CN207730833U - 一种恒流源测试仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种恒流源测试仪，属于电子技术领域。恒流源测试仪包括：控制器、恒流源供电电路、电流测试电路、电压测试电路、连接器和显示屏。所述控制器分别与所述恒流源供电电路、所述电流测试电路、所述电压测试电路和所述显示屏连接，所述恒流源供电电路、所述电流测试电路和所述电压测试电路还均与所述连接器连接，所述连接器还用于与被测负载连接。该恒流源测试仪保证了在燃气或炸药贮存场合进行导通电阻测试时的高安全性，使得整个测试过程处于可监控的范围内，避免了因负载短路而引发安全的风险。

Description

一种恒流源测试仪

技术领域

本实用新型属于电子技术领域，具体涉及一种恒流源测试仪。

背景技术

在燃气或炸药贮存场合进行导通电阻测试时，在申请的发明人在实现本申请的技术方案的过程中，发现如果线缆测试仪的连接电缆发生了故障，例如，部分负载发生了短路，则会存在较大的安全隐患。由于负载两端电压恒定，此时线缆测试仪的测试电流会突然增大，小电阻的连接电缆负载温度瞬间变得很热，导致被测电缆的温度也会突然升高，在燃气或炸药贮存场合中，具有很高的风险。

目前的线缆测试仪在对被测电缆进行测试时，没有考虑燃气或炸药贮存场合中电缆导通电阻测试的火工品环境和高安全性要求，因此，测试风险较大，万一在导通电阻测试时，由于负载发生了短路，线缆测试仪的测试电流突然增大，小电阻的连接电缆负载温度瞬间变得很热，导致被测导线的温度突然升高，从而引燃或引爆周围的易燃物品，因此，存在很大的风险和危害。

实用新型内容

鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种恒流源测试仪，以有效地改善上述问题。

本实用新型的实施例是这样实现的：

本实用新型实施例提供了一种恒流源测试仪，包括：控制器、恒流源供电电路、电流测试电路、电压测试电路、连接器和显示屏。所述控制器分别与所述恒流源供电电路、所述电流测试电路、所述电压测试电路和所述显示屏连接，所述恒流源供电电路、所述电流测试电路和所述电压测试电路还均与所述连接器连接，所述连接器还用于与被测负载连接。所述恒流源供电电路用于根据所述控制器发送的供电信号经所述连接器对所述被测负载进行供电。所述电流测试电路用于根据所述控制器发送的电流测试信号对所述被测负载的电流进行采样，并将采样的电流信号发送给所述控制器，以测试所述被测负载的电流。在流经所述被测负载的电流小于预设值时，所述电压测试电路用于根据所述控制器发送的电压测试信号对所述被测负载的电压进行采样，并将采样的电压信号发送给所述控制器，以测试所述被测负载的导通电阻。

在本实用新型可选的实施例中，所述恒流源供电电路包括：开关控制电路和供电开关电路，所述开关控制电路分别与所述控制器和所述供电开关电路连接，所述供电开关电路与所述连接器连接；所述开关控制电路用于根据所述控制器发送的供电信号控制所述供电开关电路经所述连接器对所述被测负载进行供电。

在本实用新型可选的实施例中，所述开关控制电路包括：第一开关电路和第一运算放大电路，所述第一开关电路与所述控制器连接，所述第一开关电路还与所述第一运算放大电路连接，所述第一运算放大电路还与所述供电开关电路连接；在所述第一开关电路接收到所述供电信号时，所述第一开关电路导通，以使作用于第一开关电路的电压经所述第一运算放大电路放大后输送至所述供电开关电路。

