到比较电路模块，比较电路模块把运算后的电压和基准源进行对比，对比结果直接通过结果显示电路模块中的LED灯显示，实现光MOS继电器的筛选，既能准确可靠筛选出满足要求的光MOS继电器，也具备了使用方便、安全和低成本的优点。
附图说明
为了更清楚地说明本发明中的方案，下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作一个简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明第一实施例一种筛选光MOS继电器的测量方法的流程示意图；
图2是本发明待测光MOS继电器内部结构模型示意图；
图3是本发明第二实施例一种筛选光MOS继电器的测量电路系统框图；
图4是本发明基于第二实施例一种筛选光MOS继电器的测量电路的电路原理图；
图5是本发明第三实施例一种筛选光MOS继电器的测量装置框图。
附图标记说明：
10、第一恒流源；20、第二恒流源；30、采集电路模块；301、采集电路单元；40、运算电路模块；50、比较电路模块；60、结果显示电路模块；100、光MOS继电器；01、单片机；02、启动开关；03、运算比较电路。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施例，都属于本发明所保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。本发明的说明书和权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”是为了描述方便，并不是用于限定实际产品特定顺序。本发明的说明书和权利要求书或上述附图中的“上”“下”“左”“右”“前”“后”“侧”等方位词是针对提供的附图作相对的位置说明，并不是用于描述实际产品特定顺序。
请参阅图1，本发明第一实施例提供一种筛选光MOS继电器的测量方法，其包括以下步骤：
步骤S1，两个恒流源分别与待测光MOS继电器的输入端和输出端连接。
为了更加容易理解，本第一实施例以4PIN的待测光MOS继电器为举例说明，需要说明的是，本第一实施例也适用其他型号的待测光MOS继电器筛选，这里并不再赘述。
其中，结合图2所示的光MOS继电器内部结构模型，该待测光MOS继电器包括4个PIN管脚，第一管脚PIN1和第二管脚PIN2之间内部设置有发光器件，使得第一管脚PIN1和第二管脚PIN2形成输入端，第三管脚PIN3和第四管脚PIN4之间内部设置两个开关管以及位于两个开关管之间的光敏接收器件，光敏接收器件用于接收发光器件的光信号，并转换为电信号，控制两个开关管进行动作，第三管脚PIN3从开关管的漏极引出，第四管脚PIN4从开关管的漏极引出。
可选地，两个恒流源具体为第一恒流源10和第二恒流源20，第一恒流源10与待测光MOS继电器输入端两个管脚连接，也就是第一恒流源10的电流输入端与第一管脚PIN1连接，第一恒流源10的接地端与第二管脚PIN2连接，使得发光器件能够导通正常发光。第二恒流源20与待测光MOS继电器输出端的两个管脚连接，也就是第二恒流源20的电流输入端与第三管脚PIN3连接，第二恒流源20的接地端与第四管脚PIN4连接，使得光敏接收器件和开关管正常工作。
其中，第一恒流源10给待测光MOS继电器提供输入信号为直流或脉冲电流中任一种。由于光MOS继电器导通电阻在50毫欧以下，所以第二恒流源20的恒流范围大于5A，处于安全考虑，第二恒流源20给待测光MOS继电器输出端提供负载电流。
步骤S2，具有采集功能的电路分别采集待测光MOS继电器的输出端电压。
其中，设计至少两个具有采集功能的电路对光MOS继电器的第三管脚PIN3和第四管脚PIN4分别采集样本电压，可选地，该具有采集功能的电路为高输入阻抗形式。
步骤S3，具有运算功能的电路将采集的两个电压输入进行运算。
其中，设计一个具有运算功能的电路，将分别采集到的两路样本电压都输入到具有运算功能的电路中进行运算，需要说明的是，具有运算功能的电路经过硬件设置后能够自行完成对输入的样本电压进行运算，无需编程和采用软件控制，降低了工作量。
