CN113299002A - 一种调整介质承载组件的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种调整介质承载组件的方法和装置，包括：获取介质承载组件下移的单位空载耗时；当介质承载组件上存在介质时，检测介质的介质张数；根据单位空载耗时和介质张数，计算介质承载组件下移预设位移量的下移时长；按照下移时长，控制介质承载组件下移。本发明实施例通过介质承载组件的单位空载耗时和介质承载组件上存在的介质张数，计算介质承载组件的下移时长，以根据下移时长下移介质承载组件，从而使得介质承载组件每次下移的位移量保持一致，避免介质承载组件因每次下移位移量不固定导致介质在容器内的飘落形态不固定，进而避免了介质因飘落形态不固定导致的收纳混乱的情况。

Description

一种调整介质承载组件的方法和装置

技术领域

本发明涉及移动控制技术领域，特别是涉及一种调整介质承载组件的方 法和一种调整介质承载组件的装置。

背景技术

如图1所示，在现有技术中，容器收取介质时，收纳组件101通过高速 转动将介质带入容器，介质在进入容器后会掉落至介质承载组件102上。随 着介质承载组件102上的介质越来越多，传动机构103会带动介质承载组件 逐渐下移，为后续的介质提供空间；同时通过位置检测组件104实时获取介 质承载组件102的位置，以控制介质承载组件102的下移。

然而，若介质承载组件102每次移动量不固定，则介质在容器内的飘落 形态不固定，介质飘落形态不固定极易出现介质收纳混乱的情况。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至 少部分地解决上述问题的一种调整介质承载组件的方法和相应的一种调整 介质承载组件的装置，通过FPGA的运算与控制技术，解决了介质在容器内 的飘落形态不固定导致介质飘落形态不固定极易出现介质收纳混乱的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种调整介质承载组件的方 法，包括：

获取预设介质承载组件下移的单位空载耗时；

当所述介质承载组件上存在介质时，检测所述介质的介质张数；

根据所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移预 设位移量的下移时长；

按照所述下移时长，控制所述介质承载组件下移。

可选地，所述获取所述介质承载组件下移的单位空载耗时的步骤，包括：

当所述介质承载组件空载下移时，确定预设起始位检测组件生成起始遮 挡信号的起始时间点；

确定预设终止位检测组件生成终止遮挡信号的终止时间点；

计算所述起始时间点和所述终止时间点之间的相对时长；

计算所述介质承载组件在所述起始位和所述终止位之间的相对位移量；

采用所述相对位移量和所述相对时长，计算所述介质承载组件下移的单 位空载耗时。

可选地，所述下移时长包括第一下移时长；所述根据所述单位空载耗时 和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移预设位移量的下移时长的步 骤，包括：

判断所述单位空载耗时与所述介质张数的比值是否小于预设阈值；

若所述单位空载耗时与所述介质张数的比值小于所述预设阈值，则采用 所述单位空载耗时，计算所述介质承载组件下移预设位移量的第一下移时 长。

可选地，所述下移时长还包括第二下移时长；所述根据所述单位空载耗 时和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移预设位移量的下移时长的步 骤，还包括：

若所述单位空载耗时与所述介质张数的比值大于所述预设阈值，则采用 所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移预设位移量 的第二下移时长。

本发明实施例还公开了一种调整介质承载组件的装置，包括：

单位空载耗时获取模块，用于获取预设介质承载组件下移的单位空载耗 时；

介质张数检测模块，用于当所述介质承载组件上存在介质时，检测所述 介质的介质张数；

下移时长计算模块，用于根据所述单位空载耗时和所述介质张数，计算 所述介质承载组件下移预设位移量的下移时长；

下移控制模块，用于按照所述下移时长，控制所述介质承载组件在所述 容器中下移。

可选地，所述单位空载耗时获取模块，包括：

起始时间点确定子模块，用于当所述介质承载组件空载下移时，确定预 设起始位检测组件生成起始遮挡信号的起始时间点；

终止时间点确定子模块，用于确定预设终止位检测组件生成终止遮挡信 号的终止时间点；

相对时长计算子模块，用于计算所述起始时间点和所述终止时间点之间 的相对时长；

相对位移量计算子模块，用于计算所述介质承载组件在所述起始位和所 述终止位之间的相对位移量；

单位空载耗时计算子模块，用于采用所述相对位移量和所述相对时长， 计算所述介质承载组件下移的单位空载耗时。

可选地，所述下移时长包括第一下移时长；所述下移时长计算模块，包 括：

判断子模块，用于判断所述单位空载耗时与所述介质张数的比值是否小 于预设阈值；

第一下移时长计算子模块，用于若所述单位空载耗时与所述介质张数的 比值小于所述预设阈值，则采用所述单位空载耗时，计算所述介质承载组件 下移预设位移量的第一下移时长。

