CN113091661A - 用于获取ct设备测量孔径位置度准确性的试块及其测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块,其特征在于:包括有:基准块,其中心开设有第一贯穿孔;滑动块,其中心开设有与第一贯穿孔大小相同的第二贯穿孔,所述滑动块滑动地设于基准块上;初始状态时,所述滑动块上的第二贯穿孔与所述基准块上的第一贯穿孔上下对齐,所述滑动块能沿基准块横向和纵向方向滑动。还公开了一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的测量方法。本发明的优点在于:该试块结构简单,能够使实际产生的位置度公差可调,同时能够根据各不同厂商各不同零件的公差带要求设置公差带。另外,通过试块的CT扫描结果分析出的距离与实际距离之间比较,即可准确获取CT设备对孔径位置度测量的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及测量技术领域,特别涉及一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块及其测量方法。
背景技术
位置度是一个形体的轴线或中心平面允许自身位置变动的范围,即一个形体的轴线或中心平面的实际位置允许的变动范围,是限制被测要素的实际位置对理想位置变动量的指标。位置度公差在评定实际要素位置的正确度,是依据图纸上给定的理想位置。一些3D打印件或其他加工后的零件有装配要求时,往往会给出位置度公差的要求,当对这些零件进行CT扫描并测量尺寸后即可得到位置度,而CT设备测量得到的孔径位置度直接关系到测量的准确性,但实际上并不知道如何获取CT扫描后得到的位置度的测量准确性,同时目前也没有一种能直接获取CT设备测量孔径位置度准确性的方法,因此需要进一步改进。
发明内容
本发明所要解决的第一个技术问题是针对现有技术的现状,提供一种结构简单且位置度可调的用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块。
本发明所要解决的第二个技术问题是针对现有技术的现状,提供一种应用上述试块获取CT设备测量孔径位置度准确性的测量方法。
本发明解决上述第一个技术问题所采用的技术方案为:一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块,其特征在于:包括有:
基准块,其中心开设有第一贯穿孔;
滑动块,其中心开设有与第一贯穿孔大小相同的第二贯穿孔,所述滑动块滑动地设于基准块上;初始状态时,所述滑动块上的第二贯穿孔与所述基准块上的第一贯穿孔上下对齐,所述滑动块能沿基准块横向和纵向方向滑动。
为了辅助滑动块安装在基准块上的定位,所述基准块的上端面上设有以所述第一贯穿孔的中心位置为中心的十字型第一刻度线,所述第一刻度线包括第一横向刻度线以及与第一横向刻度线垂直的第一纵向刻度线。
进一步的,所述滑动块的上端面上设有以所述第二贯穿孔的中心位置为中心的十字型第二刻度线,所述第二刻度线包括与第一横向刻度线平行的第二横向刻度线以及与第一纵向刻度线平行的第二纵向刻度线。
本方案中,还包括用于驱动滑动块横向和纵向滑动的两驱动机构。
优选的,所述两驱动机构均为集成有驱动功能和测量功能的螺旋测微器,所述螺旋测微器包括测杆和旋转后能驱动测杆移动的旋钮,所述两螺旋测微器的测杆均与所述滑动块相抵,用于分别驱动滑动块横向和纵向滑动。通过螺旋测微器一方面能驱动滑动块滑动,另一方面可直接通过螺旋测微器读取滑动的距离,从而使距离测量准确且读取方便。
优选的,所述第一贯穿孔和第二贯穿孔的横截面均为圆形。
本发明解决上述第二个技术问题所采用的技术方案为:一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的测量方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1、使用上述的试块,并保持滑动块上的第二贯穿孔与基准块上的第一贯穿孔上下对齐;
步骤2、控制滑动块沿基准块的横向和纵向方向滑动,使滑动块上第二贯穿孔的中心偏离基准块上第一贯穿孔的中心,且至少保证基准块上的第一贯穿孔的中心外露;
