CN112969192B - 小区弱覆盖分析方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例提供一种小区弱覆盖分析方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中,确定每个栅格的MR采样点覆盖率,该MR采样点用于表示目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务;针对每个所述栅格,根据栅格的MR采样点覆盖率,确定栅格是否为弱覆盖栅格;若栅格为弱覆盖栅格,则根据弱覆盖栅格内每个MR采样点,确定弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素;若不存在所述影响因素,则对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。本申请实施例提供的方法能够快速精确地分析小区弱覆盖问题,进而能够提供较优的弱覆盖的解决方案,避免弱覆盖问题的解决时长和周期较长的问题。
Description
技术领域
本申请实施例涉及小区弱覆盖分析技术领域,尤其涉及一种小区弱覆盖分析方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
随着移动通信技术的发展,移动通信网络质量越来越受重视,其中,良好的无线覆盖是保证移动通信网络质量的前提,但是,无线覆盖往往存在弱覆盖问题,弱覆盖的发现来源主要有路测、用户投诉、测量报告(Measurement Report,MR)数据等。
目前,弱覆盖的成因分为多种,现网中一部分的弱覆盖问题并不是站间距过大导致的,其中涉及到故障、工程质量、天馈工参不合理、功率设置不合理等各式各样的因素,现有的技术方案着重于如何对弱覆盖区域进行定位,但是针对弱覆盖成因的分析往往通过人工分析,浪费资源且分析难度大、精准度较低,进而无法提供较优的弱覆盖的解决方案,导致弱覆盖问题的解决时长和周期较长。
因此,现有技术无法快速精确地分析小区弱覆盖问题,进而无法提供较优的弱覆盖的解决方案,导致弱覆盖问题的解决时长和周期较长。
发明内容
本申请实施例提供一种小区弱覆盖分析方法、装置、设备及存储介质,能够快速精确地分析小区弱覆盖问题,进而能够提供较优的弱覆盖的解决方案,避免弱覆盖问题的解决时长和周期较长的问题。
第一方面,本申请实施例提供一种小区弱覆盖分析方法,包括:
将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中,确定每个栅格的MR采样点覆盖率,所述MR采样点用于表示所述目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务;
针对每个所述栅格,根据所述栅格的MR采样点覆盖率,确定所述栅格是否为弱覆盖栅格;
若所述栅格为弱覆盖栅格,则根据所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定所述弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素;
若不存在所述影响因素,则对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。
在一种可能的设计中,所述确定每个栅格的MR覆盖率,包括:
获取全量MR采样点中的每个MR采样点的信息,所述MR采样点的信息包括主服务小区的参考信号接收功率、至少一个邻小区的参考信号接收功率、所述主服务小区的PCI、所述主服务小区的经纬度信息、所述主服务小区的方位角信息、所述至少一个邻小区的经纬度信息以及所述至少一个邻小区的方位角信息;
根据每个所述MR采样点的信息,计算每个所述MR采样点的经纬度信息;
根据每个所述MR采样点的经纬度信息,计算每个栅格的MR覆盖率。
在一种可能的设计中,所述根据所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定所述弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素,包括:
针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,所述多个影响因素类型至少包括:漏配邻区类型、切换不及时类型以及故障影响类型;
若满足任一影响因素类型匹配的影响条件,则确定存在所述影响因素,并根据所述影响因素类型进行小区覆盖优化;
若不满足任一影响因素类型匹配的影响条件,则确定不存在所述影响因素。
在一种可能的设计中,所述针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,包括:
针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,执行以下步骤,直至当所述弱覆盖栅格内满足下述步骤的MR采样点所占比例大于第一预设比例时,确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为漏配邻区类型:
若所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率之差大于预设阈值且所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率大于或等于预设参考信号接收功率时,计算所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的主服务小区的第一距离、所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的每个邻小区的第二距离、所述MR采样点的主服务小区的第一站间距以及每个邻小区的第二站间距;
若所述第一距离小于或等于第一站间距、所述第二距离小于或等于第二站间距,且所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率对应的小区关系未在已配置的邻区关系列表中时,确定所述弱覆盖栅格内满足上述步骤的MR采样点加1。
在一种可能的设计中,所述针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,包括:
针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,执行以下步骤,直至当所述弱覆盖栅格内满足下述步骤的MR采样点所占比例大于第二预设比例时,确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为切换不及时类型:
若所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率之差大于预设阈值且所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率大于或等于预设参考信号接收功率时,计算所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的主服务小区的第一距离、所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的每个邻小区的第二距离、所述MR采样点的主服务小区的第一站间距以及每个邻小区的第二站间距;
