CN113092830B - 一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺 - Google Patents

一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺 Download PDF

Info

Publication number
CN113092830B
CN113092830B CN202110360231.3A CN202110360231A CN113092830B CN 113092830 B CN113092830 B CN 113092830B CN 202110360231 A CN202110360231 A CN 202110360231A CN 113092830 B CN113092830 B CN 113092830B
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
fixedly connected
support plates
rack
bottom plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202110360231.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN113092830A (zh
Inventor
罗双泉
康众
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Zhongming Anke Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Zhongming Anke Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Zhongming Anke Technology Co ltd filed Critical Shenzhen Zhongming Anke Technology Co ltd
Priority to CN202110360231.3A priority Critical patent/CN113092830B/zh
Publication of CN113092830A publication Critical patent/CN113092830A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN113092830B publication Critical patent/CN113092830B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本申请涉及一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺,属于电学测试的技术领域,其包括测试座、固定连接在测试座上的两个支撑板、转动安装在两个支撑板之间的测试底板、安装在测试底板上侧的测试盘以及安装在测试座上位于两个支撑板之间的测试盒;所述测试底板靠近两支撑板的侧壁上分别固定连接有转动辊,所述转动辊分别穿过相靠近的支撑板并与支撑板转动连接;其中一个所述支撑板上固定连接有与转动辊固定连接的驱动电机;另一个所述支撑板上安装有与转动辊相连接并带动测试盒沿着测试座上表面滑动的传动机构。本申请具有减小电器元件抛出后不能准确的落在测试盒中的可能性的效果。

Description

一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺
技术领域
本申请涉及电学测试的技术领域,尤其是涉及一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺。
背景技术
目前,液晶显示器(LCD)在手机、显示器等产品中得到越来越广泛的应用,背光源为位于LCD背后的发光源,LCD本身并不发光,而其所显示的画面是其对光线调制的结果,通过背光源的发光以便更清晰的显示内容。
