CN113034779A - 厚度传感器的质量检测方法、装置、设备及可读介质 - Google Patents

厚度传感器的质量检测方法、装置、设备及可读介质 Download PDF

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Abstract

本发明实施例公开了一种厚度传感器的质量检测方法、装置、设备以及可读介质,所述方法基于一包括有驱动模块并和待检测厚度传感器保持连接的检测装置,该驱动模块用于驱动测试介质通过待检测厚度传感器,所述方法包括:启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过待检测厚度传感器,获取在所述驱动模块启动过程中待检测厚度传感器输出的传感数据;判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配,若匹配,判定所述待检测厚度传感器质量合格,若不匹配,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断待检测厚度传感器的质量是否合格。本发明提高了厚度传感器质量检测的效率和准确率。

Description

厚度传感器的质量检测方法、装置、设备及可读介质
技术领域
本发明涉及传感器检测技术领域,尤其涉及一种厚度传感器的质量检测方法、装置、设备及可读介质。
背景技术
在各种应用到纸币、支票等票据的场景中经常需要对于票据的厚度进行检测,从而根据检测到的厚度信息对票据是否为异常(如重张或者为伪币)进行判断,或者根据厚度信息进行票据计数和输出等。
而纸币等票据介质的厚度检测一般是通过如内置于ATM机、自助柜机等中厚度传感器来完成的。厚度传感器的工作原理一般是设置若干个检测通道,将标准介质(如一张标准厚度的测试介质)通过传感器时各通道的输出信号(如输出电压)的变化量转化为对应的纸币厚度值。
发明内容
基于此,有必要针对上述问题,提出一种厚度传感器的质量检测方法、装置、计算机设备及可读介质。
一种厚度传感器的质量检测方法,所述方法基于一检测装置,所述检测装置上连接有一待检测厚度传感器;
所述检测装置包括一驱动模块,所述驱动模块用于驱动测试介质通过所述待检测厚度传感器,所述方法包括:
启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过所述待检测厚度传感器,并获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配;
在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格;
在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
其中,所述判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配,包括:
判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配,其中,所述目标测试指标包括传感器预压值指标、首冲宽度指标、传感器针对厚度检测的增益指标、单通道增益重复性误差指标、单通道动态误差指标、各通道间干扰误差指标、厚度检测精度指标和/或纵向空间分辨率指标中的至少一项。
可选的,还包括:
根据所述传感数据确定所述待检测厚度传感器的输出信号波峰信息,所述波峰信息包括首个波峰宽度、首个波峰信号均值;
根据所述首个波峰信号均值确定所述待检测厚度传感器的目标预压值,根据所述首个波峰宽度确定所述待检测厚度传感器的目标首冲宽度;
判断所述目标预压值、目标首冲宽度分别与所述传感器预压值指标、首冲宽度指标对应的标准值是否匹配。
更进一步的,所述待检测厚度传感器包含至少一个检测通道,所述传感数据包括所述至少一个检测通道在所述驱动模块启动过程中对应的输出信号波形图;
所述判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配,还包括:
根据所述传感数据确定所述至少一个检测通道的输入信号信息和输出信号信息,根据所述输入信号信息和所述输出信号信息确定所述待检测厚度传感器的目标增益、目标单通道动态误差、目标各通道干扰误差;
判断所述目标增益、所述目标单通道动态误差、目标各通道干扰误差分别与所述传感器针对厚度检测的增益指标、所述单通道动态误差指标、所述各通道干扰误差指标对应的标准值是否匹配。
所述判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配,还包括:
在所述驱动模块的启动过程中,驱动多个所述测试介质依次通过所述待检测厚度传感器;
根据所述传感数据确定单个所述测试介质对应的平均厚度检测值;
获取所述测试介质的厚度值作为所述标准测量值,判断所述平均厚度检测值与所述标准测量值是否匹配。
根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格的步骤,包括:
确定所述待检测厚度传感器所述历史检测次数中检测结果为不合格的次数的比例作为不合格比例,判断所述不合格比例与预设的比例阈值是否匹配;
在所述不合格比例与所述比例阈值不匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量不合格。
可选的,在判断所述不合格比例与预设的比例阈值是否匹配的步骤之后,还包括:
在所述不合格比例与所述比例阈值匹配的情况下,再次启动所述驱动模块,获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
根据所述传感数据判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
一种厚度传感器的质量检测装置,其特征在于,所述装置包括:
获取单元:用于启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过所述待检测厚度传感器,并获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