若所述第一距离小于或等于第一站间距、所述第二距离小于或等于第二站间距,且所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率对应的小区关系在已配置的邻区关系列表中时,确定所述弱覆盖栅格内满足上述步骤的MR采样点加1。
在一种可能的设计中,所述针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,包括:
获取所述弱覆盖栅格的中心经纬度信息;
根据所述弱覆盖栅格的中心经纬度信息、所述弱覆盖栅格的主服务小区的经纬度信息以及所述弱覆盖栅格的至少一个邻小区的经纬度信息,计算所述弱覆盖栅格与周围站点的目标距离;
根据所述目标距离,判断是否满足预设规则,若满足所述预设规则,则确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为故障影响类型;
相应的,根据所述目标距离,判断是否满足预设规则,包括:
根据所述目标距离,确定所述弱覆盖栅格距离最近的预设数目的宏基站,若所述弱覆盖栅格与所述宏基站存在覆盖影响的故障,则确定满足所述预设规则;和/或,
根据所述目标距离,确定是否存在与所述弱覆盖栅格距离小于预设距离的室分基站,若存在,且所述室分基站存在影响覆盖的故障时,确定满足所述预设规则。
在一种可能的设计中,所述对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优,包括:
对所述弱覆盖栅格的周边小区进行参数调整,调整后针对所述弱覆盖栅格的每个主服务小区执行以下步骤,直至计算得到的所述主服务小区的综合得分最高的小区:
根据所述弱覆盖栅格的全量MR采样点及对应的各个主服务小区,计算出所述主服务小区的MR采样点占比;
针对所述弱覆盖栅格的每个主服务小区,根据计算得到的所述弱覆盖栅格与各个所述主服务小区的第一距离,计算所述主服务小区衰耗系数的比例;
根据所述主服务小区的MR采样点占比以及所述主服务小区衰耗系数的比例,通过加权计算,确定所述主服务小区的综合得分。
第二方面,本申请实施例提供一种小区弱覆盖分析装置,包括:
覆盖率确定模块,用于将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中,确定每个栅格的MR采样点覆盖率,所述MR采样点用于表示所述目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务;
弱覆盖栅格确定模块,用于针对每个所述栅格,根据所述栅格的MR采样点覆盖率,确定所述栅格是否为弱覆盖栅格;
栅格弱覆盖分析模块,用于在所述栅格为弱覆盖栅格时,根据所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定所述弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素;
覆盖调优模块,用于在不存在所述影响因素时,对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。
第三方面,本申请实施例提供一种小区弱覆盖分析设备,包括:至少一个处理器和存储器;
所述存储器存储计算机执行指令;
所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令,使得所述至少一个处理器执行如上第一方面及第一方面可能的设计所述的小区弱覆盖分析方法。
第四方面,本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,当处理器执行所述计算机执行指令时,实现如上第一方面及第一方面可能的设计所述的小区弱覆盖分析方法。
第五方面,本申请实施例提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现如上第一方面及第一方面可能的设计所述的小区弱覆盖分析方法。
本实施例提供的小区弱覆盖分析方法、装置、设备及存储介质,首先将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中,确定每个栅格的MR采样点覆盖率,其中,这里的MR采样点用于表示所述目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务;然后针对每个所述栅格,根据所述栅格的MR采样点覆盖率,确定所述栅格是否为弱覆盖栅格;若所述栅格为弱覆盖栅格,则根据所述栅格内每个所述MR采样点,确定是否存在所述栅格弱覆盖的影响因素;若不存在所述影响因素,则对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。因此,基于每个栅格的MR采样点覆盖率来确定该栅格是否为弱覆盖栅格,若为弱覆盖栅格,则基于该弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,首先进行栅格弱覆盖的影响因素的分析,如果不是影响因素导致的弱覆盖问题,则对该弱覆盖栅格进行覆盖调优,能够快速精确地确定出弱覆盖成因以及确定弱覆盖的解决方案,进而避免了弱覆盖问题的解决时长和周期较长的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的小区弱覆盖分析方法的场景示意图;
图2为本申请实施例提供的小区弱覆盖分析方法的流程示意图;
图3为本申请另一实施例提供的小区弱覆盖分析方法的流程示意图;
图4为本申请实施例提供的小区弱覆盖分析装置的结构示意图;
图5为本申请实施例提供的小区弱覆盖分析设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本申请的实施例,例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
目前,现有的技术方案着重于如何对弱覆盖区域进行定位,但是针对弱覆盖成因的分析往往通过人工分析,浪费资源且分析难度大、精准度较低,进而无法提供较优的弱覆盖的解决方案,导致弱覆盖问题的解决时长和周期较长。因此,现有技术无法快速精确地分析小区弱覆盖问题,进而无法提供较优的弱覆盖的解决方案,导致弱覆盖问题的解决时长和周期较长。
为了解决上述问题,本申请的技术构思为:利用MR数据,对弱覆盖问题分析,增加了弱覆盖的影响因素的分析,进而通过分析可能存在弱覆盖的影响因素,来快速精确地确定解决弱覆盖的方案,避免了弱覆盖问题的解决时长和周期较长的问题。
参考图1,图1为本申请实施例提供的小区弱覆盖分析方法的场景示意图。图1中的小区弱覆盖分析设备可以是服务器。
在实际应用中,通过小区弱覆盖分析设备,比如服务器利用采集到的目标区域的全量MR采样点的信息,计算出每个MR采样点的经纬度信息,然后根据每个MR采样点的经纬度信息,计算得到将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中的每个栅格的MR采样点覆盖率,进而确定该栅格是否为弱覆盖栅格,若为弱覆盖栅格,则进一步确定是否存在该栅格弱覆盖的影响因素,当不存在影响因素时,对该弱覆盖栅格执行覆盖调优操作,来快速精确地确定解决弱覆盖的方案,避免了弱覆盖问题的解决时长和周期较长的问题。
下面以具体地实施例对本申请的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合,对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
参见图2所示,图2为本申请实施例提供的小区弱覆盖分析方法的流程示意图。
参见图2,所述小区弱覆盖分析方法,包括:
S201、将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中,确定每个栅格的MR采样点覆盖率。
其中,所述MR采样点用于表示所述目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务。
本实施例中,该方法的执行主体可以是小区弱覆盖分析设备,比如服务器。首先可以通过采集设备,采集目标区域的全量MR采样点的信息,然后根据每个MR采样点的信息,计算每个栅格的MR采样点覆盖率。
在一种可能的设计中,如何确定每个栅格的MR覆盖率,可以通过以下步骤实现:
步骤a1、获取全量MR采样点中的每个MR采样点的信息,所述MR采样点的信息包括主服务小区的参考信号接收功率、至少一个邻小区的参考信号接收功率、所述主服务小区的PCI、所述主服务小区的经纬度信息、所述主服务小区的方位角信息、所述至少一个邻小区的经纬度信息以及所述至少一个邻小区的方位角信息。
步骤a2、根据每个所述MR采样点的信息,计算每个所述MR采样点的经纬度信息。
步骤a3、根据每个所述MR采样点的经纬度信息,计算每个栅格的MR覆盖率。
在实际应用中,针对上述基础信息(即全量MR采样点中的每个MR采样点的信息)的采集,可以通过采集MRO服务器的原始文件,从中提取出以下信息:主服务小区的参考信号接收功率(Reference Signal Receiving Power,RSRP):MR.LteScRSRP、目标小区(即该主服务小区的邻小区)的RSRP值(即参考信号接收功率):MR.LteNcRSRP以及主服务小区的PCI(Peripheral Component Interconnect即用于定义局部总线的标准)值:MR.LteScPci;从基础工参信息中提取出小区的经纬度、小区方位角信息等,这里的小区是指主服务小区和邻小区。其中,一个采样点的信息中包含一个主服务小区的信息以及至少一个邻小区的信息。
具体地,利用大数据平台的定位算法,计算出全量MR采样点的经纬度信息,将其撒到MAPINFO地图上,汇聚到预设规则的栅格上,比如50*50M的栅格上,将目标区域(这里的目标区域可以指某个含有基站小区的地区)划分为了多个栅格,计算出每个栅格的MR良好覆盖率,其中每个栅格的MR(良好)覆盖率(即每个栅格的MR采样点覆盖率)计算公式如下(其中,下述均针对一个栅格进行分析,其他栅格分析步骤相同,在此不再赘述):
其中,∑(栅格MR RSRP≥-110dBm)采样点表示该栅格中MR采样点的RSRP值≥-110dBm的采样点的数目;∑栅格MR采样点表示该栅格中全量MR采样点的数目即该栅格中总MR采样点数目。
S202、针对每个所述栅格,根据所述栅格的MR采样点覆盖率,确定所述栅格是否为弱覆盖栅格。
具体地,若满足如下任何1个条件,确定该栅格为弱覆盖栅格:
1)、栅格的MR采样点覆盖率(%)<=70%且栅格中总MR采样点数>=500,其中MR采样点的采集周期为一周;2)、栅格倒流比>=5%,其中倒流比采集周期为一周。其中,对这里的采样周期不做具体限定,仅仅是示例性的,需要根据具体场景确定。
S203、若所述栅格为弱覆盖栅格,则根据所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定所述弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素。
S204、若不存在所述影响因素,则对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。
本实施例中,弱覆盖的成因主要有基站故障、天线挂高过矮、基站天线覆盖方向受阻挡、天线俯仰角过大、天线方位角设置不合理、发射功率过小、周边基站距离过远等。从解决方案的角度考虑,弱覆盖问题小区和弱覆盖区域并不是简单的一对一关系,即要解决指定区域的弱覆盖问题,既可以通过增强原本由其覆盖的小区信号来达到,也可以通过增强周边的小区信号来达到。因此,可以通过确定了弱覆盖区域具体位置及其小区组成,这样可以建立地理化、全局的分析对象,并通过分析弱覆盖的影响因素来定位并解决弱覆盖问题。若存在影响因素,则针对具体的影响因素类型来处理弱覆盖问题,若不存在所述影响因素,则可以直接对弱覆盖栅格进行覆盖调优,无需针对影响因素进行处理进而达到调优效果。
本实施例提供的小区弱覆盖分析方法,通过将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中,确定每个栅格的MR采样点覆盖率,其中,这里的MR采样点用于表示所述目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务;然后针对每个所述栅格,根据所述栅格的MR采样点覆盖率,确定所述栅格是否为弱覆盖栅格;若所述栅格为弱覆盖栅格,则根据所述栅格内每个所述MR采样点,确定是否存在所述栅格弱覆盖的影响因素;若不存在所述影响因素,则对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。因此,基于每个栅格的MR采样点覆盖率来确定该栅格是否为弱覆盖栅格,若为弱覆盖栅格,则基于该弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,首先进行栅格弱覆盖的影响因素的分析,如果不是影响因素导致的弱覆盖问题,则对该弱覆盖栅格进行覆盖调优,能够快速精确地确定出弱覆盖成因以及确定弱覆盖的解决方案,进而避免了弱覆盖问题的解决时长和周期较长的问题。
在一种可能的设计中,本实施例在上述实施例的基础上,对S203进行了详细说明。所述根据所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定所述弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素,可以通过以下步骤实现:
步骤b1、针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,所述多个影响因素类型至少包括:漏配邻区类型、切换不及时类型以及故障影响类型。
步骤b2、若满足任一影响因素类型匹配的影响条件,则确定存在所述影响因素,并根据所述影响因素类型进行小区覆盖优化。
步骤b3、若不满足任一影响因素类型匹配的影响条件,则确定不存在所述影响因素。
本实施例中,多个影响因素类型可以包括:漏配邻区类型、切换不及时类型以及故障影响类型等,其中,弱覆盖的成因主要有基站故障、天线挂高过矮、基站天线覆盖方向受阻挡、天线俯仰角过大、天线方位角设置不合理、发射功率过小、周边基站距离过远等。从解决方案的角度考虑,弱覆盖问题小区和弱覆盖区域并不是简单的一对一关系,即要解决指定区域的弱覆盖问题,既可以通过增强原本由其覆盖的小区信号来达到,也可以通过增强周边的小区信号来达到。因此,可以通过确定了弱覆盖区域具体位置及其小区组成,这样可以建立地理化、全局的分析对象,并通过分析弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素的方式定位并解决弱覆盖问题,如果存在,则基于确定的影响因素类型来分析处理,进而解决弱覆盖问题,如果不存在,则无需进行影响因素的处理,可以直接对弱覆盖栅格进行覆盖调优。
下述针对每个影响因素类型进行弱覆盖分析:
针对漏配邻区类型,针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,可以通过以下步骤实现:
针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,执行以下步骤,直至当所述弱覆盖栅格内满足下述步骤的MR采样点所占比例大于第一预设比例时,确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为漏配邻区类型:
步骤c1、若所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率之差大于预设阈值且所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率大于或等于预设参考信号接收功率时,计算所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的主服务小区的第一距离、所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的每个邻小区的第二距离、所述MR采样点的主服务小区的第一站间距以及每个邻小区的第二站间距。
步骤c2、若所述第一距离小于或等于第一站间距、所述第二距离小于或等于第二站间距,且所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率对应的小区关系未在已配置的邻区关系列表中时,确定所述弱覆盖栅格内满足上述步骤的MR采样点加1。
其中,第一距离是指该弱覆盖栅格的中心点与该采样点(即MR采样点)的主服务小区的距离,第二距离是指该弱覆盖栅格的中心点与该采样点的邻小区的距离,第一站间距可以是指该采样点的主服务小区与相邻的距离最近的预设个数(比如3个)的邻小区的平均距离,第二站间距可以是指该采样点的每个邻小区与它相邻的距离最近的预设个数(比如3个)的邻小区的平均距离。由于每个采样点含有至少一个邻小区,则可以从计算得到的第二站间距中取一个最大值作为第二站间距或者取平均或者全取,在此不做具体限定,可以依据具体场景确定。
具体地,当该弱覆盖栅格内有50%以上的弱覆盖采样点(即MR采样点)同时满足以下条件时,该弱覆盖栅格属于漏配邻区,需通过补齐邻区进行优化:
1)MR.LteNcRSRP>MR.LteScRSRP+3Db,MR.LteNcRSRP>=-110dBm时;2)计算出该栅格与主服务小区的距离(即第一距离)N1,该栅格与目标小区(即邻小区)的距离(即第二距离)N2,主服务小区的站间距(即第一站间距)N3,目标小区的站间距(即第二站间距)N4,当满足N1<=N3且N2<=N4时;3)当LteNcRSRP与LteScRSRP对应的小区关系未在已配置的邻区关系列表中时,确定该弱覆盖栅格属于漏配邻区,需通过补齐邻区进行优化。
针对切换不及时类型,针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,可以通过以下步骤实现:
针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,执行以下步骤,直至当所述弱覆盖栅格内满足下述步骤的MR采样点所占比例大于第二预设比例时,确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为切换不及时类型:
步骤d1、若所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率之差大于预设阈值且所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率大于或等于预设参考信号接收功率时,计算所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的主服务小区的第一距离、所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的每个邻小区的第二距离、所述MR采样点的主服务小区的第一站间距以及每个邻小区的第二站间距。
步骤d2、若所述第一距离小于或等于第一站间距、所述第二距离小于或等于第二站间距,且所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率对应的小区关系已配置的邻区关系列表中时,确定所述弱覆盖栅格内满足上述步骤的MR采样点加1。
本实施例中,当该弱覆盖栅格内有50%以上的弱覆盖采样点(即MR采样点)同时满足以下条件时,该弱覆盖栅格属于切换不及时,需进行切换优化:
1)MR.LteNcRSRP>MR.LteScRSRP+3Db,MR.LteNcRSRP>=-110dBm时;2)计算出该栅格与主服务小区的距离(即第一距离)N1,该栅格与目标小区(即邻小区)的距离(即第二距离)N2,主服务小区的站间距(即第一站间距)N3,目标小区的站间距(即第二站间距)N4,当满足N1<=N3且N2<=N4时;3)当LteNcRSRP与LteScRSRP对应的小区关系在已配置的邻区关系列表中时,确定该弱覆盖栅格属于切花不及时,需优化切换调优。
针对故障影响类型,针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,可以通过以下步骤实现:
步骤e1、获取所述弱覆盖栅格的中心经纬度信息;
步骤e2、根据所述弱覆盖栅格的中心经纬度信息、所述弱覆盖栅格的主服务小区的经纬度信息以及所述弱覆盖栅格的至少一个邻小区的经纬度信息,计算所述弱覆盖栅格与周围站点的目标距离;
步骤e3、根据所述目标距离,判断是否满足预设规则,若满足所述预设规则,则确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为故障影响类型;
相应的,根据所述目标距离,判断是否满足预设规则,可以包括:
步骤e4、根据所述目标距离,确定所述弱覆盖栅格距离最近的预设数目的宏基站,若所述弱覆盖栅格与所述宏基站存在覆盖影响的故障,则确定满足所述预设规则;和/或,
步骤e5、根据所述目标距离,确定是否存在与所述弱覆盖栅格距离小于预设距离的室分基站,若存在,且所述室分基站存在影响覆盖的故障时,确定满足所述预设规则。
本实施例中,针对故障影响程度评估:获取到弱覆盖栅格的清单后,根据弱覆盖栅格的中心经纬度(信息)和基础工参中的小区经纬度信息,利用距离计算公式,可以计算得到弱覆盖栅格与周围站点(或周边小区)的距离(即目标距离),根据以下规则(即预设规则),判定弱覆盖栅格与小区故障的对应关系:
1)宏基站:若与弱覆盖栅格最近的预设数目的(比如三个)宏基站存在影响覆盖的故障(如退服、天馈驻波告警等),进行故障处理,进而解决弱覆盖问题。
2)室分基站:若与弱覆盖栅格存在距离小于预设距离的室分基站比如距离<50m的室分站点,且该室分站点存在影响覆盖的故障时(如退服、天馈驻波告警等),进行故障处理,进而解决弱覆盖问题。
在一种可能的设计中,本实施例在上述实施例的基础上,对S204进行了详细说明。所述对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优,可以通过以下步骤实现:
对所述弱覆盖栅格的周边小区进行参数调整,调整后针对所述弱覆盖栅格的每个主服务小区执行以下步骤,直至计算得到的所述主服务小区的综合得分最高的小区:
步骤f1、根据所述弱覆盖栅格的全量MR采样点及对应的各个主服务小区,计算出所述主服务小区的MR采样点占比。
步骤f2、针对所述弱覆盖栅格的每个主服务小区,根据计算得到的所述弱覆盖栅格与各个所述主服务小区的第一距离,计算所述主服务小区衰耗系数的比例。
步骤f3、根据所述主服务小区的MR采样点占比以及所述主服务小区衰耗系数的比例,通过加权计算,确定所述主服务小区的综合得分。
本实施例中,若不存在邻区漏配、切换不及时、故障等因素造成的弱覆盖,则需对弱覆盖栅格进行覆盖调优。具体地,对弱覆盖区域周边小区做轮询式的条件判断,计算得到覆盖调优的最佳小区,计算过程如下:
首先,根据弱覆盖栅格的全量采样点及采样点对应的主服务小区信息,计算出主服务小区(A小区)的采样点占比,计算公式如下:
其中,弱覆盖栅格A小区采样点占比表示主服务小区的MR采样点占比,∑弱覆盖栅格总采样点数表示该如弱覆盖栅格中全量MR采样点的数目即该弱覆盖栅格中总MR采样点数目,∑弱覆盖栅格A小区总采样点数表示主服务小区的总MR采样点数目。
具体地,由于在无线传播模型中,信号衰减和传播距离成反比,因此使用栅格内各主服小区和弱覆盖栅格距离的倒数1/d作为衰耗系数,并计算出弱覆盖栅格内各小区衰耗系数的比例,计算公式如下:
具体费,根据采样点多、距离近的小区优先调整的原则,通过以下公式计算得到弱覆盖栅格每个主服务小区的综合得分,得分越高,表明调整该小区对弱覆盖改善的预期效果越好:
弱覆盖栅格A小区得分=70%*"弱覆盖栅格A小区采样点占比(%)
+30%*弱覆盖栅格A小区衰耗比例(%)
其中,针对覆盖寻优小区解决方案,比如,对所述弱覆盖栅格的周边小区进行参数调整,可以通过以下方式实现:
1)、检查发射功率,对于发射功率过小的小区,通过增加发射功率的方法解决;
2)、检查方位角,当弱覆盖区域在问题小区的旁瓣覆盖方向时,调整问题小区的方向角,使主瓣方向覆盖问题区域;
3)、检查俯仰角,对于俯仰角过大的小区,通过减小俯仰角控制覆盖的方法解决;
4)、检查阻挡情况,对于天线挂高过矮及天线覆盖方向受阻挡的小区,通过升高天线挂高平台、更换增益更大的天线、更换天线位置的方法等方法解决;
5)、检查天线与弱覆盖区域之间的无线环境,若判断无线环境复杂,信号传播的衰减严重,可通过在弱覆盖区域更近的位置新增基站的方法解决。
具体地,参见图3所示,图3为本申请另一实施例提供的小区弱覆盖分析方法的流程示意图。首先进行基础信息采集,然后对弱覆盖栅格计算,判断是否是邻区漏配,若是邻区漏配,则进行邻区优化并在优化后判断问题是否解决,若解决则结束(即闭环),若未解决,则对优化后的弱覆盖栅格重新进行弱覆盖栅格计算;若不是邻区漏配,则判断是否切换不及时,若是切换不及时,则进行切换优化并在优化后判断问题是否解决,若解决则结束(即闭环),若未解决,则对优化后的弱覆盖栅格重新进行弱覆盖栅格计算;若不是切换不及时,则判断是否是故障,若是故障,则进行故障处理并在优化后判断问题是否解决,若解决则结束(即闭环),若未解决,则对优化后的弱覆盖栅格重新进行弱覆盖栅格计算;若不是故障,则进行覆盖寻优,判断是否功率设置偏低,若是,则进行功率优化并在优化后判断问题是否解决,若解决则结束(即闭环),若未解决,则对优化后的弱覆盖栅格重新进行弱覆盖栅格计算;依据判断是否功率设置偏低的过程,依次判断是否方位角设置不合理、是否下倾角设置不合理、是否存在阻挡、是否需要新增基站等(对判断顺序不做具体限定),若存在,则进行相应的优化并在优化后判断问题是否解决,若解决则结束(即闭环),若未解决,则对优化后的弱覆盖栅格重新进行弱覆盖栅格计算。
因此,本申请针对弱覆盖问题,不局限于弱覆盖问题的主要覆盖小区进行分析,加入了对主要邻近小区的无线工参、覆盖效果等要素的关联分析,从而得出最优解;不局限于传统的弱覆盖解决手段,引入邻区优化和切换优化等新手段解决弱覆盖问题。通过严谨、全面的分析思路和流程,精准定位弱覆盖成因,进而能够快速精确地解决弱覆盖问题,避免了弱覆盖问题的解决时长和周期较长的问题。
为了实现所述小区弱覆盖分析方法,本实施例提供了一种小区弱覆盖分析装置。参见图4,图4为本申请实施例提供的小区弱覆盖分析装置的结构示意图;所述小区弱覆盖分析装置40,包括:覆盖率确定模块401、弱覆盖栅格确定模块402、栅格弱覆盖分析模块403以及覆盖调优模块404;覆盖率确定模块401,用于将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中,确定每个栅格的MR采样点覆盖率,所述MR采样点用于表示所述目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务;弱覆盖栅格确定模块402,用于针对每个所述栅格,根据所述栅格的MR采样点覆盖率,确定所述栅格是否为弱覆盖栅格;栅格弱覆盖分析模块403,用于在所述栅格为弱覆盖栅格时,根据所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定所述弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素;覆盖调优模块404,用于在不存在所述影响因素时,对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。
本实施例通过设置覆盖率确定模块401、弱覆盖栅格确定模块402、栅格弱覆盖分析模块403以及覆盖调优模块404,用于将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中,确定每个栅格的MR采样点覆盖率,其中,这里的MR采样点用于表示所述目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务;然后针对每个所述栅格,根据所述栅格的MR采样点覆盖率,确定所述栅格是否为弱覆盖栅格;若所述栅格为弱覆盖栅格,则根据所述栅格内每个所述MR采样点,确定是否存在所述栅格弱覆盖的影响因素;若不存在所述影响因素,则对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。因此,基于每个栅格的MR采样点覆盖率来确定该栅格是否为弱覆盖栅格,若为弱覆盖栅格,则基于该弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,首先进行栅格弱覆盖的影响因素的分析,如果不是影响因素导致的弱覆盖问题,则对该弱覆盖栅格进行覆盖调优,能够快速精确地确定出弱覆盖成因以及确定弱覆盖的解决方案,进而避免了弱覆盖问题的解决时长和周期较长的问题。
本实施例提供的装置,可用于执行上述方法实施例的技术方案,其实现原理和技术效果类似,本实施例此处不再赘述。
在一种可能的设计中,所述覆盖率确定模块401,具体用于:
获取全量MR采样点中的每个MR采样点的信息,所述MR采样点的信息包括主服务小区的参考信号接收功率、至少一个邻小区的参考信号接收功率、所述主服务小区的PCI、所述主服务小区的经纬度信息、所述主服务小区的方位角信息、所述至少一个邻小区的经纬度信息以及所述至少一个邻小区的方位角信息;
根据每个所述MR采样点的信息,计算每个所述MR采样点的经纬度信息;
根据每个所述MR采样点的经纬度信息,计算每个栅格的MR覆盖率。
在一种可能的设计中,所述栅格弱覆盖分析模块403包括分析子模块和处理子模块;分析子模块,用于针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,所述多个影响因素类型至少包括:漏配邻区类型、切换不及时类型以及故障影响类型;处理子模块,用于在满足任一影响因素类型匹配的影响条件时,确定存在所述影响因素,并根据所述影响因素类型进行小区覆盖优化;在不满足任一影响因素类型匹配的影响条件时,确定不存在所述影响因素
在一种可能的设计中,所述分子子模块,包括第一分析单元,第一分析单元,用于:
针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,执行以下步骤,直至当所述弱覆盖栅格内满足下述步骤的MR采样点所占比例大于第一预设比例时,确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为漏配邻区类型:
若所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率之差大于预设阈值且所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率大于或等于预设参考信号接收功率时,计算所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的主服务小区的第一距离、所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的每个邻小区的第二距离、所述MR采样点的主服务小区的第一站间距以及每个邻小区的第二站间距;
若所述第一距离小于或等于第一站间距、所述第二距离小于或等于第二站间距,且所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率对应的小区关系未在已配置的邻区关系列表中时,确定所述弱覆盖栅格内满足上述步骤的MR采样点加1。
在一种可能的设计中,所述分子子模块,包括第二分析单元,第二分析单元,用于:
针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,执行以下步骤,直至当所述弱覆盖栅格内满足下述步骤的MR采样点所占比例大于第二预设比例时,确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为切换不及时类型:
若所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率之差大于预设阈值且所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率大于或等于预设参考信号接收功率时,计算所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的主服务小区的第一距离、所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的每个邻小区的第二距离、所述MR采样点的主服务小区的第一站间距以及每个邻小区的第二站间距;
若所述第一距离小于或等于第一站间距、所述第二距离小于或等于第二站间距,且所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率对应的小区关系在已配置的邻区关系列表中时,确定所述弱覆盖栅格内满足上述步骤的MR采样点加1。
在一种可能的设计中,所述分子子模块,包括第三分析单元,第三分析单元,用于:获取所述弱覆盖栅格的中心经纬度信息;
根据所述弱覆盖栅格的中心经纬度信息、所述弱覆盖栅格的主服务小区的经纬度信息以及所述弱覆盖栅格的至少一个邻小区的经纬度信息,计算所述弱覆盖栅格与周围站点的目标距离;
根据所述目标距离,判断是否满足预设规则,若满足所述预设规则,则确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为故障影响类型;
相应的,根据所述目标距离,判断是否满足预设规则,包括:
根据所述目标距离,确定所述弱覆盖栅格距离最近的预设数目的宏基站,若所述弱覆盖栅格与所述宏基站存在覆盖影响的故障,则确定满足所述预设规则;和/或,
根据所述目标距离,确定是否存在与所述弱覆盖栅格距离小于预设距离的室分基站,若存在,且所述室分基站存在影响覆盖的故障时,确定满足所述预设规则。
在一种可能的设计中,覆盖调优模块404,具体用于:
对所述弱覆盖栅格的周边小区进行参数调整,调整后针对所述弱覆盖栅格的每个主服务小区执行以下步骤,直至计算得到的所述主服务小区的综合得分最高的小区:
根据所述弱覆盖栅格的全量MR采样点及对应的各个主服务小区,计算出所述主服务小区的MR采样点占比;
针对所述弱覆盖栅格的每个主服务小区,根据计算得到的所述弱覆盖栅格与各个所述主服务小区的第一距离,计算所述主服务小区衰耗系数的比例;
根据所述主服务小区的MR采样点占比以及所述主服务小区衰耗系数的比例,通过加权计算,确定所述主服务小区的综合得分。
为了实现所述小区弱覆盖分析方法,本实施例提供了一种小区弱覆盖分析设备。图5为本申请实施例提供的小区弱覆盖分析设备的结构示意图。如图5所示,本实施例的小区弱覆盖分析设备50包括:处理器501以及存储器502;其中,存储器502,用于存储计算机执行指令;处理器501,用于执行存储器存储的计算机执行指令,以实现上述实施例中所执行的各个步骤。具体可以参见上述方法实施例中的相关描述。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,当处理器执行所述计算机执行指令时,实现如上述的小区弱覆盖分析方法。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现如上述的小区弱覆盖分析方法。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个模块可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。另外,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个模块单独物理存在,也可以两个或两个以上模块集成在一个单元中。上述模块成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能模块的形式实现的集成的模块,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能模块存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或处理器(英文:processor)执行本申请各个实施例所述方法的部分步骤。应理解,上述处理器可以是中央处理单元(英文:Central Processing Unit,简称:CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(英文:Digital Signal Processor,简称:DSP)、专用集成电路(英文:Application SpecificIntegrated Circuit,简称:ASIC)等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合发明所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成,或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。
存储器可能包含高速RAM存储器,也可能还包括非易失性存储NVM,例如至少一个磁盘存储器,还可以为U盘、移动硬盘、只读存储器、磁盘或光盘等。总线可以是工业标准体系结构(Industry Standard Architecture,ISA)总线、外部设备互连(PeripheralComponent,PCI)总线或扩展工业标准体系结构(Extended Industry StandardArchitecture,EISA)总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,本申请附图中的总线并不限定仅有一根总线或一种类型的总线。上述存储介质可以是由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(SRAM),电可擦除可编程只读存储器(EEPROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM),可编程只读存储器(PROM),只读存储器(ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。
一种示例性的存储介质耦合至处理器,从而使处理器能够从该存储介质读取信息,且可向该存储介质写入信息。当然,存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于专用集成电路(Application Specific Integrated Circuits,简称:ASIC)中。当然,处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于电子设备或主控设备中。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时,执行包括上述各方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。
Claims (8)
1.一种小区弱覆盖分析方法,其特征在于,包括:
将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中,确定每个栅格的MR采样点覆盖率,所述MR采样点用于表示所述目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务;
针对每个所述栅格,根据所述栅格的MR采样点覆盖率,确定所述栅格是否为弱覆盖栅格;
若所述栅格为弱覆盖栅格,则针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件;
若满足任一影响因素类型匹配的影响条件,则确定存在弱覆盖的影响因素;
若不满足任一影响因素类型匹配的影响条件,则确定不存在所述影响因素;
若所述多个影响因素类型包括漏配邻区类型,则所述针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,包括:
针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,执行以下步骤,直至当所述弱覆盖栅格内满足下述步骤的MR采样点所占比例大于第一预设比例时,确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为漏配邻区类型:
步骤一:若所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率之差大于预设阈值且所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率大于或等于预设参考信号接收功率时,计算所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的主服务小区的第一距离、所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的每个邻小区的第二距离、所述MR采样点的主服务小区的第一站间距以及每个邻小区的第二站间距;
步骤二:若所述第一距离小于或等于第一站间距、所述第二距离小于或等于第二站间距,且所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率对应的小区关系未在已配置的邻区关系列表中时,确定所述弱覆盖栅格内满足上述步骤的MR采样点加1;
若存在弱覆盖的影响因素,则根据所述影响因素类型进行小区覆盖优化;若不存在所述影响因素,则对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定每个栅格的MR采样点覆盖率,包括:
获取全量MR采样点中的每个MR采样点的信息,所述MR采样点的信息包括主服务小区的参考信号接收功率、至少一个邻小区的参考信号接收功率、所述主服务小区的PCI、所述主服务小区的经纬度信息、所述主服务小区的方位角信息、所述至少一个邻小区的经纬度信息以及所述至少一个邻小区的方位角信息;
根据每个所述MR采样点的信息,计算每个所述MR采样点的经纬度信息;
根据每个所述MR采样点的经纬度信息,计算每个栅格的MR采样点覆盖率。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述多个影响因素类型包括切换不及时类型,则所述针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,包括:
针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,执行以下步骤,直至当所述弱覆盖栅格内满足下述步骤的MR采样点所占比例大于第二预设比例时,确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为切换不及时类型:
若所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率之差大于预设阈值且所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率大于或等于预设参考信号接收功率时,计算所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的主服务小区的第一距离、所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的每个邻小区的第二距离、所述MR采样点的主服务小区的第一站间距以及每个邻小区的第二站间距;
若所述第一距离小于或等于第一站间距、所述第二距离小于或等于第二站间距,且所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率对应的小区关系在已配置的邻区关系列表中时,确定所述弱覆盖栅格内满足上述步骤的MR采样点加1。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述多个影响因素类型包括故障影响类型,则所述针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,包括:
获取所述弱覆盖栅格的中心经纬度信息;
根据所述弱覆盖栅格的中心经纬度信息、所述弱覆盖栅格的主服务小区的经纬度信息以及所述弱覆盖栅格的至少一个邻小区的经纬度信息,计算所述弱覆盖栅格与周围站点的目标距离;
根据所述目标距离,判断是否满足预设规则,若满足所述预设规则,则确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为故障影响类型;
相应的,根据所述目标距离,判断是否满足预设规则,包括:
根据所述目标距离,确定所述弱覆盖栅格距离最近的预设数目的宏基站,若所述弱覆盖栅格与所述宏基站存在覆盖影响的故障,则确定满足所述预设规则;和/或,
根据所述目标距离,确定是否存在与所述弱覆盖栅格距离小于预设距离的室分基站,若存在,且所述室分基站存在影响覆盖的故障时,确定满足所述预设规则。
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优,包括:
对所述弱覆盖栅格的周边小区进行参数调整,调整后针对所述弱覆盖栅格的每个主服务小区执行以下步骤,直至计算得到的所述主服务小区的综合得分最高的小区:
根据所述弱覆盖栅格的全量MR采样点及对应的各个主服务小区,计算出所述主服务小区的MR采样点占比;
针对所述弱覆盖栅格的每个主服务小区,根据计算得到的所述弱覆盖栅格与各个所述主服务小区的第一距离,计算所述主服务小区衰耗系数的比例;
根据所述主服务小区的MR采样点占比以及所述主服务小区衰耗系数的比例,通过加权计算,确定所述主服务小区的综合得分。
6.一种小区弱覆盖分析装置,其特征在于,包括:
覆盖率确定模块,用于将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中,确定每个栅格的MR采样点覆盖率,所述MR采样点用于表示所述目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务;
弱覆盖栅格确定模块,用于针对每个所述栅格,根据所述栅格的MR采样点覆盖率,确定所述栅格是否为弱覆盖栅格;
栅格弱覆盖分析模块,用于在所述栅格为弱覆盖栅格时,针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件;
若满足任一影响因素类型匹配的影响条件,则确定存在弱覆盖的影响因素;
若不满足任一影响因素类型匹配的影响条件,则确定不存在所述影响因素;
若所述多个影响因素类型包括漏配邻区类型,则所述针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,包括:
针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点,执行以下步骤,直至当所述弱覆盖栅格内满足下述步骤的MR采样点所占比例大于第一预设比例时,确定满足所述多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件,且所述影响因素类型为漏配邻区类型:
步骤一:若所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率之差大于预设阈值且所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率大于或等于预设参考信号接收功率时,计算所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的主服务小区的第一距离、所述弱覆盖栅格与所述MR采样点的每个邻小区的第二距离、所述MR采样点的主服务小区的第一站间距以及每个邻小区的第二站间距;
步骤二:若所述第一距离小于或等于第一站间距、所述第二距离小于或等于第二站间距,且所述MR采样点的主服务小区的参考信号接收功率与所述MR采样点的每个邻小区的参考信号接收功率对应的小区关系未在已配置的邻区关系列表中时,确定所述弱覆盖栅格内满足上述步骤的MR采样点加1;
覆盖调优模块,用于若存在所述影响因素,则根据所述影响因素类型进行小区覆盖优化;若不存在所述影响因素,则对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。
7.一种小区弱覆盖分析设备,其特征在于,包括:至少一个处理器和存储器;
所述存储器存储计算机执行指令;
所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令,使得所述至少一个处理器执行如权利要求1-5任一项所述的小区弱覆盖分析方法。
8.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,当处理器执行所述计算机执行指令时,实现如权利要求1-5任一项所述的小区弱覆盖分析方法。
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CN112969192A (zh) | 2021-06-15 |
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