为了能够使得液晶显示模组(LCM)的光学参数得到保证,需要在制造过程中的开发测试阶段不断对半成品、成品进行测试工作,剔除不合格的产品,将正品送入下一工序进行加工,同时还要求对所要出厂的产品再次进行检验和复检。
现已有授权公告号为CN212321674U的中国实用新型专利,其公开了一种电学测试架,包括测试座和测试架,测试架位于测试座上方两侧,在测试架之间通过转动轴固定连接有测试底板,测试底板上方设置有测试盘,测试盘底端通过管道连接有小型真空泵,在测试座上固定连接有位于测试底板下侧的测试盒。当需要对电器元件进行测试时,首先将电器元件放置在测试盘上进行测试,测试结束后转动测试底板使得测试盘上的电器元件落在测试座上的测试盒中。
针对上述中的相关技术,发明人认为测试底板在转动的过程中可能会使得电器元件向外抛出,从而导致电器元件不能准确的落在测试盒中,由于电器元件大多易弯折,所以电器元件抛出之后存在发生磕碰导致损坏的可能性。
发明内容
为了减小电器元件抛出后不能准确的落在测试盒中的可能性,本申请提供一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺。
第一方面,本申请提供一种电器元件测试架,采用如下的技术方案:
一种电器元件测试架,包括测试座、固定连接在测试座上的两个支撑板、转动安装在两个支撑板之间的测试底板、安装在测试底板上侧的测试盘以及安装在测试座上位于两个支撑板之间的测试盒;
所述测试底板靠近两支撑板的侧壁上分别固定连接有转动辊,所述转动辊分别穿过相靠近的支撑板并与支撑板转动连接;
其中一个所述支撑板上固定连接有与转动辊固定连接的驱动电机;
另一个所述支撑板上安装有与转动辊相连接并带动测试盒沿着测试座上表面滑动的传动机构。
通过采用上述技术方案,当需要对电器元件进行测试时,将电器元件放置在测试盒的上方,然后进行测试,测试完成后,启动驱动电机带动测试底板进行转动,测试底板转动时能够使得电器元件与测试盘发生分离,从而能够将电器元件抛出,此时转动辊通过传动机构能够带动测试盒朝向电器元件抛出的方向移动,从而能够尽可能保证电器元件落在测试盒中,进而能够减小电器元件发生磕碰导致损坏的可能性。
可选的,所述传动机构包括连接在转动辊上且竖直设置的第一链式传动组件、与第一链式传动组件连接且水平设置的第二链式传动组件、与第二链式传动组件相连接的齿轮组以及与齿轮组相连接并与测试座滑动连接的齿条;
穿过第一链式传动组件与第二链式传动组件设置有与支撑板转动连接的第一传动轴;
穿过第二链式传动组件与齿轮组设置有与支撑板转动连接的第二传动轴;
所述齿条的侧壁上固定连接有与测试盒相固定的连接杆。
通过采用上述技术方案,当启动驱动电机带动测试底板进行转动时,测试底板上连接的转动辊会进行转动,转动辊转动时能够带动第一链式传动组件进行转动,第一链式传动组件能够通过第一传动轴带动第二链式传动组件进行转动第二链式传动组件能够通过第二传动轴带动齿轮组进行转动,齿轮组转动时带动连接的齿条沿着齿条自身的长度方向移动,齿条移动时能够带动测试盒朝电器元件抛出的方向移动,从而使得电器元件准确的落在测试盒中。
可选的,所述测试座上开设有供齿条进行滑动的导向槽。
通过采用上述技术方案,当齿条在测试座的上表面进行滑动时可能会发生偏移,通过将齿条放置在导向槽中能够使得齿条沿着导向槽进行滑动,从而使得齿条沿着直线稳定的进行移动。
可选的,所述导向槽的两侧壁分别开设有限位槽,所述齿条的两侧壁上分别安装有竖直设置且与限位槽上下两侧壁相抵接的第一滚轮。
通过采用上述技术方案,由于生产误差可能会导致导向槽的槽底不平整,通过在导向槽的两侧壁上分别开设限位槽,并在齿条的侧壁上安装竖直设置且与限位槽上下两侧壁相抵接的第一滚轮,能够使得齿条在移动的过程中更加平稳,减小在移动过程中沿着竖直方向发生轻微跳动的可能性。
可选的,所述齿条的两侧壁上还分别安装有水平设置且与限位槽槽底相抵接的第二滚轮。
通过采用上述技术方案,由于生产误差可能会导致导向槽的两侧壁存在不平整的情况,通过设置水平的第二滚轮,并使得第二滚轮抵接在限位槽的槽底能够减小齿条在移动过程中发生晃动的可能性。
可选的,所述测试盒内侧安装有水平放置的弹性垫。
通过采用上述技术方案,由于电器元件大多为易弯折材质,所以电器元件直接与测试盒底部接触时可能会发生断裂,通过设置弹性垫能够避免电器元件直接与测试盒的底部接触,从而减小电器元件发生破损的可能性。