但需要理解的是，具有运算功能的电路也可以是能够采用编程和软件控制的单片机或芯片组成的运算控制电路。
步骤S4，具有比较功能的电路将运算后的电压和基准源的电压进行对比。
其中，设计一个具有比较功能的电路，经运算之后会统一输出一个电压值到该具有比较功能的电路与基准源的电压进行对比，此外，基准源的电压为经验或者行业标准规定所遵循的衡量标准电压，这里不作具体展开。
步骤S5，具有显示功能的电路将对比后的输出的电压进行显示达到筛选目的。
其中，设计一个具有显示功能的电路，以可以直观判断筛选结果。经过步骤S4的电压对比之后，会统一输出一个电压到该具有显示功能的电路里，通过输出的电压能否驱动电路进行显示，来判断该待测光MOS继电器是否满足要求，以达到筛选目的。
基于相同的技术构思，根据上述的测量方法，本发明第二实施例提供一种筛选光MOS继电器100的测量电路，如图3所示为第二实施例的系统框图，其包括电源模块、采集电路模块30、运算电路模块40、比较电路模块50和结果显示电路模块60，两个电源模块分别与待测光MOS继电器100的输入端和输出端连接；待测光MOS继电器100的输出端分别设置采集电路模块30进行采集电压；采集电路模块30将采集的电压输入至运算电路模块40进行运算；具体地，采集电路模块30为高输入阻抗形式的采集电路模块30。运算电路模块40将运算后的电压输入至比较电路模块50和基准源进行对比；具体地，比较电路模块50可以是比较器。比较电路模块50将对比后的电压输入至结果显示电路模块60进行显示达到筛选目的。
其中，以4PIN的待测光MOS继电器100为举例说明，电源模块包括第一恒流源10和第二恒流源20，第一恒流源10与待测光MOS继电器100输入端两个管脚连接，也就是第一恒流源10的电流输入端与第一管脚PIN1连接，第一恒流源10的接地端与第二管脚PIN2连接，使得发光器件能够导通正常发光。第二恒流源20与待测光MOS继电器100输出端的两个管脚连接，也就是第二恒流源20的电流输入端与第三管脚PIN3连接，第二恒流源20的接地端与第四管脚PIN4连接，使得光敏接收器件和开关管正常工作。
如图4所示为上述第二实施例的具体电路原理图，该第一恒流源10包括第第二集成运放U2.1和第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5，第二集成运放U2.1的同相输入端与第五电阻R5的第一端连接，所述第五电阻R5的第二端连接电源Vref1，第二集成运放U2.1的反相输入端与第四电阻R4的第一端连接，第四电阻R4的第二端连接地GND，第二集成运放U2.1的反相输入端和输出端通过第二电阻R2连接形成负反馈，第二集成运放U2.1的同相输入端和输出端通过第三电阻R3连接形成正反馈，第二集成运放U2.1的输出端通过第一电阻R1与待测光MOS继电器100的输入端第一管脚PIN1连接，并且负反馈的结点在前，正反馈的结点在后，即，第四电阻R4的第一端与第二电阻R2的第一端连接，第二电阻R2的第二端与第一电阻R1的第一端和第二集成运放U2.1的输出端连接，第五电阻R5的第一端与第三电阻R3的第一端连接，第三电阻R3的第二端与第一电阻R1的第二端连接，最后将电流输入至待测光MOS继电器100的输入端第一管脚PIN1，待测光MOS继电器100的输入端第二管脚PIN2与第四电阻R4的第二端连接地GND。进一步地，第一电阻R1的第二端与待测光MOS继电器100的输入端第一管脚PIN1之间设置测试开关KEY1，以便控制第一恒流源10是否输入电流至待测光MOS继电器100，使得测试可控。
