CN113029053B - 通用的ct对轴方法 - Google Patents
通用的ct对轴方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113029053B CN113029053B CN202110375284.2A CN202110375284A CN113029053B CN 113029053 B CN113029053 B CN 113029053B CN 202110375284 A CN202110375284 A CN 202110375284A CN 113029053 B CN113029053 B CN 113029053B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- axis
- imaging
- moving
- positioning point
- rotation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/04—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
Abstract
本发明提供了一种通用的CT对轴方法,包括以下步骤:在三个旋转角度位置对定位点成像;根据成像几何关系,计算定位点相对旋转轴的位置并将所述定位点移动到旋转轴正上方。
Description
技术领域
本发明涉及同步辐射CT成像、X射线CT成像和无损三维检测技术领域,尤其涉及一种通用的CT对轴方法。
背景技术
CT(Computed tomography)是一种三维成像技术,通过采集旋转样品在多个观察角度下的二维像,利用CT重构算法完成物体的三维成像。为了充分利用探测器的有效成像面积,CT过程中需要尽量让旋转轴成像于探测器水平方向中心位置,且样品的中心(或者选取的定位点)置于旋转轴正上方,因此对轴是CT成像中一个非常重要的内容。假设Z轴为光轴方向,Y轴为旋转轴方向,X轴与Y轴和Z轴垂直。为了使样品台能够平动同时样品平动又不影响旋转轴位置,样品旋转台102上有x轴平动电机103和z轴平动电机104,样品旋转台下还有一个X轴平动电机101,如图1所示。当旋转台旋转角度为0°时,x轴与X轴平行,z轴与Z轴平行。在平行束照明下,通常全角度(可360°旋转)CT中,记录定位点在投影角为0°、90°、180°和270°处的投影位置,可实现快速对轴。0°和180°用于调节x轴位置,在其中一个位置通过移动x轴平动电机103使其投影在两者投影位置的中点;90°和270°用于调节z轴位置,在其中一个位置通过移动z轴平动电机104使其投影在两者投影位置的中点,通过两步调节即完成了对轴的第一步,把定位点移至旋转轴正上方。此时,旋转样品台,定位点在探测器成像位置不发生改变。在任意角度下,通过旋转台下的X轴平动电机101整体移动样品旋转台102以及其上的x轴平动电机103和z轴平动电机104,使定位点成像于探测器水平方向中心位置,完成对轴第二步。
很多时候CT成像中旋转角度受限,常规CT对轴方法不再适用。比如同步辐射软X射线纳米显微成像,由于机械结构限制,成像时能接受的样品台最大旋转角度范围通常小于±65°。此外,在成像视场很小的情况下,定位点偏离轴较小距离都可能导致旋转样品时定位点移出视场。因此,需要发展一种适用于角度受限以及小视场CT成像的通用、快速的对轴方法。
发明内容
有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种通用的CT对轴方法,以期部分地解决上述技术问题中的至少之一。
为了实现上述目的,作为本发明的一方面,提供了一种通用的CT对轴方法,包括以下步骤:
在三个旋转角度位置对定位点成像;
根据成像几何关系,计算定位点相对旋转轴的位置并将所述定位点移动到旋转轴正上方。
其中,所述成像几何关系包括:所述定位点在旋转笛卡尔坐标系中的位置为(x0,z0);当三个旋转角度分别为θ1、θ2和θ3时,定位点在探测器上的成像位置分别为X1、X2和X3。
其中,根据成像几何关系,将定位点移动到旋转轴正上方的步骤包括:
根据成像几何关系,得到如下方程:
其中,通过求解所述方程得到如下等式:
其中,根据所述等式得到x0和z0后,通过沿x轴移动x轴平动电机距离|x0|,沿z轴移动z轴平动电机距离|z0|,即完成将定位点移动到旋转轴正上方,其中,沿x轴或z轴移动方向为正向或负向取决于x0和z0数值正负的相反状态。
其中,还包括根据所述定位点成像位置把所述旋转轴移动到探测器中心位置。
其中,根据所述定位点成像位置把所述旋转轴移动到探测器中心位置是通过位于样品旋转台下方的X轴平动电机来实现的。
基于上述技术方案可知,本发明的CT对轴方法相对于现有技术至少具有如下有益效果之一:
1.适用于角度受限CT成像。
对轴过程不再需要像常规对轴方法要求至少实现270°旋转,只需要在任意三个角度成像,因此该方法可实现角度受限CT的对轴。
2.适用于小视场CT成像。
3.能够快速地完成CT对轴。
本方法可以在只记录三个角度成像位置的基础上,通过定量计算确定旋转轴的位置,从而快速完成对轴。
附图说明
图1是现有技术中的样品台系统结构;
图2是本发明实施例提供的通用的CT对轴方法的流程图;
图3是本发明实施例提供的投影成像几何示意图;
图4是本发明实施例提供的一种实施案例示意图。
具体实施方式
在CT旋转角度受限或视场较小时,常规的CT对轴方法不再适用。同步辐射软X射线纳米显微成像中成像视场小,CT过程旋转角度小于180°,为了提高对轴效率,本发明提出一种通用的CT对轴方法,快速完成CT前的对轴。
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明作进一步的详细说明。
如图2所示为通用的CT对轴方法的流程图;其中,该方法包括以下步骤:
在三个旋转角度位置对定位点成像;
根据成像几何关系,将定位点移动到旋转轴正上方;
通过所述定位点成像位置把所述旋转轴移动到探测器中心位置,完成CT对轴。
具体包括:
记录任意三个角度(θ1,θ2,θ3)定位点的成像位置X1、X2和X3;
计算定位点位置(x0,z0)以及旋转轴成像位置Xa;
通过移动x轴平动电机-x0,移动z轴平动电机-z0,完成对轴第一步;其中,-x0或-z0表示沿x轴或z轴移动方向为正向或负向取决于x0和z0数值正负的相反状态,比如z0=3,那么此时为沿z轴负向移动z轴平动电机3个单位长度,当z0=-3时,那么此时为沿z轴正向移动z轴平动电机3个单位长度。
通过位于样品旋转台下方的X轴平动电机把旋转轴移动到探测器中心位置,完成对轴第二步。
如图3所示为投影成像几何示意图,值得注意的是,在透镜或类透镜成像系统中,X轴与x轴是反向的。圆点为定位点,离旋转轴的距离为ρ。在旋转笛卡尔坐标系中的位置为(x0,z0)。当旋转角度分别在θ1、θ2和θ3时,定位点在探测器上的成像位置分别为X1、X2和X3。同时,旋转轴在探测器上的成像位置为Xa,M为系统放大倍数。根据成像几何关系,可得如下关系式
计算得x0和z0后,移动103电机-x0,移动104电机-z0;
通过以上步骤,完成了对轴的第一步,即把定位点移动到旋转轴正上方之后。再根据定位点成像位置把旋转轴移动到探测器中心位置,完成对轴第二步。
至此,完成所有的对轴步骤。
下面结合具体实施案例对本发明的技术方案进行进一步阐述。
设三个角度处在探测器上成像位置分别为X+、X0和X-。基于式(2)可得
其中
即x轴平动电机103移动量(Lx)和z轴平动电机104移动量(Lz)分别为
具体可按如下步骤完成对轴:
1.在0°时把定位点移动视场中心,再分别在±1°位置成像,通过公式(7)完成z轴的粗对准。由于电机误差,定位点运动轨迹并不是完全理想的圆弧,θ越小受电机不理想的影响越大,所以第一步为粗对准。
2.继续增大角度与0°的偏移量,确保定位点在±θ时还在视场内,同时让θ尽可能大,记录三个成像位置(0°和±θ),再次利用公式(7)完成z轴的再对准。
4.最后通过设置在样品旋转台下方的X轴平动电机101把定位点成像位置移至探测器中心即完成全部对轴。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
3.根据权利要求2所述的CT对轴方法,其特征在于,根据所述等式得到x0和z0后,通过沿x轴移动x轴平动电机距离|x0|,沿z轴移动z轴平动电机距离|z0|,即完成将定位点移动到旋转轴正上方,其中,沿x轴或z轴移动方向为正向或负向取决于x0和z0数值正负的相反状态。
4.根据权利要求1所述的CT对轴方法,其特征在于,还包括根据所述定位点成像位置把所述旋转轴移动到探测器中心位置。
5.根据权利要求4所述的CT对轴方法,其特征在于,根据所述定位点成像位置把所述旋转轴移动到探测器中心位置是通过位于样品旋转台下方的X轴平动电机来实现的。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110375284.2A CN113029053B (zh) | 2021-04-06 | 2021-04-06 | 通用的ct对轴方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110375284.2A CN113029053B (zh) | 2021-04-06 | 2021-04-06 | 通用的ct对轴方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113029053A CN113029053A (zh) | 2021-06-25 |
CN113029053B true CN113029053B (zh) | 2022-05-13 |
Family
ID=76454019
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110375284.2A Active CN113029053B (zh) | 2021-04-06 | 2021-04-06 | 通用的ct对轴方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113029053B (zh) |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5404226A (en) * | 1991-02-12 | 1995-04-04 | E.M.S. Technik Gmbh | Process for determining the position of a positioning body in relation to a reference body and device for implementing the process |
CN1226306A (zh) * | 1996-07-26 | 1999-08-18 | 有限会社创造庵 | 旋转运动机构及发动机 |
CN101231750A (zh) * | 2008-02-21 | 2008-07-30 | 南京航空航天大学 | 一种双目立体测量系统的标定方法 |
CN101515370A (zh) * | 2009-03-06 | 2009-08-26 | 北京航空航天大学 | 三维显微ct扫描系统中射线源焦点的投影坐标的标定方法 |
CN101832954A (zh) * | 2010-03-15 | 2010-09-15 | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 | 锥束xct系统用移动组件以及用其进行图像重建坐标系原点标定的方法 |
CN103759679A (zh) * | 2013-11-04 | 2014-04-30 | 杭州长庚测量技术有限公司 | 一种锥束ct系统角度偏差测量方法 |
CN108170297A (zh) * | 2017-09-11 | 2018-06-15 | 南京睿悦信息技术有限公司 | 实时六自由度vr/ar/mr设备定位方法 |
CN110243312A (zh) * | 2019-05-09 | 2019-09-17 | 上海联影医疗科技有限公司 | 机架同轴度测量系统、装置、方法及存储介质 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7028899B2 (en) * | 1999-06-07 | 2006-04-18 | Metrologic Instruments, Inc. | Method of speckle-noise pattern reduction and apparatus therefore based on reducing the temporal-coherence of the planar laser illumination beam before it illuminates the target object by applying temporal phase modulation techniques during the transmission of the plib towards the target |
US6542304B2 (en) * | 1999-05-17 | 2003-04-01 | Toolz, Ltd. | Laser beam device with apertured reflective element |
-
2021
- 2021-04-06 CN CN202110375284.2A patent/CN113029053B/zh active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5404226A (en) * | 1991-02-12 | 1995-04-04 | E.M.S. Technik Gmbh | Process for determining the position of a positioning body in relation to a reference body and device for implementing the process |