可选的,所述测试底板上沿着测试底板的长度方向开设育纵向贯穿的滑动槽,所述测试盘的下表面固定连接有穿过滑动槽的滑动块,所述滑动块的下表面固定连接有横截面积大于滑动块的限位块。
通过采用上述技术方案,当需要对电器元件进行安装时,首先根据电器元件的尺寸对测试盘的位置进行调整,从而保证电器元件处于便于工作人员进行测试的位置;通过设置限位块能够避免测试盘与测试底板发生分离。
可选的,所述测试底板上位于滑动槽的两侧分别开设有纵向贯穿测试底板的连接槽,所述测试盘上固定连接有位于连接槽上的连接块,依次穿过连接块和连接槽设置有紧固螺栓。
通过采用上述技术方案,在对测试盘的位置调整结束后,通过旋紧紧固螺栓能够将连接块压紧在测试底板上,从而实现对测试盘进行固定。
第二方面,本申请提供一种电器元件测试架的操作工艺,采用如下的技术方案:
S1、调整测试盘:根据电器元件的尺寸对测试盘的位置进行调节,调节结束后利用紧固螺栓对测试盘进行固定;
S2、安装电器元件:开启真空泵并将电器元件放置在测试盘上;
S3、拆卸电器元件:关闭真空泵、开启驱动电机,驱动电机带动测试底板进行转动,同时利用传动机构带动测试盒沿着测试座进行移动。
通过采用上述技术方案,当需要对电器元件进行测试时,首先根据电器元件的尺寸对测试盘的位置进行调整,调整结束后旋拧紧固螺栓能够将测试盘固定在测试底板上;然后开启真空泵,同时将电器元件放置在测试盘上,从而能够对电器元件进行检测;检测结束后,关闭真空泵,然后开启驱动电机,驱动电机开启时能够带动测试盘进行转动,此时电器元件能够与测试盘分离并向外抛出,驱动电机开启时还能利用传动机构带动测试盒朝电器元件抛出的方向移动,从而能够使得电器元件准确的落在测试盒中。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
1.当电器元件测试结束后,启动驱动电机能够带动测试底板转动,从而能够使得电器元件与测试盘相互分离;当驱动电机启动时还能利用传动机构带动测试盒朝电器元件抛出的方向移动,从而能够使得电器元件更加准确的落在测试盒中;
2.通过在齿条侧壁上安装竖直的第一滚轮能够使得第一滚轮与限位槽的上下两表面相互抵接,从而能够减小齿条在移动时发生上下晃动的可能性;
3.通过在齿条侧壁上安装水平的第二滚轮能够使得第二滚轮与限位槽的槽底相互抵接,从而能够减小齿条在移动时发生左右晃动的可能性。
附图说明
图1是本申请实施例中体现测试架整体的结构示意图。
图2是本申请实施例中体现测试盘的结构示意图。
图3是图1中体现A部分的放大示意图。
图4是本申请实施例中体现第一滚轮与限位槽相互配合的结构示意图。
图5是本申请实施例中体现齿条的结构示意图。
图6是本申请实施例中体现第二滚轮与限位槽相互配合的结构示意图。
附图标记说明:1、测试座;11、导向槽;12、限位槽;2、支撑板;21、驱动电机;3、测试底板;31、滑动槽;32、连接槽;33、转动辊;4、测试盘;41、滑动块;42、限位块;43、气孔;44、活动软管;45、连接块;5、测试盒;51、弹性垫;6、传动机构;61、第一链式传动组件;611、第一主链轮;612、第一从链轮;613、第一链条;62、第二链式传动组件;621、第二主链轮;622、第二从链轮;623、第二链条;63、齿轮组;631、主动齿轮;632、从动齿轮;64、齿条;641、连接杆;642、第一滚轮;643、第二滚轮;65、第一传动轴;66、第二传动轴;67、轴承座;7、真空泵。
具体实施方式
以下结合附图1-6对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种电器元件测试架。参照图1,测试架包括水平放置的测试座1,在测试座1上固定连接有两个平行设置的支撑板2,在两个支撑板2之间位于靠近顶部的位置转动设置有水平的测试底板3,在测试底板3的顶部滑动安装有用于放置电器元件的测试盘4。在测试座1上位于两个支撑板2之间滑动安装有测试盒5,测试盒5的滑动方向与两个支撑板2的连线方向相互垂直,在其中一个支撑板2上还安装有带动测试盒5进行滑动的传动机构6。