在本实用新型可选的实施例中，所述第一开关电路包括：第一开关管和第一继电器，所述第一开关管的第一端与所述控制器连接，所述第一开关管的第二端接地，所述第一开关管的第三端与所述第一继电器的线圈的第一端连接，所述线圈的第二端还与一电源连接，所述第一继电器的公共端与一恒流源连接，所述第一继电器的常开触点接地，所述第一继电器的常闭触点与所述第一运算放大电路连接，所述第一开关管导通时，作用于所述线圈第二端的电压经所述线圈和所述第一开关管接地，所述线圈通电使所述公共端与所述常闭触点连通。

在本实用新型可选的实施例中，所述开关控制电路还包括：光电耦合器，所述第一开关电路经所述光电耦合器与所述控制器连接。

在本实用新型可选的实施例中，所述供电开关电路包括：NMOS管，所述NMOS管的栅极与所述开关控制电路连接，所述NMOS管的源极与所述连接器连接，所述NMOS管的漏极与一恒流源连接，所述NMOS管导通时，作用于所述NMOS管漏极的电压经所述NMOS管的源极对所述被测负载进行供电。

在本实用新型可选的实施例中，所述电流测试电路包括：与所述被测负载串联的采样电路、与所述采样电路连接的第二开关电路、与所述第二开关电路连接的第二调理电路和与所述第二调理电路连接的第一AD转换器，所述第二开关电路还与所述控制器连接；在所述第二开关电路处于导通状态时，所述采样电路采集的第一电压信号经所述第二调理电路进行放大和/或滤波处理后经所述第一AD转换器进行模数转换后传输给所述控制器。

在本实用新型可选的实施例中，所述第二调理电路包括：第二运算放大电路和滤波电路，所述第二运算放大电路分别与所述第二开关电路和所述滤波电路连接，所述滤波电路还与所述第一AD转换器连接。

在本实用新型可选的实施例中，所述电压测试电路包括：与所述被测负载连接的第三开关电路，与所述第三开关电路连接的第三调理电路和与所述第三调理电路连接的第二AD转换器，所述第三开关电路还与所述控制器连接；在所述第三开关电路处于导通状态时，作用于所述被测负载上的第二电压信号经所述第三调理电路进行放大和/或滤波处理后经所述第二AD转换器进行模数转换后传输给所述控制器。

在本实用新型可选的实施例中，所述第三调理电路为第三运算放大电路。

本实用新型实施例提供的恒流源测试仪，包括：控制器、恒流源供电电路、电流测试电路、电压测试电路、连接器和显示屏。所述控制器分别与所述恒流源供电电路、所述电流测试电路、所述电压测试电路和所述显示屏连接，所述恒流源供电电路、所述电流测试电路和所述电压测试电路还均与所述连接器连接，所述连接器还用于与被测负载连接。该恒流源测试仪在对诸如电缆的被测负载的导通电阻进行测试时，首先采用恒定大小的恒流源供电电路对被测负载进行供电，其次，采用电流测试电路对流经被测负载的电流进行测试，在流经所述被测负载的电流小于预设值时，采用电压测试电路对被测负载两端的电压进行测试，以便根据获得的电压值和电流值得到被测负载的导通电阻。该恒流源测试仪保证了在燃气或炸药贮存场合进行导通电阻测试时的高安全性，使得整个测试过程处于可监控的范围内，避免了因负载短路而引发安全的风险。

本实用新型的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型实施例而了解。本实用新型的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。通过附图所示，本实用新型的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本实用新型的主旨。

图1示出了本实用新型实施例提供的一种恒流源测试仪的模块框图。

图2示出了本实用新型实施例提供的恒流源供电电路的模块框图。

图3示出了本实用新型实施例提供的开关控制电路的模块框图。

图4示出了本实用新型实施例提供的电流测试电路的模块框图。

图5示出了本实用新型实施例提供的电压测试电路的模块框图。

图标：10－恒流源测试仪；11－恒流源供电电路；111－开关控制电路；112－供电开关电路；1111－第一开关电路；1112－第一运算放大电路；1113－光电耦合器；12－电流测试电路；121－采样电路；122－第二开关电路；123－第二调理电路；1231－第二运算放大电路；1232－滤波电路；124－第一AD转换器；13－电压测试电路；131－第三开关电路；132－第三调理电路；133－第二AD转换器；14－连接器；15－控制器；16－显示屏。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