可选地，所述下移时长还包括第二下移时长；所述下移时长计算模块， 还包括：

第二下移时长计算子模块，用于若所述单位空载耗时与所述介质张数的 比值大于所述预设阈值，则采用所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所 述介质承载组件下移预设位移量的第二下移时长。

本发明实施例还公开了一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储 器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处 理器执行如上任一项所述的调整介质承载组件的方法的步骤。

本发明实施例还公开了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程 序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上任一项所述的调整介质承 载组件的方法。

本发明实施例包括以下优点：本发明实施例通过介质承载组件的单位空 载耗时和介质承载组件上存在的介质张数，计算介质承载组件的下移时长， 以根据下移时长下移介质承载组件，从而使得介质承载组件每次下移的位移 量保持一致，避免介质承载组件因每次下移位移量不固定导致介质在容器内 的飘落形态不固定，进而避免了介质因飘落形态不固定导致的收纳混乱的情 况。

附图说明

图1是本发明的一种介质承载组件在容器中下移的示意图；

图2是本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤流程图；

图3是本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤流程图；

图4是本发明的一种调整介质承载组件的装置实施例的结构框图；

图5示意性地示出了用于执行根据本发明的方法的电子设备的框图；

图6示意性地示出了用于保持或者携带实现根据本发明的方法的程序代 码的存储单元。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图 和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

本发明实施例的核心构思之一在于，根据介质承载组件下移的空载耗时 和介质承载组件上的介质张数，计算介质承载组件下移预设位移量的下移时 长，并按照下移时长进行介质承载组件的下移，以保证介质承载组件每次下 移的位移量相同。

参照图2，示出了本发明的一种调整介质承载组件的方法实施例的步骤 流程图，包括容器本体；所述容器内部设置有介质承载组件；其中，本发明 实施例所涉及的容器为可存储介质的容器，包括但不限于存储钞票的钞箱、 存储票据的票据箱等。介质承载组件可用于承载介质，可受驱动组件控制进 行移动；具体可以包括如下步骤：

步骤201，获取预设介质承载组件下移的单位空载耗时；

单位空载耗时是指介质承载组件在空载的情况下，移动单位位移量所需 的时间，单位位移量可以根据需要进行设定。例如，单位位移量可以是1毫 米，2毫米，1厘米等。

在本发明实施例中，要控制介质承载组件在容器中下移，首先需要获取 介质承载组件下移的单位空载耗时。

步骤202，当所述介质承载组件上存在介质时，检测所述介质的介质张 数；

在本发明实施例中，由于介质进入容器后，会飘落在介质承载组件上， 为了保证介质飘落到介质承载组件上的飘落形态固定，需要保证介质承载组 件每次移动的位移量固定。由于介质承载组件上存在介质，随着介质承载组 件上的介质的增多，介质承载组件移动固定位移量的时间就会越短。因此， 在本发明实施例中，要控制介质承载组件下移固定位移量，还需要获取介质 承载组件上存在的介质的张数。

介质承载组件上的介质，可以包括介质承载组件上原有的介质和容器进 行介质收纳时，收纳至介质承载组件上的介质。介质承载组件上原有的介质 可以通过提取前一次容器收纳完成后统计并保存的数据来得到；容器进行介 质收纳时，收纳至介质承载组件上的介质可以通过传感器对进入容器的介质 进行检测得到。

步骤203，根据所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所述介质承载 组件下移预设位移量的下移时长；