参照图1和图2,在测试底板3上表面沿着自身的长度方向开设有上下贯穿的滑动槽31,在测试盘4的下表面固定连接有贯穿滑动槽31的滑动块41,并在滑动块41的下表面固定连接有横截面积大于滑动块41的限位块42。通过设置限位块42能够保证测试盘4只能沿着滑动槽31进行滑动,不能沿着竖直方向发生移动。
测试盘4内部中空,并在测试盘4的上表面开设若干与内部相连通的气孔43,在测试盘4的下表面固定连接有与测试盘4内部相连通的活动软管44,在测试座1上固定安装有真空泵7,活动软管44的下端穿过滑动槽31并连接在真空泵7上。当需要对电器元件进行检测时,将电器元件放置在测试盘4上,然后开启真空泵7,真空泵7开启后能够利用活动软管44将电器元件吸附在测试盘4上,从而能够对测试盘4进行固定。利用将电器元件吸附在测试盘4上的方法能够避免对电器元件施压才能进行固定,从而能够减小电器元件发生损坏的可能性。
在测试底板3上位于滑动槽31的两侧分别开设有贯穿测试底板3的连接槽32,在测试盘4的侧壁上靠近连接槽32的位置分别固定连接有位于连接槽32上方的连接块45,穿过连接块45与测试底板3的连接槽32设置有对连接块45进行固定的紧固螺栓。
当将电器元件安装在测试盘4上时根据具体情况对测试盘4的位置进行调整,从而保证测试人员方便对电器元件进行测试。当将测试盘4调整至合适的位置时,旋紧连接块45上连接的紧固螺栓,从而能够将连接块45压合在测试底板3上,进而能够对测试盘4的位置进行固定。
参照图1,在测试底板3靠近两个支撑板2的侧壁上分别固定连接有转动辊33,转动辊33的另一端分别穿过相靠近的支撑板2并与支撑板2转动连接。在靠近真空泵7一侧的支撑板2上固定连接有驱动电机21,驱动电机21的电机轴与转动辊33固定连接,当对电器元件检测结束后,真空泵7停止工作,然后启动驱动电机21,驱动电机21启动后带动转动辊33进行转动,转动辊33转动时能够带动测试底板3进行转动,此时由于真空泵7停止工作,所以当测试底板3转动时测试盘4上的电器元件能够与测试盘4发生分离并掉落在下方的测试盒5中。
参照图1和图3,传动机构6包括竖直设置的第一链式传动组件61、水平设置的第二链式传动组件62、相互啮合的齿轮组63以及与测试盒5固定连接的齿条64。
第一链式传动组件61包括固定套接在远离驱动电机21一侧的转动辊33上的第一主链轮611,第一主链轮611位于支撑板2远离测试盒5的一侧,在第一主链轮611的正下方设置有第一从链轮612,第一主链轮611与第一从链轮612之间通过第一链条613进行连接。
穿过第一从链轮612设置有与支撑板2转动连接的第一传动轴65,第二链式传动组件62包括固定套接在第一传动轴65上位于支撑板2与第一从链轮612之间的第二主链轮621,第一从链轮612、第二主链轮621与第一传动轴65三者同轴线设置。在第二主链轮621的一侧设置有与第二主链轮621位于同一竖直高度且处在同一竖直平面上的第二从链轮622,第二主链轮621与第二从链轮622通过第二链条623进行连接。
穿过第二从链轮622设置有第二传动轴66,第二传动轴66位于支撑板2的一侧且不穿过支撑板2。在支撑板2靠近第二传动轴66的侧壁上固定连接有轴承座67,第二传动轴66穿过轴承座67并与轴承座67转动连接。在第二传动轴66远离第二从链轮622的一端固定套接有主动齿轮631,第二从链轮622、主动齿轮631与第二传动轴66三者同轴线设置。
在主动齿轮631的一侧啮合连接有直径大于主动齿轮631的从动齿轮632,从动齿轮632与支撑板2转动连接,在测试座1上放置有与从动齿轮632相互啮合的齿条64。
参照图4,在齿条64靠近测试盒5的侧壁上固定连接有两根连接杆641,连接杆641的另一端与测试盒5固定连接。
参照图1和图3,当驱动电机21带动测试底板3朝向一侧转动时,转动辊33能够带动第一链式传动组件61进行转动,第一链式传动组件61通过第一传动轴65带动第二链式传动组件62进行转动,第二链式传动组件62通过第二传动轴66带动主动齿轮631进行转动,主动齿轮631能够带动从动齿轮632进行转动,从动齿轮632转动时能够带动齿条64朝向电器元件抛出的方向移动,从而能够带动测试盒5朝向电器元件抛出的方向移动,进而能够保证电器元件准确的落在测试盒5中,从而能够减小电器元件落在测试盒5外侧的可能性,进而能够对电器元件进行保护。