本实用新型实施例提供了一种恒流源测试仪10，如图1所示，该恒流源测试仪10包括：控制器15、恒流源供电电路11、电流测试电路12、电压测试电路13、连接器14和显示屏16。

所述恒流源供电电路11分别与所述控制器15和所述连接器14连接。其中，连接器14用于与被测负载连接。该恒流源供电电路11用于根据所述控制器15发送的供电信号经所述连接器14对所述被测负载进行供电。作为一种可选的实施方式，如图2所示，该恒流源供电电路11包括：开关控制电路111和供电开关电路112。

所述开关控制电路111分别与所述供电开关电路112和控制器15连接，该开关控制电路111用于根据所述控制器15发送的供电信号控制所述供电开关电路112经所述连接器14对所述被测负载进行供电。进一步地，当需要对被测负载的导通电阻进行测试时，通过触发测试按键，控制器15接收到来自于测试按键的信号后，向开关控制电路111发送供电信号去控制该开关控制电路111，进而控制供电开关电路112对被测负载进行供电。

作为一种可选的实施方式，如图3所示，该开关控制电路111包括：第一开关电路1111和第一运算放大电路1112。所述第一开关电路1111与所述控制器15连接，所述第一开关电路1111还与所述第一运算放大电路1112连接，所述第一运算放大电路1112还与所述供电开关电路112连接；在所述第一开关电路1111接收到所述供电信号时，所述第一开关电路1111导通，以使作用于第一开关电路1111的电压经所述第一运算放大电路1112放大后输送至所述供电开关电路112。

作为一种可选的实施方式，该第一开关电路1111包括：第一开关管Q1和第一继电器T。所述第一开关管Q1的第一端与所述控制器15连接，所述第一开关管Q1的第二端接地，所述第一开关管Q1的第三端与所述第一继电器T的线圈的第一端连接，所述线圈的第二端还与一电源(例如，5V的电源)连接，所述第一继电器T的公共端与一恒流源(例如，电压为12V，电流为10mA的恒流源)连接，所述第一继电器T的常开触点接地，所述第一继电器T的常闭触点与所述第一运算放大电路1112连接，所述第一开关管Q1导通时，作用于所述线圈第二端的电压经所述线圈和所述第一开关管Q1接地，所述线圈通电使所述公共端与所述常闭触点连通。也就是说，当第一开关管Q1接收到控制器15输送的供电信号时，该第一开关管Q1导通，使得作用于所述线圈第二端的电压经所述线圈和所述第一开关管Q1接地，形成回路，此时线圈通电，使得第一继电器T处于第一工作状态，即公共端与常闭触点连通，此时与公共端连接的恒流源便可以输送至第一运算放大电路1112。当第一开关管Q1关断时，线圈和第一开关管Q1不能形成回路，此时线圈失电，使得第一继电器T处于第二工作状态，即公共端断开与常闭触点的连接，转向为与常开触点连通。

其中，为了便于理解，以第一开关管Q1为NPN三极管为例，进行说明，即NPN三极管的发射极接地，NPN三极管的基极与控制器15连接，该NPN三极管的集电极与所述第一继电器T的线圈的第一端连接。

其中，可以理解的是，该第一开关管Q1可以用NMOS管来代替，此时，NMOS管的栅极等效于NPN三极管的基极，NMOS管的源极等效于NPN三极管的发射极，NMOS管的漏极等效于NPN三极管的集电极。此外，还可以用PNP三极管以及PMOS管来代替，例如，当采用PNP三极管时，该PNP三极管的基极与控制器15连接，该PNP的发射极与一电源(例如，5V的电源)连接，该PNP三极管的集电极直接与第一运算放大电路1112连接。此时，虽然电路的结构略有不同，但是所起到的效果是一样的，因此不能将上述示意的方案理解成是对本实用新型的限制。