步骤3、对步骤2中滑动块滑动后的试块进行三维CT扫描,得到试块扫描后的三维CT图像;
步骤4、根据扫描后的三维CT图像拟合出基准块上的第一贯穿孔和滑动块上的第二贯穿孔,之后,计算第一贯穿孔的中心与第二贯穿孔的中心之间的距离d,将d与实际滑动的距离L进行比较,得到CT设备测量孔径位置度的准确性。
进一步的,所述步骤4中实际滑动的距离L的计算公式为:
其中,x为滑动块在横向方向上滑动的距离,y为滑动块在纵向方向上滑动的距离。
与现有技术相比,本发明的优点在于:通过试块上的滑动块沿基准块横向和纵向方向滑动,从而使滑动块上的贯穿孔偏离基准块上的贯穿孔,因此该试块结构简单,能够使实际产生的位置度公差可调,同时能够根据各不同厂商各不同零件的公差带要求设置公差带。另外,通过试块的CT扫描结果分析出的距离与实际距离之间比较,即可准确获取CT设备对孔径位置度测量的准确性。
附图说明
图1为本发明实施例中试块的结构示意图;
图2为图1中试块的分解图;
图3为图1的俯视图(初始状态);
图4为图3中滑动块滑动后的示意图。
具体实施方式
以下结合附图实施例对本发明作进一步详细描述。
如图1~4所示,一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块,包括有:
基准块1,其中心开设有第一贯穿孔11;
滑动块2,其中心开设有与第一贯穿孔11大小相同的第二贯穿孔21,滑动块2滑动地设于基准块1上;初始状态时,滑动块2上的第二贯穿孔21与基准块1上的第一贯穿孔11上下对齐,滑动块2能沿基准块1横向和纵向方向滑动。优选的,第一贯穿孔11和第二贯穿孔21的横截面均为圆形,当然,也可以其他形状。第一贯穿孔11和第二贯穿孔21分别沿基准块1和滑动块2的高度方向设置。
本实施例中优选的基准块1和滑动块2均为正方体,当然,也可以为形状相同的圆柱体或其他形状;滑动块2小于基准块1,为了保证初始状态时滑动块2上的第二贯穿孔21与基准块1上的第一贯穿孔11上下对齐,优选的可采用定位销(图中未示出)使第二贯穿孔21和第一贯穿孔11的中心轴线重合,当然也可以采用其他的定位件。
另外,为了辅助滑动块2安装在基准块1上的定位以及便于滑动块2滑动的测量,本实施例中,以正方体形状的基准块1一横向侧边和一纵向侧边分别作为滑动块2横向和纵向滑动的基准平面;同时,基准块1的上端面上设有以第一贯穿孔11的中心位置为中心的十字型第一刻度线12,第一刻度线12包括第一横向刻度线121以及与第一横向刻度线121垂直的第一纵向刻度线122;相应的,滑动块2的上端面上设有以第二贯穿孔21的中心位置为中心的十字型第二刻度线22,第二刻度线22包括与第一横向刻度线121平行的第二横向刻度线221以及与第一纵向刻度线122平行的第二纵向刻度线222。使滑动块2上的第二横向刻度线221与第一横向刻度线121在同一条直线上,另外,第二纵向刻度线222与第一纵向刻度线122在同一条直线上,此时则第二贯穿孔21与第一贯穿孔11上下对齐,即对应为初始状态。
上述为了实现滑动块2滑动以及后续对滑动块2滑动的距离进行测量,上述试块还包括用于驱动滑动块2横向和纵向滑动的两驱动机构以及包括测量滑动块2横向和纵向滑动距离的测量机构。为了减小成本且提高测量准确度,本实施例中,两驱动机构均为集成有驱动功能和测量功能的螺旋测微器,每个螺旋测微器均包括测杆和旋转后能驱动测杆移动的旋钮,螺旋测微器为现有的常用测量器件,在此对其常见结构不进行赘述,两螺旋测微器的测杆均与滑动块2相抵,用于分别驱动滑动块2横向和纵向滑动,即可根据螺旋测微器的读数方式读取出滑动块2在横向方向上滑动的距离x和纵向方向上滑动的距离y。
一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的测量方法,包括以下步骤:
步骤1、使用上述的试块,并保持滑动块2上的第二贯穿孔21与基准块1上的第一贯穿孔11上下对齐;具体如图3所示;
步骤2、控制滑动块2沿基准块1的横向和纵向方向滑动,使滑动块2上第二贯穿孔21的中心偏离基准块1上第一贯穿孔11的中心,且至少保证基准块1上的第一贯穿孔(11)的中心外露;