第一判断单元:用于判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配;
第一判断单元:用于判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配;
第二判断单元:用于在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格;
第三判断单元:用于在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行以下步骤:
启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过所述待检测厚度传感器,并获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配;
在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格;
在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行以下步骤:
启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过所述待检测厚度传感器,并获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配;
在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格;
在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
在本发明实施例中,首先启动连接在待检测厚度传感器上的检测装置中包含的驱动模块,使得预设厚度的检测介质按照预设方式通过所述待检测厚度传感器。然后获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据,判断该传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配,其中标准测量值还可以包括在多项目标检测指标(如预压值、测量精度、单通道动态误差等)之下的标准值,在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格,而在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数以及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
相较于现有技术中未提出针对厚度传感器本身的性能和质量的检查,本发明通过将针对传感器的传感数据是否满足预设的各个测试指标下的标准值,同时根据当前待检测传感器的历史检测次数以及对应的检测结果确定不合格比例或者是否已经达到了测试次数阈值但是仍未被判定质量合格,以此最后综合判断该待检测厚度传感器质量是否合格,从而提高了针对厚度传感器的质量检测的效率和准确率,也间接提高了应用有厚度传感器的设备的合格率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
其中:
图1示出了一个实施例中厚度传感器的质量检测方法的流程图;
图2示出了一个实施例中判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配的流程图;
图3示出了另一个实施例中判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配的流程图;
图4示出了另一个实施例中判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配的流程图;
图5示出了一个实施例中根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格的流程图;
图6示出了一个实施例中在判定所述不合格比例与预设的比例阈值不匹配之后的流程图;
图7示出了一个实施例中厚度传感器的质量检测装置的结构框图;
图8示出了一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明提出了一种厚度传感器的质量检测方法,在一个实施例中,本发明可以基于一检测装置,所述检测装置上连接有一待检测厚度传感器;所述检测装置包括一驱动模块,所述驱动模块用于驱动测试介质通过所述待检测厚度传感器。
参考图1,本发明实施例提供了一种厚度传感器的质量检测方法。
图1示出了一个实施例中厚度传感器的质量检测方法的流程图。本发明中所述的厚度传感器的质量检测方法至少包括如图1所示的步骤S1022-S1028,详细介绍如下:
在步骤S1022中,启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过所述待检测厚度传感器,并获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据。
首先需要说明的是,本发明中的检测装置可以是安装在待检测的厚度传感器的预设位置上,以便于在检测装置中的驱动模块(具体可以是一个电机单元)启动时,可以驱动预设的测试介质(如一张标准厚度的测试纸币或测试支票等)通过该待检测厚度传感器。
而可选的驱动模块的控制过程可以是将驱动模块启动一定时长(如3分钟),从而使得若干张(如100张)标准纸币在启动时长内通过待检测厚度传感器包含的各个检测通道。
在步骤S1024中,判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配。
具体的,判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配的步骤,首先可以包括图2中示出的步骤S1032-S1036。图2示出了一个实施例中判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配的流程图。
在步骤S1032中,在所述驱动模块的启动过程中,驱动多个所述测试介质依次通过所述待检测厚度传感器。
如可以在驱动单元启动了1分钟的过程中(对应于100个电机转子的转动周期),使得10张测试纸币通过了待检测厚度传感器。
在步骤S1034中,根据所述传感数据确定单个所述测试介质对应的平均厚度检测值。
结合上一步骤中的距离,可以在上述驱动单元的此次启动过程中,使得10张测试纸币通过了待检测厚度传感器,而待检测厚度传感器针对这10张测试纸币所输出的每一张纸币的厚度检测值可以是0.09mm。
在步骤S1036中,获取所述测试介质的厚度值作为所述标准测量值,判断所述平均厚度检测值与所述标准测量值是否匹配。
不同的测试介质(如纸币、支票、税票)的厚度存在较大的差异,结合上一步骤中的举例,测试纸币的标定厚度值可以是0.1mm。
而判断上述两项参数是否匹配的过程可以是:此处的平均厚度检测值与所述标准测量值的误差比例为10%,而预设的单个标准介质对应的测量值的误差比例阈值可以是5%,由此可以判定在这一次的检测过程中,所述待检测厚度传感器被判定为质量不合格。
更进一步的,考虑到在实际的厚度传感器的工作过程中可能存在噪音干扰(如采集环境噪声、各个检测通道之间的电信号干扰等),或者不同批次的标准测试币可能存在不可避免的厚度偏差,这些都会导致单纯根据传感器在数个周期内的输出的平均厚度测试值并不能很客观全面反映出传感器的性能和质量。
综上所述,为了提高厚度传感器检测的准确率,还可以针对各种类型的厚度传感器的确定一些具体的电子信号转换层面的衡量指标作为目标测试指标,从而更加全面和根源性地考察厚度传感器的质量。
在一个可选的实施例中,上述目标测试指标可以包括传感器预压值指标、首冲宽度指标、传感器针对厚度检测的增益指标、单通道增益重复性误差指标、单通道动态误差指标、各通道间干扰误差指标、厚度检测精度指标和/或纵向空间分辨率指标中的至少一项。
下面就针对上述目标检测指标包含的内容,对根据所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配的判断过程进行说明。
在对输出的波形数据进行处理的说明之前,先对厚度传感器的厚度检测原理一般如下:在预设位置设置若干个检测通道,获取待检测介质(如一张标准厚度的测试介质)通过传感器时各通道的输出信号(如输出电压)的变化量,同时根据各个通道在初始没有检测介质通过时的输出值确定出每一张纸币的厚度所对应的输出信号量的变化值,从而将每一个传感周期内的输出信号转化为对应的检测到的纸币厚度值。
首先,结合前述步骤对传感器工作原理的说明,本发明中的待检测厚度传感器包含至少一个检测通道。因此,对应的,此处的传感数据包括所述检测通道在所述驱动模块启动过程中对应的输出信号波形图。
判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配的过程,还可以包括图3示出的步骤S1042-S1046。图3示出了另一个实施例中判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配的流程图。
在步骤S1042中,根据所述传感数据确定所述待检测厚度传感器的输出信号波峰信息,所述波峰信息包括首个波峰宽度、首个波峰信号均值。
容易理解的是,输出信号波形图中的一个波峰就可以对应与检测到的一张纸币,而此处获取首个波峰信息的原因在于,确定出在传感器开始工作时,初始不存在检测介质通过传感器之前,由于环境噪声、传感器自身灵敏度等造成的信号出现一个波峰,由此在此噪声波峰的基础上确定出后续出现的每一个波峰所对应的纸币厚度。
在步骤S1044中,根据所述首个波峰信号均值确定所述待检测厚度传感器的目标预压值,根据所述首个波峰宽度确定所述待检测厚度传感器的目标首冲宽度。
对应的,此处的预压值指的是在没有纸币等被检测物体通过时,厚度传感器的初始输出电压,因此可以根据首个波峰信号的均值进行确定。此处将首冲宽度和预压值作为厚度传感器性能的检测指标的原因在于:在未通过物体时传感器的输出电压超过正常的信号值区间(过大或者过小),可能显示当前传感器的工作状态并不正常,过小可能是厚度传感器损坏了无法检测出通过的物体,而过大可能是传感器失灵,信号的处理和放大出现了问题,这些都会直接到后续厚度传感器的输出结果的准确性。
在步骤S1046中,判断所述目标预压值、目标首冲宽度分别与所述传感器预压值指标、首冲宽度指标对应的标准值是否匹配。
在一个可选的实施例中,传感器预压值指标、首冲宽度(以mm为单位)指标对应的标准值可以分别设置为[1500,2200],[0,5]。
另外,针对前述的传感器针对厚度检测的增益指标、所述单通道动态误差指标、所述各通道干扰误差指标这些指标,判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配的过程还可以包括图4示出的步骤S1052-S1054。图4示出了另一个实施例中判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配的流程图。
结合前述步骤中的说明,所述待检测厚度传感器包含至少一个检测通道,所述传感数据所包括的输出信号波形图是指所述至少一个检测通道在所述驱动模块启动过程中对应的输出信号波形图。
在步骤S1052中,根据所述传感数据确定所述至少一个检测通道的输入信号信息和输出信号信息,根据所述输入信号信息和所述输出信号信息确定所述待检测厚度传感器的目标增益、目标单通道动态误差、目标各通道干扰误差。
首先对增益的定义进行解释,增益通常是指一个系统中的信号输出与信号输入的比率。如5倍的增益,即是指某系统(或者信号处理单元,如压力传感器、厚度传感器等)令电压或功率增加了5倍,而传感器增益就是传感器的原始信号输出放大倍率。
由此可见,传感器在将电容器等输出的电信号转化为厚度值输出之前,首先还需要先对电容器等接收到的电信号进行放大,而信号的放大倍数很大程度上决定了传感器的计算精度也就是检测准确度。