该第二恒流源20包括第三集成运放U3.1、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10、第十一电阻R11、第十二电阻R12和第十三电阻R13，以及第一三极管Q1、第二三极管Q2和电容C1，第三集成运放U3.1的同相输入端与第十二电阻R12的第一端和第六电阻R6的第一端连接，第十二电阻R12的第二端连接电源VIin，第三集成运放U3.1的输出端与第二三极管Q2的基极和第十电阻R10的第一端连接，第二三极管Q2的发射极与第一三极管Q1的基极、第十电阻R10的第二端以及第九电阻R9的第一端连接，第二三极管Q2的集电极与第一三极管Q1的集电极、第十三电阻R13的第一端和电容C1的第一端都连接，第十三电阻R13的第二端连接电源+15V，电容C1的第二端接地GND，第一三极管Q1的发射极与第九电阻R9的第二端和第八电阻R8的第一端连接，第六电阻R6的第二端和第八电阻R8的第二端连接后与待测光MOS继电器100的输出端PIN4连接，第三集成运放U3.1的反相输入端与第十一电阻R11的第一端和第七电阻R7的第一端连接，第十一电阻R11的第二端和待测光MOS继电器100的输出端第三管脚PIN3连接后接地GND，第七电阻R7的第二端和第一三极管Q1的发射极连接。其中，上述第一三极管Q1和第二三极管Q2的起到扩流作用，电容C1放电，实现大电流脉冲。
可选地，第二恒流源20进一步包括第一调节电阻RP1、第二调节电阻RP2和第三调节电阻RP3，以及第二十一电阻R21，该第二十一电阻R21的第一端接电源+15V，第二十一电阻R21的第二端分别与第一调节电阻RP1的第一端、第二调节电阻RP2的第一端和第三调节电阻RP3的第一端都连接，第十二电阻R12的第二端与第一调节电阻RP1的调节端连接，第五电阻R5的第二端与第三调节电阻RP3的调节端连接，第二调节电阻RP2的调节端与比较电路模块50的反相输入端连接以输入基准源Vref2，同时第一调节电阻RP1的第二端、第二调节电阻RP2的第二端和第三调节电阻RP3的第二端均连接地GND。
可选地，为了能够直观判断第二恒流源20的工作正常状态，第二恒流源20还进一步包括第二十电阻R20和第二发光二极管LED2，第二十电阻R20的第一端与第十三电阻R13的第二端连接后接电源+15V，第二十电阻R20的第二端与第二发光二极管LED2的正极端连接，第二发光二极管LED2的负极端与电容C1的第一端连接。
需要说明的是，上述第一恒流源10和第二恒流源20的电路连接方式只是一种实施例子，任何具有恒流源作用的电路形式均可以适用，本发明非对第一恒流源10和第二恒流源20进行限制。
请继续参阅图4，采集电路模块30包括至少两个采集电路单元301，两个采集电路单元301分别与待测光MOS继电器100输出端的两个管脚连接。两个采集电路单元301包括第四集成运放U4.1和第五集成运放U5.1，第四集成运放U4.1的同相输入端与待测光MOS继电器100输出端的第四管脚PIN4连接，第五集成运放U5.1的同相输入端与待测光MOS继电器100输出端的第三管脚PIN3连接，第四集成运放U4.1反相输入端与其自身的输出端连接，第五集成运放U5.1反相输入端与其自身的输出端连接。
请继续参阅图4，运算电路模块40包括第六集成运放U6.1、反馈模块和阻抗匹配电路模块，第四集成运放U4.1的输出端和第五集成运放U5.1的输出端分别通过阻抗匹配电路模块与第六集成运放U6.1连接，反馈模块设置于第六集成运放U6.1反相输入端和输出端之间并实现连接。
具体地，阻抗匹配电路模块包括第十四电阻R14、第十五电阻R15、第十六电阻R16，反馈模块包括第十七电阻R17，第四集成运放U4.1的输出端与第十四电阻R14的第一端连接，第十四电阻R14的第二端与第六集成运放U6.1的反相输入端和第十七电阻R17的第一端连接，第五集成运放U5.1的输出端与第十五电阻R15的第一端连接，第十五电阻R15的第二端与第六集成运放U6.1的同相输入端和第十六电阻R16的第一端连接，第十六电阻R16的第二端连接地GND，第十七电阻R17的第二端与第六集成运放U6.1的输出端实现连接。
请继续参阅图4，比较电路模块50包括第七集成运放U7.1和基准源Verf2，第七集成运放U7.1的同相输入端与第六集成运放U6.1的输出端连接，第七集成运放U7.1的反相输入端与基准源Verf2连接，基准源Verf2与第二调节电阻RP2的调节端连接。