其中,旋转两螺旋测微器上的旋钮,每旋转一周旋钮,则相应的测杆向前移动一定距离,分别控制两螺旋测微器上的旋钮以使各自的测杆推动滑动块2横向和纵向滑动;当然,优选的为:滑动块2滑动后使基准块1上的第一贯穿孔11全部外露;具体如图4所示,滑动块2向左上方向滑动,滑动块2滑动后其第二贯穿孔21的中心偏离第一贯穿孔11的中心;
步骤3、对步骤2中滑动块2滑动后的试块进行三维CT扫描,得到试块扫描后的三维CT图像;
步骤4、根据扫描后的三维CT图像拟合出基准块1上的第一贯穿孔11和滑动块2上的第二贯穿孔21,之后,计算第一贯穿孔11的中心与第二贯穿孔21的中线之间的距离d,将d与实际滑动的距离L进行比较,得到CT设备测量孔径位置度的准确性。
其中,上述拟合方法可采用图像处理中常有的圆形拟合方法;
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块,其特征在于:包括有:
基准块(1),其中心开设有第一贯穿孔(11);
滑动块(2),其中心开设有与第一贯穿孔(11)大小相同的第二贯穿孔(21),所述滑动块(2)滑动地设于基准块(1)上;初始状态时,所述滑动块(2)上的第二贯穿孔(21)与所述基准块(1)上的第一贯穿孔(11)上下对齐,所述滑动块(2)能沿基准块(1)横向和纵向方向滑动。
2.根据权利要求1所述的用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块,其特征在于:所述基准块(1)的上端面上设有以所述第一贯穿孔(11)的中心位置为中心的十字型第一刻度线(12),所述第一刻度线(12)包括第一横向刻度线(121)以及与第一横向刻度线(121)垂直的第一纵向刻度线(122)。
3.根据权利要求2所述的用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块,其特征在于:所述滑动块(2)的上端面上设有以所述第二贯穿孔(21)的中心位置为中心的十字型第二刻度线(22),所述第二刻度线(22)包括与第一横向刻度线(121)平行的第二横向刻度线(221)以及与第一纵向刻度线(122)平行的第二纵向刻度线(222)。
4.根据权利要求1所述的用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块,其特征在于:还包括用于驱动滑动块(2)横向和纵向滑动的两驱动机构。
5.根据权利要求4所述的用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块,其特征在于:所述两驱动机构均为集成有驱动功能和测量功能的螺旋测微器,所述螺旋测微器包括测杆和旋转后能驱动测杆移动的旋钮,所述两螺旋测微器的测杆均与所述滑动块(2)相抵,用于分别驱动滑动块(2)横向和纵向滑动。
6.根据权利要求1所述的用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块,其特征在于:所述第一贯穿孔(11)和第二贯穿孔(21)的横截面均为圆形。
7.一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的测量方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1、使用上述权利要求1~6任一项所述的试块,并保持滑动块(2)上的第二贯穿孔(21)与基准块(1)上的第一贯穿孔(11)上下对齐;
步骤2、控制滑动块(2)沿基准块(1)的横向和纵向方向滑动,使滑动块(2)上第二贯穿孔(21)的中心偏离基准块(1)上第一贯穿孔(11)的中心,且至少保证基准块(1)上的第一贯穿孔(11)的中心外露;
步骤3、对步骤2中滑动块(2)滑动后的试块进行三维CT扫描,得到试块扫描后的三维CT图像;
步骤4、根据扫描后的三维CT图像拟合出基准块(1)上的第一贯穿孔(11)和滑动块(2)上的第二贯穿孔(21),之后,计算第一贯穿孔(11)的中心与第二贯穿孔(21)的中心之间的距离d,将d与实际滑动的距离L进行比较,即得到CT设备测量孔径位置度的准确性。
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