此处的单通道动态误差指的一个检测通道在针对同一检测介质的多次测量(环境可能发生改变)的过程中所输出的测量值的偏离范围。而单通道增益重复性误差指的是在一次测量过程(重复多次相同的信号输入)中,在输入信号值未变化时,其输出的信号所变化的范围。
在步骤S1054中,判断所述目标增益、所述目标单通道动态误差、目标各通道干扰误差分别与所述传感器针对厚度检测的增益指标、所述单通道动态误差指标、所述各通道干扰误差指标对应的标准值是否匹配。
在一个可选的实施例中,此处的厚度检测的增益指标、所述单通道动态误差指标、所述各通道干扰误差指标对应的标准值可以分别设置为:[200,340]、[0,0.016]、[0,15]、[0,5]。
在步骤S1026中,在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格。
而在步骤S1028中,在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
此处根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格的步骤,至少可以包括图5示出的步骤S1062-S1064。图5示出了一个实施例中根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格的流程图。
在步骤S1062中,确定所述待检测厚度传感器所述历史检测次数中检测结果为不合格的次数的比例作为不合格比例,判断所述不合格比例与预设的比例阈值是否匹配。
需要说明的是,在启动驱动模块预设时长(如一个周期)的过程中,会有对应数量的检测介质通过待检测厚度传感器,从而获取到待检测厚度传感器输出的在一个周期内对应的厚度检测值。因此,为了进一步提高针对传感器质量的检测的准确性,可以重复进行质量检测多次(也就是说获取多个预设时长内传感器输出的厚度检测数据),从而综合考虑每一次的判定结果,确定出待检测厚度传感器的质量合格与否。
在步骤S1064中,在所述不合格比例与所述比例阈值不匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量不合格。
举例说明,针对某一特定型号的待检测厚度传感器产品S001,通过将本发明的检测装置安装在S001上,然后控制检测装置中的驱动模块共进行了10次传送标准纸币,使其通过S001,检测装置接收S001这10次中对应输出的传感数据(如输出信号波形图)以进行传感器质量的检测。
而针对S001,在这10次检测过程中,可能被判定质量不合格6次,判定质量合格4次,从而其不合格比例为40%,预设的比例阈值可能是10%,因此判定S001质量不合格。
与此同时,在可选的实施例中,在判断所述不合格比例与预设的比例阈值是否匹配的步骤之后,还可以包括图6示出的步骤S1072-S1074。图6示出了一个实施例中在判定所述不合格比例与预设的比例阈值不匹配之后的流程图。
在步骤S1072中,在所述不合格比例与所述比例阈值匹配的情况下,再次启动所述驱动模块,获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据。
在步骤S1074中,根据所述传感数据判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
也就是说,考虑到本发明中的目标检测指标比较全面,可以涵盖厚度传感器在出厂之前会影响到其最后输出的厚度数据的各项技术参数。可选的,除了针对每一个传感器设定一定的比例阈值,对传感器进行多次检测,确定不合格比例是否满足上述比例阈值的方法以外,还可以只有在当前判定传感器质量不合格的情况下,才执行重新获取下一次驱动模块启动过程(可以是一个周期或者多个周期)中待检测厚度传感器输出的数据并进行检测的操作。
也就是说如果第一次待检测厚度传感器的质量被判定为合格,则退出检测流程,若不合格则再次检测直到判定合格,但如果总共的检测次数超过了预设的阈值,如一个传感器最多检测3次,而在这3次检测中,该待检测厚度传感器的质量都被判定不合格,则直接判定该传感器质量不合格并且结束检测流程。这样可以提高传感器的质量检测效率,节省质量检测的成本。
最后可选的,为了进一步提高针对厚度传感器的质量检测的效率和判定结果的直观度,本发明的检测装置中可以包括一个预设的展示和接收装置(如触控显示屏),用于接收对于检测装置的控制操作,以及展示每一次驱动模块启动之后的检测结果,并进一步接收针对检测结果的反馈操作等。
如在前2次判定当前被检测的厚度传感器的质量不合格,而第3次判定质量合格之后,可以将历史检测结果都展示在触控显示屏上,并且提供“继续下一次次检测”和/或“退出检测”的操作的选择页面。
图7示出了一个实施例中厚度传感器的质量检测装置的结构框图。
参考图7所示,根据本发明的一个实施例的厚度传感器的质量检测装置1080,包括:获取单元1082、第一判断单元1084、第二判断单元1086、第三判断单元1088。
其中,获取单元1082:用于启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过所述待检测厚度传感器,并获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
第一判断单元1084:用于判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配;
第二判断单元1086:用于在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格;
第三判断单元1088:用于在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