CN1226306A (zh) * | 1996-07-26 | 1999-08-18 | 有限会社创造庵 | 旋转运动机构及发动机 |
CN101231750A (zh) * | 2008-02-21 | 2008-07-30 | 南京航空航天大学 | 一种双目立体测量系统的标定方法 |
CN101515370A (zh) * | 2009-03-06 | 2009-08-26 | 北京航空航天大学 | 三维显微ct扫描系统中射线源焦点的投影坐标的标定方法 |
CN101832954A (zh) * | 2010-03-15 | 2010-09-15 | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 | 锥束xct系统用移动组件以及用其进行图像重建坐标系原点标定的方法 |
CN103759679A (zh) * | 2013-11-04 | 2014-04-30 | 杭州长庚测量技术有限公司 | 一种锥束ct系统角度偏差测量方法 |
CN108170297A (zh) * | 2017-09-11 | 2018-06-15 | 南京睿悦信息技术有限公司 | 实时六自由度vr/ar/mr设备定位方法 |
CN110243312A (zh) * | 2019-05-09 | 2019-09-17 | 上海联影医疗科技有限公司 | 机架同轴度测量系统、装置、方法及存储介质 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
CT系统参数标定及成像;艾昕晨;《南通职业大学学报》;20181231;第32卷(第2期);第62-68页 * |
Three-dimensional assessment of lower limb alignment: Accuracy and reliability;J.Fürmetz等;《The Knee》;20190131;第26卷(第1期);第185-193页 * |
基于CT技术的投影重建模型研究;张霞等;《首都师范大学学报(自然科学版)》;20191231;第40卷(第6期);第32-37页 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113029053A (zh) | 2021-06-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Gürsoy et al. | Rapid alignment of nanotomography data using joint iterative reconstruction and reprojection | |
Holler et al. | An instrument for 3D x-ray nano-imaging | |
JP7198457B2 (ja) | インテリアct位相イメージングx線顕微鏡装置 | |
JP5616983B2 (ja) | マスク検査装置の照明系及び投影対物系 | |
JPH02104174A (ja) | X線診断装置 | |
US8437447B2 (en) | Laminography system | |
US20160238541A1 (en) | X-ray inspection system and method for rotating a test object by means of such an x-ray inspection system | |
WO2007043974A1 (en) | Computed tomography system and method | |
CN112932665B (zh) | 一种用于x光成像的双位置手术定位标尺 | |
JP2009152120A (ja) | 電子線トモグラフィ法及び電子線トモグラフィ装置 | |
CN108426901A (zh) | 一种x射线分层扫描成像系统 | |
US7439525B2 (en) | Demagnification measurement method for charged particle beam exposure apparatus, stage phase measurement method for charged particle beam exposure apparatus, control method for charged particle beam exposure apparatus, and charged particle beam exposure apparatus | |
CN113029053B (zh) | 通用的ct对轴方法 | |
Cavoto et al. | A photogrammetric method for target monitoring inside the MEG II detector | |
WO2022213274A1 (zh) | 通用的ct对轴方法 | |
US6977985B2 (en) | X-ray laminography system having a pitch, roll and Z-motion positioning system | |
TW202403297A (zh) | 使用x光系統以產生平面物件中重建體積的資料之方法 | |
AU2019201125A1 (en) | Geometric alignment, sample motion correction, and intensity normalization of computed tomography projections using pi-line optimization | |
Moru et al. | Improving optical pipeline through better alignment and calibration process | |
CN209877942U (zh) | 像距测量仪 | |
Zhang et al. | Camera parameter calibration based on the correction of center positioning deviation in machine vision | |
Shao et al. | A Scheimpflug conditions-based binocular stereo vision system | |
JP2015232958A (ja) | 荷電粒子線装置、三次元画像の再構成画像処理システム、方法 | |
Shih et al. | A simple and precise alignment calibration method for cone-beam computed tomography with the verifications | |
KR20230112405A (ko) | 이미징 시스템을 위한 기하 보정 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |