CN113020824A - 激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及激光打标领域，公开了一种激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据第一横坐标和第一纵坐标，计算出第一矩形打标物对应的第一中心坐标；接收第一打标指令，根据第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，使激光射线停留在第一中心坐标处；获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据第二横坐标和第二纵坐标，计算出第二矩形打标物对应的第二中心坐标；基于第二中心坐标与第一中心坐标的差值，调动激光射线移动至第二中心坐标处；接收第二打标指令，根据第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，使激光射线停留在第二中心坐标处。
Description
技术领域
本发明涉及激光打标领域，尤其涉及一种激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
在激光打标技术领域中，最常见的打标物品是矩形物品，而较少见到不规则、圆形、菱形、椭圆等需要打标物品。但是，打标核心的一个最开始就是需要找到打标物的对称中心，基于对称中心现有的打标技术才能将需要打标图形打印在需要打印的物品的中心位置。这样保证打标图案能几何对称的呈现在整个打标物品的正中心，符合日常美学的审美要求。
针对当前的美学中的对称中心的打印要求，每次更换不同矩形则会导致要重新寻找对称中心，对当前的激光打标技术来说，并不存在一种自动寻找矩形堆成中心的技术，每次都需要更换矩形后人工去寻找打印中心，再调试激光打印机进行打印，这对只几个打印物品的情况影响不大。但是，一旦遇到大量且不断变换矩形大小和形状情况下，打印效率将会受到极大影响，使得时间大大延长，需要能一种快速找到矩形打标中心并移动激光路线至打标中心的技术。
发明内容
本发明的主要目的在于解决矩形打标物品的对称中心快速寻找并移动激光打印光路至对称中心的技术问题。
本发明第一方面提供了一种激光打标的中心测量方法，第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边所在直线重合，其特征在于，包括步骤：
获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；
接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；
获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；
基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；
接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。
可选的，在本发明第一方面的第一种实现方式中，所述基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处包括：
将所述第二中心坐标的横坐标与所述第一中心坐标的横坐标进行相减，得到第一差值，以及将所述第二中心坐标的纵坐标与所述第二中心坐标的纵坐标进行相减，得到第二差值；
根据所述第一差值和所述第二差值，对所述激光射线进行移动处理，使得所述激光射线移动至所述第二中心坐标处。
可选的，在本发明第一方面的第二种实现方式中，所述获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标包括：
基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
获取预置横坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一横坐标，并获取预置纵坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一纵坐标；
对所述第一横坐标进行取半处理，得到第一取半横坐标，将所述第一取半横坐标确定为第一中心坐标的横坐标，以及对所述第一纵坐标进行取半处理，得到第一取半纵坐标，将所述第一取半纵坐标确定为第一中心坐标的纵坐标。
可选的，在本发明第一方面的第三种实现方式中，所述获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标包括：
基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
获取所述横坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二横坐标，并获取所述纵坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二纵坐标；
对所述第二横坐标进行取半处理，得到取第二取半横坐标，将所述第二取半横坐标确定为第二中心坐标的横坐标，以及对所述第二纵坐标进行取半处理，得到第二取半纵坐标，将所述第二取半纵坐标确定为第二中心坐标的纵坐标。
本发明第二方面提供了一种激光打标的中心测量装置，所述激光打标的中心测量装置包括：
第一获取模块，用于获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；
第一打标模块，用于接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；
第二获取模块，用于获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；