图8示出了一个实施例中计算机设备的内部结构图。该计算机设备具体可以是终端,也可以是服务器。如图8所示,该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和处理模块、通信模块、展示模块。其中,存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该计算机设备的非易失性存储介质存储有操作系统,还可存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时,可使得处理器实现本厚度传感器的质量检测方法。该内存储器中也可储存有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时,可使得处理器执行本厚度传感器的质量检测方法。本领域技术人员可以理解,图8中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中,提出了一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行以下步骤:
启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过所述待检测厚度传感器,并获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配;
在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格;
在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
在一个实施例中,提出了一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行以下步骤:
启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过所述待检测厚度传感器,并获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配;
在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格;
在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种厚度传感器的质量检测方法,其特征在于,所述方法基于一检测装置,所述检测装置上连接有一待检测厚度传感器;
所述检测装置包括一驱动模块,所述驱动模块用于驱动测试介质通过所述待检测厚度传感器,所述方法包括:
启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过所述待检测厚度传感器,并获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配;
在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格;
在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配,包括:
判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配,其中,所述目标测试指标包括传感器预压值指标、首冲宽度指标、传感器针对厚度检测的增益指标、单通道增益重复性误差指标、单通道动态误差指标、各通道间干扰误差指标、厚度检测精度指标和/或纵向空间分辨率指标中的至少一项。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配,包括:
根据所述传感数据确定所述待检测厚度传感器的输出信号波峰信息,所述波峰信息包括首个波峰宽度、首个波峰信号均值;
根据所述首个波峰信号均值确定所述待检测厚度传感器的目标预压值,根据所述首个波峰宽度确定所述待检测厚度传感器的目标首冲宽度;
判断所述目标预压值、目标首冲宽度分别与所述传感器预压值指标、首冲宽度指标对应的标准值是否匹配。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述待检测厚度传感器包含至少一个检测通道,所述传感数据包括所述至少一个检测通道在所述驱动模块启动过程中对应的输出信号波形图;
所述判断所述传感数据在所述测试介质对应的目标测试指标下对应的标准值是否匹配,还包括:
根据所述传感数据确定所述至少一个检测通道的输入信号信息和输出信号信息,根据所述输入信号信息和所述输出信号信息确定所述待检测厚度传感器的目标增益、目标单通道动态误差、目标各通道干扰误差;
判断所述目标增益、所述目标单通道动态误差、目标各通道干扰误差分别与所述传感器针对厚度检测的增益指标、所述单通道动态误差指标、所述各通道干扰误差指标对应的标准值是否匹配。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配,还包括:
在所述驱动模块的启动过程中,驱动多个所述测试介质依次通过所述待检测厚度传感器;
根据所述传感数据确定单个所述测试介质对应的平均厚度检测值;
获取所述测试介质的厚度值作为所述标准测量值,判断所述平均厚度检测值与所述标准测量值是否匹配。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格的步骤,包括:
确定所述待检测厚度传感器所述历史检测次数中检测结果为不合格的次数的比例作为不合格比例,判断所述不合格比例与预设的比例阈值是否匹配;
在所述不合格比例与所述比例阈值不匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量不合格。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在判断所述不合格比例与预设的比例阈值是否匹配的步骤之后,还包括:
在所述不合格比例与所述比例阈值匹配的情况下,再次启动所述驱动模块,获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