在获取到单位空载耗时和介质张数后，便可以根据单位空载耗时和介质 张数计算介质承载组件下移预设的固定位移量的下移时长。

步骤204，按照所述下移时长，控制所述介质承载组件在所述容器中下 移。

在本发明实施例中，当介质承载组件需要进行下移时，便可以根据对应 的下移时长，控制介质承载组件在容器中下移。

在一个示例中，由于介质承载组件每次下移前再获取单位空载时长和介 质张数进行计算耗时较长，可能导致介质承载组件下移不及时。考虑到介质 承载组件上堆放的介质数量是有限的，因此可以预先计算不同介质对应的下 移时长，保存介质数量与下移时长的对应关系。当介质承载组件需要下移时， 便可以直接根据单位空载耗时和介质张数获取对应的下移时长进行下移。

本发明实施例通过介质承载组件的单位空载耗时和介质承载组件上存 在的介质张数，计算介质承载组件的下移时长，以根据下移时长下移介质承 载组件，从而使得介质承载组件每次下移的位移量保持一致，避免介质承载 组件因每次下移位移量不固定导致介质在容器内的飘落形态不固定，进而避 免了介质因飘落形态不固定导致的收纳混乱的情况。

参照图3，示出了本发明的一种调整介质承载组件的控制方法实施例的 步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤301，获取预设介质承载组件下移的单位空载耗时；

单位空载耗时是指介质承载组件在空载的情况下，移动单位位移量所需 的时间，单位位移量可以根据实际使用场景进行设定。例如，单位位移量可 以是1毫米，2毫米，1厘米等。

在本发明实施例中，要控制介质承载组件在容器中下移，首先需要获取 介质承载组件下移单位位移量的单位空载耗时。

在一个示例中，容器中可以设置有起始位检测组件和终止位检测组件； 其中，起始位检测组件可以用于检测起始位的遮挡状态；终止位检测组件可 用于检测终止位的遮挡状态；步骤301可以包括以下子步骤：

S11，当所述介质承载组件空载下移时，确定预设起始位检测组件生成 起始遮挡信号的起始时间点；

S12，确定预设终止位检测组件生成终止遮挡信号的终止时间点；

在本发明实施例中，起始位和终止位可以处在介质承载组件的移动轨迹 上，具体处于移动轨迹的哪一个位置不做具体限制。

在本发明的一个示例中，起始位检测组件和终止位检测组件可以为红外 线传感器，分别用于检测介质承载组件移动轨迹上的起始位和终止位的遮挡 情况。方法是通过向介质承载组件的轨迹发送红外线，根据红外线的反射情 况来进行检测。其红外线的发射方向均与介质承载组件的移动轨迹垂直。当 介质承载组件移动至起始位或终止位从而对红外线的轨迹形成遮挡时，表示 红外线传感器在起始位或终止位检测到介质承载组件，此时分别记录在起始 位和终止位检测到遮挡信号的起始时间点和终止时间点。

S13，计算所述起始时间点和所述终止时间点之间的相对时长；

根据起始时间点和终止时间点可以计算介质承载组件在起始位和终止 位之间移动的相对时长。

S14，计算所述介质承载组件在所述起始位和所述终止位之间的相对位 移量；

由于介质承载组件的起始位和终止位是预设的位置，所以可以在设定时 获取两个位置之间的相对位移量。

S15，采用所述相对位移量和所述相对时长，计算所述介质承载组件下 移的单位空载耗时。

求取相对位移量与选取的单位位移量的比值，根据所求取的比值和相对 时长，便可以得到介质承载组件移动单位位移量所需的单位空载耗时。

在另一个示例中，用于介质承载组件移动的位移量是固定的，因此也可 以将介质承载组件移动固定位移量的单位空载耗时设置为固定量直接调用。

步骤302，当所述介质承载组件上存在介质时，检测所述介质的介质张 数；

在本发明实施例中，由于介质进入容器后，会飘落在介质承载组件上， 为了保证介质飘落到介质承载组件上的飘落形态固定，需要保证介质承载组 件每次移动的位移量固定。由于介质承载组件上存在介质，随着介质承载组 件上的介质的增多，介质承载组件移动固定位移量的时间就会越短。因此， 在本发明实施例中，要控制介质承载组件下移固定位移量，还需要获取在移 动时刻点时介质承载组件上存在的介质的介质张数。