调动模块，用于基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；
第二打标模块，用于接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。
可选的，在本发明第二方面的第一种实现方式中，所述调动模块具体包括：
相减单元，用于将所述第二中心坐标的横坐标与所述第一中心坐标的横坐标进行相减，得到第一差值，以及将所述第二中心坐标的纵坐标与所述第二中心坐标的纵坐标进行相减，得到第二差值；
移动单元，用于根据所述第一差值和所述第二差值，对所述激光射线进行移动处理，使得所述激光射线移动至所述第二中心坐标处。
可选的，在本发明装置第二方面的第二种实现方式中，所述第一获取模块具体包括：
第一坐标建立单元，用于基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
第一坐标获取单元，用于获取预置横坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一横坐标，并获取预置纵坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一纵坐标；
第一坐标取半单元，用于对所述第一横坐标进行取半处理，得到第一取半横坐标，将所述第一取半横坐标确定为第一中心坐标的横坐标，以及对所述第一纵坐标进行取半处理，得到第一取半纵坐标，将所述第一取半纵坐标确定为第一中心坐标的纵坐标。
可选的，在本发明装置第二方面的第三种实现方式中，所述第二获取模块具体包括：
第二坐标建立单元，用于基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
第二坐标获取单元，用于获取所述横坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二横坐标，并获取所述纵坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二纵坐标；
第二坐标取半单元，用于对所述第二横坐标进行取半处理，得到取第二取半横坐标，将所述第二取半横坐标确定为第二中心坐标的横坐标，以及对所述第二纵坐标进行取半处理，得到第二取半纵坐标，将所述第二取半纵坐标确定为第二中心坐标的纵坐标。
本发明第三方面提供了一种激光打标的中心测量设备，包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述激光打标的中心测量设备执行上述的激光打标的中心测量方法。
本发明的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述的激光打标的中心测量方法。
本发明实施例中，通过对矩形打标物使用的横纵测量方式将计算出第一矩形打标物与第二打标物的对称中心差距，基于差距利用计算机自动调节激光光路移动第二打标物的对称中心，完成快速寻找对称中心，实现快速打标目标。
附图说明
图1为本发明实施例中激光打标的中心测量方法的一个实施例示意图；
图2为本发明实施例中激光打标的中心测量方法的另一个实施例示意图；
图3为本发明实施例中激光打标的中心测量方法的一个测量实施例示意图；
图4为本发明实施例中激光打标的中心测量装置的一个实施例示意图；
图5为本发明实施例中激光打标的中心测量装置的另一个实施例示意图；
图6为本发明实施例中激光打标的中心测量设备的一个实施例示意图。
具体实施方式
本发明实施例提供了一种激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”或“具有”及其任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
为便于理解，下面对本发明实施例的具体流程进行描述，请参阅图1，本发明实施例中激光打标的中心测量方法的一个实施例包括：
101、获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；
在本实施例中，获取第一矩形打标物的横、纵坐标可以采用距离光学标尺扫描，将第一矩形打标物的和第二矩形打标物相邻重合的两边设定为直角坐标系的，基于直角坐标系的建立计算整个矩形的数据。
102、接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；
在本实施例中，第一打标指令是打标A图像的指令，而图像位置则是根据开始计算的中心坐标将A图像打印到矩形打标物中，而激光打标的光路点最终也会停留在第一中心坐标处，等待第二矩形打标物的出现，计算两个中心坐标之间的坐标差别，再移动激光打标光路点。
103、获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；
在本实施例中，移除第一矩形打标物，安装在第二矩形打标物，读取第二矩形打标物，扫描或者使用压力传感器对第二矩形打标物进行固定，计算出第二矩形打标物的横坐标与纵坐标，在建立直角坐标系的过程与第一矩形打标物一致，将第一矩形打标物的两边与第二矩形打标物的两边所在的直线进行重合处理，将第二横坐标和第二纵坐标取半处理，即可得到第二矩形打标物的中心坐标。
104、基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；
在本实施例中，第二中心坐标的横、纵坐标与第一中心的横、纵坐标进行对应相减处理，得到横坐标和纵坐标的差值，如果差值为负则向负方向移动，如果差值为正则向正方向移动。调整激光射线的光路的照射点，使得激光射线的照射点与第二中心坐标一致。
105、接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。
在本实施例中，第二打标指令是打标B图像的指令，根据第二中心坐标的位置，对的图像进行打标处理，而打标方法是现有的技术，在此不做赘述。打标完成后，激光射线的照射点则停留在第二中心坐标处。
本发明实施例中，通过对矩形打标物使用的横纵测量方式将计算出第一矩形打标物与第二打标物的对称中心差距，基于差距利用计算机自动调节激光光路移动第二打标物的对称中心，完成快速寻找对称中心，实现快速打标目标。
请参阅图2，本发明实施例中激光打标的中心测量方法的另一个实施例包括：
201、基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
在本实施例中，如图3所示，直角坐标系的建立在第一矩形打标物301与第二矩形打标物302的重合的直线两边建立直角坐标系，其中，挡板303是为了更好固定第一矩形打标物301与第二矩形打标物302的位置。
202、获取预置横坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一横坐标，并获取预置纵坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一纵坐标；
在本实施例中，如图3采用压力传感器对打标物进行距离测量，根据测量距离确定矩形打标物的长宽，横纵坐标压力传感器305的数值获得矩形打标物的横纵坐标，例如横坐标压力传感器305开始数值为0，第一矩形打标物进入打标区域，横坐标压力传感器305为12，则说明横坐标为12，纵坐标压力传感器304开始数值为0，第一矩形打标物301进入打标区域，纵坐标压力传感器304为16，则说明纵坐标为16。
203、对所述第一横坐标进行取半处理，得到第一取半横坐标，将所述第一取半横坐标确定为第一中心坐标的横坐标，以及对所述第一纵坐标进行取半处理，得到第一取半纵坐标，将所述第一取半纵坐标确定为第一中心坐标的纵坐标；
在本实施例中，对测量的矩形打标物的横纵坐标进行取半处理，得到第一中心纵坐标为(6，8)。
204、接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；
本实施类似于第一个实施例，请参考第一个实施例，在此不做赘述。
205、基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
在本实施例中，类似于步骤201，请参考步骤201，在此不做赘述。
206、获取所述横坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二横坐标，并获取所述纵坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二纵坐标；
在本实施例中，如图3第二矩形打标物302的长宽大小是不同于第一矩形打标物301，横坐标压力传感器305的数值为56，纵坐标压力传感器304的数值为64，则得到第二矩形打标物的横纵大小为56和64。
207、对所述第二横坐标进行取半处理，得到取第二取半横坐标，将所述第二取半横坐标确定为第二中心坐标的横坐标，以及对所述第二纵坐标进行取半处理，得到第二取半纵坐标，将所述第二取半纵坐标确定为第二中心坐标的纵坐标；
在本实施例中，对第二矩形打标物的横纵坐标进行取半处理得到(28,32),将(28,32)确定为第二中心坐标。
208、将所述第二中心坐标的横坐标与所述第一中心坐标的横坐标进行相减，得到第一差值，以及将所述第二中心坐标的纵坐标与所述第二中心坐标的纵坐标进行相减，得到第二差值；
在本实施例中，将(28,32)与(6，8)进行坐标相减处理，得到横坐标的第一差值为22，纵坐标的第二差值为24。
209、根据所述第一差值和所述第二差值，对所述激光射线进行移动处理，使得所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；
在本实施例中，第一差值为22为正数，则将激光射线沿横正方向移动22个单位，第二差值为24则将激光射线沿纵正方向移动24个单位，最终照射点达到第二中心坐标。
210、接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。
本实施类似于第一个实施例，请参考第一个实施例，在此不做赘述。
本发明实施例中，通过对矩形打标物使用的横纵测量方式将计算出第一矩形打标物与第二打标物的对称中心差距，基于差距利用计算机自动调节激光光路移动第二打标物的对称中心，完成快速寻找对称中心，实现快速打标目标。
上面对本发明实施例中激光打标的中心测量方法进行了描述，下面对本发明实施例中激光打标的中心测量装置进行描述，请参阅图4，本发明实施例中激光打标的中心测量装置一个实施例包括：
第一获取模块401，用于获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；
第一打标模块402，用于接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；
第二获取模块403，用于获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；
调动模块404，用于基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；
第二打标模块405，用于接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。
本发明实施例中，通过对矩形打标物使用的横纵测量方式将计算出第一矩形打标物与第二打标物的对称中心差距，基于差距利用计算机自动调节激光光路移动第二打标物的对称中心，完成快速寻找对称中心，实现快速打标目标。
请参阅图5，本发明实施例中激光打标的中心测量装置的另一个实施例包括：
第一获取模块401，用于获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；
第一打标模块402，用于接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；
第二获取模块403，用于获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；
调动模块404，用于基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；
第二打标模块405，用于接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。
其中，所述调动模块404具体包括：
相减单元4041，用于将所述第二中心坐标的横坐标与所述第一中心坐标的横坐标进行相减，得到第一差值，以及将所述第二中心坐标的纵坐标与所述第二中心坐标的纵坐标进行相减，得到第二差值；
移动单元4042，用于根据所述第一差值和所述第二差值，对所述激光射线进行移动处理，使得所述激光射线移动至所述第二中心坐标处。
其中，所述第一获取模块401具体包括：
第一坐标建立单元4011，用于基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
第一坐标获取单元4012，用于获取预置横坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一横坐标，并获取预置纵坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一纵坐标；
第一坐标取半单元4013，用于对所述第一横坐标进行取半处理，得到第一取半横坐标，将所述第一取半横坐标确定为第一中心坐标的横坐标，以及对所述第一纵坐标进行取半处理，得到第一取半纵坐标，将所述第一取半纵坐标确定为第一中心坐标的纵坐标。
其中，所述第二获取模块403具体包括：
第二坐标建立单元4031，用于基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
第二坐标获取单元4032，用于获取所述横坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二横坐标，并获取所述纵坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二纵坐标；
第二坐标取半单元4033，用于对所述第二横坐标进行取半处理，得到取第二取半横坐标，将所述第二取半横坐标确定为第二中心坐标的横坐标，以及对所述第二纵坐标进行取半处理，得到第二取半纵坐标，将所述第二取半纵坐标确定为第二中心坐标的纵坐标。
本发明实施例中，通过对矩形打标物使用的横纵测量方式将计算出第一矩形打标物与第二打标物的对称中心差距，基于差距利用计算机自动调节激光光路移动第二打标物的对称中心，完成快速寻找对称中心，实现快速打标目标。
上面图4和图5从模块化功能实体的角度对本发明实施例中的激光打标的中心测量装置进行详细描述，下面从硬件处理的角度对本发明实施例中激光打标的中心测量设备进行详细描述。
图6是本发明实施例提供的一种激光打标的中心测量设备的结构示意图，该激光打标的中心测量设备600可因配置或性能不同而产生比较大的差异，可以包括一个或一个以上处理器(central processing units，CPU)610(例如，一个或一个以上处理器)和存储器620，一个或一个以上存储应用程序633或数据632的存储介质630(例如一个或一个以上海量存储设备)。其中，存储器620和存储介质630可以是短暂存储或持久存储。存储在存储介质630的程序可以包括一个或一个以上模块(图示没标出)，每个模块可以包括对激光打标的中心测量设备600中的一系列指令操作。更进一步地，处理器610可以设置为与存储介质630通信，在激光打标的中心测量设备600上执行存储介质630中的一系列指令操作。
基于激光打标的中心测量设备600还可以包括一个或一个以上电源640，一个或一个以上有线或无线网络接口650，一个或一个以上输入输出接口660，和/或，一个或一个以上操作系统631，例如Windows Serve，Mac OS X，Unix，Linux，FreeBSD等等。本领域技术人员可以理解，图6示出的激光打标的中心测量设备结构并不构成对基于激光打标的中心测量设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以为非易失性计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质也可以为易失性计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行所述激光打标的中心测量方法的步骤。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统或装置、单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(read-only memory，ROM)、随机存取存储器(random access memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种激光打标的中心测量方法，第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边所在直线重合，其特征在于，包括步骤：
获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；
接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；
获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；
基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；
接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。