请继续参阅图4，结果显示电路模块60包括第十八电阻R18、限流电阻R19、第一发光二极管LED1和第三三极管Q3，第十八电阻R18的第一端与第七集成运放U7.1的输出端连接，第十八电阻R18的第二端与第三三极管Q3的基极连接，限流电阻R19的第一端连接电源+5VA，限流电阻R19的第二端与第一发光二极管LED1的正极端连接，第一发光二极管LED1的负极端与第三三极管Q3的集电极连接，第三三极管Q3的发射极连接地GND。
需要说明的是，上述的第二集成运放U2.1、第三集成运放U3.1、第四集成运放U4.1、第五集成运放U5.1、第六集成运放U6.1和第七集成运放U7.1都采用正电源和负电源为其提供工作电压，使其正常工作，其正电源和负电源提供的工作电压在本发明中以±15V为例，并不对其进行限制。
本发明第二实施例一种筛选光MOS继电器100的测量电路的工作原理：
第一恒流源10提供了待测光MOS继电器100输入信号，此时待测光MOS继电器100导通；第二恒流源20给待测光MOS继电器100提供脉冲电流，在第一恒流源10和第二恒流源20加电流的同时，两个高输入阻抗的采集电路模块30的输入端采集待测光MOS继电器100第三管脚PIN3和第四管脚PIN4之间的电压，电压经过运算电路模块40运算后给到比较电路模块50，比较电路模块50把运算后的电压和基准源Vref2进行对比，对比结果直接通过结果显示电路模块60中的LED灯显示。具体地，当按下测试开关KEY1时，第二发光二极管LED2亮，第一发光二极管LED1不亮，则说明待测光MOS继电器100是良品；当按下测试开关KEY2时，第二发光二极管LED2亮，第一发光二极管LED1也亮，则说明待测光MOS继电器100是不良品，也就是其导通电阻超标，该电路实现光MOS继电器100的筛选，既能准确可靠筛选出满足要求的光MOS继电器100，也具备了使用方便、安全和低成本的优点。
上述电路为一种基本测试方案，可以进一步扩展为采用单片机的智能测试方案，请参阅图5，基于相同的发明构思，本发明第三实施例提供一种筛选光MOS继电器的测量装置，该装置包括单片机01、启动开关02、第一恒流源10、第二恒流源20、待测光MOS继电器100、运算比较电路03和结果显示电路模块60，该启动开关02与单片机01连接，用于控制单片机01启闭工作，单片机01的输出端分别与第一恒流源10和第二恒流源20连接，用于控制第一恒流源10和第二恒流源20输出电流，也就是单片机01方案可以实现第一恒流源10和第二恒流源20的脉宽控制。第一恒流源10与待测光MOS继电器100的输入端连接，第二恒流源20与待测光MOS继电器100的输出端连接，用于提供输入电流，待测光MOS继电器100的输出端分别与运算比较电路03的输入端连接，用于将输出的电压进行运算比较，运算比较电路03的输出端与单片机01的输入端连接，用于将运算比较的结果反馈给单片机01，结果显示电路模块60输入端与单片机01的输出端连接，用于将运算比较的结果显示出来，以判断待测光MOS继电器100的良品性，具体地，输出结果可以采用LED发光、LCD 文件显示等多种方案，由于结果显示方式的电路可以采用现有技术，这里并不做具体展开，只提供一种结果显示的思路方法。
需要理解的是，本发明上述的电源值为实施例较佳的选择电压值，这里并不对电源的电压来源做具体展开，因为属于现有技术。
以上所述仅用以说明本发明的技术方案，而非对其进行限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种筛选光MOS继电器的测量方法，其特征在于，包括
两个恒流源分别与待测MOS继电器的输入端和输出端连接；
具有采集功能的电路分别采集所述待测光MOS继电器的输出端电压；
具有运算功能的电路将采集的两个电压输入进行运算；
具有比较功能的电路将运算后的电压和基准源的电压进行对比；
具有显示功能的电路将对比后的输出的电压进行显示达到筛选目的。