介质承载组件上的介质，可以包括介质承载组件上原有的介质和容器进 行介质收纳时，收纳至介质承载组件上的介质。介质承载组件上原来的介质 可以通过提取前一次容器收纳完成后统计并保存的数据来得到；容器进行介 质收纳时，收纳至介质承载组件上的介质可以通过传感器对进入容器的介质 进行检测得到。

步骤303，判断所述单位空载耗时与所述介质张数的比值是否小于预设 阈值；

在本发明实施例中，当获取了介质承载组件移动固定位移量的单位空载 耗时，以及在移动时刻点时介质承载组件上存在的介质张数，便可以通过单 位空载耗时和介质张数计算介质承载组件的下移时长。

通过实验可知，介质承载组件的下移时长与介质承载组件上的介质的介 质张数存在如下关系：

v _n：介质承载组件上有n张纸币时，介质承载组件移动固定位移的平均 速度；

s_fix：两测量点距离；

t₀：空载情况下介质承载组件下移s_fix的耗时值；

±：+上移，-下移；

n：介质承载组件放置标准介质张数；

对上述公式进行简化，可以得到如下公式：

s_unit：单位位移量；

t_unit：单位位移空载耗时；

由公式1可以看出，在介质承载组件下移的过程中，当介质张数足够大 的时候，下移时长可能出现负值。但在实际应用中，下移时长是不能为负值 的。因此，在这里需要判断介质承载组件的下移时长是否为负值，对公式1 进行变形可知，可以通过判断介质承载组件的单位空载耗时与介质张数的比 值是否小于32/1000来判断介质承载组件的下移时长是否为负。

步骤304，若所述单位空载耗时与所述介质张数的比值小于所述预设阈 值，则采用所述单位空载耗时，计算所述介质承载组件下移预设位移量的第 一下移时长；

针对介质承载组件下移时长可能为负的问题，可以通过以下方法解决：

当介质承载组件移动的位移量足够小的情况下，驱动介质承载组件移动 的电机会出现精度不够的情况，此时，介质承载组件在还未进行移动的情况 下便会收到停止移动的指令；即，无论介质承载组件空载还是满载，下移时 长都几乎为0；也即，在移动位移量足够小的情况下，可以忽略介质张数的 影响。

因此，在公式1下移时长为负值的情况下，可以将公式1进行简化，得 到如下公式：

公式2：t_n＝t_unit t_unit＜(32n/1000)

采用公式2，在介质承载组件下移过程中，当单位空载耗时与介质张数 的比值小于32/1000时，为避免下移时长为负值，介质承载组件移动较小的单 位位移量对应的空载耗时即可。

由于公式2的本质是移动较小的位移量，在空载和满载的情况下，位移误 差较小，但误差始终存在，并且可能存在随着移动次数的增加而累积的风险， 为了消除该现象，可以引入一个随机时间量Δt，得到如下公式：

公式3：t_n＝t_unit±Δt t_unit＜(32n/1000)

其中，Δt为随机改变量，可根据实际情况调整，一般为几个毫秒。

由此可见，通过公式3，可以计算出在介质承载组件的单位空载耗时和介 质张数的比值小于32/1000的情况下，下移预设位移量的第一下移时长。

需要说明的是，当介质承载组件移动的位移量足够小的情况下，可以忽 略介质张数的影响。这一情况不止适用于介质承载组件的单位空载耗时和介 质张数的比值小于32/1000的时候，也同样适用于介质承载组件的单位空载耗 时和介质张数的比值大于32/1000的时候。也即，在一种示例中，当需要移动 介质承载组件时，可以选择移动通过公式3所计算出来的时间，以减少介质 张数统计错误等因素对移动时长的影响。

需要说明的是，由于介质承载组件上的介质可能存在数据不准确的情 况，例如，管理员介入设备，人为干预取出、放入介质，或设备处于未工作、 端点等情况，从而导致对介质进行检测得到的数据与实际情况不一致。而通 过公式3来计算介质承载组件移动固定位移量的下移时长的方式，可以消除 介质张数对介质承载组件下移时长的影响。

步骤305，若所述单位空载耗时与所述介质张数的比值大于所述预设阈 值，则采用所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移 预设位移量的第二下移时长。