根据所述传感数据判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
8.一种厚度传感器的检测装置,其特征在于,所述装置包括:
获取单元:用于启动所述驱动模块,驱动所述测试介质通过所述待检测厚度传感器,并获取在所述驱动模块启动过程中所述待检测厚度传感器输出的传感数据;
第一判断单元:用于判断所述传感数据与所述测试介质对应的标准测量值是否匹配;
第二判断单元:用于在所述传感数据与所述标准测量值匹配的情况下,判定所述待检测厚度传感器质量合格;
第三判断单元:用于在所述传感数据与所述标准测量值不匹配的情况下,获取所述待检测厚度传感器的历史检测次数及对应的检测结果,根据所述历史检测次数及对应的检测结果判断所述待检测厚度传感器的质量是否合格。
9.一种可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
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Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6239868B1 (en) * 1996-01-02 2001-05-29 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
CN1928997A (zh) * 2005-09-07 2007-03-14 联发科技股份有限公司 计算一衡量值以指示一输入信号的对称性的装置与方法
JP2007178125A (ja) * 2005-12-26 2007-07-12 Furuno Electric Co Ltd 底質検出装置および底質検出方法
CN103026176A (zh) * 2010-07-22 2013-04-03 高通股份有限公司 用于校准车辆导航系统的动态参数的装置及方法
CN105046805A (zh) * 2015-08-07 2015-11-11 新达通科技股份有限公司 一种纸币厚度检测装置及其校准方法
CN105225334A (zh) * 2015-10-27 2016-01-06 深圳怡化电脑股份有限公司 验钞装置的校正方法
CN105326491A (zh) * 2015-11-09 2016-02-17 沈阳大学 一种光电反射式脉搏心率传感器自适应可变阈值滤波方法
CN105574985A (zh) * 2015-12-17 2016-05-11 深圳怡化电脑股份有限公司 一种厚度传感器的测试方法及系统
CN108156452A (zh) * 2017-12-22 2018-06-12 深圳怡化电脑股份有限公司 一种检测传感器的方法、装置、设备及存储介质
CN207779948U (zh) * 2018-02-11 2018-08-28 中国工程物理研究院总体工程研究所 高精度薄膜电阻氢气传感器标校装置
CN108697365A (zh) * 2015-12-28 2018-10-23 美敦力泌力美公司 传感器融合的方法、系统和设备
US20190003816A1 (en) * 2015-08-28 2019-01-03 Grg Banking Equipment Co., Ltd. Hall detection device for thickness of sheet medium

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6239868B1 (en) * 1996-01-02 2001-05-29 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
CN1928997A (zh) * 2005-09-07 2007-03-14 联发科技股份有限公司 计算一衡量值以指示一输入信号的对称性的装置与方法
JP2007178125A (ja) * 2005-12-26 2007-07-12 Furuno Electric Co Ltd 底質検出装置および底質検出方法
CN103026176A (zh) * 2010-07-22 2013-04-03 高通股份有限公司 用于校准车辆导航系统的动态参数的装置及方法
CN105046805A (zh) * 2015-08-07 2015-11-11 新达通科技股份有限公司 一种纸币厚度检测装置及其校准方法
US20190003816A1 (en) * 2015-08-28 2019-01-03 Grg Banking Equipment Co., Ltd. Hall detection device for thickness of sheet medium
CN105225334A (zh) * 2015-10-27 2016-01-06 深圳怡化电脑股份有限公司 验钞装置的校正方法
CN105326491A (zh) * 2015-11-09 2016-02-17 沈阳大学 一种光电反射式脉搏心率传感器自适应可变阈值滤波方法
CN105574985A (zh) * 2015-12-17 2016-05-11 深圳怡化电脑股份有限公司 一种厚度传感器的测试方法及系统
CN108697365A (zh) * 2015-12-28 2018-10-23 美敦力泌力美公司 传感器融合的方法、系统和设备
CN108156452A (zh) * 2017-12-22 2018-06-12 深圳怡化电脑股份有限公司 一种检测传感器的方法、装置、设备及存储介质
CN207779948U (zh) * 2018-02-11 2018-08-28 中国工程物理研究院总体工程研究所 高精度薄膜电阻氢气传感器标校装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
孙凤兰 等: "光纤布拉格光栅传感分析仪", 《仪表技术与传感器》, pages 14 - 17 *

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