2.根据权利要求1所述的筛选光MOS继电器的测量方法，其特征在于，所述两个恒流源分别与待测MOS继电器的输入端和输出端连接，包括：
第一恒流源与待测光MOS继电器输入端的两个管脚连接，第二恒流源与待测光MOS继电器输出端的两个管脚连接；
其中，所述第一恒流源给待测光MOS继电器提供输入信号为直流或脉冲电流中任一种；所述第二恒流源给待测光MOS继电器输出端提供负载电流，且所述第二恒流源的恒流范围大于5A。
3.一种筛选光MOS继电器的测量电路，其特征在于，包括：
电源模块、两个电源模块分别与待测MOS继电器的输入端和输出端连接；
采集电路模块、用于采集所述待测光MOS继电器的输出端的电压；
运算电路模块、用于将采集的电压输入至运算电路模块进行运算；
比较电路模块、用于将运算后的电压输入至比较电路模块和基准源进行对比；
结果显示电路模块、用于将对比后的电压输入至结果显示电路模块进行显示达到筛选目的。
4.根据权利要求3所述的筛选光MOS继电器的测量电路，其特征在于，所述电源模块包括第一恒流源和第二恒流源，所述第一恒流源与待测光MOS继电器输入端的两个管脚连接，第二恒流源与待测光MOS继电器输出端的两个管脚连接。
5.根据权利要求3所述的筛选光MOS继电器的测量电路，其特征在于，所述采集电路模块包括至少两个采集电路单元，两个所述采集电路单元分别与待测光MOS继电器输出端的两个管脚连接；其中，两个采集电路单元包括第四集成运放和第五集成运放，第四集成运放的同相输入端与待测光MOS继电器输出端的第四管脚连接，第五集成运放的同相输入端与待测光MOS继电器输出端的第三管脚连接，第四集成运放反相输入端与其自身的输出端连接，第五集成运放反相输入端与其自身的输出端连接。
6.根据权利要求5所述的筛选光MOS继电器的测量电路，其特征在于，所述运算电路模块包括第六集成运放、反馈模块和阻抗匹配电路模块，第四集成运放的输出端和第五集成运放的输出端分别通过阻抗匹配电路模块与第六集成运放连接，反馈模块设置于第六集成运放反相输入端和输出端之间并实现连接。
7.根据权利要求6所述的筛选光MOS继电器的测量电路，其特征在于，阻抗匹配电路模块包括第十四电阻、第十五电阻、第十六电阻，反馈模块包括第十七电阻，第四集成运放的输出端与第十四电阻的第一端连接，第十四电阻的第二端与第六集成运放的反相输入端和第十七电阻的第一端连接，第五集成运放的输出端与第十五电阻的第一端连接，第十五电阻的第二端与第六集成运放的同相输入端和第十六电阻的第一端连接，第十六电阻的第二端连接地，第十七电阻的第二端与第六集成运放的输出端实现连接。
8.根据权利要求7所述的筛选光MOS继电器的测量电路，其特征在于，所述比较电路模块包括第七集成运放和基准源，第七集成运放的同相输入端与第六集成运放的输出端连接，第七集成运放的反相输入端与基准源连接。
9.根据权利要求8所述的筛选光MOS继电器的测量电路，其特征在于，所述结果显示电路模块包括第十八电阻、限流电阻、第一发光二极管和第三三极管，第十八电阻的第一端与第七集成运放的输出端连接，第十八电阻的第二端与第三三极管的基极连接，限流电阻的第一端连接电源，限流电阻的第二端与第一发光二极管的正极端连接，第一发光二极管的负极端与第三三极管的集电极连接，第三三极管的发射极连接地。
10.一种筛选光MOS继电器的测量装置，用于测量待测光MOS继电器，其特征在于，该装置包括单片机、启动开关、第一恒流源、第二恒流源、运算比较电路和结果显示电路模块，所述启动开关与所述单片机连接，所述单片机的输出端分别与所述第一恒流源和所述第二恒流源连接，第一恒流源与待测光MOS继电器的输入端连接，第二恒流源与待测光MOS继电器的输出端连接，所述待测光MOS继电器的输出端分别与所述运算比较电路的输入端连接，所述运算比较电路的输出端与所述单片机的输入端连接，所述结果显示电路模块输入端与所述单片机的输出端连接。
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