当单位空载耗时与介质张数的比值大于32/1000时，公式1的计算结果 为正值。因此在满足上述条件的情况下，可以直接用公式1来计算介质承载 组件移动预设位移量的第二下移时长。

步骤306，按照所述下移时长，控制所述介质承载组件在所述容器中下 移。

在介质承载组件需要进行下移时，便可以根据对应的下移时长，控制介 质承载组件在容器中下移。

在一个示例中，由于介质承载组件每次下移前再获取单位空载时长和介 质张数进行计算耗时较长，可能导致介质承载组件下移不及时。考虑到介质 承载组件上堆放的介质数量是有限的，因此可以预先计算不同介质对应的下 移时长，保存介质数量与下移时长的对应关系。当介质承载组件需要下移时， 便可以直接根据单位空载耗时和介质张数获取对应的下移时长进行移动。

本发明实施例通过介质承载组件的单位空载耗时和介质承载组件上存 在的介质张数，计算介质承载组件的下移时长，以根据下移时长移动介质承 载组件，从而使得介质承载组件每次下移的位移量保持一致，避免介质承载 组件因每次移动位移量不固定导致介质在容器内的飘落形态不固定，进而避 免了介质因飘落形态不固定导致的收纳混乱的情况。

需要说明的是，对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系 列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述 的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或 者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例 均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。

参照图4，示出了本发明的一种调整介质承载组件的控制装置实施例的 结构框图，具体可以包括如下模块：

单位空载耗时获取模块401，用于获取预设介质承载组件下移的单位空 载耗时；

介质张数检测模块402，用于当所述介质承载组件上存在介质时，检测 所述介质的介质张数；

下移时长计算模块403，用于根据所述单位空载耗时和所述介质张数， 计算所述介质承载组件下移预设位移量的下移时长；

下移控制模块404，用于按照所述下移时长，控制所述介质承载组件在 所述容器中下移。

在本发明实施例中，所述单位空载耗时获取模块，可以包括：

起始时间点确定子模块，用于当所述介质承载组件空载下移时，确定预 设起始位传感器生成起始遮挡信号的起始时间点；

终止时间点确定子模块，用于确定预设终止位传感器生成终止遮挡信号 的终止时间点；

相对时长计算子模块，用于计算所述起始时间点和所述终止时间点之间 的相对时长；

相对位移量计算子模块，用于计算所述介质承载组件在所述起始位和所 述终止位之间的相对位移量；

单位空载耗时计算子模块，用于采用所述相对位移量和所述相对时长， 计算所述介质承载组件下移的单位空载耗时。

在本发明实施例中，所述下移时长包括第一下移时长；所述下移时长计 算模块，可以包括：

判断子模块，用于判断所述单位空载耗时与所述介质张数的比值是否小 于预设阈值；

第一下移时长计算子模块，用于若所述单位空载耗时与所述介质张数的 比值小于所述预设阈值，则采用所述单位空载耗时，计算所述介质承载组件 下移预设位移量的第一下移时长。

在本发明实施例中，所述下移时长还包括第二下移时长；所述下移时长 计算模块，还可以包括：

第二下移时长计算子模块，用于若所述单位空载耗时与所述介质张数的 比值大于所述预设阈值，则采用所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所 述介质承载组件下移预设位移量的第二下移时长。

对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较 简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本发明实施例还提供了一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储 器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述电 子设备执行本发明实施例所述的方法。

本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程 序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如本发明实施例所述的方法。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理 器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当 理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据 本发明实施例的计算处理设备中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。 本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备 或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明 的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或 者以任何其他形式提供。

例如，图5示出了可以实现根据本发明的方法的计算处理设备。该计算 处理设备传统上包括处理器510和以存储器520形式的计算机程序产品或者 计算机可读介质。存储器520可以是诸如闪存、EEPROM(电可擦除可编程 只读存储器)、EPROM、硬盘或者ROM之类的电子存储器。存储器520具 有用于执行上述方法中的任何方法步骤的程序代码531的存储空间530。例 如，用于程序代码的存储空间530可以包括分别用于实现上面的方法中的各种步骤的各个程序代码531。这些程序代码可以从一个或者多个计算机程序 产品中读出或者写入到这一个或者多个计算机程序产品中。这些计算机程序 产品包括诸如硬盘，紧致盘(CD)、存储卡或者软盘之类的程序代码载体。 这样的计算机程序产品通常为如参考图6所述的便携式或者固定存储单元。 该存储单元可以具有与图5的计算处理设备中的存储器520类似布置的存储 段、存储空间等。程序代码可以例如以适当形式进行压缩。通常，存储单元 包括计算机可读代码531’，即可以由例如诸如510之类的处理器读取的代 码，这些代码当由计算处理设备运行时，导致该计算处理设备执行上面所描 述的方法中的各个步骤。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明 的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见 即可。