参照图4,在测试盒5内侧底部放置有弹性垫51,通过设置弹性垫51能够进一步对电器元件进行保护,从而减小电器元件发生损坏的可能性。
在测试座1的上表面位于齿条64的位置开设有供齿条64滑动连接的导向槽11,齿条64位于导向槽11中,齿条64在测试座1上滑动时导向槽11能够对齿条64的滑动方向进行限制,从而保证齿条64始终沿着同一方向进行滑动。
参照图4和图5,由于齿条64在移动时与导向槽11之间发生相对摩擦,所以齿条64在移动过程中可能会发生卡滞,为了减小齿条64在滑动的过程中发生卡滞的可能性。在齿条64的两侧壁上靠近端部的位置分别安装有竖直设置的第一滚轮642,并在导向槽11与齿条64相互接触的两侧壁上分别开设有供第一滚轮642进行滚动的限位槽12,第一滚轮642与限位槽12的上下两表面相互抵接。
通过在齿条64的侧壁上安装第一滚轮642能够减小齿条64与导向槽11之间的摩擦力,从而能够使得齿条64在移动时更加顺畅。由于生产误差可能会造成导向槽11槽底不平整,所以齿条64在移动过程中可能会发生轻微的上下跳动,通过在齿条64的侧壁上设置与限位槽12的上下两表面相互抵接第一滚轮642能够减小齿条64在移动过程中发生上下跳动的可能性。
参照图5和图6,在齿条64的两侧壁上位于两个第一滚轮642之间还安装有水平设置的第二滚轮643,第二滚轮643同样位于限位槽12中并与限位槽12的槽底相互抵接。由于生产误差可能会造成导向槽11侧壁不平整,所以齿条64在移动过程中可能会沿着水平方向发生晃动,通过设置与限位槽12槽底相互抵接的第二滚轮643能够减小齿条64在移动的过程发生晃动的可能性。
本申请实施例还公开一种测试架的操作工艺,具体包括如下步骤:
S1、调整测试盘4:根据电器元件的大小以及操作人员的舒适情况对测试盘4的位置进行调整,在对测试盘4进行调整时,首先松动连接块45上的紧固螺栓,然后推动测试盘4沿着滑动槽31进行移动,当测试盘4移动至合适的位置时,旋紧紧固螺栓对连接块45的位置进行固定,从而实现对测试盘4的位置进行固定。
S2、安装电器元件:首先开启真空泵7,然后将待测试的电器元件放置在测试盘4,此时真空泵7通过活动软管44将电器元件吸附在测试盘4上,从而实现对电器元件进行固定。
S3、拆卸电器元件:当电器元件测试结束后,关闭真空泵7,然后开启驱动电机21,驱动电机21开启时通过转动辊33带动测试底板3进行转动,测试底板3转动时能够将电器元件抛出;在转动辊33转动时能够带动第一链式传动组件61进行转动,第一链式传动组件61转动时通过第一传动轴65带动第二链式传动组件62进行转动,第二链式传动组件62转动时能够通过第二传动轴66带动主动齿轮631进行转动,主动齿轮631转动时能够带动从动齿轮632转动,从动齿轮632转动能够带动齿条64移动,从而能够带动测试盒5朝电器元件抛出的方向移动,进而能够保证电器元件准确的落在测试盒5中。
以上均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种电器元件测试架,其特征在于:包括测试座(1)、固定连接在测试座(1)上的两个支撑板(2)、转动安装在两个支撑板(2)之间的测试底板(3)、安装在测试底板(3)上侧的测试盘(4)以及安装在测试座(1)上位于两个支撑板(2)之间的测试盒(5);
所述测试底板(3)靠近两支撑板(2)的侧壁上分别固定连接有转动辊(33),所述转动辊(33)分别穿过相靠近的支撑板(2)并与支撑板(2)转动连接;
其中一个所述支撑板(2)上固定连接有与转动辊(33)固定连接的驱动电机(21);
另一个所述支撑板(2)上安装有与转动辊(33)相连接并带动测试盒(5)沿着测试座(1)上表面滑动的传动机构(6);
所述传动机构(6)包括连接在转动辊(33)上且竖直设置的第一链式传动组件(61)、与第一链式传动组件(61)连接且水平设置的第二链式传动组件(62)、与第二链式传动组件(62)相连接的齿轮组(63)以及与齿轮组(63)相连接并与测试座(1)滑动连接的齿条(64);
穿过第一链式传动组件(61)与第二链式传动组件(62)设置有与支撑板(2)转动连接的第一传动轴(65);
穿过第二链式传动组件(62)与齿轮组(63)设置有与支撑板(2)转动连接的第二传动轴(66);
所述齿条(64)的侧壁上固定连接有与测试盒(5)相固定的连接杆(641)。
2.根据权利要求1所述的一种电器元件测试架,其特征在于:所述测试座(1)上开设有供齿条(64)进行滑动的导向槽(11)。
3.根据权利要求2所述的一种电器元件测试架,其特征在于:所述导向槽(11)的两侧壁分别开设有限位槽(12),所述齿条(64)的两侧壁上分别安装有竖直设置且与限位槽(12)上下两侧壁相抵接的第一滚轮(642)。
4.根据权利要求3所述的一种电器元件测试架,其特征在于:所述齿条(64)的两侧壁上还分别安装有水平设置且与限位槽(12)槽底相抵接的第二滚轮(643)。
5.根据权利要求1所述的一种电器元件测试架,其特征在于:所述测试盒(5)内侧安装有水平放置的弹性垫(51)。
6.根据权利要求1所述的一种电器元件测试架,其特征在于:所述测试底板(3)上沿着测试底板(3)的长度方向开设育纵向贯穿的滑动槽(31),所述测试盘(4)的下表面固定连接有穿过滑动槽(31)的滑动块(41),所述滑动块(41)的下表面固定连接有横截面积大于滑动块(41)的限位块(42)。
7.根据权利要求6所述的一种电器元件测试架,其特征在于:所述测试底板(3)上位于滑动槽(31)的两侧分别开设有纵向贯穿测试底板(3)的连接槽(32),所述测试盘(4)上固定连接有位于连接槽(32)上的连接块(45),依次穿过连接块(45)和连接槽(32)设置有紧固螺栓。
8.应用权利要求1-7中任意一种电器元件测试架的操作工艺,其特征在于,包括以下步骤:
S1、调整测试盘(4):根据电器元件的尺寸对测试盘(4)的位置进行调节,调节结束后利用紧固螺栓对测试盘(4)进行固定;
S2、安装电器元件:开启真空泵(7)并将电器元件放置在测试盘(4)上;
S3、拆卸电器元件:关闭真空泵(7)、开启驱动电机(21),驱动电机(21)带动测试底板(3)进行转动,同时利用传动机构(6)带动测试盒(5)沿着测试座(1)进行移动。
CN202110360231.3A 2021-04-02 2021-04-02 一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺 Active CN113092830B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110360231.3A CN113092830B (zh) 2021-04-02 2021-04-02 一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110360231.3A CN113092830B (zh) 2021-04-02 2021-04-02 一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN113092830A CN113092830A (zh) 2021-07-09
CN113092830B true CN113092830B (zh) 2024-05-10

Family

ID=76673107

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110360231.3A Active CN113092830B (zh) 2021-04-02 2021-04-02 一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113092830B (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1085599A (fr) * 1952-10-31 1955-02-03 Mining Engineering Co Ltd Transporteurs
KR200232730Y1 (ko) * 2000-11-10 2001-10-25 이진술 연폭 및 해포기의 원단롤 공급장치
CN206945905U (zh) * 2017-06-22 2018-01-30 广东唯信智能科技有限公司 一种一拖四pcb测试装置
CN208124884U (zh) * 2018-04-09 2018-11-20 洛阳东旭机电科技有限公司 一种光电连接器插针生产用连续网链式退火炉