作为另一种可选的实施方式，该开关控制电路111还包括：光电耦合器1113，即包含有光电耦合器1113、第一开关电路1111和第一运算放大电路1112。该第一开关管Q1经光电耦合器1113与控制器15连接，以第一开关管Q1为NPN三极管为例，控制器15与光电耦合器1113的输入端，即发光侧连接，光电耦合器1113的输出端即，光接收侧与NPN三极管的基极连接，以实现电气隔离，避免信号在传输的过程中失真。

其中，可以理解的是，选用不同的类型的开关元件，使得第一开关电路1111的结构有多种，此外，不同的构造，例如，包含光电耦合器1113和不包含光电耦合器1113也使得第一开关电路1111的结构有多种，进而使得开关控制电路111的结构有多种，即有多种不同实施方式的开关控制电路111。

其中，供电信号可以为一个电平信号，例如高电平或低电平。低电平表示电压值低于第一数值的电压，第一数值为行业内的一个常用数值。例如，一般对于TTL电路来说，第一数值为0.0V－0.4V，而对于CMOS电路来说，第一数值为0.0－0.1V。本实用新型实施例中，优选地，第一数值为0V，即低电平为0V。高电平表示电压值高于第二数值的电压，第二数值为行业内的一个常用数值。例如，一般对于TTL电路来说，第二数值为2.4V－5.0V，而对于CMOS电路来说，第二数值为4.99－5.0V。本实用新型实施例中，优选地，第二数值为3.3V，即高电平为3.3V。例如，当第一开关电路1111包含NPN三极管或NMOS管时，该供电信号为高电平，当第一开关电路1111包含PNP三极管或PMOS管时，该供电信号为低电平。

所述第一运算放大电路1112用于将第一开关电路1111输出的电压进行放大后输送至所述供电开关电路112。该第一运算放大电路1112的输入端与第一开关电路1111连接，其输出端与供电开关电路112连接。该第一运算放大电路1112可以是目前市面上常使用的运算放大电路，由于其已经很公知了，在此不再具体说明。

所述供电开关电路112还与连接器14连接，该供电电路用于根据开关控制电路111的控制经所述连接器14对所述被测负载进行供电。进一步地，当控制器15向开关控制电路111发送供电信号时，该开关控制电路111的第一开关管Q1导通，进而作用于第一继电器T公共端的电压经第一运算放大电路1112放大后作用于该供电开关电路112，以便控制其对被测负载进行供电。

作为一种可选的实施方式，该供电开关电路112包括：NMOS管，所述NMOS管的栅极与所述开关控制电路111连接，所述NMOS管的源极与所述连接器14连接，所述NMOS管的漏极与一恒流源(例如，电压为12V，电流为10mA的恒流源)连接，所述NMOS管导通时，作用于所述NMOS管漏极的电压经所述NMOS管的源极对所述被测负载进行供电。进一步地，当控制器15向第一开关管Q1发送供电信号时，该第一开关管Q1导通，进而使得作用于第一继电器T公共端的电压输送至第一运算放大电路1112去控制该NMOS管的开启，即使NMOS管导通，从而使作用于所述NMOS管漏极的电压经所述NMOS管的源极对所述被测负载进行供电。

其中，可以理解的是，该NMOS管可以用NPN三极管来代替，此时，NMOS管的栅极等效于NPN三极管的基极，NMOS管的源极等效于NPN三极管的发射极，NMOS管的漏极等效于NPN三极管的集电极。因此，不能将本实施例中示出的NMOS管的供电开关电路112理解成是对本实用新型的限制。

所述电流测试电路12分别与所述控制器15和所述连接器14连接，该电流测试电路12用于根据所述控制器15发送的电流测试信号对所述被测负载的电流进行采样，并将采样的电流信号发送给所述控制器15，以测试所述被测负载的电流。