本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、装 置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全 软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例 可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介 质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程 序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计 算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令 实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框 图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、 专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生 一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的 指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或 多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理 终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读 存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个 流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设 备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计 算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用 于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中 指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦 得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以， 所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所 有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语 仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求 或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术 语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得 包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且 还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或 者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终 端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种调整介质承载组件的方法和一种调整介质 承载组件的装置，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理 及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法 及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在 具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应 理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种调整介质承载组件的方法，其特征在于，所述的方法包括：

获取预设介质承载组件下移的单位空载耗时；

当所述介质承载组件上存在介质时，检测所述介质的介质张数；

根据所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移预设位移量的下移时长；

按照所述下移时长，控制所述介质承载组件下移。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述介质承载组件下移的单位空载耗时的步骤，包括：

当所述介质承载组件空载下移时，确定预设起始位检测组件生成起始遮挡信号的起始时间点；

确定预设终止位检测组件生成终止遮挡信号的终止时间点；

计算所述起始时间点和所述终止时间点之间的相对时长；

计算所述介质承载组件在所述起始位和所述终止位之间的相对位移量；

采用所述相对位移量和所述相对时长，计算所述介质承载组件下移的单位空载耗时。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述下移时长包括第一下移时长；所述根据所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移预设位移量的下移时长的步骤，包括：

判断所述单位空载耗时与所述介质张数的比值是否小于预设阈值；

若所述单位空载耗时与所述介质张数的比值小于所述预设阈值，则采用所述单位空载耗时，计算所述介质承载组件下移预设位移量的第一下移时长。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述下移时长还包括第二下移时长；所述根据所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移预设位移量的下移时长的步骤，还包括：

若所述单位空载耗时与所述介质张数的比值大于所述预设阈值，则采用所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移预设位移量的第二下移时长。

5.一种调整介质承载组件的装置，其特征在于，所述的装置包括：

单位空载耗时获取模块，用于获取预设介质承载组件下移的单位空载耗时；

介质张数检测模块，用于当所述介质承载组件上存在介质时，检测所述介质的介质张数；

下移时长计算模块，用于根据所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移预设位移量的下移时长；

下移控制模块，用于按照所述下移时长，控制所述介质承载组件下移。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述单位空载耗时获取模块，包括：

起始时间点确定子模块，用于当所述介质承载组件空载下移时，确定预设起始位检测组件生成起始遮挡信号的起始时间点；

终止时间点确定子模块，用于确定预设终止位检测组件生成终止遮挡信号的终止时间点；

相对时长计算子模块，用于计算所述起始时间点和所述终止时间点之间的相对时长；

相对位移量计算子模块，用于计算所述介质承载组件在所述起始位和所述终止位之间的相对位移量；

单位空载耗时计算子模块，用于采用所述相对位移量和所述相对时长，计算所述介质承载组件下移的单位空载耗时。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述下移时长包括第一下移时长；所述下移时长计算模块，包括：

判断子模块，用于判断所述单位空载耗时与所述介质张数的比值是否小于预设阈值；

第一下移时长计算子模块，用于若所述单位空载耗时与所述介质张数的比值小于所述预设阈值，则采用所述单位空载耗时，计算所述介质承载组件下移预设位移量的第一下移时长。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述下移时长还包括第二下移时长；所述下移时长计算模块，还包括：

第二下移时长计算子模块，用于若所述单位空载耗时与所述介质张数的比值大于所述预设阈值，则采用所述单位空载耗时和所述介质张数，计算所述介质承载组件下移预设位移量的第二下移时长。

9.一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1-4中任一项所述的调整介质承载组件的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-4任一项所述的调整介质承载组件的方法。

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