CN112763891A - 一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及芯片制造技术领域，且公开了一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，包括外壳，所述外壳的外侧活动连接有风扇，自动对芯片进行夹持固定，避免其在检测过程中发生移动，有利于检测操作的进行，并且利用固定操作的运行情况，触发散热操作和翻转操作，增大结构之间的联动性，操作便捷，具有较高的自动化程度，通过风扇的作用，在检测的同时利用风力作用对芯片进行时散热，避免由于芯片检测过程中，长时间运作产生的热量堆积导致芯片被烧坏，使芯片保持正常工作，检测操作顺利进行，通过夹块、转杆、非全齿轮和第二转动组件的共同作用，自动间歇翻转芯片，实现芯片的双面检测，增大芯片检测的全面性，工作效果更高。
Description
技术领域
本发明涉及芯片制造技术领域，具体为一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置。
背景技术
芯片一种微型电子器件或部件，作用集成电路的载体安装于各种电子设备的内部。芯片在制造的过程中，需要对芯片成品进行综合测试及各种电流电压的测试，以此来确定芯片的性能是否达标。目前对芯片进行检测时，通常有工作人员借助电气检测箱对其进行检测。由于芯片较小，在检测的过程中，非常容易发生移动，影响检测操作的进行，并且对其进行双面检测时，需要工作人员对其进行翻转，操作不够便捷，工作效率比较低，同时芯片的构造大多较为复杂，检测量比较大，这就需要芯片在检测过程中一直保持工作状态，芯片工作产生的热量在芯片的堆积，存在烧坏芯片的情况，不利于检测操作的进行。
针对现有技术的不足，本发明提供了一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，具备自动翻转、散热和操作便捷的优点。
发明内容
(一)技术方案
为实现上述自动翻转、散热和操作便捷的目的，本发明提供如下技术方案：解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置包括、外壳、风扇、夹块、夹杆、第一旋杆、第二旋杆、扇齿轮、第三旋杆、滑板、转柱、第一转动组件、绝缘管、金属滑片、转杆、非全齿轮、第二转动组件
其中：
上述各结构之间的位置及连接关系如下：
一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，包括外壳，外壳的外侧活动连接有风扇，风扇的表面活动连接有夹块，夹块有两个并且规格相同，夹块的外侧活动连接有夹杆，夹杆远离夹块的一侧活动连接有活动杆，活动杆远离夹杆的一侧与第二旋杆活动连接，夹杆远离夹块的一侧活动连接有第一旋杆，第一旋杆有两个并且规格相同，第一旋杆的外侧固定连接有底板，底板的表面开设有卡槽，底板的表面活动连接有扇齿轮，第一旋杆的下方活动连接有第二旋杆，第二旋杆的外侧固定连接有扇齿轮，扇齿轮有两个并且规格相同，扇齿轮的表面活动连接有第三旋杆，第三旋杆靠近滑板的一侧固定连接有卡柱，第三旋杆的外侧活动连接有滑板，滑板有两个并且规格相同，滑板的表面开设有卡槽，左侧滑板的左侧固定连接有螺杆。
滑板的左侧活动连接有转柱，转柱的表面开设有X状槽道，转柱的表面开设有四个规格相同的凹口，转柱的上方活动连接有第一转动组件，第一转动组件由主盘、支杆和T型杆构成，支杆和T型杆均有两个并且规格相同，扇齿轮的下方固定连接有绝缘管，绝缘管的外侧固定连接有电阻线圈，电阻线圈与风扇和第二转动组件电连接，绝缘管的表面活动连接有金属滑片，金属滑片为铜材质，金属滑片的外侧固定连接有连杆，连杆远离金属滑片的一侧与右侧滑板固定连接，夹块的内部活动连接有转杆，转杆贯穿两个夹块，转杆的左侧固定连接有第一锥轮，第一锥轮的外侧活动连接有第二锥轮，第二锥轮固定连接有非全齿轮的表面，转杆的左侧活动连接有非全齿轮，非全齿轮的表面固定连接有挡杆，非全齿轮的锯齿分为两组，非全齿轮两组锯齿之间的区域呈现弧状，非全齿轮的下方活动连接有第二转动组件，第二转动组件由扇板和扇形齿轮构成。
(二)有益效果
与现有技术相比，本发明提供了一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，具备以下有益效果：
1、该解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，通过夹块、夹杆、第一旋杆、第二旋杆、扇齿轮、第三旋杆、滑板、转柱和第一转动组件的共同作用，自动对芯片进行夹持固定，避免其在检测过程中发生移动，有利于检测操作的进行，并且利用固定操作的运行情况，触发散热操作和翻转操作，增大结构之间的联动性，操作便捷，具有较高的自动化程度。
