CN112958470A - 一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法，包括底部机架、限位夹持机构、电动滑块、竖直机架、桁架以及往复测试机构，本发明可以解决计算机键盘在使用时长测试过程中存在以下难题：a传统的计算机键盘测试过程中，在对计算机键盘进行测试过程中需要不同夹具进行夹持，工艺较为复杂且生产成本较高，且传统测试过程中只能对单一计算机键盘进行处理，测试速度较慢，从而导致测试效率较低，b由于在实际使用过程中，人们对于键盘的敲击力度不同，但是在传统的计算机键盘测试过程中，测试装置对计算机敲击力度始终保持一致，导致对计算机键盘使用时长测试有误差，影响计算机键盘出厂的合格率。
Description
技术领域
本发明涉及计算机键盘领域，特别涉及一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法。
背景技术
计算机俗称电脑，是现代一种用于高速计算的电子计算机器，可以进行数值计算，又可以进行逻辑计算，还具有存储记忆功能。是能够按照程序运行，自动、高速处理海量数据的现代化智能电子设备，计算机通常是由显示屏、主机、键盘以及鼠标等组成，在实际使用过程中，由于键盘和鼠标使用强度较大，故需要对键盘和鼠标进行测试，便于将生产过程中不合格的键盘与鼠标进行筛分处理，以达到最佳使用目的。
目前，计算机键盘在使用时长测试过程中存在以下难题：a传统的计算机键盘测试过程中，由于计算机键盘的尺寸大小不一，在对计算机键盘进行测试过程中需要不同夹具进行夹持，传统夹持过程中频繁更换夹具，工艺较为复杂且生产成本较高，且传统测试过程中只能对单一计算机键盘进行处理，测试速度较慢，从而导致测试效率较低，b由于在实际使用过程中，人们对于键盘的敲击力度不同，但是在传统的计算机键盘测试过程中，测试装置对计算机敲击力度始终保持一致，测试效果较为单一，不具有代表性，进而导致对计算机键盘使用时长测试有误差，影响计算机键盘出厂的合格率。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明提供了一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法，可以解决计算机键盘在使用时长测试过程中存在以下难题：a传统的计算机键盘测试过程中，由于计算机键盘的尺寸大小不一，在对计算机键盘进行测试过程中需要不同夹具进行夹持，传统夹持过程中频繁更换夹具，工艺较为复杂且生产成本较高，且传统测试过程中只能对单一计算机键盘进行处理，测试速度较慢，从而导致测试效率较低，b由于在实际使用过程中，人们对于键盘的敲击力度不同，但是在传统的计算机键盘测试过程中，测试装置对计算机敲击力度始终保持一致，测试效果较为单一，不具有代表性，进而导致对计算机键盘使用时长测试有误差，影响计算机键盘出厂的合格率。
(二)技术方案
1.为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：一种计算机键盘批量化测试装置,包括底部机架、限位夹持机构、电动滑块、竖直机架、桁架以及往复测试机构,所述的底部机架上端面安装有限位夹持机构，底部机架上端面位于限位夹持机构的左右两侧滑动安装有电动滑块，电动滑块上端面安装有竖直机架，竖直机架上端面安装有桁架，桁架下端面中间位置安装有往复测试机构。
所述的限位夹持机构包括夹持工作台、双向螺杆、移动机架、锁紧杆、夹持机架、放置台、夹持支链、限位支链、复位弹簧杆以及夹持板，其中所述的夹持工作台安装在底部机架上端面，夹持工作台内部前后对称开设有两组一号滑槽，一号滑槽内部上端面左右对称开设有二号滑槽，移动机架穿过二号滑槽滑动设置在一号滑槽内部，移动机架与夹持工作台上分别开设有限位孔与限位通孔，锁紧杆穿过限位通孔卡接在限位孔内部，移动机架位于一号滑槽的部分开设有螺纹通孔，螺纹通孔内部转动安装有双向螺杆，移动机架上端面安装有夹持机架，底部机架上端面位于夹持机架之间的位置安装有放置台，放置台上端面自前往后均匀设置有限位支链，夹持机架之间相对面开设有放置凹槽，且放置凹槽内部下端面与放置台上端面位于同一水平面上，放置凹槽上端面左右对称设置有两组复位弹簧杆，复位弹簧杆前后对称安装在放置凹槽上端面，复位弹簧杆下端面安装有夹持板，夹持机架内部位于放置凹槽的上方开设有三号滑槽，夹持支链安装在三号滑槽内部。
所述的往复测试机构包括升降气缸、升降板、升降弹簧杆、测试工作台、转动电机、转轴、凸轮组、移动架、锁紧块以及测试板，其中所述的升降气缸通过气缸座安装在桁架下端面，升降气缸驱动轴下端面通过法兰盘安装有升降板，升降板下端面左右对称安装有升降弹簧杆，升降弹簧杆下端面安装有测试工作台，升降板下端面通过电机座安装有转动电机，转轴一端通过轴套安转在转动电机输出轴上，转轴另一端通过轴承安装在升降板上，转轴上安装有凸轮组，移动架左右对称滑动设置在测试工作台上，且移动架上端面抵靠在凸轮组端面上，测试工作台上端面自左向右均匀设置有锁紧孔，移动架上开设有锁紧通孔，锁紧块穿过锁紧通孔设置在锁紧孔内，测试板卡接在测试工作台下端面。
优选的，所述的夹持支链包括调节板、锁紧连块以及连接板，其中所述的调节板滑动设置在三号滑槽内部，调节板上端面自左向右均匀设置有锁紧凹槽，三号滑槽上端面开设有锁紧连槽，锁紧连块穿过锁紧连槽设置在锁紧凹槽内部，三号滑槽与放置凹槽之间开设有四号滑槽，连接板滑动设置在四号滑槽内部，连接板一端固定安装在夹持板上端面，连接板另一端抵靠在调节板上，其中调节板与连接板接触的部分设置为倾斜结构
优选的，所述的限位支链包括隔板、限位弹簧杆以及限位块，其中所述的隔板前后对称安装在放置台上端面，隔板相对面上左右对称安装有限位弹簧杆，限位弹簧杆上安装有限位块，限位块相对面之间上端开设有斜面结构。
优选的，所述的凸轮组由转动凸轮构成，且转动凸轮自中间向左右两侧的轴长依次减小，且转动凸轮与移动架接触的侧面上设置有凹凸不平的弧形结构。
优选的，所述的测试板包括连板以及振动爪，所述的连板上端面左右对称设置有蘑菇型凸起，测试工作台下端面左右对称开设有蘑菇型凹槽，连板通过蘑菇型凸起与蘑菇型凹槽相互配合卡接在测试工作台下端面，振动爪自左向右均匀安装在连板下端面。
优选的，所述的放置凹槽内部下端面与侧壁上设置有橡胶垫。
优选的，采用上述的计算机键盘批量化测试装置对计算机键盘的使用时长进行测试时，包括以下步骤：
第一步：键盘放置：通过人工或者现有设备将计算机键盘放置在限位夹持机构内部进行限位夹持处理；
第二步：装置调节：根据计算机键盘放置的相对位置，通过调节将往复测试机构移动到工作位置；
第三步：测试处理：启动往复测试机构，通过与限位夹持机构相互配合对计算机键盘进行使用时长测试处理；
第四步：收集码放：测试结束后，将合格与不合格的计算机键盘进行分类收集码垛，测试结束。
(三)有益效果
1.本发明提供了一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法，可以解决计算机键盘在使用时长测试过程中存在以下难题：a传统的计算机键盘测试过程中，由于计算机键盘的尺寸大小不一，在对计算机键盘进行测试过程中需要不同夹具进行夹持，传统夹持过程中频繁更换夹具，工艺较为复杂且生产成本较高，且传统测试过程中只能对单一计算机键盘进行处理，测试速度较慢，从而导致测试效率较低，b由于在实际使用过程中，人们对于键盘的敲击力度不同，但是在传统的计算机键盘测试过程中，测试装置对计算机敲击力度始终保持一致，测试效果较为单一，不具有代表性，进而导致对计算机键盘使用时长测试有误差，影响计算机键盘出厂的合格率。
2.本发明设计的限位夹持机构中，双向螺杆通过移动架可以对夹持机架进行调距处理可以对不同长度的计算机键盘进行左右方向上的限位夹持处理，夹持板通过与复位弹簧杆相互配合可以对不同厚度的计算机键盘进行竖直方向上的限位夹处理，夹持支链的使用可以使得计算机键盘在竖直方向上夹持限位更加稳定，限位支链中通过限位块与限位弹簧杆相互配合可以对计算机键盘进行前后方向上的限位处理，使得计算机键盘在测试过程中更加稳定，不会发生相对滑动，同时限位支链的使用可以对于多个计算机键盘进行测试处理，测试速度快，效率更高。
3.本发明设计的往复测试机构中，转动电机通过转轴带动凸轮组转动，凸轮组转动过程中通过移动架带动测试工作台进行上下往复移动，测试工作台上下往复移动过程中带动测试板对计算机键盘进行测试处理，其中所述测试板中的连板通过蘑菇型凸起与蘑菇型凹槽相互配合卡接在测试工作台上，当需要对不同长度的计算机键盘进行测试时，可以更换不同规格的测试板，适用性更广，其中凸轮组的使用使得测试板在对计算机键盘进行测试过程中获得不同的力，通过不同轴长的转动凸轮相互配合对计算机键盘实现间歇性按压，提高测试效率，模拟了日常使用，使得检测效果更具有代表性。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明主视图；
图2是本发明移动机架与双向螺杆安装结构示意图；
图3是本发明图1的A处局部剖视图；
图4是本发明图1的B处局部放大图；
图5是本发明图4的C处局部剖视图；
图6是本发明图4的D处局部剖视图；
图7是本发明限位支链与夹持工作台安装结构示意图；
图8是本发明转动凸轮结构示意图；
图9是本发明凸轮组立体结构示意图；
图10是本发明工艺流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的实施例进行详细说明，但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
如图1至图10所示，一种计算机键盘批量化测试装置,包括底部机架1、限位夹持机构2、电动滑块3、竖直机架4、桁架5以及往复测试机构6,所述的底部机架1上端面安装有限位夹持机构2，底部机架1上端面位于限位夹持机构2的左右两侧滑动安装有电动滑块3，电动滑块3上端面安装有竖直机架4，竖直机架4上端面安装有桁架5，桁架5下端面中间位置安装有往复测试机构6。
所述的限位夹持机构2包括夹持工作台21、双向螺杆22、移动机架23、锁紧杆24、夹持机架25、放置台26、夹持支链27、限位支链28、复位弹簧杆29以及夹持板210，其中所述的夹持工作台21安装在底部机架1上端面，夹持工作台21内部前后对称开设有两组一号滑槽，一号滑槽内部上端面左右对称开设有二号滑槽，移动机架23穿过二号滑槽滑动设置在一号滑槽内部，移动机架23与夹持工作台21上分别开设有限位孔与限位通孔，锁紧杆24穿过限位通孔卡接在限位孔内部，移动机架23位于一号滑槽的部分开设有螺纹通孔，螺纹通孔内部转动安装有双向螺杆22，移动机架23上端面安装有夹持机架25，底部机架1上端面位于夹持机架25之间的位置安装有放置台26，放置台26上端面自前往后均匀设置有限位支链28，夹持机架25之间相对面开设有放置凹槽，且放置凹槽内部下端面与放置台26上端面位于同一水平面上，放置凹槽上端面左右对称设置有两组复位弹簧杆29，复位弹簧杆29前后对称安装在放置凹槽上端面，复位弹簧杆29下端面安装有夹持板210，夹持机架25内部位于放置凹槽的上方开设有三号滑槽，夹持支链27安装在三号滑槽内部，具体工作时，通过人工或者现有设备将计算机键盘放在放置台26上，计算机键盘左右两端放置在放置凹槽内部，转动双向螺杆22，双向螺杆22转动过程中带动移动机架23移动，移动机架23移动过程中带动夹持机架25对不同长度的计算机键盘进行水平方向的锁紧限位，当移动机架23移动过程中，通过锁紧杆24将移动机架23与夹持工作台21之间进行锁紧限位，避免移动机架23在测试过程中发生相对移动，放置过程中通过复位弹簧杆29与夹持板210相互配合对不同厚度的计算机键盘进行竖直方向的锁紧限位，其中夹持支链27的使用带动夹持板210对计算机键盘的锁紧效果更佳，限位支链28的使用既可以对同时放置多个计算机键盘，使得装置对计算机键盘的测试效率更快，又可以对不同宽度的计算机键盘前后方向进行限位处理，使计算机键盘锁紧限位效果更佳。
所述的放置凹槽内部下端面与侧壁上设置有橡胶垫，既可以增加计算机键盘与放置凹槽之间的摩擦力，使得夹持限位过程更加稳定，又可以避免计算机键盘在夹持过程中发生损坏，影响计算机键盘的使用体验。
所述的夹持支链27包括调节板271、锁紧连块272以及连接板273，其中所述的调节板271滑动设置在三号滑槽内部，节板271上端面自左向右均匀设置有锁紧凹槽，三号滑槽上端面开设有锁紧连槽，锁紧连块272穿过锁紧连槽设置在锁紧凹槽内部，三号滑槽与放置凹槽之间开设有四号滑槽，连接板273滑动设置在四号滑槽内部，连接板273一端固定安装在夹持板210上端面，连接板273另一端抵靠在调节板271上，其中调节板271与连接板273接触的部分设置为倾斜结构，具体工作时，当计算机键盘放置在放置凹槽内部时，推动调节板271移动，调节板271移动过程中通过倾斜机构带动锁紧连块272移动，锁紧连块272移动过程中带动夹持板210对计算机键盘进行进行一步夹持限位处理，避免计算机键盘在测试过程中发生竖直方向上的相对滑动。
所述的限位支链28包括隔板281、限位弹簧杆282以及限位块283，其中所述的隔板281前后对称安装在放置台26上端面，隔板281相对面上左右对称安装有限位弹簧杆282，限位弹簧杆282上安装有限位块283，限位块283相对面之间上端开设有斜面结构，通过人工将计算机键盘放置在限位块283之间，对计算机键盘进行前后方向上的限位处理，其中所述的限位弹簧杆282在工作过程中起复位作用，可以针对不同宽度的计算机键盘进行夹持处理，斜面结构在工作过程中起导向作用，使得计算机键盘更易进入限位块283之间。
所述的往复测试机构6包括升降气缸61、升降板62、升降弹簧杆63、测试工作台64、转动电机65、转轴66、凸轮组67、移动架68、锁紧块69以及测试板610，其中所述的升降气缸61通过气缸座安装在桁架5下端面，升降气缸61驱动轴下端面通过法兰盘安装有升降板62，升降板62下端面左右对称安装有升降弹簧杆63，升降弹簧杆63下端面安装有测试工作台64，升降板62下端面通过电机座安装有转动电机65，转轴66一端通过轴套安转在转动电机65输出轴上，转轴66另一端通过轴承安装在升降板62上，转轴66上安装有凸轮组67，移动架68左右对称滑动设置在测试工作台64上，且移动架68上端面抵靠在凸轮组67端面上，测试工作台64上端面自左向右均匀设置有锁紧孔，移动架68上开设有锁紧通孔，锁紧块69穿过锁紧通孔设置在锁紧孔内，测试板610卡接在测试工作台64下端面，具体工作时，升降气缸61启动带动升降板62进行移动，升降板62移动过程中通过升降弹簧杆63与测试工作台64相互配合带动测试板610移动到计算机键盘上方，转动电机65启动带动转轴66带动凸轮组67转动，凸轮组67转动过程中通过移动架68带动测试工作台64进行上下往复移动，测试工作台64往复移动过程中带动测试板610对计算机键盘进行测试处理，其中移动架68滑动设置在测试工作台64上通过与凸轮组67相互配合使测试工作台64获得不同的振幅，更好的模拟了实际计算机使用环境，使测试效果更佳，其中锁紧块69在测试过程中对移动架68起锁紧作用，避免移动架68发生相对滑动。
所述的凸轮组67由转动凸轮构成，且转动凸轮自中间向左右两侧的轴长依次减小，且转动凸轮与移动架68接触的侧面上设置有凹凸不平的弧形结构，转动凸轮自中间向左右两侧的轴长依次减小通过移动架68与测试工作台64相互配合使测试板610获得不同振幅，再通过与凹凸不平的弧形结构配合可以对计算机键盘实现间歇性按压，提高测试效率，模拟了日常使用，使得检测效果更具有代表性。
所述的测试板610包括限位块610a以及振动爪610b，所述的限位块610a上端面左右对称设置有蘑菇型凸起，测试工作台64下端面左右对称开设有蘑菇型凹槽，限位块610a通过蘑菇型凸起与蘑菇型凹槽相互配合卡接在测试工作台64下端面，振动爪610b自左向右均匀安装在限位块610a下端面，蘑菇型凸起与蘑菇型凹槽相互配合使得振动爪610b通过限位块610a卡接在测试工作台64下端面，可以针对不同规格的计算机键盘随时对测试板610进行更换，适用性更高。
此外，本发明还提供一种计算机键盘批量化测试的方法，包括以下步骤：
第一步：键盘放置：通过人工或者现有设备将计算机键盘放置在限位夹持机构2内部进行限位夹持处理；
第二步：装置调节：根据计算机键盘放置的相对位置，通过调节将往复测试机构6移动到工作位置；
第三步：测试处理：启动往复测试机构6，电动滑块3启动通过竖直机架4带动桁架5移动，桁架5移动过程中带动往复测试机构6通过与限位夹持机构2相互配合对计算机键盘进行使用时长测试处理；
第四步：收集码放：测试结束后，将合格与不合格的计算机键盘进行分类收集码垛，测试结束。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种计算机键盘批量化测试装置，包括底部机架(1)、限位夹持机构(2)、电动滑块(3)、竖直机架(4)、桁架(5)以及往复测试机构(6),其特征在于：所述的底部机架(1)上端面安装有限位夹持机构(2)，底部机架(1)上端面位于限位夹持机构(2)的左右两侧滑动安装有电动滑块(3)，电动滑块(3)上端面安装有竖直机架(4)，竖直机架(4)上端面安装有桁架(5)，桁架(5)下端面中间位置安装有往复测试机构(6)；其中：
所述的限位夹持机构(2)包括夹持工作台(21)、双向螺杆(22)、移动机架(23)、锁紧杆(24)、夹持机架(25)、放置台(26)、夹持支链(27)、限位支链(28)、复位弹簧杆(29)以及夹持板(210)，其中所述的夹持工作台(21)安装在底部机架(1)上端面，夹持工作台(21)内部前后对称开设有两组一号滑槽，一号滑槽内部上端面左右对称开设有二号滑槽，移动机架(23)穿过二号滑槽滑动设置在一号滑槽内部，移动机架(23)与夹持工作台(21)上分别开设有限位孔与限位通孔，锁紧杆(24)穿过限位通孔卡接在限位孔内部，移动机架(23)位于一号滑槽的部分开设有螺纹通孔，螺纹通孔内部转动安装有双向螺杆(22)，移动机架(23)上端面安装有夹持机架(25)，底部机架(1)上端面位于夹持机架(25)之间的位置安装有放置台(26)，放置台(26)上端面自前往后均匀设置有限位支链(28)，夹持机架(25)之间相对面开设有放置凹槽，且放置凹槽内部下端面与放置台(26)上端面位于同一水平面上，放置凹槽上端面左右对称设置有两组复位弹簧杆(29)，复位弹簧杆(29)前后对称安装在放置凹槽上端面，复位弹簧杆(29)下端面安装有夹持板(210)，夹持机架(25)内部位于放置凹槽的上方开设有三号滑槽，夹持支链(27)安装在三号滑槽内部；
所述的往复测试机构(6)包括升降气缸(61)、升降板(62)、升降弹簧杆(63)、测试工作台(64)、转动电机(65)、转轴(66)、凸轮组(67)、移动架(68)、锁紧块(69)以及测试板(610)，其中所述的升降气缸(61)通过气缸座安装在桁架(5)下端面，升降气缸(61)驱动轴下端面通过法兰盘安装有升降板(62)，升降板(62)下端面左右对称安装有升降弹簧杆(63)，升降弹簧杆(63)下端面安装有测试工作台(64)，升降板(62)下端面通过电机座安装有转动电机(65)，转轴(66)一端通过轴套安转在转动电机(65)输出轴上，转轴(66)另一端通过轴承安装在升降板(62)上，转轴(66)上安装有凸轮组(67)，移动架(68)左右对称滑动设置在测试工作台(64)上，且移动架(68)上端面抵靠在凸轮组(67)端面上，测试工作台(64)上端面自左向右均匀设置有锁紧孔，移动架(68)上开设有锁紧通孔，锁紧块(69)穿过锁紧通孔设置在锁紧孔内，测试板(610)卡接在测试工作台(64)下端面。
2.根据权利要求1所述的一种计算机键盘批量化测试装置，其特征在于：所述的夹持支链(27)包括调节板(271)、锁紧连块(272)以及连接板(273)，其中所述的调节板(271)滑动设置在三号滑槽内部，调节板上端面自左向右均匀设置有锁紧凹槽，三号滑槽上端面开设有锁紧连槽，锁紧连块(272)穿过锁紧连槽设置在锁紧凹槽内部，三号滑槽与放置凹槽之间开设有四号滑槽，连接板(273)滑动设置在四号滑槽内部，连接板(273)一端固定安装在夹持板(210)上端面，连接板(273)另一端抵靠在调节板(271)上，其中调节板(271)与连接板(273)接触的部分设置为倾斜结构。
3.根据权利要求1所述的一种计算机键盘批量化测试装置，其特征在于：所述的限位支链(28)包括隔板(281)、限位弹簧杆(282)以及限位块(283)，其中所述的隔板(281)前后对称安装在放置台(26)上端面，隔板(281)相对面上左右对称安装有限位弹簧杆(282)，限位弹簧杆(282)上安装有限位块(283)，限位块(283)相对面之间上端开设有斜面结构。
4.根据权利要求1所述的一种计算机键盘批量化测试装置，其特征在于：所述的凸轮组(67)由转动凸轮构成，且转动凸轮自中间向左右两侧的轴长依次减小，且转动凸轮与移动架(68)接触的侧面上设置有凹凸不平的弧形结构。
5.根据权利要求1所述的一种计算机键盘批量化测试装置，其特征在于：所述的测试板(610)包括限位块(610a)以及振动爪(610b)，所述的限位块(610a)上端面左右对称设置有蘑菇型凸起，测试工作台(64)下端面左右对称开设有蘑菇型凹槽，限位块(610a)通过蘑菇型凸起与蘑菇型凹槽相互配合卡接在测试工作台(64)下端面，振动爪(610b)自左向右均匀安装在限位块(610a)下端面。
6.根据权利要求1所述的一种计算机键盘批量化测试装置，其特征在于：所述的放置凹槽内部下端面与侧壁上设置有橡胶垫。
7.根据权利要求1所述的一种计算机键盘批量化测试装置，其特征在于：采用上述的计算机键盘批量化测试装置对计算机键盘的使用时长进行测试时，包括以下步骤：
第一步：键盘放置：通过人工或者现有设备将计算机键盘放置在限位夹持机构(2)内部进行限位夹持处理；
第二步：装置调节：根据计算机键盘放置的相对位置，通过调节将往复测试机构(6)移动到工作位置；
第三步：测试处理：启动往复测试机构(6)，电动滑块(3)启动通过竖直机架(4)带动桁架(5)移动，桁架(5)移动过程中带动往复测试机构(6)通过与限位夹持机构(2)相互配合对计算机键盘进行使用时长测试处理；
第四步：收集码放：测试结束后，将合格与不合格的计算机键盘进行分类收集码垛，测试结束。
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