2.根据权利要求1所述的激光打标的中心测量方法，其特征在于，所述基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处包括：
将所述第二中心坐标的横坐标与所述第一中心坐标的横坐标进行相减，得到第一差值，以及将所述第二中心坐标的纵坐标与所述第二中心坐标的纵坐标进行相减，得到第二差值；
根据所述第一差值和所述第二差值，对所述激光射线进行移动处理，使得所述激光射线移动至所述第二中心坐标处。
3.根据权利要求1所述的激光打标的中心测量方法，其特征在于，所述获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标包括：
基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
获取预置横坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一横坐标，并获取预置纵坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一纵坐标；
对所述第一横坐标进行取半处理，得到第一取半横坐标，将所述第一取半横坐标确定为第一中心坐标的横坐标，以及对所述第一纵坐标进行取半处理，得到第一取半纵坐标，将所述第一取半纵坐标确定为第一中心坐标的纵坐标。
4.根据权利要求3所述的激光打标的中心测量方法，其特征在于，所述获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标包括：
基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
获取所述横坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二横坐标，并获取所述纵坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二纵坐标；
对所述第二横坐标进行取半处理，得到取第二取半横坐标，将所述第二取半横坐标确定为第二中心坐标的横坐标，以及对所述第二纵坐标进行取半处理，得到第二取半纵坐标，将所述第二取半纵坐标确定为第二中心坐标的纵坐标。
5.一种激光打标的中心测量装置，其特征在于，所述激光打标的中心测量装置包括：
第一获取模块，用于获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；
第一打标模块，用于接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；
第二获取模块，用于获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；
调动模块，用于基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；
第二打标模块，用于接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。
6.根据权利要求5所述的激光打标的中心测量装置，其特征在于，所述调动模块具体包括：
相减单元，用于将所述第二中心坐标的横坐标与所述第一中心坐标的横坐标进行相减，得到第一差值，以及将所述第二中心坐标的纵坐标与所述第二中心坐标的纵坐标进行相减，得到第二差值；
移动单元，用于根据所述第一差值和所述第二差值，对所述激光射线进行移动处理，使得所述激光射线移动至所述第二中心坐标处。
7.根据权利要求5所述的激光打标的中心测量装置，其特征在于，所述第一获取模块具体包括：
第一坐标建立单元，用于基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
第一坐标获取单元，用于获取预置横坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一横坐标，并获取预置纵坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一纵坐标；
第一坐标取半单元，用于对所述第一横坐标进行取半处理，得到第一取半横坐标，将所述第一取半横坐标确定为第一中心坐标的横坐标，以及对所述第一纵坐标进行取半处理，得到第一取半纵坐标，将所述第一取半纵坐标确定为第一中心坐标的纵坐标。
8.根据权利要求7所述的激光打标的中心测量装置，其特征在于，所述第二获取模块具体包括：
第二坐标建立单元，用于基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
第二坐标获取单元，用于获取所述横坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二横坐标，并获取所述纵坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二纵坐标；
第二坐标取半单元，用于对所述第二横坐标进行取半处理，得到取第二取半横坐标，将所述第二取半横坐标确定为第二中心坐标的横坐标，以及对所述第二纵坐标进行取半处理，得到第二取半纵坐标，将所述第二取半纵坐标确定为第二中心坐标的纵坐标。
9.一种激光打标的中心测量设备，其特征在于，所述激光打标的中心测量设备包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；
所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述激光打标的中心测量设备执行如权利要求1-4中任一项所述的激光打标的中心测量方法。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的激光打标的中心测量方法。
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