2、该解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，通过风扇的作用，在检测的同时利用风力作用对芯片进行时散热，避免由于芯片检测过程中，长时间运作产生的热量堆积导致芯片被烧坏，使芯片保持正常工作，检测操作顺利进行。
3、该解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，通过夹块、转杆、非全齿轮和第二转动组件的共同作用，自动间歇翻转芯片，实现芯片的双面检测，增大芯片检测的全面性，解放双手，减少人为介入，工作效果更高。
附图说明
图1为本发明结构示意图；
图2为本发明图1剖视图；
图3为本发明结构非全齿轮和第二转动组件连接关系示意图。
图中：1、外壳；2、风扇；3、夹块；4、夹杆；5、第一旋杆；6、第二旋杆；7、扇齿轮；8、第三旋杆；9、滑板；10、转柱；11、第一转动组件；12、绝缘管；13、金属滑片；14、转杆；15、非全齿轮；16、第二转动组件。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-3，一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，包括外壳1，外壳1的外侧活动连接有风扇2，风扇2的表面活动连接有夹块3，夹块3有两个并且规格相同，两个夹块3以风扇2的中轴线参考呈现对称分布，夹块3的外侧活动连接有夹杆4，夹杆4远离夹块3的一侧活动连接有活动杆，活动杆远离夹杆4的一侧与第二旋杆6活动连接，夹杆4远离夹块3的一侧活动连接有第一旋杆5，第一旋杆5有两个并且规格相同，第一旋杆5的外侧固定连接有底板，底板的表面开设有卡槽，第一旋杆5靠近底板的一侧固定连接有卡块，其卡块活动卡在底板的卡槽内，底板的表面活动连接有扇齿轮7，第一旋杆5的下方活动连接有第二旋杆6，第二旋杆6的外侧固定连接有扇齿轮7，扇齿轮7有两个并且规格相同，两个扇齿轮7相啮合，扇齿轮7的表面活动连接有第三旋杆8，第三旋杆8靠近滑板9的一侧固定连接有卡柱，其尺寸与滑板9卡槽的尺寸相适配，第三旋杆8的外侧活动连接有滑板9，滑板9有两个并且规格相同，滑板9的表面开设有卡槽，左侧滑板9的左侧固定连接有螺杆，滑板9的外侧且位于外壳1内壁的内部开设有卡槽，滑板9活动卡在其卡槽内。
滑板9的左侧活动连接有转柱10，转柱10的表面开设有X状槽道，转柱10的表面开设有四个规格相同的凹口，每两个凹口为一组，每组的两个凹口位于同一直线，两组凹口以转柱10的中轴线为参考呈现对称分布，转柱10的内部开设有螺孔，其尺寸与左侧滑板9螺杆的尺寸相适配，转柱10的上方活动连接有第一转动组件11，第一转动组件11由主盘、支杆和T型杆构成，支杆和T型杆均有两个并且规格相同，两个支杆等距穿插在两个T型杆之前，支杆的尺寸与转柱10X状槽道的尺寸相适配，T型杆远离第一转动组件11主盘的一侧呈现弧状，其尺寸与转柱10凹口的尺寸相适配。
扇齿轮7的下方固定连接有绝缘管12，绝缘管12的外侧固定连接有电阻线圈，电阻线圈与风扇2和第二转动组件16电连接，绝缘管12的表面活动连接有金属滑片13，金属滑片13为铜材质，金属滑片13的外侧固定连接有连杆，连杆远离金属滑片13的一侧与右侧滑板9固定连接，金属滑片13与绝缘管12外侧的电阻线圈滑动连接，初始时，金属滑片13位于绝缘管12的最左侧，此时接入电路中电阻线圈的数量最多，即电路的电阻最大，电流最小，电路处于断路状态，风扇2和第二转动组件16不运转，夹块3的内部活动连接有转杆14，转杆14贯穿两个夹块3，转杆14的左侧固定连接有第一锥轮，第一锥轮的外侧活动连接有第二锥轮，第二锥轮固定连接有非全齿轮15的表面，转杆14的左侧活动连接有非全齿轮15，非全齿轮15的表面固定连接有挡杆，非全齿轮15的锯齿分为两组，非全齿轮15两组锯齿之间的区域呈现弧状，其尺寸与第二转动组件16扇板的尺寸相适配非全齿轮15的下方活动连接有第二转动组件16，第二转动组件16由扇板和扇形齿轮构成，扇板的表面固定连接有凸柱，凸柱对非全齿轮15表面的挡杆具有推动作用，第二转动组件16扇形齿轮的尺寸与非全齿轮15锯齿的尺寸相适配。
该装置的工作过程及原理如下：
使用时，第一转动组件11转动，其两个支杆和两个T型杆转动靠近转柱10，支杆移动至转柱10X状槽道的一条斜槽内再远离，带动转柱10发生转动，T型杆的弧杆移动至转柱10的凹口内再远离，使转柱10及时止停，后续第一转动组件11的另一个支杆和T型杆再靠近转柱10，使转柱10反向转动再保持静止，引起转柱10进行间歇往复转动，转柱10通过左侧滑板9左侧的螺杆带动左侧滑板9进行间歇左右移动，初始时，左侧滑板9位于最右侧，使左侧滑板9左移，带动第三旋杆8进行顺时针转动，左侧扇齿轮7同步转动，左侧扇齿轮7与右侧扇齿轮7相啮合带动其进行逆时针转动，扇齿轮7带动第二旋杆6同步运动，第二旋杆6通连杆推动夹杆4连同夹块3移动，夹杆4在移动的同时带动其同侧的第二旋杆6在底板的卡槽内移动，使两个夹杆4相互靠近，两个夹块3对中部的芯片进行固定。
右侧扇齿轮7进行逆时针转动的同时带动其表面的第三旋杆8进行转动，第三旋杆8带动右侧滑板9向右移动，右侧滑板9通过连杆拉动金属滑片13顺着绝缘管12向右移动，初始时，金属滑片13位于绝缘管12的最左侧，此时接入电路中电阻线圈的数量最多，即电路的电阻最大，电流最小，电路处于断路状态，风扇2和第二转动组件16不运转，金属滑片13移动使接入电路中电阻线圈的数量减少，即电路的电阻减小，电流增大，与其电连接的风扇2和第二转动组件16发生转动，风扇2转动对芯片进行散热，避免芯片长时间工作出现烧坏的情况。
第二转动组件16进行逆时针转动，其扇板与非全齿轮15的弧面相贴，此时非全齿轮15处于静止状态，后续第二转动组件16的扇板远离非全齿轮15，扇板表面的凸柱靠近非全齿轮15，凸柱推动非全齿轮15表面的挡杆，带动非全齿轮15转动，使其锯齿与第二转动组件16的扇形齿轮相啮合，扇形齿轮带动非全齿轮15继续转动，使其转动一百八十度后，第二转动组件16的扇板再次靠近非全齿轮15，并且与其弧面相贴，使非全齿轮15及时止停，引起非全齿轮15进行间歇转动一百八十度，非全齿轮15带动其表面的第二锥轮转动，第二锥轮与转杆14左侧的第一锥轮相啮合，带动转杆14同步转动，转杆14带动两个夹块3保持对芯片夹持的状态进行间歇转动一百八十度，夹块3处于静止时，为芯片的检测操作提供充足的时间，完成检测后，自动翻转芯片，方便对芯片的另一面进行检测。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (7)
1.一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，包括外壳(1)，其特征在于：所述外壳(1)的外侧活动连接有风扇(2)，风扇(2)的表面活动连接有夹块(3)，夹块(3)的外侧活动连接有夹杆(4)，夹杆(4)远离夹块(3)的一侧活动连接有第一旋杆(5)，第一旋杆(5)的下方活动连接有第二旋杆(6)，第二旋杆(6)的外侧固定连接有扇齿轮(7)，扇齿轮(7)的表面活动连接有第三旋杆(8)，第三旋杆(8)的外侧活动连接有滑板(9)，滑板(9)的左侧活动连接有转柱(10)，转柱(10)的上方活动连接有第一转动组件(11)，扇齿轮(7)的下方固定连接有绝缘管(12)，绝缘管(12)的表面活动连接有金属滑片(13)，夹块(3)的内部活动连接有转杆(14)，转杆(14)的左侧活动连接有非全齿轮(15)，非全齿轮(15)的下方活动连接有第二转动组件(16)。
2.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述夹块(3)有两个并且规格相同，夹杆(4)远离夹块(3)的一侧活动连接有活动杆，活动杆远离夹杆(4)的一侧与第二旋杆(6)活动连接，第一旋杆(5)有两个并且规格相同，第一旋杆(5)的外侧固定连接有底板，底板的表面开设有卡槽，底板的表面活动连接有扇齿轮(7)。
3.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述扇齿轮(7)有两个并且规格相同，第三旋杆(8)靠近滑板(9)的一侧固定连接有卡柱，滑板(9)有两个并且规格相同，滑板(9)的表面开设有卡槽，左侧滑板(9)的左侧固定连接有螺杆。
4.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述转柱(10)的表面开设有X状槽道，转柱(10)的表面开设有四个规格相同的凹口，第一转动组件(11)由主盘、支杆和T型杆构成，支杆和T型杆均有两个并且规格相同。
5.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述绝缘管(12)的外侧固定连接有电阻线圈，电阻线圈与风扇(2)和第二转动组件(16)电连接，金属滑片(13)为铜材质，金属滑片(13)的外侧固定连接有连杆，连杆远离金属滑片(13)的一侧与右侧滑板(9)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述转杆(14)贯穿两个夹块(3)，转杆(14)的左侧固定连接有第一锥轮，第一锥轮的外侧活动连接有第二锥轮，第二锥轮固定连接有非全齿轮(15)的表面。
7.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述非全齿轮(15)的表面固定连接有挡杆，非全齿轮(15)的锯齿分为两组，非全齿轮(15)两组锯齿之间的区域呈现弧状，第二转动组件(16)由扇板和扇形齿轮构成。
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