作为一种可选的实施方式，如图4所示，该电流测试电路12包括：与所述被测负载串联的采样电路121、与所述采样电路121连接的第二开关电路122、与所述第二开关电路122连接的第二调理电路123和与所述第二调理电路123连接的第一AD转换器124。

该恒流源测试仪10在对诸如电缆的被测负载的导通电阻进行测试时，首先采用恒定大小的恒流源供电电路11对被测负载进行供电，进一步地，控制器15向开关控制电路111发送供电信号控制供电开关电路112的输出，具体地，该供电信号经光电耦合器1113、第一开关管Q1、第一继电器T以及第一运算放大电路1112选通供电开关电路112，此时，恒定的小电流通过连接器14输出至被测负载。在启动第二开关电路122后，作用于被测负载上的电流经连接器14、采样电路121、第二开关电路122、第二调理电路123和第一AD转换器124后输送至控制器15。

其中，该采样电路121与被测负载串联，即流经被测负载的电流与流经采样电路121的电流相等，该采样电路121可以是一个电阻。

其中，所述第二开关电路122还与所述控制器15连接，即在需要对述恒流源供电电路11输出的电流进行测试时，通过控制器15向第二开关电路122发送电流测试信号，以使第二开关电路122处于导通状态，进而使作用于被测负载上的电流经连接器14、采样电路121、第二开关电路122、第二调理电路123和第一AD转换器124后输送至控制器15。其中，该第二开关电路122可以是三极管、MOS管、继电器等。其中，由于三极管、MOS管或继电器作为开关元件使用已经十分公知了，在此，不再具体说明。

所述采样电路121采集的第一电压信号(电流流经负载后转换为电压)经所述第二调理电路123进行放大和/或滤波处理后经所述第一AD转换器124进行模数转换后传输给所述控制器15。作为一种可选的实施方式，该二调理电路包括：第二运算放大电路1231和滤波电路1232。所述第二运算放大电路1231分别与所述第二开关电路122和所述滤波电路1232连接，所述滤波电路1232还与所述第一AD转换器124连接。其中，第二运算放大电路1231用于对采样电路121采集的第一电压信号进行放大处理，滤波电路1232用于对经第二运算放大电路1231输出的信号进行滤波处理。

其中，该第二运算放大电路1231与第一运算放大电路1112可以相同，也可以不同，可以是目前市面上常使用的运算放大电路，由于其已经很公知了，在此不再具体说明。

其中，该滤波电路1232优选为RC滤波电路1232，由于其已经很公知了，在此不再具体说明。

该第一AD转换器124用于将滤波电路1232输出的模拟信号转换为数字信号输出给控制器15。此外，作为一种可替代的方式，该第一AD转换器124也可以是集成于控制器15中，即选用带有AD转换功能的控制器15时，该第一AD转换器124可以省去。

其中，该电流测试信号可以为一个电平信号，例如高电平或低电平。

其中，需要说明的是，虽然流经被测负载的电流在经过采样电路121后得到的是电压，即在第二开关电路122导通时，采样电路121输送给第二调理电路123的信号为电压信号，但是由于所采用的第二运算放大电路1231的放大比例是已知的，以及采样电路121的阻值是已知的，因此，控制器15可以根据得到的电压计算出流经被测负载的电流即测试电流。

所述电压测试电路13分别与所述控制器15和所述连接器14连接。该电压测试电路13用于在流经所述被测负载的电流小于预设值时，根据所述控制器15发送的电压测试信号对所述被测负载的电压进行采样，并将采样的电压信号发送给所述控制器15，以测试所述被测负载的导通电阻。进一步地，当电流测试电路12传输给控制器15的电压信号经过转换后得到的电流值低于预设值时，该控制器15向电压测试电路13发送电压测试信号，进而使电压测试电路13对所述被测负载的电压进行采样，并将采样的电压信号发送给所述控制器15，以便控制器15根据获得的电压值和电流值得到被测负载的导通电阻。

作为一种可选的实施方式，如图5所示，该电压测试电路13包括：与所述被测负载连接的第三开关电路131，与所述第三开关电路131连接的第三调理电路132和与所述第三调理电路132连接的第二AD转换器133。

当电流测试电路12传输给控制器15的电压信号经过转换后得到的电流值低于预设值时，该控制器15向第三开关电路131发送电压测试信号，控制第三开关电路131导通。在所述第三开关电路131处于导通状态时，作用于被测负载的第二电压信号经连接器14输送至第三调理电路132，经所述第三调理电路132进行放大和/或滤波处理后经所述第二AD转换器133进行模数转换后传输给所述控制器15，以便控制器15根据获得的电压值和电流值得到被测负载的导通电阻。其中，该第三开关电路131可以是三极管、MOS管、继电器等。其中，由于三极管、MOS管或继电器作为开关元件使用已经十分公知了，在此，不再具体说明。

所述第三调理电路132可以与第二调理电路123相同，也可以不同，例如，作为一种可选的实施方式，该第三调理电路132为第三运算放大电路。其中，该第三运算放大电路与第二运算放大电路1231可以相同，也可以不同，可以是目前市面上常使用的运算放大电路，由于其已经很公知了，在此不再具体说明。

该第二AD转换器133用于将第三调理电路132输出的模拟信号转换为数字信号输出给控制器15。此外，作为一种可替代的方式，该第二AD转换器133也可以是集成于控制器15中，即选用带有AD转换功能的控制器15时，该第二AD转换器133可以省去。

在对诸如电缆的被测负载的导通电阻进行测试时，所述控制器15用于向恒流源供电电路11发送供电信号，以控制恒流源供电电路11对所述被测负载进行供电；其次，在对流经被测负载的电流进行测试时，该控制器15还用于向第二开关电路122发送电流测试信号，以控制第二开关电路122导通，同时，还对经第一AD转换器124输送的信号进行处理，以得到流经被测负载的电流，并判断该电流是否小于预设值；其次，在该电流值小于预设值时，向第三开关电路131发送电压测试信号，以控制第三开关电路131导通，同时，还对经第二AD转换器133输送的信号进行处理，以得到被测负载的导通电阻。此外，该控制器15还将获得的数据，诸如流经被测负载的电流、作用于被测负载两端的电压以及导通电阻等数据发送给显示屏16以实时显示。

其中，该电压测试信号可以为一个电平信号，例如高电平或低电平。

其中，所述控制器15可以是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。上述的控制器15可以是通用处理器，包括中央处理器(CentralProcessingUnit，CPU)、网络处理器(Network Processor，NP)等；还可以是数字信号处理器(Digital Signal Processing，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。通用处理器可以是微处理器或者该控制器15也可以是任何常规的处理器等。于本实施例中，优选地，该控制器15可以是STM32系列的处理器，例如STM32F103C8T6、STM32F103VET6等型号。

所述显示屏16与控制器15连接，该显示屏16用于对控制器15发送的数据进行实时显示，例如，显示流经被测负载的电流、作用于被测负载两端的电压以及导通电阻等数据。该显示屏16可以是目前市面上常使用的显示设备，例如，LCD、LED等。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种恒流源测试仪，其特征在于，包括：控制器、恒流源供电电路、电流测试电路、电压测试电路、连接器和显示屏；所述控制器分别与所述恒流源供电电路、所述电流测试电路、所述电压测试电路和所述显示屏连接，所述恒流源供电电路、所述电流测试电路和所述电压测试电路还均与所述连接器连接，所述连接器还用于与被测负载连接；

所述恒流源供电电路用于根据所述控制器发送的供电信号经所述连接器对所述被测负载进行供电；

所述电流测试电路用于根据所述控制器发送的电流测试信号对所述被测负载的电流进行采样，并将采样的电流信号发送给所述控制器，以测试所述被测负载的电流；

在流经所述被测负载的电流小于预设值时，所述电压测试电路用于根据所述控制器发送的电压测试信号对所述被测负载的电压进行采样，并将采样的电压信号发送给所述控制器，以测试所述被测负载的导通电阻。

2.根据权利要求1所述的恒流源测试仪，其特征在于，所述恒流源供电电路包括：开关控制电路和供电开关电路，所述开关控制电路分别与所述控制器和所述供电开关电路连接，所述供电开关电路与所述连接器连接；所述开关控制电路用于根据所述控制器发送的供电信号控制所述供电开关电路经所述连接器对所述被测负载进行供电。

3.根据权利要求2所述的恒流源测试仪，其特征在于，所述开关控制电路包括：第一开关电路和第一运算放大电路，所述第一开关电路与所述控制器连接，所述第一开关电路还与所述第一运算放大电路连接，所述第一运算放大电路还与所述供电开关电路连接；在所述第一开关电路接收到所述供电信号时，所述第一开关电路导通，以使作用于第一开关电路的电源经所述第一运算放大电路放大后输送至所述供电开关电路。

4.根据权利要求3所述的恒流源测试仪，其特征在于，所述第一开关电路包括：第一开关管和第一继电器，所述第一开关管的第一端与所述控制器连接，所述第一开关管的第二端接地，所述第一开关管的第三端与所述第一继电器的线圈的第一端连接，所述线圈的第二端还与一电源连接，所述第一继电器的公共端与一恒流源连接，所述第一继电器的常开触点接地，所述第一继电器的常闭触点与所述第一运算放大电路连接，所述第一开关管导通时，作用于所述线圈第二端的电压经所述线圈和所述第一开关管接地，所述线圈通电使所述公共端与所述常闭触点连通。

5.根据权利要求3或4所述的恒流源测试仪，其特征在于，所述开关控制电路还包括：光电耦合器，所述第一开关电路经所述光电耦合器与所述控制器连接。

6.根据权利要求2所述的恒流源测试仪，其特征在于，所述供电开关电路包括：NMOS管，所述NMOS管的栅极与所述开关控制电路连接，所述NMOS管的源极与所述连接器连接，所述NMOS管的漏极与一恒流源连接，所述NMOS管导通时，作用于所述NMOS管漏极的电压经所述NMOS管的源极对所述被测负载进行供电。

7.根据权利要求1所述的恒流源测试仪，其特征在于，所述电流测试电路包括：与所述被测负载串联的采样电路、与所述采样电路连接的第二开关电路、与所述第二开关电路连接的第二调理电路和与所述第二调理电路连接的第一AD转换器，所述第二开关电路还与所述控制器连接；在所述第二开关电路处于导通状态时，所述采样电路采集的第一电压信号经所述第二调理电路进行放大和/或滤波处理后经所述第一AD转换器进行模数转换后传输给所述控制器。

8.根据权利要求7所述的恒流源测试仪，其特征在于，所述第二调理电路包括：第二运算放大电路和滤波电路，所述第二运算放大电路分别与所述第二开关电路和所述滤波电路连接，所述滤波电路还与所述第一AD转换器连接。

9.根据权利要求1所述的恒流源测试仪，其特征在于，所述电压测试电路包括：与所述被测负载连接的第三开关电路，与所述第三开关电路连接的第三调理电路和与所述第三调理电路连接的第二AD转换器，所述第三开关电路还与所述控制器连接；在所述第三开关电路处于导通状态时，作用于所述被测负载上的第二电压信号经所述第三调理电路进行放大和/或滤波处理后经所述第二AD转换器进行模数转换后传输给所述控制器。

10.根据权利要求9所述的恒流源测试仪，其特征在于，所述第三调理电路为第三运算放大电路。