CN112834908A - 印制板线圈电阻的范围计算方法、测试方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种印制板线圈电阻的范围计算方法、测试方法及系统，印制板线圈电阻的范围计算方法，包括：获取线圈参数和预设线宽，并根据所述线圈参数和所述预设线宽确定最终电阻值；获取预设电阻值范围，并根据所述预设电阻值范围、所述预设线宽和所述最终电阻值确定线宽范围；根据所述线圈参数和所述线宽范围确定蚀刻电阻值范围。本发明通过最终电阻值、预设电阻值范围和预设线宽确定线宽范围，然后根据线宽范围和线圈参数确定蚀刻电阻值范围，使得蚀刻电阻值范围计算简易，进而实现蚀刻后进行电阻值检测，以降低印制板因为电阻问题的报废率。

Description

印制板线圈电阻的范围计算方法、测试方法及系统

技术领域

本发明涉及印制电路板的技术领域，尤其是涉及一种印制板线圈的电阻范围计算方法、测试方法及系统。

背景技术

随着电子技术的快速发展，印制电路板广泛应用于各个领域，几乎所有的电子设备中都包含相应的印制电路板。

印制电路板中具有线圈电阻，但是对于有线圈电阻设计的印制板一般具有密集线圈设计且该密集线圈存在电阻范围的要求。对于单双面板而言，经过蚀刻成线路后，可以直接测量电阻值，但是对于多层互联的电路而言，电路在内层蚀刻后未形成完成电路，只有通过压合、钻孔、孔金属化、电镀等工艺后才能形成完成电路，从而测量电阻值需要完成电路后测量。但是完成电路后测量电阻值需要等待各种工艺制作后才能进行测量，若再内层蚀刻后进行测量则无法清楚蚀刻时的电阻值范围，只能完整电路后再进行电阻值检测，则提高印制板由于电阻值不合格的报废率。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种印制板线圈电阻的范围计算方法，能够使得线圈电阻的范围计算简易，且降低印制板因为电阻问题的报废率。

本发明还提出一种印制板线圈电阻的测试方法。

本发明还提出一种印制板线圈电阻的范围计算系统。

本发明还提出一种印制板线圈电阻的测试系统。

第一方面，本发明的一个实施例提供了印制板线圈电阻的范围计算方法，包括：

获取线圈参数和预设线宽，并根据所述线圈参数和所述预设线宽确定最终电阻值；

获取预设电阻值范围，并根据所述预设电阻值范围、所述预设线宽和所述最终电阻值确定线宽范围；

根据所述线圈参数和所述线宽范围确定蚀刻电阻值范围。

本发明实施例的印制板线圈电阻的范围计算方法至少具有如下有益效果：通过最终电阻值、预设电阻值范围和预设线宽确定线宽范围，然后根据线宽范围和线圈参数确定蚀刻电阻值范围，使得蚀刻电阻值范围计算简易，进而实现蚀刻后进行电阻值检测，以降低印制板因为电阻问题的报废率。

根据本发明的另一些实施例的印制板线圈电阻的范围计算方法，所述预先线宽参数包括：线圈电阻率、线圈长度、线圈内层前处理微蚀量、线圈棕化微蚀量和线圈厚度。

根据本发明的另一些实施例的印制板线圈电阻的范围计算方法，获取线圈参数和预设线宽，并根据所述线圈参数和预设线宽确定最终电阻值，包括：

获取所述线圈电阻率、所述线圈长度、所述线圈内层前处理微蚀量、所述线圈棕化微蚀量、所述线圈厚度和所述预设线宽；

根据所述预设线宽、所述线圈内层前处理微蚀量、所述线圈棕化微蚀量和所述线圈厚度确定线圈横截面积；

根据所述线圈电阻率、所述线圈长度和所述线圈横截面积确定所述最终电阻值。

根据本发明的另一些实施例的印制板线圈电阻的范围计算方法，所述获取预设电阻值范围，并根据所述预设电阻值范围、所述预设线宽和所述最终电阻值确定线宽范围，包括：

根据所述预设电阻值范围的上下限和所述最终电阻值确定第一比例值和第二比例值；

根据所述第一比例值、所述第二比例值和所述预设线宽确定所述线宽范围。

根据本发明的另一些实施例的印制板线圈电阻的范围计算方法，所述根据所述线圈参数和所述线宽范围确定蚀刻电阻值范围，包括：

根据所述线宽范围、所述线圈电阻率、所述线圈长度、所述线圈厚度和所述线圈内层前处理微蚀量确定所述蚀刻电阻值范围。

根据本发明的另一些实施例的印制板线圈电阻的范围计算方法，所述线圈长度为不同层线长的和。

第二方面，本发明的一个实施例提供了印制板线圈电阻的测试方法，包括：

获取如第一方面所述的印制板线圈电阻的范围计算方法得到所述蚀刻电阻值范围；

在印制板的边部或槽区域设置与内层的电阻线圈相同的辅助电阻线圈，检测蚀刻后的所述辅助电阻线圈的电阻以得到检测电阻值；

若所述检测电阻值位于所述蚀刻电阻值范围内，则输出检测合格信息。

本发明实施例的印制板线圈电阻的测试方法至少具有如下有益效果：通过第一方面的印制板线圈电阻的范围计算方法确定蚀刻电阻值范围，再根据检测电阻值与蚀刻电阻值范围比较确定比较结果，根据比较结果输出检测合格信息或输出检测不合格信息，实现了蚀刻后检测与判断检测电阻值是否合格，以便于用户根据检测合格信息完成电阻值检测，根据检测不合格信息则整改线圈，使得检测电阻值位于蚀刻电阻值范围内，以降低印制板因为电阻问题的报废率。

根据本发明的另一些实施例的印制板线圈电阻的测试方法，还包括：

若所述检测电阻值不位于所述蚀刻电阻值范围内，则输出检测不合格信息。

第三方面，本发明的一个实施例提供了印制板线圈电阻的范围计算系统，包括：

第一获取模块，用于获取线圈参数、预设线宽和预设电阻值范围；

数据处理模块，用于根据所述线圈参数和所述预设线宽确定最终电阻值，还用于根据所述预设电阻值范围、所述预设线宽和所述最终电阻值确定线宽范围；

计算模块用于根据所述线圈参数和所述线宽范围确定蚀刻后的蚀刻电阻值范围。

本发明实施例的印制板线圈电阻的范围计算系统至少具有如下有益效果：通过最终电阻值、预设电阻值范围和预设线宽确定线宽范围，然后根据线宽范围和线圈参数确定蚀刻电阻值范围，使得蚀刻电阻值范围计算简易，进而实现蚀刻后进行电阻值检测，以降低印制板因为电阻问题的报废率。

第四方面，本发明的一个实施例提供了印制板线圈电阻的测试系统，包括：

第二获取模块，用于获取如第一方面所述的印制板线圈电阻的范围计算方法得到的所述蚀刻电阻值范围；

检测模块，用于检测蚀刻后辅助电阻线圈的电阻值以得到检测电阻值；

比较模块，用于将所述检测电阻值和所述蚀刻电阻值范围比较以得到比较结果；

输出模块，用于根据所述比较结果输出检测合格信息或检测不合格信息。

本发明实施例的印制板线圈电阻的测试系统至少具有如下有益效果：通过第一方面的印制板线圈电阻的范围计算方法确定蚀刻电阻值范围，再根据检测电阻值与蚀刻电阻值范围比较确定比较结果，根据比较结果输出检测合格信息或输出检测不合格信息。实现了蚀刻后检测与判断检测电阻值是否合格，以便于用户根据检测合格信息完成电阻值检测，根据检测不合格信息则整改线圈，使得检测电阻值位于蚀刻电阻值范围内，以降低印制板因为电阻问题的报废率。

本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

图1是本发明实施例中印制板线圈电阻的范围计算方法的一具体实施例流程示意图；

图2是本发明实施例中印制板线圈电阻的范围计算方法的另一具体实施例流程示意图；

图3是本发明实施例中印制板线圈电阻的范围计算方法的另一具体实施例流程示意图；

图4是本发明实施例中印制板线圈电阻的范围计算方法的另一具体实施例流程示意图；

图5是本发明实施例中印制板线圈电阻的测试方法的一具体实施例流程示意图；

图6是本发明实施例中印制板线圈电阻的测试方法的另一具体实施例流程示意图；

图7是本发明实施例中印制板线圈电阻的范围计算系统的一具体实施例模块框图；

图8是本发明实施例中印制板线圈电阻的测试系统的一具体实施例模块框图。

附图标记：100、第一获取模块；200、数据处理模块；300、计算模块；400、第二获取模块；500、检测模块；600、比较模块；700、输出模块。

具体实施方式

以下将结合实施例对本发明的构思及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本发明的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本发明的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本发明保护的范围。

在本发明实施例的描述中，如果涉及到“若干”，其含义是一个以上，如果涉及到“多个”，其含义是两个以上，如果涉及到“大于”、“小于”、“超过”，均应理解为不包括本数，如果涉及到“以上”、“以下”、“以内”，均应理解为包括本数。如果涉及到“第一”、“第二”，应当理解为用于区分技术特征，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

由于印制板的线圈电阻都是通过压合、钻孔、孔金属化、电镀等工艺完成后进行检测，缺少内层蚀刻后线圈电阻的检测，由于印制板完成后由于电阻不合格导致的废品率较高，若能够在内层蚀刻就判断线圈电阻是否满足用户需求，能够减少印制板的报废率。

基于此，本申请公开了一种印制板线圈电阻的范围计算方法、测试方法及系统，能够计算出蚀刻电阻值范围，以便于根据蚀刻电阻值范围判断蚀刻电阻值是否满足要求，以减少印制板的报废率。

第一方面，参照图1，本发明实施例公开了一种印制板线圈电阻的范围计算方法，包括：

S100、获取线圈参数和预设线宽，并根据线圈参数和预设线宽确定最终电阻值；

S200、获取预设电阻值范围，并根据预设电阻值范围、预设线宽和最终电阻值确定线宽范围；

S300、根据线圈参数和线宽范围确定蚀刻电阻值范围。

通过根据线圈参数和预设线宽确定最终电阻值，然后根据最终电阻值、预设电阻值范围和预设线宽确定线宽范围，则确定线宽范围后，根据线宽范围和线圈参数确定蚀刻电阻值范围，以计算出蚀刻电阻值范围简易。根据蚀刻电阻值范围可以判断蚀刻后检测的电阻值是否满足要求，无需完成完整电路后再进行电阻值检测，以降低印制板因为电阻问题的报废率。

其中，预设线圈根据客户需求制定，且预设电阻值范围根据客户给出的电阻值范围要求制定，预设电阻值范围也为最终电阻值的范围要求。通过根据预设电阻值范围、预设线宽和最终电阻值确定了线宽范围后，根据线圈参数和线宽范围计算蚀刻电阻值范围，使得蚀刻电阻值范围计算简易。

在一些实施例中，预先线宽参数包括：线圈电阻率、线圈长度、线圈内层前处理微蚀量、线圈棕化微蚀量和线圈厚度。

由于电阻的计算公式为R＝ρL/S，且ρ为线圈电阻、L为导体长度、S为横截面积。横截面积与线圈内层前处理微蚀量、线圈棕化微蚀量、线圈厚度和线圈线宽相关，因此通过获取线圈电阻率、线圈长度、线圈内层前处理微蚀量、线圈棕化微蚀量和线圈厚度能够计算出线圈的电阻值。

参照图2，在一些实施例中，步骤S100包括：

S110、获取线圈电阻率、线圈长度、线圈内层前处理微蚀量、线圈棕化微蚀量、线圈厚度和预设线宽；

S120、根据预设线宽、线圈内层前处理微蚀量、线圈棕化微蚀量和线圈厚度确定线圈横截面积；

S130、根据线圈电阻率、线圈长度和线圈横截面积确定最终电阻值。

线圈电阻值计算公式为

R＝ρL/S (1)

式中，ρ为线圈电阻率、L为线圈长度；S为线圈横截面积。线圈电阻率受温度影响，同一材料固定温度下为常数；线圈长度受涨缩预放影响，涨缩预放一般在千分之一以内，因此不做考虑；线圈横截面积由线圈线宽、线圈厚度两方面决定，影响这两个因素的流程有来料铜厚、内层前处理、内层蚀刻、棕化。线圈厚度包括不同层数线圈厚度，因此，线圈厚度按照层数设为h₂、h₃、h₄、……h_n，线圈长度为不同层线长的和，且每层线圈长度为L₂、L₃、L₄……。因此最终电阻值的计算公式为R＝10⁶(ρL₂/S₂+ρL₃/S₃+ρL₄/S₄+……)。其中棕化后的线圈横截面积需要通过预设线宽、线圈内层前处理微蚀量、线圈棕化微蚀量和线圈厚度确定，且线圈横截面积的计算公式为

S_n＝W_n(h_n-X-Y) (2)

式中，X为线圈内层前处理微蚀量，单位为μm，一般在0.5-1.0μm之间，按生产实际值取数；Y为线圈棕化微蚀量，单位为μm，一般在1.0-1.5μm之间，按生产实际值取数；W_n为预设线宽，单位为μm；h_n为该层来料的线圈厚度，单位为μm。由于Y为线圈棕化微蚀量，因此蚀刻后、且棕化前的电阻值计算不需要考虑线圈棕化微蚀量，且线圈棕化微蚀量根据实际情况设置，因此蚀刻后的线圈电阻值计算如下：

R_n，＝10⁶ρL_n，/W_n(h_n-X) (3)

因此，确定了线圈横截面积后将横截面积代入到公式(1)得到最终电阻值，且最终电阻值也为理论最终电阻值，使得最终电阻值计算准确且简易。

参照图3，在一些实施例中，步骤S200包括：

S210、根据预设电阻值范围的上下限和最终电阻值确定第一比例值和第二比例值；

S220、根据第一比例值、第二比例值和预设线宽确定线宽范围。

确定了最终电阻值后，根据预设电阻值的上下限和最终电阻值确定第一比例值和第二比例值，然后根据第一比例值和预设线宽确定线宽范围的下限，根据第二比例值和预设线宽确定线宽范围的上限，使得线宽范围确定简易。

例如，预设电阻值范围为(R_min，R_max)，且线宽范围的计算公式为：

W＝W_n*R_M/R (4)

式中，R_M为预设电阻值，R为最终电阻值，W_n为预设线宽。因此将预设电阻值范围代入公式(3)得到线宽范围的上下限为W_nmin＝W_n*R_min/R和W_nmax＝W_n*R_max/R，因此线宽范围为(W_nmin、W_nmax)。通过公式(3)计算得到的线宽范围准确且简易。

参照图4，在一些实施例中，步骤S300包括：

S310、根据线宽范围、线圈电阻率、线圈长度、线圈厚度和线圈内层前处理微蚀量确定蚀刻电阻值范围。

确定了线宽范围后，将线宽范围的上下限代入到公式(3)中以得到蚀刻电阻值范围，因此得到蚀刻电阻值范围为(R，_nmin，R，_nmax)。通过分析完成电路的最终电阻值、预设电阻值以及最终电阻值对应的预先线宽确定线宽范围，然后根据线宽范围再确定蚀刻电阻值范围，使得电阻值范围计算简易且准确。

下面参考图1至图4以一个具体的实施例详细描述根据本发明实施例的印制板线圈电阻的范围计算范围。值得理解的是，下述描述仅是示例性说明，而不是对发明的具体限制。

根据预设线宽、每一层的线圈厚度、线圈内层前处理微蚀量、线圈棕化微蚀量代入公式(2)确定线圈横截面积，然后将线圈横截面积、线圈电阻率和每一层线圈长度代入公式(1)得到最终电阻值，然后根据最终电阻值、预设线宽和预设电阻值范围的上下限代入到公式(4)得到线宽范围，然后再将线宽范围的上下限代入公式(3)以得到蚀刻电阻值范围，使得蚀刻电阻值范围计算简易且准确，以便于根据蚀刻电阻值范围判断蚀刻后电阻值是否合格，以减少印制板因为电阻问题的报废率。

第二方面，参照图5，本发明实施例公开了一种印制板线圈电阻的测试方法，包括：

S400、获取如第一方面的印制板线圈电阻的范围计算方法得到蚀刻电阻值范围；

S500、在印制板的边部或槽区域设置与线圈相同的辅助电阻线圈，检测蚀刻后的辅助电阻线圈的电阻以得到检测电阻值；

S600、若检测电阻值位于蚀刻电阻值范围内，则输出检测合格信息。

由于线圈处于内层中难以进行测试，因此在印制板的边部或内槽区域设置与内层的电阻线圈相同的辅助电阻线圈，且辅助电阻线圈的线宽、间距以及工程资料都与内层的电阻线圈相同，若内层的电阻线圈的铜厚不同，可以将辅助电阻线圈的线长调制，使得辅助电阻线圈达到理论电阻值。因此通过检测蚀刻辅助电阻线圈的电阻以得到检测电阻，一方面便于线圈电阻值测量，另一方面能够准确地判断内层的电阻线圈是否符合蚀刻电阻值范围。

通过第一方面的印制板线圈电阻的范围计算方法确定了蚀刻电阻值范围后，将检测辅助电阻线圈的电阻值得到检测电阻值，并将检测电阻值和蚀刻电阻值范围进行比较，若检测电阻值位于蚀刻电阻值范围内，则证明检测电阻值合格，则输出检测合格信息，以实现在印制板完成线圈蚀刻后就开始进行电阻值测试，无需等待完整电路后再进行电阻值测试，能够有效减少印制板因为电阻值问题的报废率。

参照图6，在一些实施例中，印制板线圈电阻的测试方法还包括：

S700、若检测电阻值不位于蚀刻电阻值范围内，则输出检测不合格信息。

当检测电阻值不位于蚀刻电阻值范围，则证明尽管完成印制板的完整电路后得到的最终电阻值不位于预设电阻值范围，因此在蚀刻后检测到检测电阻值不位于蚀刻电阻值范围时，输出检测不合格信息，以便于操作人员根据检测不合格信息进行线圈进行整改，使得检测电阻值位于蚀刻电阻值范围内，以提高印制板的合格率。

第三方面，参照图7，本发明实施例还公开了一种印制板线圈电阻的范围计算系统，包括：第一获取模块100、数据处理模块200和计算模块300，第一获取模块100用于获取线圈参数、预设线宽和预设电阻值范围；数据处理模块200用于根据线圈参数和预设线宽确定最终电阻值，还用于根据预设电阻值范围、预设线宽和最终电阻值确定线宽范围；计算模块300用于根据线圈参数和线宽范围确定蚀刻后的蚀刻电阻值范围。

通过预先线宽和线圈参数确定理论的最终电阻值后，然后根据最终电阻值、预设线宽、预设电阻值范围确定蚀刻电阻值范围，使得蚀刻电阻值范围计算简易且准确，以便于根据蚀刻电阻值范围判断蚀刻后电阻是否符合要求，以降低印制板因为电阻值问题的报废率。

第四方面，参照图8，本发明实施例还公开了一种印制板线圈电阻的测试系统，包括：第二获取模块400、检测模块500、比较模块600和输出模块700，第二获取模块400用于获取如第一方面的印制板线圈电阻的范围计算方法得到的蚀刻电阻值范围；检测模块500用于检测蚀刻后的辅助电阻线圈的电阻值以得到检测电阻值；比较模块600用于将检测电阻值和蚀刻电阻值范围比较以得到比较结果；输出模块700用于根据比较结果输出检测合格信息或检测不合格信息。

其中，辅助电阻线圈设置在印制板的边部或内槽区域，且辅助电阻线圈与内层的电阻线圈相同的，且辅助电阻线圈的线宽、间距以及工程资料都与内层的电阻线圈相同，若内层的电阻线圈的铜厚不同，可以将辅助电阻线圈的线长调制，使得辅助电阻线圈达到理论电阻值。因此通过检测蚀刻辅助电阻线圈的电阻以得到检测电阻，一方面便于线圈电阻值测量，另一方面能够准确地判断内层的电阻线圈是否符合蚀刻电阻值范围。

通过第一方面的印制板线圈电阻的范围计算方法确定蚀刻电阻值范围后，检测模块500检测蚀刻后线圈电阻以得到检测电阻，然后根据检测电阻值与蚀刻电阻值范围比较确定比较结果，若比较结果为检测电阻值位于蚀刻电阻值范围内，则输出检测合格信息，若比较结果为检测电阻值不位于蚀刻电阻值范围内，则输出检测不合格信息。因此，实现了蚀刻后检测与判断检测电阻值是否合格，以便于用户根据检测合格信息完成电阻值检测，根据检测不合格信息则整改线圈，使得检测电阻值位于蚀刻电阻值范围内，以降低印制板因为电阻问题的报废率。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

Claims (10)

1.一种印制板线圈电阻的范围计算方法，其特征在于，包括：

获取线圈参数和预设线宽，并根据所述线圈参数和所述预设线宽确定最终电阻值；

获取预设电阻值范围，并根据所述预设电阻值范围、所述预设线宽和所述最终电阻值确定线宽范围；

根据所述线圈参数和所述线宽范围确定蚀刻电阻值范围。

2.根据权利要求1所述的印制板线圈电阻的范围计算方法，其特征在于，所述线宽参数包括：线圈电阻率、线圈长度、线圈内层前处理微蚀量、线圈棕化微蚀量和线圈厚度。

3.根据权利要求2所述的印制板线圈电阻的范围计算方法，其特征在于，获取线圈参数和预设线宽，并根据所述线圈参数和预设线宽确定最终电阻值，包括：

获取所述线圈电阻率、所述线圈长度、所述线圈内层前处理微蚀量、所述线圈棕化微蚀量、所述线圈厚度和所述预设线宽；

根据所述预设线宽、所述线圈内层前处理微蚀量、所述线圈棕化微蚀量和所述线圈厚度确定线圈横截面积；

根据所述线圈电阻率、所述线圈长度和所述线圈横截面积确定所述最终电阻值。

4.根据权利要求1至3任一项所述的印制板线圈电阻的范围计算方法，其特征在于，所述获取预设电阻值范围，并根据所述预设电阻值范围、所述预设线宽和所述最终电阻值确定线宽范围，包括：

根据所述预设电阻值范围的上下限和所述最终电阻值确定第一比例值和第二比例值；

根据所述第一比例值、所述第二比例值和所述预设线宽确定所述线宽范围。

5.根据权利要求2所述的印制板线圈电阻的范围计算方法，其特征在于，所述根据所述线圈参数和所述线宽范围确定蚀刻电阻值范围，包括：

根据所述线宽范围、所述线圈电阻率、所述线圈长度、所述线圈厚度和所述线圈内层前处理微蚀量确定所述蚀刻电阻值范围。

6.根据权利要求2所述的印制板线圈电阻的范围计算方法，其特征在于，所述线圈长度为不同层线长的和。

7.一种印制板线圈电阻的测试方法，其特征在于，包括：

获取如权利要求1至6任一项所述的印制板线圈电阻的范围计算方法得到所述蚀刻电阻值范围；

在印制板的边部或槽区域设置与内层的电阻线圈相同的辅助电阻线圈，检测蚀刻后的所述辅助电阻线圈的电阻以得到检测电阻值；

若所述检测电阻值位于所述蚀刻电阻值范围内，则输出检测合格信息。

8.根据权利要求7所述的印制板线圈电阻的测试方法，其特征在于，还包括：

若所述检测电阻值不位于所述蚀刻电阻值范围内，则输出检测不合格信息。

9.一种印制板线圈电阻的范围计算系统，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取线圈参数、预设线宽和预设电阻值范围；

数据处理模块，用于根据所述线圈参数和所述预设线宽确定最终电阻值，还用于根据所述预设电阻值范围、所述预设线宽和所述最终电阻值确定线宽范围；

计算模块，用于根据所述线圈参数和所述线宽范围确定蚀刻后的蚀刻电阻值范围。

10.一种印制板线圈电阻的测试系统，其特征在于，包括：

第二获取模块，用于获取如权利要求1至6任一项所述的印制板线圈电阻的范围计算方法得到的所述蚀刻电阻值范围；

检测模块，用于检测蚀刻后辅助电阻线圈的电阻值以得到检测电阻值；

比较模块，用于将所述检测电阻值和所述蚀刻电阻值范围比较以得到比较结果；

输出模块，用于根据所述比较结果输出检测合格信息或检测不合格信息。

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