CN110548703A (zh) * 2019-10-22 2019-12-10 东莞市鼎通精密五金股份有限公司 一种连接器的铜线裸压测试方法和装置
CN211122202U (zh) * 2019-11-07 2020-07-28 中铁二十局集团有限公司 一种机制砂混凝土耐久性测试装置
CN212321674U (zh) * 2020-04-22 2021-01-08 丁书凯 一种电学测试架

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1085599A (fr) * 1952-10-31 1955-02-03 Mining Engineering Co Ltd Transporteurs
KR200232730Y1 (ko) * 2000-11-10 2001-10-25 이진술 연폭 및 해포기의 원단롤 공급장치
CN206945905U (zh) * 2017-06-22 2018-01-30 广东唯信智能科技有限公司 一种一拖四pcb测试装置
CN208124884U (zh) * 2018-04-09 2018-11-20 洛阳东旭机电科技有限公司 一种光电连接器插针生产用连续网链式退火炉
CN110548703A (zh) * 2019-10-22 2019-12-10 东莞市鼎通精密五金股份有限公司 一种连接器的铜线裸压测试方法和装置
CN211122202U (zh) * 2019-11-07 2020-07-28 中铁二十局集团有限公司 一种机制砂混凝土耐久性测试装置
CN212321674U (zh) * 2020-04-22 2021-01-08 丁书凯 一种电学测试架

Also Published As

Publication number Publication date
CN113092830A (zh) 2021-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100913188B1 (ko) 디스플레이 패널 검사장치용 워크테이블의 다규격 패널지지장치
US20170255037A1 (en) Flat-panel product inspection device
US9586851B2 (en) Method for cutting single sheet of glass substrate
CN106873195B (zh) 探针单元更换装置
CN101634768A (zh) 液晶显示屏取放装置
CN201145792Y (zh) 液晶显示屏取放装置
CN101299125B (zh) 阵列测试器
CN106000894B (zh) 具有上料功能的液晶屏幕检测设备
JP2006133099A (ja) 表示用パネルの検査装置
CN113092830B (zh) 一种电器元件测试架及该测试架的操作工艺
CN109824254A (zh) 基板切割装置
CN109632829B (zh) 玻璃基板宏观检查装置
KR101572640B1 (ko) 커버드 디스플레이 패널 검사 장치용 지그
KR100712679B1 (ko) 평면 디스플레이 검사장치
KR100734750B1 (ko) 대형 편광필름 검사용 지그
KR101842641B1 (ko) 패널 프레임용 버 제거 장치
CN218453763U (zh) 一种液晶显示模组测试工装
KR101677016B1 (ko) 글래스 및 필름 혼용 표면검사장치
CN106001007B (zh) 具有清洗功能的液晶屏幕检测设备
CN213780591U (zh) 显示面板的检测设备
KR100714289B1 (ko) 엘씨디 검사용 광학장치
CN221686773U (zh) 一种液晶显示模组测试设备
KR20090006688A (ko) 프로브장치 및 이를 이용한 검사방법
KR101789670B1 (ko) 오엘이디 패널 검사용 커넥터
CN107121800B (zh) 一种用于lcm的检测支架及其应用

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant